「Scanning Probe Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

In a cantilever for a scanning probe microscope which measures surface state with a CNT probe joined to a base probe, the tip part of the base probe is non-sharpened.例文帳に追加

、ベース探針にＣＮＴ探針を接合して表面状態を測定する走査型プローブ顕微鏡用カンチレバーにおいて、ベース探針の先端部を非先鋭形状にする。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of observing samples in various stress states.例文帳に追加

様々な応力状態にある試料の観察が可能な走査型プローブ顕微鏡の提供。 - 特許庁

To provide a mask pattern correction method with high dimensional accuracy using a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡を用いた、寸法精度の高いマスクパターン修正方法を提供すること。 - 特許庁

The scanning probe microscope has a tilted stage 400 on which a sample 340 is mounted.例文帳に追加

本走査型プローブ顕微鏡は、試料３４０が上に載置される傾斜ステージ４００を有する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope for easily observing the surface of a disk-shaped sample.例文帳に追加

ディスク形状サンプルの表面観察を容易とする走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of reducing the vibration noise occurring at intermittent raster scans.例文帳に追加

間欠ラスター走査に生じる振動ノイズが低減された走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of reducing the vibration noise occurring at intermittent raster scans.例文帳に追加

間欠ラスター走査に生じる振動ノイズが低減された走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

APPROACH METHOD AND CANTILEVER FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE DEVICE USING HEAT EXCHANGE EFFECT例文帳に追加

熱交換効果を利用した走査型プローブ顕微鏡装置におけるアプローチ方法及びカンチレバー - 特許庁

COMPOUND SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR DISPLAYING CANTILEVER POSITION OF THE SAME例文帳に追加

複合型走査プローブ顕微鏡及び複合型走査プローブ顕微鏡のカンチレバー位置表示方法 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope for which the operation work is simple and moreover ion detection efficiency is satisfactory.例文帳に追加

操作作業が簡単で、しかもイオン検出効率の良い走査プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, CANTILEVER CASSETTE, METHOD OF SUPPLYING CANTILEVER, AND METHOD OF MANAGING STATE OF CANTILEVER例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡、カンチレバーカセット、カンチレバーの供給方法および状態管理方法 - 特許庁

To provide a method of observing testpiece in liquid using a scanning probe microscope for obtaining stable images.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡を用いる液中試料観察方法において、安定な画像を得る。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope system capable of obtaining sample images with high accuracy.例文帳に追加

試料の画像を高い精度で得ることができる走査型プローブ顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

SIGNAL DETECTING DEVICE BY SCANNING PROBE, PROBE MICROSCOPE BY THE DEVICE, SIGNAL DETECTING METHOD BY SCANNING PROBE AND OBSERVING METHOD FOR OBSERVING SAMPLE SURFACE USING THE METHOD例文帳に追加

走査型プローブによる信号検出装置、該装置によるプローブ顕微鏡、及び走査型プローブによる信号検出方法、該方法を用いてサンプル表面を観察する観察方法 - 特許庁

To provide a compound microscope capable of analyzing shape information acquired by an optical microscope or physical property information acquired by a scanning type probe microscope irrespective of a measurement mode, and to provide a measuring method of the compound microscope.例文帳に追加

測定モードに関係なく光学顕微鏡により取得される形状情報又は走査型プローブ顕微鏡により取得される物性情報を解析すること。 - 特許庁

OPTICAL FIBER PROBE, SCANNING NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE DEVICE AND OPTICAL RECORDING MEDIUM REPRODUCING DEVICE AND MANUFACTURING METHOD OF OPTICAL FIBER PROBE例文帳に追加

光ファイバプローブ、走査近接場光顕微鏡装置及び光記録媒体再生装置並びに光ファイバプローブの製造方法 - 特許庁

To provide a high speed scanning probe microscope in which a probe and a sample can be aligned easily with high accuracy.例文帳に追加

