「Scanning Probe Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method and a device for manufacturing a probe for a scanning probe microscope that can easily create the probe with a tip projection with a size of nanometer in a vacuum.例文帳に追加

ナノメートルサイズの先端突起を有する探針を真空下で簡便に作り出すことができる走査プローブ顕微鏡用探針の作製方法及びそのための装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning type probe microscope for stabilizing the measurement of a force gradient and a displacement current, for example, in an atomic force microscope for improving accuracy, and at the same time to provide a high-density information-reproducing apparatus using the configuration of the scanning-type probe microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡などにおける力勾配の測定と変位電流の測定を安定させ、精度を高めることを可能にする走査型プローブ顕微鏡を提供するとともに、この走査型プローブ顕微鏡の構成を用いた高密度の情報再生装置を提供する。 - 特許庁

To provide a high frequency magnetic field generation device for a scanning probe microscope, capable of efficiently operating with a simple configuration.例文帳に追加

簡単な構成で、効率的に稼動する走査型プローブ顕微鏡用高周波磁場発生装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of measuring a three-dimensional shape with no limitation on shape.例文帳に追加

形状の制約なしに３次元の立体形状を測定することが可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope for actualizing the downsizing of a device by dispensing with alignment adjustment on a detection system.例文帳に追加

検出系のアライメント調整を無くして装置の小型化を実現可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of exciting a cantilever in its resonance frequency to observe a sample.例文帳に追加

カンチレバをその共振周波数で加振して試料観察を行うことができる走査形プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To improve the capability of a scanning probe microscope following the surface and to improve the drawing accuracy of surface topography.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡が表面に追従する能力を高め、表面トポグラフィの描画精度を向上させること。 - 特許庁

CONDUCTIVE CARBON NANOTUBE TIP, SCANNING PROBE MICROSCOPE WITH SAME, AND METHOD FOR MANUFACTURING SAME例文帳に追加

導電性カーボンナノチューブチップ、これを備えた走査型プローブ顕微鏡のプローブ、及び該導電性カーボンナノチューブチップの製造方法 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of measuring a large-sized sample while keeping precision of several ten picometers.例文帳に追加

数十ピコメートルの精度を備えつつ、大型の試料を測定することができる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of easily adjusting the incident position of light upon a photodiode.例文帳に追加

フォトダイオードへの光の入射位置の調整を容易に行うことができる走査形プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of restraining a temperature rise in a scanner due to heating of a heating holder.例文帳に追加

加熱ホルダの加熱によるスキャナの温度上昇を抑えることができる走査形プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

APPARATUS FOR MOUNTING SENSOR SUCH AS OXYGEN TO TIP OF SPM(SCANNING TYPE PROBE MICROSCOPE), AND APPARATUS FOR FIXING TIP OF SPM例文帳に追加

ＳＰＭ（走査型プローブ顕微鏡）の先端に酵素などのセンサーを取り付けた装置。ＳＰＭの先端を固定した装置。 - 特許庁

To provide a cantilever module for a scanning type probe microscope which prevents the deterioration of the electric component on the side of a scanning type probe microscope main body to enhance durability when measurement is performed using a self-detection type cantilever and is easy to exchange a cantilever.例文帳に追加

自己検知型カンチレバーを用いて測定する場合に、走査型プローブ顕微鏡本体側の電気部品の劣化を防止し耐久性が向上すると共にカンチレバーの交換が容易な走査型プローブ顕微鏡用カンチレバーモジュールを提供する。 - 特許庁

In one example of implementation of positioning the probe, when observation using the scanning probe microscope is started; the three-dimensional shape of a sample 18 is observed with a confocal laser scanning microscope; and its three-dimensional shape data is stored in a storage part 51.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡による観察開始時にそのプローブの位置決めを行なうには、一実施例では、はじめに、共焦点レーザ顕微鏡で試料１８の三次元形状観察を行ない、その三次元形状データを記憶部５１に記憶する。 - 特許庁

This scanning probe microscope is equipped with a cantilever 21 having a probe 20, measuring parts 24, 32 for measuring physical quantities generated between the probe and the sample 12, and moving mechanisms 14, 15, 29 for allowing to perform scanning operation by changing relatively positions of the probe and the sample.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡は、探針２０を有するカンチレバー２１と、探針と試料１２の間で生じる物理量を測定する測定部（２４，３２）と、探針と試料の位置を相対的に変化させ走査動作を行わせる移動機構（１４，１５，２９）とを備える。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of measuring a local electric characteristic highly accurately even in the case of a sample having irregularities.例文帳に追加

