「Scanning Probe Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a scanning method in a scanning probe microscope attaining accurate magnetic measurement of a sample under a strong magnetic field, without causing disarray of the magnetic structure of the sample, and to provide a strong magnetic field scanning probe microscope device.例文帳に追加

プローブが試料の磁気構造を乱すことなく、強磁場下における試料の磁気的測定をより正確に行うことができる走査型プローブ顕微鏡における走査方法及び強磁場走査型プローブ顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

The probe card 14 and the scanning probe microscope 19 are disposed in an array, and the wafer 12 is held by a wafer chuck 15 and horizontally moved by a horizontal moving mechanism 16 between the application position of a needle under the probe card 14 and the measurement position of a needle trace under the scanning probe microscope 19.例文帳に追加

プローブカード１４と走査型プローブ顕微鏡１９とは並設されており、ウエハ１２は、ウエハチャック１５によって保持され、水平移動機構１６により、プローブカード１４下の針当て位置と走査型プローブ顕微鏡１９下の針跡計測位置との間で水平移動される。 - 特許庁

To provide a probe for a scanning probe microscope that sets contact resistance to low impedance of the same degree as a bulk metal and measures the position of the probe, which traces the surface of a sample being a target measuring article by a means other than an optical means, and to provide the scanning probe microscope using the same.例文帳に追加

接触抵抗をバルク金属と同程度の低インピーダンスにすると共に、光学的手段以外の手段により、対象測定物である試料表面をトレースするプローブの位置を計測する走査型プローブ顕微鏡用プローブ及びそれを用いた走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To continuously perform measurements without having to remove foreign matter from a probe tip part nor replace a cantilever even if foreign matter has adhered to a probe tip in a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡において、プローブ尖端へ異物が付着しても、異物をプローブ尖端部から除去してカンチレバー交換をすることなく測定を継続可能とすること。 - 特許庁

To enhance rigidity of XY slow motion mechanisms, to improve a scanning speed, and to miniaturize a device without narrowing a scanning area in a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡において、走査領域を狭めることなく、XY微動機構の剛性を高め、走査速度の向上と装置の小型化をはかることを目的とする。 - 特許庁

This scanning probe electron microscope 100 has a probe 101 removably mounted on a head 108 by a kinematic mounting technique.例文帳に追加

走査型プローブ電子顕微鏡１００は運動学的取付け手法によりヘッド１０８内に取外し可能に取り付けたプローブ１０１を有する。 - 特許庁

To provide the probe of a scanning probe microscope(SPM) having the channel structure of a field effect transistor formed at the tip thereof, and its fabricating method.例文帳に追加

チップの先に電界効果トランジスタのチャンネル構造が形成されたスキャニングプローブマイクロスコープ(SPM)の探針及びその製作方法を提供する。 - 特許庁

To cut a carbon nanotube adhering to the tip of a probe of a scanning type probe microscope or a handling device to an arbitrary length at an arbitrary position.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡あるいはハンドリング機器のプローブ先端部に付着したカーボンナノチューブについて任意の長さや位置で切断する。 - 特許庁

To provide a conductive nanotube probe with reduced electric resistance, and an electrical characteristics evaluation apparatus and a scanning microscope which use the probe.例文帳に追加

電気抵抗を低減した導電性ナノチューブ探針、それを用いた電気特性評価装置及び走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope which can prevent frost from adhering to the surface of a sample.例文帳に追加

試料表面上への霜の付着を防止することができる走査形プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

A vibration probe 18 of a scanning force microscope is engaged with a sample surface 24 in an initial approach process.例文帳に追加

走査型力顕微鏡の振動プローブ１８を、初期接近プロセスで試料表面２４に係合させる。 - 特許庁

To execute fast and precise atomic tracking with respect to a scanning probe microscope.例文帳に追加

本発明は走査型プローブ顕微鏡に関し、高速で正確な原子追跡を実施することを目的としている。 - 特許庁

DETECTING DEVICE, DETECTING METHOD, VEIN SENSING DEVICE, SCANNING PROBE MICROSCOPE, DISTORTION DETECTING DEVICE, AND METAL DETECTOR例文帳に追加

検出装置、検出方法、静脈センシング装置、走査プローブ顕微鏡、歪み検知装置および金属探知機 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of measurement in liquid for stably retaining liquid near a cantilever.例文帳に追加

カンチレバー付近の液体が安定に保持される液中測定可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope with which proper sample images containing not noise component can be obtained.例文帳に追加

ノイズ成分を含まない良好な試料像を得ることができる走査形プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope which can always keep vibration amplitude of a cantilever being fixed.例文帳に追加