探針と試料の位置合わせを精度良く容易に行なえる高速走査可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To position a probe in a direction including the height direction in a short time, when observation using a scanning probe microscope is started.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡による観察開始時のプローブの高さ方向含めた位置決めを短時間になしうるようにする。 - 特許庁

This scanning probe microscope is provided with the cantilever feed mechanism 20, containing adhesive elastic material 20a which holds the cantilever 1 with a probe.例文帳に追加

探針を有するカンチレバー１を保持する粘着性弾性材料２０ａを有するカンチレバー供給機構２０を備える。 - 特許庁

OPTICAL WAVEGUIDE PROBE, ITS MANUFACTURE, AND SCANNING NEAR-FIELD ATOMIC FORCE MICROSCOPE USING SAME OPTICAL WAVEGUIDE PROBE例文帳に追加

光導波路プローブおよびその製造方法、並びにその光導波路プローブを用いた走査型近接場原子間力顕微鏡 - 特許庁

To accurately conduct inspection with a magnetic force microscope, with a scanning Hall probe microscope, or with a scanning magneto-resistive microscope with high speed by greatly shortening inspection time (tact time) with an atomic force microscope, and holding height of an inspection probe uniform.例文帳に追加

原子間力顕微鏡による検査時間（タクトタイム）を大幅に短縮化し、検査用探針の高さを一定に保持して磁気力顕微鏡、走査型ホールプローブ顕微鏡又は走査型磁気抵抗効果顕微鏡による検査を正確かつ高速に行なえるようにする。 - 特許庁

A scanning mechanism 10 of the scanning probe microscope has a fixed table 12 and a movable table 14 movable relative thereto.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の走査機構１０は、固定テーブル１２と、これに対して移動可能な可動テーブル１４を有している。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of making a scanning range large and capable of observing a sample with high precision.例文帳に追加

走査範囲を大きくでき、しかも高精度に試料の観察を行うことができる走査型プロ−ブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope of which the fine movement range of the scanning mechanism is properly set against the topology of a sample.例文帳に追加

走査機構の微動範囲が試料の表面形状に対して適切に設定される走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a probe for a microscope capable of simultaneously a shape of a sample surface and a plurality of physical properties in a micro region, and a scanning probe microscope.例文帳に追加

試料表面の形状、および微小領域での複数の物性を同時測定することが可能である顕微鏡用プローブ及び走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope such as an atomic force microscope or the like enhanced in throughput as an in-line device by shortening a probe approach time.例文帳に追加

探針アプローチ時間を短縮してインライン装置としてのスループットを向上させた原子間力顕微鏡等の走査型プローブ顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

This probe control method is adopted for the scanning probe microscope for changing the relative position relation between the probe 20 and a sample 12, and measuring the sample surface by a measuring part, while scanning the sample surface by the probe.例文帳に追加

この探針制御方法は、探針２０と試料１２の相対的な位置関係を変化させ、探針が試料の表面を走査しながら測定部で試料表面を測定する走査型プローブ顕微鏡に適用される。 - 特許庁

This scanning probe microscope is equipped with a cantilever 21 having a probe 20, measuring parts 24, 32, or the like, for measuring the interatomic force generated between the probe and a sample when scanning the sample 12 surface by the probe or the like, a sample stage 11 and an optical microscope 18.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡は、探針２０を有するカンチレバー２１、探針が試料１２の表面を走査するとき探針と試料の間で生じる原子間力等を測定する測定部（２４，３２等）、試料ステージ１１、光学顕微鏡１８を備える。 - 特許庁

To provide a scanning method for a scanning probe microscope not narrowing a field of view for observation, reducing drastically an affect of a vibration due to a mechanical scanning system, and obtaining an image without affect of noise or distortion, and the scanning probe microscope.例文帳に追加

観察視野を狭めることなく、機械的な走査系に基づく振動の影響を著しく軽減し、ノイズや歪みの影響のない像を得ることを可能とする走査型プローブ顕微鏡における走査方法および走査プローブ顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of discriminating each reflected light from a plurality of cantilevers.例文帳に追加

