「Scanning Probe Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a scanning probe microscope, an evaluation method of a probe of the scanning probe microscope, and a program, capable of evaluating a probe without measuring a standard sample.例文帳に追加

標準試料を測定することなく探針の評価を行うことのできる走査型プローブ顕微鏡、走査型プローブ顕微鏡の探針の評価方法、およびプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope having a function of discriminating the kinds of probes with an image recognition function in the scanning probe microscope having an optical microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡を備えた走査型プローブ顕微鏡において、画像認識機能を用いてプローブの種別を判別する機能を有する走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide new cantilever feed mechanism and cantilever mounting method for scanning probe microscope.例文帳に追加

新規なカンチレバー供給機構及びカンチレバー取り付け方法を得る。 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR MEASURING SAMPLE SURFACE SHAPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡および試料表面形状の計測方法 - 特許庁

FREQUENCY DETECTING METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

周波数検出方法およびそれを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

To provide a sensor for a scanning probe microscope, and its manufacturing method.例文帳に追加

走査型探針顕微鏡用センサ及びその製造方法の提供。 - 特許庁

SCANNING NEAR FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND PROBE FOR IT例文帳に追加

近接場光学顕微鏡および近接場光学顕微鏡用探針 - 特許庁

OPTICAL PROBE, ITS MANUFACTURE, AND SCANNING NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

光プローブとその製造方法および走査型近接場光顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SURFACE SHAPE MEASUREMENT METHOD USING THE SAME例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡及びそれを用いた表面形状計測方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND LOCAL THIN FILM ADHESION EVALUATION METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及び局所薄膜密着性評価方法 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope preventing damage to a tube scanner.例文帳に追加

チューブスキャナーの破損を防止した走査プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

ACTUATOR CONTROL METHOD AND DEVICE, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

アクチュエータ制御方法及びその装置並びに走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

ULTRASHORT-PULSE HIGH-VOLTAGE GENERATION APPARATUS USED FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡に用いる超短パルス高電圧発生装置 - 特許庁

SIGNAL DETECTING APPARATUS BY SCANNING PROBE AND ATOMIC FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブによる信号検出装置、および原子間力顕微鏡 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MANUFACTURING PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND PROBE MANUFACTURED BY THE SAME METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用探針の作製方法、該作製方法によって作製された探針及び作製装置 - 特許庁

The surface-measuring instrument integrated scanning probe microscope is equipped with an optical microscope 7, which is the surface- measuring instrument and a probe microscope 8.例文帳に追加

表面測定器一体型走査型プローブ顕微鏡は、表面測定器である光学顕微鏡７とプローブ顕微鏡８とを備えている。 - 特許庁

As the probe 12 of the scanning probe microscope, a pressure inducing superconductive substance is used.例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡の探針１２として圧力誘起超伝導物質からなるものを用いる。 - 特許庁

To provide a pump probe measuring instrument, and a scanning probe microscope using it.例文帳に追加

ポンププローブ測定装置とこの測定装置を利用した走査プローブ顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

CONDUCTIVE NANOTUBE PROBE, ELECTRICAL CHARACTERISTICS EVALUATION APPARATUS USING THE SAME, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

導電性ナノチューブ探針、それを用いた電気特性評価装置及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

PROBE WITH FIELD-EFFECT TRANSISTOR-CHANNEL STRUCTURE FOR PROBE SCANNING MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

電界効果トランジスタチャンネル構造を持つ探針走査型顕微鏡の探針およびその製造方法 - 特許庁

The scanning probe microscope 100 integrated with the shafts by each of the optical microscopes has the existing scanning probe microscope 110 for optically observing a sample and a scanning probe microscope unit 140 for observing the sample by using a probe.例文帳に追加

光学顕微鏡別軸一体型走査型プローブ顕微鏡１００は、試料を光学的に観察するための既知の光学顕微鏡１１０と、プローブ（探針）を用いて試料を観察するための走査型プローブ顕微鏡ユニット１４０とを有している。 - 特許庁

To provide a scanning mechanism for a scanning probe microscope that can acquire high-quality AFM images.例文帳に追加

高品質なＡＦＭ像を取得できる走査型プローブ顕微鏡用走査機構を提供する。 - 特許庁

To provide a device and method for performing contour scanning by use of a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡を用いて輪郭走査を実行する装置および方法を提供する。 - 特許庁

To provide a high-speed high-resolution micro-area scanning device used in a scanning probe microscope SPM.例文帳に追加

