「Scanning Probe Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(17ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method of correcting the defects of a photomask which is capable of precisely removing the residual defects below 500 nm without the damage on a quartz substrate and segments exclusive of the defects after the correction of the remaining defects formed on a mask and is capable of easily detecting even the end point of the correction and a scanning probe microscope used for the same.例文帳に追加

マスクに形成された残留欠陥修正後の石英基板や欠陥以外の部分へのダメージが無く、５００ｎｍ以下の残留欠陥を精度良く除去することが可能で、修正のエンドポイントも容易に検出できるフォトマスクの欠陥修正方法及びそれに用いる走査プローブ顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

The constituent materials of the toner are so selected that a charge control resin has hardness which is the same as the hardness of a binder resin or the charge control resin is harder than the binder resin, as measured with a scanning probe microscope in a viscoelasticity evaluation mode, with respect to the binder resin and the charge control resin, which are present in the particle interiors or particle surfaces of the toner.例文帳に追加

トナーの内部あるいは表面にある該バインダー樹脂と該荷電制御樹脂に対して、走査型プローブ顕微鏡による粘弾性評価モードによる測定を行った場合に、該荷電制御樹脂の硬さが、該バインダー樹脂の硬さと同じか、または、該荷電制御樹脂が、該バインダー樹脂よりも硬くなるようにトナーの構成材料を選択する。 - 特許庁

In the microscopic surface temperature distribution measuring device 100, a material having a predetermined relationship with temperature dependency of a resonance frequency is used as the cantilever 1 in the scanning probe microscope, temperature change of the cantilever 1 is measured as change of the resonance frequency, and a temperature is measured by converting the change into temperature on the basis of the predetermined relationship.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡におけるカンチレバー１として、共振周波数の温度依存性に所定の関係を有する材料を用い、前記カンチレバー１の温度変化を前記共振周波数の変化として測定し、前記所定の関係により温度に換算して測温する微小表面温度分布測定装置１００とする。 - 特許庁

In a magnetic head for a contact slide type linear tape drive sliding in contact with the magnetic tape upon recording and/or reproduction of a magnetic signal, a surface sliding in contact with the magnetic tape upon contact sliding has a plurality of recessed parts observed in a surface projecting and recessed image of a scanning probe microscope and the plurality of recessed parts satisfy the following (1) to (4).例文帳に追加

磁気信号の記録および／または再生時に磁気テープと磁気ヘッドとが接触摺動する接触摺動型リニアテープドライブ用磁気ヘッドにおいて、接触摺動時に磁気テープと接触摺動する面に、走査型プローブ顕微鏡の表面凹凸像において観察される凹部を複数有し、かつ該複数の凹部は下記（１）〜（４）を満たす。 - 特許庁

A method for obtaining a crystal lattice Moire pattern of a crystal structure through the use of a scanning microscope includes the process for periodically arranging a plurality of virtual lattice points in a scanning surface of the crystal structure according to the crystal structure and orientation, the process for detecting signals from the plurality of virtual lattice points through the use of an incidence probe, and the process for generating a crystal lattice Moire pattern of the crystal structure on the basis of detected signals.例文帳に追加

走査型顕微鏡を用いて、結晶構造の結晶格子モアレパターンを取得する方法であって、前記結晶構造の走査面において、前記結晶構造と方位に対応して、複数の仮想格子点を周期的に配置する工程と、入射プローブを用いて複数の前記仮想格子点からの信号を検出する工程と、検出した前記信号に基づいて、前記結晶構造の結晶格子モアレパターンを生成する工程と、を備えている。 - 特許庁

In the scanning probe microscope, the tube scanner is the above-mentioned tube scanner.例文帳に追加

また、試料と、前記試料に対向する探針と、前記試料と前記探針を相対的に２次元走査すると共に、試料と探針との間の距離を変化させるチューブスキャナと、を備え、前記探針と前記試料との間に作用する物理量により検出される信号に基づいて像を表示する走査形プローブ顕微鏡において、チューブスキャナが前記チューブスキャナであることを特徴とする走査形プローブ顕微鏡。 - 特許庁

