「Scanning Probe Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(13ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method of manufacturing a sample suitable for evaluating two-dimensional carrier distribution by a scanning probe microscope, wherein the sample is used for measuring the two-dimensional carrier distribution.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡による２次元キャリア分布の評価に適した２次元キャリア分布測定用試料の作製方法を提供する。 - 特許庁

Then, the sample 10 is set up on the stage on a piezo element three-dimensional scanner 4 of a scanning probe microscope in the direction wherein the plurality of layers are aligned laterally.例文帳に追加

次に、複数の層が横に並ぶ方向で、試料１０を走査型プローブ顕微鏡のピエゾ素子３次元スキャナ４上のステージに設置する。 - 特許庁

The device for analyzing a biomolecule function structure is provided with a sample stand plate 10, scanning probe microscope section 20, and an electric measurement device 30.例文帳に追加

試料台基板１０と、走査プローブ顕微鏡装置部２０と、電気測定装置部３０とを備えることを特徴とする生体分子機能構造解析装置。 - 特許庁

To provide a cantilever tip holder for measurement in liquid for a scanning probe microscope capable of cleaning easily a passage for pouring the liquid.例文帳に追加

液体を流すための流路の洗浄を容易に行なえる、走査型プローブ顕微鏡のための液中測定用のカンチレバーチップホルダーを提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of highly accurately measuring by selecting the optimum measuring environment according to a measuring condition.例文帳に追加

測定条件によって最適な測定環境を選択することで、より精度の高い測定を可能とする走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope and its measuring method for utilizing a gradient method and automatically measuring a sidewall.例文帳に追加

傾斜法を利用して側壁等を測定する方法で自動的な計測を行うことができる走査型プローブ顕微鏡およびその計測方法を提供する。 - 特許庁

The method and device for scanning a sample with a scanning probe microscope includes a step for scanning the surface of the sample according to at least one scanning parameter to obtain data corresponding to the surface, and a step for substantially automatically identifying a transition part on the surface.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡でサンプルを走査する方法および装置は、少なくとも一つの走査パラメータに応じてサンプルの表面を走査して表面に対応するデータを取得するステップと、表面における変移部を略自動的に識別するステップとを有する。 - 特許庁

XY slow motion mechanisms 6, 12 of a scanning probe microscope are arranged on both the sample side and the cantilever side, both XY slow motion mechanisms 6, 12 are independently operated, and a probe 1a and a sample 2 are releatively scanned.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡のXY微動機構６、１２をサンプル側とカンチレバー側の双方に設け、双方のXY微動機構６、１２を独立に動作させて、探針１ａとサンプル２を相対的に走査させた。 - 特許庁

The prism-shaped oscillator measurement 13 is brought close to an optional sample surface as a probe and suitable to a probe for a scanning microscope observing the surface condition.例文帳に追加

振動子マス１３は四面体形状であり、その振動子マス１３を任意の試料表面にプローブとして近接させ、表面状態を観察する走査型力顕微鏡のプローブに適している。 - 特許庁

To produce a scanning tunnel microscope(STM) probe preventing the contamination of a probe and using the function of STM without improving an STM device to obtain high resolving power.例文帳に追加

探針の汚染を防ぎ、ＳＴＭ装置に改良を加えることなく、ＳＴＭの機能を使用して、しかも、高い分解能を得ることができる走査トンネル顕微鏡探針の作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide a vibration method of a cantilever for a scanning probe microscope including an excitation mechanism capable of vibrating the cantilever efficiently, capable of suppressing a noise of a displacement detection mechanism, suppressing a vibration noise of a member, and performing measurement having high resolution, concerning a scanning probe microscope in a vibration system.例文帳に追加

振動方式の走査型プローブ顕微鏡において、効率的にカンチレバーを振動させることができる加振機構を備え、変位検出機構のノイズを抑制するとともに、部材の振動ノイズを抑え、分解能の高い測定が可能となるような走査型プローブ顕微鏡用のカンチレバーの加振方法を提供する。 - 特許庁

The surgical microscope system 1 comprises a surgical microscope 7 for providing the microscopic image of an operation site, a (cofocus) light scanning probe 2 for providing the cofocus optical image for a subject, an observation device 3 for processing an image, and a navigation device 5 for detecting the observation position of the light scanning probe 2.例文帳に追加

