「Scanning Probe Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

The voltage may be applied using a probe of a scanning tunnel microscope.例文帳に追加

また前記パルス電圧を走査トンネル顕微鏡のプローブを用いてかけてもよい。 - 特許庁

METHOD OF SENSING SCATTERED LIGHT, POLARIZATION MODULATOR, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

散乱光検出方法、偏光変調装置及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

APPROACH METHOD OF CANTILEVER AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING IT例文帳に追加

カンチレバーの接近方法及びこの接近方法を用いる走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

AFM TWEEZERS, MANUFACTURING METHOD OF AFM TWEEZERS, AND SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

ＡＦＭピンセット、ＡＦＭピンセットの製造方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope device capable of gripping a separate probe and observing a sample.例文帳に追加

別体の探針を把持して試料観察を行うことができる走査型プローブ顕微鏡装置の提供。 - 特許庁

Mass of a sensing pin at a distal end of the cantilever as the probe of the scanning probe microscope is increased.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡のプローブである片持ちはり（カンチレバー）の先端触針の質量を大きくする。 - 特許庁

PROBE OF SCANNING PROBE MICROSCOPE HAVING CHANNEL STRUCTURE OF FIELD EFFECT TRANSISTOR AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

電界効果トランジスタのチャンネル構造が形成されたスキャニングプローブマイクロスコープの探針及びその製作方法 - 特許庁

The scanning tunneling microscope emission converging apparatus includes a scanning tunneling microscope and a plurality of optical fibers 2 arranged radially about the end of a scanning tunneling microscope probe 1 and around the scanning tunneling microscope probe 1 to converge emission caused by the operation of the scanning tunneling microscope.例文帳に追加

走査トンネル顕微鏡発光集光装置において、走査トンネル顕微鏡と、この走査トンネル顕微鏡の操作での発光を集光するために、前記走査トンネル顕微鏡探針１の先端を中心として前記走査トンネル顕微鏡探針１の周りに放射状に配置される複数の光ファイバー２を具備する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of observing a sample in a liquid precisely.例文帳に追加

液中の試料を高精度観察可能な走査プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

MEASURING CONDITION SETTING METHOD IN MEASUREMENT OF SAMPLE USING SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡を用いた試料測定における測定条件設定方法 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING PHYSICAL PROPERTIES OF MINUTE REGION AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USED THEREIN例文帳に追加

微小領域の物性評価方法及びそれに用いる走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

THREE-DIMENSIONAL MEMBRANE STRUCTURE ANALYSIS METHOD USING SCANNING PROBE MICROSCOPE, THREE-DIMENSIONAL MEMBRANE STRUCTURE ANALYZER AND THREE-DIMENSIONAL MEMBRANE STRUCTURE MEASURING METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡を用いた立体膜構造解析方法および立体膜構造解析装置、並びに走査型プローブ顕微鏡の立体膜構造測定方法 - 特許庁

SYSTEM FOR DETECTING NANO-POSITION IN SCANNING PROBE MICROSCOPE USING ESTIMATOR例文帳に追加

推定器を用いる走査型プローブ顕微鏡におけるナノ位置検出のためのシステム - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, ITS MEASURING ORDER DETERMINATION METHOD, AND ITS MEASURING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡、その測定順序決定方法、およびその測定方法 - 特許庁

SCANNING LORENTZ FORCE PROBE MICROSCOPE AND INFORMATION RECORDING/REPRODUCING DEVICE USING IT例文帳に追加

走査型ローレンツ力プローブ顕微鏡およびこれを用いた情報記録再生装置 - 特許庁

OPTICAL WAVEGUIDE PROBE, ITS MANUFACTURING METHOD AND SCANNING-TYPE NEAR FIELD MICROSCOPE例文帳に追加

光導波路プローブおよびその製造方法、ならびに走査型近視野顕微鏡 - 特許庁

To provide a heterodyne beat probe scanning probe tunnel microscope capable of easily and unfailingly detecting a weak RF signal, and a method of specifying a heterodyne beat signal by the scanning probe tunnel microscope.例文帳に追加

微小なＲＦ信号検出を容易かつ確実に行うことのできるヘテロダインビートプローブ走査プローブ顕微鏡、更にはこの走査プローブ顕微鏡によるへテロダインビート信号の特定方法を提供する。 - 特許庁

PROBE, SCANNING PROBE MICROSCOPE, BIOMOLECULE CHIP, BIOMOLECULE OBSERVATION METHOD, AND METHOD FOR IMMOBILIZING BIOMOLECULE例文帳に追加

プローブ、走査型プローブ顕微鏡及び生体分子チップ並びに生体分子観察方法及び生体分子固定方法 - 特許庁

Then a revolver 1 is rotated, to make the scanning probe microscope stand by at an observation position.例文帳に追加

次にレボルバ１を回転させ、走査型プローブ顕微鏡を観察位置に待機させる。 - 特許庁

To discriminate cytosine from thymine as a pyrimidine base with the use of a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡を用いてピリミジン塩基であるシトシンとチミンを識別する。 - 特許庁

PROBER DEVICE EQUIPPED WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND PROBE CLEANING METHOD OF PROBER DEVICE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を備えたプローバ装置及びプローバ装置の探針クリーニング方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR ACQUIRING IMAGE REFLECTING PHYSICAL PROPERTY VALUE OF SPECIMEN例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡および試料の物性値を反映した画像を取得する方法 - 特許庁