To provide a method for quantitatively measuring the surface potential distribution of a solid, especially a semiconductor with high space dissolving capacity using a scanning type tunnel microscope by solving the conventional technical problem that the distance between a probe and the surface of a sample and the thickness of the depleted layer of the surface of the sample are unclear and the measurement in the depleted layer region is difficult, and an apparatus therefor.例文帳に追加

探針／試料表面距離が不明、試料表面の空乏層 厚が不明、空乏層領域での計測が困難、という従来技術の問題点を解決し、固体表面、特に半導体表面の表面電位分布を、走査型トンネル顕微鏡を用いて高い空間分解能で定量的に計測する方法とそのための装置を提供する。 - 特許庁

A unit region where the pattern is formed is detected from the acquired image of the scanning probe microscope to calculate various characteristics in the detected unit region, and the irregularity of the various characteristics in a measuring region, the correlation between respective characteristics, the two-dimensional arrangement precision of each region in the measuring region and the like are displayed to easily grasp the characteristics of the pattern.例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡の取得画像から、パターンを形成する単位領域の検出を行い、各検出単位領域内における各種特性を算出し、測定領域内での各種特性のばらつき、各特性間の相関、測定領域内での各領域の二次元配列精度等を表示してパターンの特性が容易に把握できるようにする。 - 特許庁

The work function measuring instrument 100A is constituted so as to calculate the work function of the probe 2A of a conductive cantilever 1A from the known work function value of each region of a standard sample 3A calculated by photoelectron spectroscopy and the surface potential value of each region of the standard sample 3A measured by a scanning Kelvin force microscope having the conductive cantilever 1A.例文帳に追加

仕事関数測定装置１００Ａは、光電子分光法により求められた標準試料３Ａの各領域の既知の仕事関数値と、導電性カンチレバー１Ａを有する走査型ケルビンフォース顕微鏡により計測された標準試料３Ａの各領域の表面電位値とから、導電性カンチレバー１Ａの深針２Ａの仕事関数を算出する。 - 特許庁

The near field scanning optical microscope laser processing device is comprised of a laser beam source 110 generating a laser beam with the peak wavelength, an NSOM prove 110, a binding substrate 124 formed by materials substantially transmitting the laser peak wavelength, an NSOM mount holding the NSOM probe and the binding substrate controllably, an NSOM controller, and a photodetector combined optically with the NSOM mount.例文帳に追加

ピーク波長を有するレーザ光を発生するレーザ光源１１０と、ＮＳＯＭプローブ１１０と、レーザピーク波長をほぼ伝達する材料によって形成した結合サブストレート１２４と、ＮＳＯＭプローブおよび結合サブストレートを制御可能に保持するＮＳＯＭマウントと、ＮＳＯＭコントローラと、ＮＳＯＭマウントに光学的に結合される光検出器とを有する。 - 特許庁

The scanning probe microscope turns on a switch 8, when the probe 3 approaches the sample and turns off the switch 8, when performing the electrical measurement between the probes 3, 3'.例文帳に追加

試料と探針との間に流れる電流を利用して前記試料の表面を観察する試料観察装置であって、前記試料に対向する少なくとも２個の前記探針と、前記試料を置載する試料台と、前記試料台にバイアス電流を印加する試料バイアス電流印加手段と、前記試料バイアス電流印加手段を前記試料台より電気的に切り離すスイッチと、を備え、前記探針が前記試料にアプローチするときには前記スイッチをＯＮとし、前記探針間の電気計測するときには前記スイッチをＯＦＦとする走査形プローブ顕微鏡。 - 特許庁

The toner for electrostatic image development includes at least a binder resin, a colorant and a charge control agent, wherein the surface potential of an arbitrary surface of the toner particles for electrostatic image development after contact charging measured by a surface potential measuring mode of a scanning probe microscope varies from the surface potential before the contact charging by ≥±1,000 mV.例文帳に追加

少なくともバインダー樹脂、着色剤、荷電制御樹脂を含む静電荷像現像用トナーであって、走査型プローブ顕微鏡の表面電位測定モードで測定した接触帯電処理後の該静電荷像現像用トナー粒子の任意の表面の表面電位が、該接触帯電処理前の表面電位に対し正又は負に１，０００ｍＶ以上変化することを特徴とする静電荷像現像用トナー。 - 特許庁