手術用顕微鏡装置１は、手術部位の顕微鏡画像を得る手術用顕微鏡７と、被検体に対して共焦点光学像を得るための（共焦点）光走査プローブ２と、画像処理などを行う観測装置３と、前記光走査プローブ２の観察位置を検出するナビゲーション装置５とを有する。 - 特許庁

In the measuring method of physical data using a scanning probe microscope, the spring constant of the cantilever 1 of the scanning probe microscope is continuously changed to find out the optimum value of the spring constant most easily acquiring the physical property data of a measurement target.例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡を用いた物性情報の測定方法において、走査プローブ顕微鏡のカンチレバー１のバネ定数を連続的に変化させて、測定対象物の物性情報を最も得られやすいバネ定数の最適値を見出し、バネ定数を有するバネによって所望の物性情報を得る。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope and cantilever management method suitable for automatic inspection process capable of automatically replace with a new probe or inducing a user to replace a probe when the tip of the probe has worn while surely monitoring the tip condition of the probe in real time and in a short time.例文帳に追加

探針の先端状態をリアルタイム、短時間で確実にモニタでき、使用中の探針の先端が磨耗等したときに、自動的に新しい探針に交換しまたはユーザに交換を促すことができる自動検査工程に適した走査型プローブ顕微鏡およびカンチレバー管理方法を提供する。 - 特許庁

The scanning probe microscope comprises a probe holding mechanism A for pushing to hold a probe B having fixed a cantilever 6 provided with a probe 5 at its end by a lever 21 by a force acting equally on three clamp surfaces 3a, 3b, and 3c in a lower surface of a clamp body 1.例文帳に追加

本発明の走査型プローブ顕微鏡は、先端に探針５を設けたカンチレバー６を固着したプローブＢを、クランプ本体１の下面の３つのクランプ面３ａ，３ｂ，３ｃに等しく作用する力でレバー２１によって押し付けて保持するプローブ保持機構Ａを備えている。 - 特許庁

While applying a constant voltage of 10 V between a probe 1210 of the scanning probe microscope 1000 and a positive electrode core material PB, surface of the positive electrode mixture layer PA is scanned by means of the probe 1210, and the value of a current flowing between the probe 1210 and the positive electrode core material PB is measured.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡１０００の探針１２１０と正極芯材ＰＢとの間に１０Ｖの定電圧を印加しつつ，正極合材層ＰＡの表面に探針１２１０を走査させるとともに，探針１２１０と正極芯材ＰＢとの間に流れる電流値を測定する。 - 特許庁

The scanning probe microscope is constituted so as to detect the physical quantity acting across a probe and a sample, and includes a scanner for relatively scanning the probe and the sample, at least two scanner drive circuits corresponding to the scanning region of the scanner, and a switching means for switching at least two scanner drive circuits.例文帳に追加

探針と試料との間に作用する物理量を検出する走査形プローブ顕微鏡において、探針と試料を相対的に走査するスキャナと、前記スキャナの走査領域に対応した少なくとも２個のスキャナ駆動回路と、前記少なくとも２個のスキャナ駆動回路を切り替える切替手段と、を備えた走査形プローブ顕微鏡。 - 特許庁

As a result, the inspection time (tact time) with the atomic force microscope is greatly shortened by using a small region corresponding to a half or less of a scanning measurement region with a magnetic probe of a cantilever unit of the magnetic force microscope as a scanning measurement region of a recording section surface of the magnetic head using the atomic force microscope.例文帳に追加

すなわち、磁気力顕微鏡のカンチレバー手段の磁性探針によるスキャン測定領域の半分以下の小さな領域を原子間力顕微鏡を用いた磁気ヘッドの記録部表面のスキャン測定領域として、原子間力顕微鏡による検査時間（タクトタイム）を大幅に短縮化できるようにした。 - 特許庁

To provide a method for finding a minute sample scattered widely on a substrate in a short time and provide a method for securely moving the sample to an arbitrary position on the substrate by a probe of a scanning probe microscope with reduced damages of the probe and the sample.例文帳に追加

