「Scanning Probe Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SCANNING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及びその走査方法 - 特許庁

SCANNER, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

スキャナ及び走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNER AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

スキャナ及び走査形プローブ顕微鏡。 - 特許庁

CANTILEVER FOR SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用カンチレバー - 特許庁

SCAN METHOD FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡における走査方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

NANOTUBE PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, ITS MANUFACTURING METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用ナノチューブプローブとその製造方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, EVALUATION METHOD OF PROBE OF SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND PROGRAM例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡、走査型プローブ顕微鏡の探針の評価方法、およびプログラム - 特許庁

SCANNING METHOD IN SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND STRONG MAGNETIC FIELD SCANNING PROBE MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡における走査方法及び強磁場走査型プローブ顕微鏡装置 - 特許庁

PROBE CLEANING METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ型顕微鏡の探針洗浄方法 - 特許庁

PROBE EVALUATING METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

探針評価法および走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁

NON-LIGHT EMISSION PROCESS SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

非発光過程走査プローブ顕微鏡 - 特許庁

NONACUTE PROBE FOR SCANNING TYPE MICROSCOPE例文帳に追加

非先鋭走査型顕微鏡用プローブ - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND CANTILEVER例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及びカンチレバー - 特許庁

CONTROL METHOD FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡の制御方法 - 特許庁

SAMPLING SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SCANNING METHOD例文帳に追加

サンプリング走査プローブ顕微鏡および走査方法 - 特許庁

SCANNING SPEED DETERMINING APPARATUS OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡の走査速度決定装置 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE WITH OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

光学顕微鏡を備えた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING MULTI-PROBE MICROSCOPE IN MAGNETIC FIELD例文帳に追加

磁場中走査型マルチプローブ顕微鏡 - 特許庁

MULTIPROBE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

マルチプローブ及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

ULTRAHIGH VACUUM SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

超高真空走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

PROBE SCANNING MECHANISM AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

プローブ走査機構、および、それを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

METHOD FOR BRINGING CLOSER PROBE OF SCANNING-TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の探針接近方法 - 特許庁

PROBE REGENERATION METHOD, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

探針再生方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用探針の製造方法 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING PROBE, PROBE, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

プローブの作製方法およびプローブ、ならびに走査プローブ顕微鏡 - 特許庁

PROBE, SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND METHOD OF MANUFACTURING PROBE例文帳に追加

プローブ及び走査型プローブ顕微鏡並びにプローブの製造方法 - 特許庁

METHOD OF FORMING PROBE FOR SCANNING-TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用探針の作成方法 - 特許庁

PROBE MOVEMENT CONTROL METHOD FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プロ—ブ顕微鏡の探針移動制御方法 - 特許庁

MACHINING METHOD USING PROBE OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡の探針を用いた加工方法 - 特許庁

PROBE AND CANTILEVER USED FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡に用いる探針及びカンチレバー - 特許庁

To raise the scanning speed of a tube scanner, to make the tube scanner compact, and to make a scanning probe microscope compact by using the tube scanner made compact for the scanning probe microscope.例文帳に追加

チューブスキャナにおいて、走査スピードをより早くし、かつ、小形化することである。 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プロ—ブ顕微鏡の測定方法 - 特許庁

FINE ADJUSTMENT ELEMENT AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

微動素子及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の測定方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡と計測方法 - 特許庁

FINE ADJUSTMENT MECHANISM FOR SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用微動機構 - 特許庁

SAMPLE STAND FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用の試料台 - 特許庁

APPROACH METHOD FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡のアプローチ方法 - 特許庁

STAGE SCANNER AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

ステージスキャナ及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, SAMPLE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS FORMING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡、走査型プローブ顕微鏡用試料及びその形成方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND INTEGRAL SCANNING PROBE MICROSCOPE WITH SEPARATE OPTICAL AND MICROSCOPIC AXES例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及び光顕別軸一体型走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

CANTILEVER MODULE FOR SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE, CANTILEVER HOLDER FOR SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE EQUIPPED WITH IT AND SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用カンチレバーモジュール、それを備えた走査型プローブ顕微鏡用カンチレバーホルダ及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE(SPM) PROBE AND SPM DEVICE例文帳に追加

走査型プロ—ブ顕微鏡（ＳＰＭ）プロ—ブ及びＳＰＭ装置 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SAMPLE/PROBE REPLACING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡および試料・プローブ交換方法 - 特許庁

MATERIAL SUPPLY PROBE DEVICE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

物質供給プローブ装置及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