To provide a scanning type probe microscope system capable of treating a plurality of samples automatically.例文帳に追加

複数の試料を自動的に処理し得る走査型プローブ顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, SAMPLE OBSERVING METHOD USING THE SAME, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡およびこれを用いた試料観察方法およびデバイス製造方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD AND AUXILIARY JIG FOR ADJUSTING OPTICAL AXIS THEREOF例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡、その光軸調整方法、および光軸調整用補助具 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING SAMPLE BY SELF-DETECTION-TYPE CANTILEVER AND SCANNING-TYPE PROBE MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

自己検知型カンチレバー及び走査型プローブ顕微鏡装置による試料測定方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING PHYSICAL CHARACTERISTICS OF SPM, MEASURING PROGRAM AND SCANNING PROBE MICROSCOPE APPARATUS例文帳に追加

ＳＰＭの物理特性測定方法、測定プログラム及び走査型プローブ顕微鏡装置 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope used to observe a sample having an overhang structure.例文帳に追加

オーバーハング構造を有する試料を測定する走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

FORMING METHOD OF OUTGOING WIRING AND MANUFACTURING METHOD OF TEST PIECE FOR SCANNING-TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

引出配線の形成方法及び走査型プローブ顕微鏡用試料の作成方法 - 特許庁

To obtain a scanning type probe microscope for effectively inhibiting the decrease in measurement accuracy.例文帳に追加

測定精度の低下を効果的に抑制することができる走査型プローブ顕微鏡を得る。 - 特許庁

CIRCULAR CYLINDER TYPE PIEZOELECTRIC ACTUATOR AND PIEZOELECTRIC ELEMENT AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THOSE例文帳に追加

円筒型圧電アクチュエータおよび圧電素子ならびにそれを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

MULTIFUNCTIONAL CANTILEVER, SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND METHOD FOR CUTTING OBJECT TO BE PROCESSED例文帳に追加

多機能カンチレバー及び走査型プローブ顕微鏡並びに加工対象物の切削方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE DEVICE, NANO TWEEZERS DEVICE, AND SAMPLE SURFACE SHAPE OBSERVATION METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡装置、ナノピンセット装置および試料表面形状観察方法 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING CARBON NANO-STRUCTURAL MATERIAL, FIELD EMISSION DISPLAY AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

カーボンナノ構造材の製造方法、フィールドエミッションディスプレイおよび走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope having a probe not receiving lateral force when scanning a sample surface, capable of high-speed measurement, and allowing reduction of abrasion of the probe.例文帳に追加

試料表面を走査するとき探針が横方向の力を受けず、高速測定が可能で、探針の磨耗を低減した走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To reduce a Q value of resonance of a probe by taking Q/ω as a parameter into a design item in a scanning-type scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型走査探針顕微鏡においてパラメータとしてのＱ／ωを設計事項に取り入れてプローブの共振のＱ値を小さくする。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of reducing distortion errors in images and performing relative two-dimensional scanning between a probe and a sample.例文帳に追加

像の歪誤差をより小さくすることができる、プローブと試料との相対的な２次元走査を行いうる走査プローブ顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope which can obtain accurate scanning images and observation data by improving accuracy of position of the main scanning.例文帳に追加

主走査の位置精度を向上させて正確な走査像や観察データを得られるようにした走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope device equipped with a scanning probe microscope capable of preventing vibration of a sample.例文帳に追加

試料の振動を防止することができる走査型プローブ顕微鏡を備える顕微鏡装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a scanning type probe microscope controlling luminous energy with automatic measurement by the scanning type probe microscope for in-line inspection to enhance measuring precision of the automatic measurement.例文帳に追加

インライン検査のための走査型プローブ顕微鏡による自動計測で、光量を制御し、当該自動計測の測定精度を向上できる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of performing the positioning of a probe due to coarse movement accurately and easily for a short time.例文帳に追加

粗動による探針の位置決めを、短時間で正確かつ容易に行える走査プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

HETERODYNE BEAT PROBE SCANNING PROBE TUNNEL MICROSCOPE AND METHOD OF MEASURING MICRO SIGNAL SUPERIMPOSED THEREBY ON TUNNEL CURRENT例文帳に追加

ヘテロダインビートプローブ走査プローブトンネル顕微鏡およびこれによってトンネル電流に重畳された微小信号の計測方法 - 特許庁

SHARPENED DIAMOND NEEDLE, CANTILEVER USING THE SAME FOR SCANNING-PROBE MICROSCOPE, PHOTOMASK-CORRECTING PROBE, AND ELECTRON BEAM SOURCE例文帳に追加

先鋭化針状ダイヤモンド、およびそれを用いた走査プローブ顕微鏡用カンチレバー、フォトマスク修正用プローブ、電子線源 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope such that a probe and a sample can be safely and firmly fixed on the mounting side.例文帳に追加

探針や試料を安全にしっかりと装着側に固定できる走査形プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To enhance the sensitivity of a cantilever as a probe for measuring an elastic coefficient in a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡における、弾性係数を測定するためのプローブである片持ちはり（カンチレバー）を高感度にする。 - 特許庁