基板上に広く分散した微細な試料を短時間に発見する方法と、その試料を、走査型プローブ顕微鏡の探針により前記基板の任意の位置に、探針・試料のダメージが少なく、確実に移動させる方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for detecting microscopic sample dispersed widely on substrate, in a short time, and to provide a method for surely moving the sample to any little position on the substrate, by using probe of the scanning probe microscope with little damage on the probe/sample.例文帳に追加

基板上に広く分散した微細な試料を短時間に発見する方法と、その試料を、走査型プローブ顕微鏡の探針により前記基板の任意の位置に、探針・試料のダメージが少なく、確実に移動させる方法を提供すること。 - 特許庁

To provide both a probe-rotating mechanism capable of highly accurately and correctly measuring even an extremely irregularly shaped object and an object having large level differences by changing the direction of a probe and a scanning probe microscope with the same.例文帳に追加

プローブの向きを変えることによって、凹凸形状の激しい物体や、段差の大きな物体においても高精度で正確な測定が可能となるプローブ回転機構、および該プローブ回転機構を有する走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electromagnetic wave microscope capable of positioning a distance between a probe tip and a sample in response to necessary resolution and physical quantity measurement distributed at an optional distance from a sample surface, and carrying out resolution-selective scanning by constant distance scanning and high speed scanning of interaction by constant scanning.例文帳に追加

本発明は、サンプル表面から任意距離に分布する物理量測定や必要な分解能に応じたプローブ先端部とサンプル間距離の位置決めが可能で、距離一定走査による分解能選択走査と、相互作用を一定走査による高速走査が行える走査型電磁波顕微鏡を得ることにある。 - 特許庁

The mask pattern correction method includes the steps of: acquiring three-dimensional information of a first portion where no black defect is present in a pattern edge of a mask pattern 5 by using a scanning probe microscope; and correcting a second portion where a black defect 2 is present in the pattern edge of the mask pattern 1 based on the three-dimensional information by using the probe of the scanning probe microscope.例文帳に追加

マスクパターン修正方法は、マスクパターン５のパターンエッジに黒欠陥が存在しない第１の部分の３次元情報を走査型プローブ顕微鏡を用いて取得するステップと、前記３次元情報に基づいてマスクパターン１のパターンエッジに黒欠陥２が存在する第２の部分を前記走査型プローブ顕微鏡のプローブを用いて修正を行うステップとを含む。 - 特許庁

The water developable photosensitive flexographic printing plate has a phase structure having ≥3 distinguishable phases when a section of the plate is observed with a horizontal force (frictional force) microscope as a kind of scanning type probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の一種である水平力(摩擦力)顕微鏡で断面を観察した場合、識別可能な相が三相以上ある相構造を特徴とする水現像型感光性フレキソ印刷版。 - 特許庁

The scanning probe microscope 100 contains a XY stage 110 on which a sample 108 is mounted, a SPM unit 120 for obtaining the SPM image, and a light microscope unit 130 for obtaining the light microscopic image.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡１００は、試料１０８が載置されるＸＹステージ１１０と、ＳＰＭ像を得るためのＳＰＭユニット１２０と、光学顕微鏡像を得るための光学顕微鏡ユニット１３０とを有している。 - 特許庁

To cancel a shift between a displacement amount of a cantilever generated in two-dimensional scan and a positional displacement amount of a spot of a laser beam, in a scanning type probe microscope using a probe scanning system arranged with a laser beam source between an XY piezo scanner for conducting the two dimensional scanning and a Z piezo scanner for conducting height-directional control to conduct the scanning.例文帳に追加

２次元的な走査を行うＸＹピエゾスキャナと高さ方向の制御を行うためのＺピエゾスキャナとの間にレーザ光源を配置して走査するプローブ走査方式を用いた走査型プローブ顕微鏡において、２次元走査時に生じるカンチレバーの変位量と、レーザ光のスポットの位置の変位量のズレをキャンセルする。 - 特許庁

A microminiaturized structure is formed on the surface of a substrate, by scanning a probe of a scanning probe microscope so as to abut on or come close to the surface of the substrate, and moving the microminiaturized structure by the cooperation between the microminiaturized structure present on the surface of the substrate and the probe.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡のプローブを基板表面に当接または近接させながら走査して、前記基板表面に存在する微細構造材と前記プローブとの間の相互作用によって、前記微細構造材を移動させて、前記基板表面上に微細構造を形成することを特徴とする。 - 特許庁