ＳＰＭで用いられる、高速、高分解能の微小領域走査装置を提供すること。 - 特許庁

A scanning probe microscope apparatus 1 comprises a scanning electron microscope 2 having a sample base 3 on which a sample A is set and a scanning probe microscope 4 mounted on the sample base 3.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡装置１は、試料Ａがセットされる試料台３を有する走査型電子顕微鏡２と、前記試料台３に装着される走査型プローブ顕微鏡４とを具備する。 - 特許庁

In the scanning probe microscope, SMP measurement is performed by the measuring parts.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡では、測定部によりＳＰＭ測定が行われる。 - 特許庁

The ammonia-containing C_60 molecule is arranged by using a scanning probe microscope.例文帳に追加

アンモニア含有Ｃ_６０分子は、走査プローブ顕微鏡を用いて配置される。 - 特許庁

SCANNING FORCE MICROSCOPE AND CONTROL OF MOVEMENT FOR PROBE TIP THEREOF例文帳に追加

走査型力顕微鏡およびそのプロ—ブ・ティップの動きを制御する方法 - 特許庁

DRIVE STAGE, SCANNING PROBE MICROSCOPE, INFORMATION RECORDING AND REPRODUCING DEVICE, AND MACHINING DEVICE例文帳に追加

駆動ステージ、走査型プローブ顕微鏡、情報記録再生装置、加工装置 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE DEVICE, AND PROGRAM FOR SAME例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡装置及び走査型プローブ顕微鏡装置用プログラム - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND METHOD OF MEASURING FILM THICKNESS DISTRIBUTION USING THE SAME例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及びそれを用いた膜厚分布測定方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING MAGNETIC FORCE OF SPECIMEN USING SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡を用いた試料の磁気力測定方法及び装置 - 特許庁

COMPOUND SEMICONDUCTOR CANTILEVER FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用化合物半導体カンチレバー、及びその製造法 - 特許庁

PIEZOELECTRIC ELEMENT CONTROLLER, SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND PIEZOELECTRIC ELEMENT CONTROL PROGRAM例文帳に追加

圧電素子制御装置、走査型プローブ顕微鏡、及び圧電素子制御プログラム - 特許庁

A rapid parallel movement stage for a scanning type probe microscope is provided.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用の迅速平行移動ステージが提供される。 - 特許庁

To realize a scanning probe microscope having excellent operability with mounting holder.例文帳に追加

ホルダ装着の操作性が良い走査形プローブ顕微鏡を提供する事。 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF NEEDLE CRYSTAL, AND CANTILEVER OF SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

針状結晶の製造方法、及び走査型プローブ顕微鏡のカンチレバー - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE IMAGE AND LASER EXCITATION EMISSION DISTRIBUTION IMAGE MEASURING APPARATUS例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡像及びレーザ励起発光分布像測定装置 - 特許庁

PATTERN CHARACTERISTICS MEASURING METHOD USING SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS SYSTEM例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡を用いたパターン特性測定方法およびそのシステム - 特許庁

ACTUATOR, ACTUATOR USING THE SAME AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

アクチュエーターおよびこれを用いたアクチュエーターならびに走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of attenuating vibrations of an upper board of an inertial-drive stage and of observing atomic images of the scanning probe microscope images.例文帳に追加

慣性駆動ステージの上盤の振動を減衰させ、走査型プローブ顕微鏡像の原子像観察が可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

PROBE SCANNING CONTROL DEVICE, SCANNING PROBE MICROSCOPE AND WORKING DEVICE BY THE SAME, PROBE SCANNING CONTROL METHOD, AND MEASURING AND WORKING METHOD BY THE SCANNING CONTROL METHOD例文帳に追加

プローブの走査制御装置、該走査制御装置による走査型プローブ顕微鏡及び加工装置、並びにプローブの走査制御方法、該走査制御方法による測定方法及び加工方法 - 特許庁

The probe scanning apparatus 1 has an atomic force microscope 10 and an optical microscope 20 integrally.例文帳に追加

プローブ走査装置１は、原子間力顕微鏡１０および光学顕微鏡２０を一体的に備える。 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, MEASUREMENT METHOD USING SAME, AND KELVIN FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡を用いた測定方法およびその走査型プローブ顕微鏡、並びに、ケルビンフォース顕微鏡 - 特許庁

To shorten an approach time, concerning a control method for the distance between a probe of a scanning probe microscope and a sample surface, and to provide the scanning probe microscope.例文帳に追加

本発明は走査型プローブ顕微鏡の探針と試料表面との距離制御方法及び走査型プローブ顕微鏡に関し、アプローチ時間を短縮することを目的としている。 - 特許庁