複数のカンチレバーのそれぞれからの反射光を識別可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, LIGHT ABSORBING MATERIAL DETECTING METHOD USING IT, AND MICROSPECTROSCOPY METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及びこれを用いた光吸収物質の検出方法並びに顕微分光方法 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of providing an accurate three-dimensional shape in a short time.例文帳に追加

短時間で正確な３次元形状を得ることができる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

SURFACE OBSERVATION METHOD, RECORDING/REPRODUCING METHOD, SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE AND RECORDING/ REPRODUCING DEVICE例文帳に追加

表面観察方法及び記録再生方法、並びに、走査型プローブ顕微鏡及び記録再生装置 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING MEASURED SHAPE DATA, PROGRAM FOR CORRECTING MEASURED SHAPE DATA, AND SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

形状測定データの補正方法、形状測定データの補正プログラム、および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

FINE STRUCTURAL BODY, CANTILEVER, SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND METHOD FOR MEASURING AMOUNT OF DEFORMATION OF THE FINE STRUCTURAL BODY例文帳に追加

微細構造体、カンチレバー、走査型プローブ顕微鏡及び微細構造体の変形量測定方法 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of easily discriminating the inspection region on a substrate to scan the same.例文帳に追加

基板上の検査領域を容易に識別して走査可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND COMPACT DISK/CROSS-SECTIONAL PROFILE MEASURING METHOD AS WELL AS SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡及びＣＤ・断面プロファイル計測方法並びに半導体デバイス製造方法 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of discriminating reflected lights from each of a plurality of cantilevers.例文帳に追加

複数のカンチレバーのそれぞれからの反射光を識別可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In a scanning probe microscope, a heterodyne laser Doppler meter is used for detecting and controlling the vibration of the cantilever.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡であって、ヘテロダインレーザドップラー計をカンチレバーの振動検出と制御に用いる。 - 特許庁

TIP-COATED NANOTUBE, TIP-COATED PROBE FOR SCANNING MICROSCOPE, PROCESSING EQUIPMENT AND METHOD USING THE SAME例文帳に追加

先端被覆ナノチューブ、走査型顕微鏡用先端被覆プローブ、これを用いた加工装置及び加工方法 - 特許庁

TRANSMITTER FOR DETECTED SIGNAL, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE CONSTITUTED OF TRANSMITTER FOR DETECTED SIGNAL例文帳に追加

検出信号の伝送装置、該検出信号の伝送装置によって構成された走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

As another execution example, the Z-axis displacement offset amount may be stored and offset whenever this scanning probe microscope is operated, or a Z-axis displacement offset amount which is inherent in the scanning probe microscope is maintained in advance, and the Z-axis displacement offset amount which is inherent may be offset when the scanning probe microscope is operated.例文帳に追加

他の実施例として、走査型プローブ顕微鏡を使用する度毎に、前記のＺ軸変位オフセット量の蓄積と相殺を行うようにしても良いし、予め装置固有のＺ軸変位オフセット量を保持しておき、走査型プローブ顕微鏡を使用する時に該固有のＺ軸変位オフセット量を相殺するようにしても良い。 - 特許庁

A scanning probe microscope 1 has a constitution equipped with the material supply probe device 1a, a sample capturing probe 15, and a moving part 16 for moving relatively the sample capturing probe 15.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡１を、物質供給プローブ装置１ａと、試料捕捉プローブ１５と、試料捕捉プローブ１５を相対移動させる移動部１６とを備えて構成した。 - 特許庁

To provide a scanner driving method for a scanning probe microscope for avoiding the influence of an error resulted from the scanning of the probe or the sample in a circular arcuate shape.例文帳に追加

プローブまたは試料が円弧状に走査されることに起因するエラーの影響を回避できるようにする走査型プローブ顕微鏡のスキャナ駆動方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope apparatus capable of spectroscopic measurement and near-field measurement, in addition to conventional scanning probe measurement.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡装置によって、従来の走査型プローブ測定に加えて分光学的測定および近視野測定を行うことができる装置を提供すること。 - 特許庁