This method is applied for a scanning type probe microscope having a measuring part for scanning a sample 12 by a probe 25 to measure a physical quantity about the sample surface, and constituted to be provided with an XY fine moving mechanism 24 for moving the probe finely, and an XY stage 51 for moving the sample roughly.例文帳に追加

この測定方法は、探針２５で試料１２を走査して試料表面に関する物理的量を測定する測定部を有し、かつ探針を微動させるＸＹ微動機構２４と試料を粗動させるＸＹステージ５１を備えるように構成された走査型プローブ顕微鏡に適用される。 - 特許庁

This scanning probe microscope equipped with a probe arranged oppositely to the sample, a Z-direction scanner driven in the Z-direction, an X, Y-direction scanner for scanning in the X, Y directions, and a measuring head for detecting displacement of the probe, is also equipped with a Z-direction correction means for correcting the macro Z-direction fluctuation portion from the reference height.例文帳に追加

試料と対向配置するプローブと、Ｚ方向に駆動するＺ方向スキャナーと、Ｘ，Ｙ方向に走査するＸ，Ｙ方向スキャナーと、プローブの変位を検出する測定ヘッドを具備する走査型プローブ顕微鏡において、基準高さからのマクロなＺ方向変動分を補正するＺ方向補正手段を備える。 - 特許庁

The scanning probe microscope includes a light source 35 for irradiating the photoreactive substance on the substrate 1, a sensor 27 for detecting the photoreaction produced in the photoreactive substance by inspection light, an arranging mechanism 145 for arranging a probe 40 to a photoreactive region where the photoreaction on the substrate 1 is detected and a scanning mechanism 45 for allowing the probe 40 to scan the photoreactive region.例文帳に追加

基板1上の光反応物質に検査光を照射する光源35、検査光により光反応物質で生じた光反応を検出するセンサー27、基板1上の光反応が検出される光反応部位に探針40を配置する配置機構145、及び探針40に光反応部位を走査させる走査機構45を備える。 - 特許庁

The probe for the scanning probe microscope includes a cantilever like base part 101 equipped with a conical needle part 101a, the insulating layer 102 formed the base part 101 and the electron discharge layer 103 formed on the insulating layer 102.例文帳に追加

円錐状の針部１０１ａを備えたカンチレバー状の基部１０１と、基部１０１の上に形成された絶縁層１０２と、絶縁層１０２の上に形成された電子放出層１０３とを備える。 - 特許庁

An oxide layer is formed on the surface of an SOI substrate through such a method where the surface of the SOI substrate is scanned applying a voltage between the probe of a scanning probe microscope and a specimen in an atmosphere of relative humidity 20% or below.例文帳に追加

ＳＯＩ基板の表面を相対湿度２０％以下の雰囲気中で走査型プローブ顕微鏡探針と試料間に電圧を印加した状態で走査することにより表面の酸化層を形成させる。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of measuring the shape and the property of the sample surface by preventing growth of ice on the sample surface at the sample cooling time.例文帳に追加

試料冷却時に試料面の氷の成長を防止して試料面の形状、及び物性を測定することを可能とする走査型プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

The flame-resistant fiber has the value of the ratio of the modulus of elasticity of the surface layer part of the fiber to that of the central part of the fiber of ≥0.7 measured by using a scanning probe microscope by a nanoindentation method.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡を用いてナノインデンテーション法により測定した繊維の表層部と中心部の弾性率の比の値が０．７以上である耐炎化繊維。 - 特許庁

To obtain a scanning probe microscope capable of preventing the lowering of detection precision based on the relative positional relation of a laser beam source and the reflecting part of a cantilever, and to provide the cantilever.例文帳に追加

レーザ光源とカンチレバーにおける反射部の相対的な位置関係に基づく検出精度の低下を防止できる走査型プローブ顕微鏡及びカンチレバーを得る。 - 特許庁

To provide an inexpensive scanning probe microscope fitted with a dynamic vibration reducer capable of accurately obtaining measuring data reduced in noise with high resolving power.例文帳に追加

ノイズを低減した測定データを正確に且つ高分解能に得ることが可能な低コストな動吸振器付き走査型プローブ顕微鏡及びその測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a reference sample for a scanning probe microscope capable of accurately detecting each force becoming a standard, without being affected by unevenness data of surface.例文帳に追加