カンチレバの振動振幅を常に一定に保持することができる走査形プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To avoid the situation where a plurality of probes of a multiple-scanning-probe microscope (MPSPM) collide with one another.例文帳に追加

走査型マルチプローブ顕微鏡（ＭＰＳＰＭ）の複数の探針が互いに衝突する事態を回避すること。 - 特許庁

To provide a high-speed scanning probe microscope capable of efficiently selecting an optimum control parameter value.例文帳に追加

最適な制御パラメーター値を効率的に選び出すことが可能な高速の走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a sample stand fixed stably and firmly to a scanning probe microscope by adsorption inclusions.例文帳に追加

吸着介在物によって走査型プローブ顕微鏡に安定にして強固に固定される試料台を提供する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing an acute probe made of iridium, easy to handle, for the observation of a scanning tunneling microscope.例文帳に追加

取扱が容易な尖鋭な走査トンネル顕微鏡観察用イリジウム製探針の製作方法を提供する。 - 特許庁

To make more accurately observable the surface of a sample in a scanning probe microscope to acquire a force curve.例文帳に追加

フォースカーブを取得する走査型プローブ顕微鏡において、より正確に試料表面を観察できるようにする。 - 特許庁

ANALYSIS METHOD OF GROOVE SHAPE BY SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND EVALUATION METHOD OF DISK SUBSTRATE OR LIGHT GUIDE PLATE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡による溝形状の解析方法およびディスク基板または導光板の評価方法 - 特許庁

An atmospheric pressure scanning tunnel microscope system is used, and Pt/Ir is used for a probe 2 as one electrode.例文帳に追加

大気圧走査トンネル顕微鏡システムを用い、一方の電極としての探針２にはＰｔ／Ｉｒを用いる。 - 特許庁

To provide a low-cost scanning probe microscope capable of acurately aligning a laser beam to a cantilever.例文帳に追加

レーザー光のカンチレバーへの位置合わせを正確に行える低コストの走査形プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

An SPM (scanning probe microscope) can write fine patterns on a substance by manipulating atoms one by one. 例文帳に追加

SPM(走査プローブ顕微鏡)は、原子1個1個を操作することにより、物質上に微細なパターンを描くことができる。 - 科学技術論文動詞集

To provide a probe approach method for bringing a probe closer quickly, reliably avoiding the collision between the probe and the sample, and surely preventing the damage in the probe or the like when bringing the probe closer to the sample surface in a scanning type probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡で、試料表面に向かって探針を接近させるとき、探針を短時間で接近させ、かつ探針と試料の衝突を確実に避け、探針等の破損を確実に防止する探針接近方法を提供する。 - 特許庁

To provide a positioning method of the measuring position of a scanning probe microscope, capable of performing positioning at a high speed with high precision, by eliminating the positional shift caused by the coarse operation of a Z-coarse adjustment part, at positioning of the probe at the measuring position in the scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡での測定位置の探針位置決めで、Ｚ粗動部の粗動動作に起因する位置ズレを解消し、高精度でかつ高速な位置決めを行うことができる走査型プローブ顕微鏡の測定位置の位置決め方法を提供する。 - 特許庁

To conduct baking for an ultra-high vacuum scanning probe microscope including a component, not heat-resistant in a baking temperature, comprising a resin, an adhesive or the like, in the microscope.例文帳に追加

装置中に樹脂や接着剤等のベーク温度に耐えられない部品を含んだ超高真空走査形プローブ顕微鏡のベークを行う。 - 特許庁

This scanning probe system 100 is provided with a connection member 1 attachable to the revolver of the exiting optical microscope, and the scanning probe unit attached detachably to the connection member 1.例文帳に追加

走査型プローブ装置１００は、既存の光学顕微鏡の対物レボルバに装着可能な接続部材１と、接続部材１に着脱される走査型プローブユニット２０とを備えている。 - 特許庁

By using a scanning thermal microscope cantilever 1 of a structure with a hole opening or a scanning thermal microscope probe of a structure in which a probe tip projects from the cantilever, the surface temperature of a sample 6 in the vicinity of the beam irradiation position can be measured.例文帳に追加

穴開き構造の走査熱顕微鏡カンチレバー1またはカンチレバーから探針先端が突き出した構造の走査熱顕微鏡探針を使用して、ビーム照射位置近傍のサンプル6の表面温度を測定できるようにする。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of substantially reducing the effects of hysteresis of piezoelectric elements even at rotation in a scanning direction and eliminating distortion of images in the case that relative scanning between a sample and a probe is performed by the piezoelectric elements.例文帳に追加

