「Scanning Probe Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

PRODUCTION OF SCANNING TUNNEL MICROSCOPE PROBE例文帳に追加

走査トンネル顕微鏡探針の作製方法 - 特許庁

FINE ADJUSTING DEVICE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

微動装置及び走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND INSPECTION METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及び検査方法 - 特許庁

CANTILEVER HOLDER FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND THE SCANNING PROBE MICROSCOPE USING SAME例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用カンチレバーホルダおよびそれを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

CANTILEVER HOLDER FOR SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE AND SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE EQUIPPED WITH IT例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用カンチレバーホルダ、及びそれを備えた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD OF OPTICAL IMAGE IN SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査形プローブ顕微鏡および走査形プローブ顕微鏡における光学像観察方法 - 特許庁

CYLINDER PIEZOELECTRIC ELEMENT AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

筒型圧電素子と走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE AND ADJUSTING TOOL例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及び調整治具 - 特許庁

CANTILEVER HOLDER AND SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

カンチレバーホルダ及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND LITHOGRAPHIC APPARATUS例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡および描画装置 - 特許庁

PROBE, CANTILEVER BEAM, SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND MEASURING METHOD OF SCANNING TUNNEL MICROSCOPE例文帳に追加

探針、片持ち梁、走査型プローブ顕微鏡、及び走査型トンネル顕微鏡の測定方法 - 特許庁

COMPOUND MICROSCOPE EQUIPPED WITH LASER MICROSCOPE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

レーザ顕微鏡と走査型プローブ顕微鏡を備えた複合型顕微鏡 - 特許庁

CONTROL METHOD FOR DISTANCE BETWEEN PROBE OF SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE SURFACE, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の探針と試料表面との距離制御方法及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING DISTANCE BETWEEN PROBE OF SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE SURFACE, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の探針と試料表面との距離測定方法及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE INTEGRATED WITH SHAFT BY EACH OF OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

光学顕微鏡別軸一体型走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

X-Y TABLE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

ＸＹテーブル及び走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNER DRIVING METHOD FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡のスキャナ駆動方法 - 特許庁

MEASURING METHOD USING SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡を用いた測定方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡とその測定方法 - 特許庁

LEVER EXCITATION MECHANISM AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

レバー加振機構及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS USING METHOD例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡およびその使用方法 - 特許庁

HIGH-FREQUENCY OSCILLATION PROBE FOR HIGH-SPEED SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

高速走査探針顕微鏡用高周波振動探針 - 特許庁

PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD OF MANUFACTURING SAME例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用探針およびその製造方法。 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND PROBE FOR THE SAME例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡用プローブおよび走査プローブ顕微鏡 - 特許庁

PROBE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND PROBE MICROSCOPE OF SCANNING TYPE例文帳に追加

プローブとその製造方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING MECHANISM AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

走査機構およびこれを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

MEASURING METHOD OF PHYSICAL DATA USING SCANNING PROBE MICROSCOPE, CANTILEVER AND THE SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡を用いた物性情報の測定方法、カンチレバー及び走査プローブ顕微鏡 - 特許庁

TWEEZERS SYSTEM FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, SCANNING PROBE MICROSCOPE DEVICE, AND REMOVAL METHOD OF DUST例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用ピンセットシステム、走査型プローブ顕微鏡装置およびゴミの除去方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD OF OPERATING THE SAME例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡及びその動作方法 - 特許庁

IMAGE DISPLAY METHOD OF SCANNING-TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の画像表示方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR OPERATING THE SAME例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡およびその操作法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND D/A CONVERTER例文帳に追加

走査形プローブ顕微鏡及びＤ／Ａコンバータ - 特許庁

SCANNER-RETAINING APPARATUS AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

スキャナ保持装置および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SAMPLE STAND ARRAY FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用の試料台配列 - 特許庁

REMOVAL DEVICE FOR OFFSET OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡のオフセット除去装置 - 特許庁

METHOD OF FOCUSING SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の焦点合せ方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS OPERATION METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及びその動作方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, PROBE HOLDER, AND PROBE HOLDER MOUNTING MEMBER FOR TRANSFER例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡、プローブホルダおよび搬送用プローブホルダ装着部材 - 特許庁

PROBE CONTROL DEVICE AND METHOD OF SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の探針制御の装置および方法 - 特許庁

APPROACH METHOD FOR PROBE AND SAMPLE IN SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡における探針とサンプルの近接方法 - 特許庁

PROBE RELATIVE POSITION CALIBRATION TEMPLATE OF MULTI-PROBE SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

多探針走査型顕微鏡の探針相対位置校正テンプレート - 特許庁

FIBER OPTIC PROBE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE HAVING THE SAME例文帳に追加

光ファイバープローブ及びそれを備える走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND PROBE COLLISION AVOIDANCE METHOD THEREFOR例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及びその探針衝突回避方法 - 特許庁

PROBE APPARATUS, SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND SAMPLE DISPLAY METHOD例文帳に追加

プローブ装置、走査型プローブ顕微鏡および試料表示方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE SYSTEM AND OBSERVATION METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡システム及び観察方法 - 特許庁