「Scanning Probe Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

This scanning probe microscope 100 has a scanning mechanism 120 for scanning a cantilever 110.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡１００はカンチレバー１１０を走査する走査機構１２０を有している。 - 特許庁

To provide a scanning stage for a scanning probe microscope well following high speed scanning.例文帳に追加

高速走査にも良好に追従する走査型プローブ顕微鏡用走査ステージを提供する。 - 特許庁

To obtain a scanning probe microscope that is capable of accurate observation.例文帳に追加

高精度観察可能な走査プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE FITTED WITH DYNAMIC VIBRATION REDUCER AND ITS MEASURING METHOD例文帳に追加

動吸振器付き走査型プローブ顕微鏡及びその測定方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD USING IT例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡および該顕微鏡による測定方法 - 特許庁

FINE CONTROL MEANS AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

微動手段およびそれを利用する走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVATION METHOD USING SAME例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡およびこれを用いた試料の観察方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVATION METHOD USING IT例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡およびこれを用いた試料観察方法 - 特許庁

DRIVE APPARATUS AND SCANNING PROBE MICROSCOPE APPARATUS USING THE SAME例文帳に追加

駆動装置及びこれを用いた走査型プローブ顕微鏡装置 - 特許庁

METHOD OF OBSERVING SAMPLE IN LIQUID USING SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡を用いた液中試料観察方法 - 特許庁

ALIGNMENT METHOD FOR MEASUREMENT, CANTILEVER AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

測定位置合わせ方法、カンチレバ及び走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR MEASURING LEAKAGE PHYSICAL QUANTITY例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡および漏洩物理量の計測方法 - 特許庁

SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE, AND PREPARATORY OPERATION METHOD FOR PIEZOELECTRIC ELEMENT例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及び圧電素子の準備動作方法 - 特許庁

APPARATUS STRUCTURE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE INCLUDING APPARATUS STRUCTURE例文帳に追加

装置構造及びその構造を備えた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

PIEZOELECTRIC FINE-MOVEMENT ELEMENT AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

圧電微動素子およびそれを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

To provide a compacted microscope system comprising a scanning probe microscope and an optical microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡および光学顕微鏡を有するコンパクト化された顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope integrated with shafts by each of optical microscopes formed by combining the existing optical microscope and the scanning probe microscope.例文帳に追加

既存の光学顕微鏡と走査型プローブ顕微鏡とを組み合わせて構成された光学顕微鏡別軸一体型走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE SCANNING PROBE MICROSCOPY, SIGNAL TREATMENT DEVICE AND SIGNAL TREATING METHOD例文帳に追加

走査探針顕微鏡および走査探針顕微鏡法および信号処理装置および信号処理方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, MEASURING METHOD OF SURFACE CONTOUR OF SAMPLE AND PROBE DEVICE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡、試料表面形状の計測方法、及びプローブ装置 - 特許庁

To provide a probe for a scanning type probe microscope equipped with an electron discharge source.例文帳に追加

電子放出源を備えた走査型プローブ顕微鏡用探針を提供する。 - 特許庁

CANTILEVER FOR SCANNING-TYPE PROBE MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD, AND SCANING-TYPE PROBE MICROSCOPE AND SURFACE CHARGE-MEASURING MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用カンチレバー及びその製造方法、並びに走査型プローブ顕微鏡及び表面電荷測定顕微鏡 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope which has realized a needle tip state of monitoring at the of retraction of a probe, in a step-in type scanning probe microscope.例文帳に追加

ステップイン方式走査型プローブ顕微鏡において、探針退避時の針先状態監視を実現した走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR PERFORMING CONTOUR SCANNING BY USE OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡を用いて輪郭走査を実行する装置および方法 - 特許庁

To reduce an influence exerted on the measurement of a scanning type probe microscope by the function of a laser scanning type microscope in a microscopic device having both the function of the laser scanning type microscope and the function of the scanning type probe microscope.例文帳に追加