試料とプローブの相対的な走査をピエゾ素子によって行う場合に、走査方向の回転時にもピエゾ素子のヒステリシスの影響を著しく低減し、像のゆがみをなくした走査プローブ顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To provide a probe scanning control device, scanning probe microscope by the same, probe scanning control method, and measuring method by the scanning control method, capable of detecting a solid-shaped sample where the angle of inclination changes, with fixed resolution in the direction of the shape of the sample.例文帳に追加

傾斜角の変化する立体形状試料に対して、試料形状方向の分解能を一定として検出できるプローブの走査制御装置、該走査制御装置による走査型プローブ顕微鏡、及びプローブの走査制御方法、該走査制御方法による測定方法を提供する。 - 特許庁

The amount of scanning and the amount of interval control are controlled in such a way that the relative velocity between the probe and the sample in the direction of the surface of the sample may be constant in the probe scanning control device, scanning probe microscope, working device, probe scanning control method, measuring method, and working method for detecting information on the sample by relatively scanning the sample with the probe.例文帳に追加

探針を試料に対し相対走査して該試料上の情報を検出するプローブの走査制御装置、走査型プローブ顕微鏡、加工装置、およびプローブの走査制御方法、測定方法、加工方法において、前記試料表面方向において探針と試料とのなす相対速度が一定となるように、走査量と間隔制御量を制御するように構成する。 - 特許庁

This scanning probe microscope is equipped with an optical-type high-sensitive proximity sensor to control approximation between the sample and the probe, achieving speed-up of approach to each measured place.例文帳に追加

光学式の高感度近接センサを具備して試料と探針との接近を制御することによって、各測定箇所へのアプローチを高速化した。 - 特許庁

This scanning probe microscope is provided with an optical high-sensitive proximity sensor to control approximation between a sample and a probe, allowing high-speed approach to each measuring point.例文帳に追加

光学式の高感度近接センサを具備して試料と探針との接近を制御することによって、各測定箇所へのアプローチを高速化した。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of detecting accurately the displacement quantity of a probe, and thereby observing the accurate surface structure of a measuring sample.例文帳に追加

探針の変位量を正確に検出し、ひいては被測定試料の正確な表面構造を観測できる走査型プローブ顕微鏡の提供。 - 特許庁

To provide a probe canning control method and a scanning probe microscope capable of satisfactorily and continuously observing a sample in the same field of view.例文帳に追加

試料の同視野の連続観察を良好に行うことができる探針走査制御方法および走査形プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To accurately perform measurement with a scanning probe microscope for observing a μm-class fine target without causing a probe to be worn out.例文帳に追加

μｍ級の微細な対象物の観察を行える走査型プローブ顕微鏡での測定を探針摩耗の問題を起こすことなく高い測定精度で行える。 - 特許庁

A scanning probe microscope is provided where the probe 2 is temporarily separated from the sample surface after sampling the observation data, and is moved to a next observation point.例文帳に追加

観測データを採取後は探針２を一旦試料表面から離し、次の観測点に移動させる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of accurately controlling the distance between a probe and a sample and capable of measuring the magnetic force of a cooled sample with good reproducibility.例文帳に追加

プローブと試料の距離を正確に制御し、冷却した試料の磁気力が再現性良く測定できる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of performing highly accurate three-dimensional profile measurement while no sliding of the probe or deformation of the sample substantially occurs.例文帳に追加

探針の滑りや試料の変形が実質的にない状態での高精度な立体形状計測が可能な走査プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope that observes the surface of a sample even when a probe does not contact the sample irrespective of a Q value of a cantilever.例文帳に追加

カンチレバーのＱ値に拘わらず、探針が試料に接触しなくても試料表面を観察することができる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a probe for a scanning probe microscope equipped with a peak part made of monolayer carbon nanotubes, its inspection method, and its usage.例文帳に追加

単層カーボンナノチューブから成る尖頭部を備えた走査プローブ顕微鏡用探針の製造方法、検査方法およｂ使用方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope that can improve rigidity of an XY fine motion mechanism without narrowing the scan region, increase the scanning speed, and miniaturize a device.例文帳に追加

走査領域を狭めることなく、ＸＹ微動機構の剛性を高め、走査速度の向上と装置の小型化できる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanner for SPM (scanning probe microscope) which is miniaturized without sacrificing displacement amount and which is suitable for a high-speed scanning operation having a high resonance frequency.例文帳に追加

変位量を犠牲にすることなく、小型化された、従って高い共振周波数を有する高速走査に適したＳＰＭ用スキャナを提供する。 - 特許庁