凹凸のある試料であっても局所的電気特性を高い精度で測定できる走査プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope that manually, simply, and accurately corrects inclination regardless of an observation magnification.例文帳に追加

観察倍率にかかわらず、傾き補正を手動操作により簡単かつ正確に行える走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To manufacture a standard sample used in the calibration or inspection of a scanning probe microscope in a short time by a simple process.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の校正または点検に用いる標準試料を簡単な工程により短時間で製作する。 - 特許庁

To provide a scanning type probe microscope and an adjusting tool allowing easier positioning work in a short time.例文帳に追加

より簡単にかつ短時間に位置決め作業を行うことができる走査型プローブ顕微鏡及び調整治具を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope and its using method capable of preventing generation of a photoelectric current by a laser beam in a sample.例文帳に追加

レーザー光による光起電流を試料に発生させない走査型プローブ顕微鏡およびその使用方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope allowing accurate positioning of laser light onto a cantilever, in the case of any sample.例文帳に追加

どんな試料の場合でも、カンチレバ上へのレーザ光の位置合わせが正確に行える走査形プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of observing a sample 7 in various stress states at various temperature values.例文帳に追加

様々な応力状態にある試料７の観察が様々な温度下において可能な走査型プローブ顕微鏡の提供。 - 特許庁

To provide a cooling system for a cantilever for enhancing sensitivity and spatial resolution of a scanning type probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の感度および空間分解能を向上させるためのカンチレバーの冷却システムを提供すること。 - 特許庁

To provide a probe used in a scanning tunneling microscope with an extremely sharp tip and high strength and its manufacturing method.例文帳に追加

走査型トンネル顕微鏡に使用する先端が極めて先鋭でかつ強度の大きい探針とその製造方法を提供する。 - 特許庁

SAMPLE-DRAWING HOLDER FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND OBSERVATION METHOD OF SURFACE STATE OF SAMPLE USING SAMPLE-DRAWING HOLDER例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡用試料延伸ホルダーおよび該試料延伸ホルダーを用いた試料の表面状態の観察方法 - 特許庁

The width of a graphene 1 in its extending direction and the crystalline orientation in its extending direction are regulated using a scanning probe microscope.例文帳に追加

グラフェン１の延在方向の幅及びグラフェン１の延在方向の結晶方向を、走査型プローブ顕微鏡により規定する。 - 特許庁

To provide a method for fabricating a probe for a scanning probe microscope (SPM), particularly a method for fabricating the probe using (111) single crystal silicon.例文帳に追加

本発明は、走査探針顕微鏡（ＳＰＭ：Ｓｃａｎｎｉｇ Ｐｒｏｂｅ Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ）のための探針の製造方法に関し、特に（１１１）単結晶シリコンを用いた探針の製造方法に関する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope constituted so as to accurately and quantitatively evaluate the leading end shape of its probe by simple work, and also to provide an evaluation method of its probe.例文帳に追加

簡単な作業を行うことで探針の先端形状を評価でき、定量的な評価を正確に行うことができる走査型プローブ顕微鏡およびその探針評価方法を提供する。 - 特許庁

The operation is performed by use of the scanning probe microscope including a probe the surface of which is modified with the biological relevant substance and a mechanism for detecting a generated heat.例文帳に追加

探針の表面が生体関連物質で修飾され、かつ、発生した熱量を検出する機構を有する走査型プローブ顕微鏡を用いて上記の操作を行う。 - 特許庁

In the scanning probe microscope, while keeping the physical quantities constant at the measuring parts, the sample surface is scanned by the probe by the moving mechanisms, to thereby measure the sample surface.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡では測定部で物理量を一定に保ちながら移動機構により探針で試料の表面を走査して試料の表面を測定する。 - 特許庁

To provide a scanning probe electron microscope (SFM) facilitating a change of probes while dispensing with adjustment for positioning a deflection detector after a change of probe.例文帳に追加

プローブ交換を容易にするとともにプローブ交換後の偏向検出器の位置決めのための調節を不要にした走査型プローブ電子顕微鏡（ＳＦＭ）を提供する。 - 特許庁

To provide a probe for a scanning probe microscope capable of simultaneously measuring the surface shape of a sample and a plurality of physical properties in a microregion.例文帳に追加

試料表面の形状、および微小領域での複数の物性を同時測定することが可能な顕微鏡用プローブ及び走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The magnetic scanning/ positioning system with at least two items of degree of freedom can be used in the fields of a scanning probe microscope, data memory and imaging.例文帳に追加

