「Scanning Probe Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

FOREIGN SUBSTANCE REMOVAL METHOD USING SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡を用いた異物除去方法 - 特許庁

MEASUREMENT PARAMETER SETTING METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の測定パラメータ設定方法 - 特許庁

SURFACE SHAPE DATA CORRECTION METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡の表面形状データ補正方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR CLEANING THE SAME例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡及びそのプローブの洗浄方法 - 特許庁

MANUFACTURE OF NIOBIUM PROBE FOR SCANNING TUNNELING MICROSCOPE例文帳に追加

走査トンネル顕微鏡のニオブ製探針の製作方法 - 特許庁

COOLING SYSTEM FOR CANTILEVER, AND SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

カンチレバーの冷却システムおよび走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

CANTILEVER HOLDER USED IN LIQUID, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

液中用カンチレバーホルダ及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SURFACE OBSERVING METHOD USING SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SURFACE INSPECTION DEVICE USING SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡による表面観察方法および走査型プローブ顕微鏡による表面検査装置 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS MEASUREMENT SETTING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡およびその測定設定方法 - 特許庁

GRAIN-LIKE SAMPLE OBSERVATION METHOD BY SCANNING PROBE MICROSCOPE AND GRAIN-LIKE SAMPLE BODY FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡による粒子状試料の観察方法及び走査プローブ顕微鏡用粒子状試料体 - 特許庁

SPECIFIC PATTERN DETECTING METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の特定パターン検出方法 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope in which a scanning operation can be performed at high speed.例文帳に追加

高速走査が可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a method of preparing sample for a scanning probe microscope applicable to SCM (Scanning Capacitance Microscope) measurement and SSRM (Scanning Spreading Resistance Microscope) measurement.例文帳に追加

ＳＣＭ測定及びＳＳＲＭ測定に適用できる走査型プローブ顕微鏡用試料の作成方法を提供する。 - 特許庁

PROBE FOR NEAR-FIELD MICROSCOPE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE PROBE例文帳に追加

近接場顕微鏡用プローブおよびその製造方法ならびにそのプローブを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

To provide a probe sharpening method capable of arbitrarily forming the taper angle of the leading end of a probe for STM(scanning tunnel microscope), AFM(atomic force microscope) and SNOM(scanning near field optical microscope).例文帳に追加

ＳＴＭ、ＡＦＭ、ＳＮＯＭ用のプローブ先端のテーパー角を任意に形成可能なプローブの尖鋭化方法を提供する。 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, INSPECTION METHOD, AND USAGE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡用探針の製造方法、検査方法、使用方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS PROBE FOR DETECTING ELECTROMAGNETIC FIELD WITH ULTRAHIGH SENSITIVITY例文帳に追加

超高感度電磁場検出用走査型プローブ顕微鏡とその探針 - 特許庁

METHOD OF MEASURING MOUNTING ANGLE OF PROBE FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE(SPM)例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡（ＳＰＭ）用プローブの取り付け角度測定方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING DISPLACEMENT OF CANTILEVER IN SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡におけるカンチレバー変位測定方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD UTILIZING THE SAME例文帳に追加

走査探針顕微鏡及びそれを利用した測定方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD USING IT例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及び該顕微鏡による測定方法 - 特許庁

CANTILEVER FOR SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE AND PREPARATION METHOD THEREOF例文帳に追加

走査型プロ—ブ顕微鏡用カンチレバ—およびその作製方法 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR PHYSICAL PROPERTY VALUE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

物性値の測定方法および走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD USING IT例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及びそれを用いた計測方法 - 特許庁

METHOD FOR OBSERVING SOLID PARTICLE BY SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡による固体微粒子の観察方法 - 特許庁

MEASURING METHOD OF PHYSICAL PROPERTY VALUE AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

物性値の測定方法および走査形プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD USING IT例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及びこれを用いた観察方法 - 特許庁

CORRECTION METHOD OF MEASURED DATA IN SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡における測定データの補正方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR/CERAMICS COMBINED CANTILEVER FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用半導体・セラミックス複合カンチレバー - 特許庁

PIEZOELECTRIC ACTUATOR AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

圧電アクチュエータおよびそれを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

METHOD OF MODIFYING NANOTUBE AND PROBE FOR SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

ナノチューブの改質方法及び走査型顕微鏡用プローブ - 特許庁

SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE COMBINED WITH SURFACE MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加

表面測定器と組み合わされた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

POSITIONING APPARATUS AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

位置決め装置及びこれを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SURFACE INFORMATION MEASURING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及び表面情報測定方法 - 特許庁

MICRO STATE OBSERVING METHOD AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

微細状態の観察方法及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

ANALYSIS OF DOUBLE STRANDED NUCLEIC ACID BY SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡による二本鎖核酸の分析 - 特許庁

METHOD OF CORRECTING DEFECT OF PHOTOMASK AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

フォトマスクの欠陥修正方法及び走査プローブ顕微鏡 - 特許庁

ANISOTROPIC FRICTION DATA ACQUISITION METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の異方摩擦データ取得方法 - 特許庁

PROBE FOR SCANNING TUNNELING MICROSCOPE AND METHOD OF FABRICATION例文帳に追加

走査型トンネル顕微鏡用探針およびその作製方法 - 特許庁

CANTILEVER HOLDER AND SCANNING PROBE MICROSCOPE EQUIPPED THEREWITH例文帳に追加

カンチレバーホルダーおよびこれを備えた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

CANTILEVER FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用カンチレバーおよびその製造方法 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND EXCITATION METHOD FOR CANTILEVER ARRAY例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡及びカンチレバーアレイの励振方法 - 特許庁

SELF DISPLACEMENT SENSING CANTILEVER AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

自己変位検出型カンチレバーおよび走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

SENSOR FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査型探針顕微鏡用センサ及びその製造方法 - 特許庁

PROBE OF SCANNING TUNNELING MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

走査型トンネル顕微鏡の探針及びその製造方法 - 特許庁