表面の凹凸情報に影響されることなく基準となる各力を正確に検出することができる走査型プローブ顕微鏡の標準サンプルを提供すること。 - 特許庁

To enable reliable measurement high in S/N in a scanning probe microscope measuring the surface state or surface vol. distribution of a sample.例文帳に追加

試料２５の表面状態や表面の容量分布を測定する走査型プロ−ブ顕微鏡において、Ｓ／Ｎが高く信頼性のある測定ができるようにする。 - 特許庁

To provide a cantilever holding mechanism which is suitable for an observation or the like in a liquid and by which a cantilever can be attached easily to a cantilever mounting base, and to provide a scanning probe microscope.例文帳に追加

液中観察などに適し、カンチレバをカンチレバ取付台に容易に取付けることができるカンチレバ保持機構および走査形プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a program which enables operation of a new scanning method which is always not associated with the contact of a probe with a sample surface such as that in a non-contact mode or a point contact mode, while maintaining the versatility of a contact mode, in regard to the program for forming an instruction which makes a computer operate the scanning method of a scanning type probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の走査方法をコンピュータに実行させる指示を生成するプログラムにおいて、コンタクトモードの汎用性を維持しつつ、非接触モードやポイントコンタクトモードのように、常時探針と試料表面の接触を伴わない新たな走査方法を実施可能とするプログラムを提供する。 - 特許庁

The analysis method is at least one method selected from the group consisting of transmission electron microscope, scanning electron microscope, electron probe microanalysis, Auger electron spectroscopy, atom probe, infrared spectroscopy, laser Raman spectroscopy, inductive coupled plasma spectroscopy, liquid chromatography, and gas chromatography.例文帳に追加

該分析方法は、透過型電子顕微鏡、走査型電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナリシス、オージエ電子分光、２次イオン質量分析、アトムプローブ、赤外分光、レーザーラマン分光、誘導結合プラズマ、液体クロマトグラフ、ガスクロマトグラフからなる群より選択される少なくとも一つの方法である。 - 特許庁

With this arrangement, when the CNT probe, due to distortion or slipping, collides with the sample surface, destruction and deformation of the tip part of the base probe and tip part of the joined part can be prevented to provide the CNT cantilever having high durability for a scanning probe microscope.例文帳に追加

このような構成により、ＣＮＴ探針の撓みや滑りによる試料表面との衝突時にベース探針先端部と接合部先端部の破壊や変形が防止でき、高い耐久性を持った走査型プローブ顕微鏡用ＣＮＴカンチレバーを提供できる。 - 特許庁

To provide a probe control method of a scanning probe microscope capable of measuring an irregular shape or the like of the sample surface by a step-in method relative to a measuring point determined beforehand, heightening throughput of measurement, and reducing breakage or damage caused by collision of the probe.例文帳に追加

試料表面の凹凸形状等を予め決められた測定点についてステップイン方式で測定し、測定のスループプットを高め、探針の衝突による破損・ダメージを減少できる走査型プローブ顕微鏡の探針制御方法を提供する。 - 特許庁

To provide an optical axis adjusting method capable of easily setting an optical axis in the rear surface of a cantilever in a scanning probe microscope equipped with an optical lever type displacement detection system constituted by utilizing the rear surface of the cantilever, an optical axis adjusting auxiliary jig fitted thereto and the scanning probe microscope having optical axis adjusting constitution.例文帳に追加

カンチレバーの背面を利用して構成される光テコ式の光学式変位検出系を備えた走査型プローブ顕微鏡でカンチレバーの背面での光軸設定を容易に行える光軸調整方法、この光軸調整法に適した光軸調整用補助具、およびこの光軸調整の構成を有する走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a self displacement sensing cantilever that allows measurement of a scanning probe microscope to be simultaneously executed under irradiation with light, facilitates application of a functional coating film without impairing functions of a displacement detection unit, and also, allows physical properties such as light, electricity, and magnetism to be highly accurately and easily measured, and a scanning probe microscope.例文帳に追加

光を照射しながら走査型プローブ顕微鏡の測定を同時に行うことが可能で変位検出部の機能を損なうことなしに機能性の被膜を容易に行うことができ、光、電気、磁気などの物性を高精度で容易に測定可能となる自己変位検出型カンチレバー及び走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