「Scanning Probe Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

SCANNING PROBE MICROSCOPE CAPABLE OF MEASUREMENT IN LIQUID例文帳に追加

液中測定可能な走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SUBSTRATE INSPECTION METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及び基板検査方法 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING SILVER PROBE OF SCANNING TUNNEL MICROSCOPE例文帳に追加

走査トンネル顕微鏡の銀探針製作方法 - 特許庁

REMOVAL METHOD FOR OFFSET OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡のオフセット除去方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND SAMPLE STAGE THEREFOR例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡およびその試料ステージ - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及びその測定方法 - 特許庁

MOBILE STAGE DEVICE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

移動ステージ装置及び走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁

RAPID SCAN STAGE FOR SCANNING PROBE TYPE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ型顕微鏡用の迅速走査ステージ - 特許庁

CANTILEVER HOLDING MECHANISM AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

カンチレバ保持機構および走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁

SURFACE-MEASURING INSTRUMENT INTEGRATED SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

表面測定器一体型走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND CANTILEVER MANAGEMENT METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡およびカンチレバー管理方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND METHOD FOR OBSERVATING SAMPLE例文帳に追加

走査探針顕微鏡および試料観察方法 - 特許庁

EXCITATION METHOD OF CANTILEVER FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE BY THE METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用のカンチレバーの加振方法ならびにその方法による走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

CARBON NANOTUBE CANTILEVER FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用カーボンナノチューブカンチレバーとその製造方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING OSCILLATION AMPLITUDE OF CANTILEVER IN NONCONTACT SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

ノンコンタクト走査プローブ顕微鏡におけるカンチレバーの発振振幅測定方法および走査プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD OF THE SAME例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡およびその計測方法 - 特許庁

QUALITY CONTROL METHOD BY SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡による品質管理方法 - 特許庁

PROBE POSITION CONTROL MECHANISM OF SCANNING TUNNELING MICROSCOPE例文帳に追加

走査型トンネル顕微鏡の探針位置制御機構 - 特許庁

OSCILLATING TYPE CANTILEVER HOLDER AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

加振型カンチレバーホルダ及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

CALIBRATION OF MAGNETIC FORCE OR SCANNING HALL PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

磁気力または走査ホールプローブ顕微鏡の較正 - 特許庁

METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用試料の作成方法 - 特許庁

SIGNAL-PROCESSING METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

信号処理方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

METHOD FOR FABRICATING PROBE TIP AND PROBE FOR USE IN SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査探針顕微鏡に用いられる探針ティップ及び探針の製造方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND DETECTION METHOD OF BIOLOGICAL RELEVANT SUBSTANCE USING THEM例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡、走査型プローブ顕微鏡用探針とそれらを用いた生体関連物質の検出方法 - 特許庁

PROBE USED FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用プローブ及びそのプローブの作製方法 - 特許庁

SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE AND METHOD OF MEASURING ITS PROBE RELATIVE POSITION例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及びその探針相対位置測定方法 - 特許庁

PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, ITS MANUFACTURE, AND IMAGE DRAWING DEVICE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡用探針、その製造法および描画装置 - 特許庁

PUMP PROBE MEASURING INSTRUMENT AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

ポンププローブ測定装置及びそれを用いた走査プローブ顕微鏡装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR SCANNING SAMPLE WITH SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡を用いたサンプル走査方法および装置 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND DEVICE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の測定方法および装置 - 特許庁

MICROSCOPE OBJECTIVE REVOLVER MOUNTED TYPE SCANNING TYPE PROBE UNIT例文帳に追加

顕微鏡対物レボルバ取付型走査型プローブユニット - 特許庁

WRONG MEASUREMENT VERIFICATION METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の誤測定検証方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR CONTROLLING SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の制御装置及び方法 - 特許庁

POTENTIAL DIFFERENCE DETECTION METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

電位差検出方法及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE WITH SURFACE ELEMENT ANALYSIS FUNCTION例文帳に追加

表面元素分析機能付き走査プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE WITH TILTED SAMPLE STAGE例文帳に追加

傾斜試料ステージを備える走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE WITH PROBE CLEANING MECHANISM AND PROBE CLEANING METHOD例文帳に追加

探針洗浄機構を備えた走査型プローブ顕微鏡および探針洗浄方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR MANUFACTURING PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡用探針の作製方法及びそのための装置 - 特許庁

PROBE FOR ELECTROCONDUCTIVE SCANNING MICROSCOPE AND PROCESSING METHOD USING THIS PROBE例文帳に追加

導電性走査型顕微鏡用プローブ及びこれを用いた加工方法 - 特許庁

This scanning probe microscope includes the scanning probe unit 160 attached to the objective revolver of the scanning optical microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡は、走査型光学顕微鏡の対物レボルバーに取り付けられる走査型プローブユニット１６０を含んでいる。 - 特許庁

To provide a probe of a scanning heat microscope.例文帳に追加

本発明は、走査型熱顕微鏡のプローブに関する。 - 特許庁

TWEEZER-EQUIPPED SCANNING PROBE MICROSCOPE AND TRANSFER METHOD例文帳に追加

ピンセット付き走査型プローブ顕微鏡および搬送方法 - 特許庁

AUXIILARY DEVICE FOR ADJUSTMENT OF OPTICAL AXIS IN SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プロ—ブ顕微鏡の光軸調整補助装置 - 特許庁

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON BEAM PROBE MICROANALYZER例文帳に追加

走査型電子顕微鏡及び電子線プローブマイクロアナライザー - 特許庁

POSITIONING METHOD OF MEASURING POSITION OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の測定位置の位置決め方法 - 特許庁