レーザ走査型顕微鏡の機能と走査型プローブ顕微鏡の機能とを併有する顕微鏡装置において、レーザ走査型顕微鏡の機能が走査型プローブ顕微鏡の測定へ及ぼす影響を低減させる。 - 特許庁

METHOD FOR PROCESSING PROBE FOR USE IN SCANNING PROBE MICROSCOPE AND PROBE PROCESSED BY THE METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡に用いられるプローブの処理方法およびこの処理方法で処理されたプローブ - 特許庁

DISTANCE CONTROL METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

距離制御方法およびそれを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNER, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

走査装置及びこの走査装置を用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE AND INFORMATION- REPRODUCING APPARATUS USING THE SAME例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡およびこれを用いた情報再生装置 - 特許庁

FREQUENCY DETECTING DEVICE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING IT例文帳に追加

周波数検出装置およびそれを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE AND METHOD OF OBSERVING CHANGE IN MOLECULAR STRUCTURE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡および分子構造変化観測方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD OF SURFACE STRUCTURE OF SAMPLE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及び試料の表面構造測定方法 - 特許庁

NEAR-FIELD OPTICAL PROBE AND SCANNING NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

近接場光プローブおよび走査型近接場光学顕微鏡 - 特許庁

UNWANTED SUBSTANCE REMOVING METHOD FOR NANOTUBE AND PROBE FOR SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

ナノチューブ不要物質除去方法及び走査型顕微鏡用プローブ - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING PROBE MADE OF IRIDIUM FOR OBSERVATION OF SCANNING TUNNELING MICROSCOPE例文帳に追加

走査トンネル顕微鏡観察用イリジウム製探針の製作方法 - 特許庁

DISPLACEMENT DETECTION MECHANISM AND SCANNING PROBE MICROSCOPE HAVING THE SAME例文帳に追加

変位検出機構およびそれを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING FORCE MICROSCOPE AND MOVEMENT CONTROL METHOD FOR PROBE TIP THEREOF例文帳に追加

走査型力顕微鏡のプローブ・ティップの動きを制御する方法 - 特許庁

SURFACE OBSERVATION METHOD USING SCANNING PROBE ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ原子間力顕微鏡を用いた表面の観察方法 - 特許庁

SAMPLE HOLDER OF SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の試料ホルダ、および試料の測定方法 - 特許庁

STANDARD SAMPLE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の標準サンプルおよびその製造方法 - 特許庁

SAMPLE HOLDER, SCANNING PROBE MICROSCOPE AND HEATING METHOD FOR SEMICONDUCTOR SAMPLE例文帳に追加

試料ホルダ、走査プローブ顕微鏡及び半導体試料加熱方法 - 特許庁

COAXIAL PROBE AND SCANNING MICROWAVE MICROSCOPE USING IT例文帳に追加

同軸プローブおよび該同軸プローブを用いた走査型マイクロ波顕微鏡 - 特許庁

METHOD OF CONTROLLING SAMPLE STATIC ELIMINATOR FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡における試料除電器の制御方法 - 特許庁

SCANNING-TYPE ELECTROCHEMISTRY ION CONDUCTANCE MICROSCOPE MEASURING METHOD, SCANNING-TYPE ELECTROCHEMISTRY ION CONDUCTANCE MICROSCOPE, PROBE FOR THE SAME, AND PROBE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査型電気化学イオンコンダクタンス顕微鏡測定法、走査型電気化学イオンコンダクタンス顕微鏡、その探針および探針の製造方法 - 特許庁

To provide a measurement method that uses a scanning probe microscope having high quantitative precision, and to provide the scanning probe microscope.例文帳に追加

高い定量精度を有する走査型プローブ顕微鏡を用いた測定方法、および、その走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING PROBE FOR SCANNING HEAR-FIELD MICROSCOPE, AND PROBE FOR SCANNING NEAR-FIELD MICROSCOPE MANUFACTURED BY THE SAME例文帳に追加

走査型近視野顕微鏡用プローブの製造方法とその製造方法によって作製された走査型近視野顕微鏡用プローブ - 特許庁