少なくとも２つの自由度を有する磁気走査または位置決めシステムが、走査型プローブ顕微鏡の分野、またはデータ記憶若しくはイメージングの分野で使用され得る。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope equipped with an observational optical system enabling a surface of a sample to be optically observed with a high magnification while having a wide scanning range.例文帳に追加

広い走査範囲を有しながらも、試料表面を高倍率で光学的に観察できる観察光学系を備えた走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The gallium injected into the surface is crystallized and removed by a chelating agent which specifically couples with gallium by an electric field generated by a voltage applied on a conductive probe of a submerged scanning probe microscope with addition of a chelating agent which specifically couples with gallium, or by a high electric field enhanced at the top of the probe by irradiating a conductive probe of a submerge scanning probe microscope with laser light.例文帳に追加

ガリウムと特異的に結合するキレート剤を添加した液中走査プローブ顕微鏡の導電性探針に電圧印加して電界または液中走査プローブ顕微鏡の導電性探針にレーザを照射して針先で増強された高電界により表面に注入されたガリウムを析出させ、ガリウムと特異的に結合するキレート剤で除去する。 - 特許庁

This scanning type probe microscope is provided with a cantilever 21 having a probe 20 opposed to a sample 12, a measuring part (optical lever type optical microscope and feedback servo control loop) for measuring interatomic force or the like generated between the probe and the sample when the probe scans a surface of the sample, and a moving mechanism for varying relatively positions of the probe and the sample to conduct a scanning operation.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡は、試料１２に対向する探針２０を有するカンチレバー２１、探針が試料の表面を走査するとき探針と試料の間で生じる原子間力等を測定する測定部（光てこ式光学顕微鏡やフィードバックサーボ制御ループ）、探針と試料の位置を相対的に変化させ走査動作を行わせる移動機構を備える。 - 特許庁

This method is applied for the scanning type probe microscope provided with a measuring part for measuring atomic force or the like as to the sample surface by scanning a sample 12 using a probe 25, a fine motion mechanism 24 for moving the probe finely, a prove approaching mechanism 11 for changing a space between the probe and the sample, the optical microscope 22, and a focusing driving mechanism 21.例文帳に追加

この焦点合せ方法は、探針２５で試料１２を走査して試料表面に関する原子間力等を測定する測定部と、探針を微動させる微動機構２４と、探針と試料の間隔を探針接近機構１１と、光学顕微鏡２２と、その焦点合せ用駆動機構２１を備える走査型プローブ顕微鏡に適用される。 - 特許庁

The reduction of the transmittance is adjusted to be equal to that of a glass or quartz part not subjected to defect correction, by the vibration amplitude, indention depth, feedback gain and scanning interval of the probe 1 of the scanning probe microscope.例文帳に追加

透過率の低下量は欠陥修正していないガラスまたは石英部分と同じになるように走査プローブ顕微鏡の探針１の振動振幅と押し込み量とフィードバックゲインと走査間隔で調整する。 - 特許庁

To provide a surface-measuring instrument integrated scanning probe microscope which is hardly effected adversely from vibrations caused by the surface-measuring instrument.例文帳に追加

表面測定器に起因する振動の悪影響を受け難い表面測定器一体型走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of observing individually an energy level of each crystal defect or each defect caused by a process.例文帳に追加

個々の結晶欠陥やプロセス起因欠陥のエネルギー準位を個別に見ることができる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To make efficiently measurable a physical quantity concerning a cantilever probe and a scanning force microscope.例文帳に追加

カンチレバープローブ構造及び走査型力顕微鏡に関し、効率的に物理量の測定を行うことができるようにすることを目的とする。 - 特許庁

Degree of formation of a conductive path of the positive electrode mixture layer PA of a positive electrode plate P is inspected by a scanning probe microscope 1000.例文帳に追加

正極板Ｐの正極合材層ＰＡの導電パスの形成度合いを走査型プローブ顕微鏡１０００により検査する。 - 特許庁

To provide a scanning type probe microscope allowing observation on real time, a structural change of one biomolecule caused by a biochemical reaction.例文帳に追加

生化学反応に起因して起こる生体分子一個の構造変化を実時間で観測し得る走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of enhancing the natural frequency of a scanner and preventing the deterioration and breakage of a laser beam source.例文帳に追加

スキャナの固有振動数が高く、且つ、レーザ光源の劣化及び破壊を防止できる走査形プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide the scan mechanism of a scanning probe microscope for suppressing generation of unwanted vibrations and having a small dimension along the z axis.例文帳に追加

不要な振動の発生が抑えられた、ｚ軸に沿った寸法の小さい走査型プローブ顕微鏡の走査機構を提供する。 - 特許庁