「Scanning Probe Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索

In a scanning probe microscope, such as a scanning tunnel microscope, one part of the layer 4 is selectively etched away by scanning the surface of the layer 4 with a probe 5 to make the layer 3 partially exposed, and a strain distribution to respond to the shape of the pattern of the layer 4 is formed on the surface of a sample.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡、例えば走査型トンネル顕微鏡において、プローブ５でＧａＡｓ層４の表面を走査することによりＧａＡｓ層４を選択的にエッチング除去してＩｎＧａＡｓ層３を部分的に露出させ、試料表面にＧａＡｓ層４のパターン形状に応じた歪分布を形成する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope suitable for measuring an accurate probe current at the time of sample observation, even in a sample chamber held in lower vacuum than the inside of a microscope body part.例文帳に追加

鏡体部内よりも低い真空に保たれた試料室においても、試料観察時に正確なプローブ電流を測定するのに適した走査電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of reducing a measurement error caused by a creep without lowering a throughput in measurement by the scanning probe microscope equipped with a coarse movement Z-axis stage having a visco-elastic characteristic, its measuring order determination method, and its measuring method.例文帳に追加

粘弾性特性を有する粗動Ｚ軸ステージを備えた走査型プローブ顕微鏡による測定で、スループットを下げることなく、クリープに起因する計測誤差を低減できる走査型プローブ顕微鏡、その測定順序決定方法、およびその測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a system and method capable of performing a stable measurement of a surface shape by certainly removing the charge accumulated in a semiconductor wafer obstructing the measurement of a scanning probe microscope and preventing the destruction of the scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡測定の障害となる半導体ウエハ内部に蓄積された電荷を、確実に取り除き、走査型プローブ顕微鏡の探針の破壊を防止し、安定した表面形状測定を行うことができる測定システムおよび測定方法を提供すること。 - 特許庁

To obtain a probe suitable for measuring a biopolymer by a scanning probe microscope such as an atomic force microscope, etc., and a base material for immobilizing a polymer capable of immobilizing a biopolymer such as a substrate as a specimen.例文帳に追加

原子間力顕微鏡などの走査型プローブ顕微鏡による生体高分子の測定に適したプローブならびに被検体としての基板などの生体高分子固定可能な重合体を固定する基材を提供すること。 - 特許庁

In the scanning probe microscope for detecting the physical quantity acting across a probe and a sample, the probe and the sample are relatively scanned using the scanner.例文帳に追加

探針と試料との間に作用する物理量を検出する走査形プローブ顕微鏡において、前記スキャナを用いて前記探針と前記試料を相対的に走査することを特徴とする走査形プローブ顕微鏡。 - 特許庁

To provide a temperature measurement probe, a temperature measurement device and a temperature measurement method using the probe, which can be used in a general-purpose scanning probe microscope device and are hardly affected by the heat deformation of samples.例文帳に追加

汎用の走査型プローブ顕微鏡装置でも使用可能で、かつ試料の熱変形の影響を受けにくい温度測定用プローブ、および前記プローブを用いた温度測定装置および温度測定方法を提供する - 特許庁

To provide a reinforcing method and a reinforcing device enabling a carbon nanotube to strongly adhere to a probe, which adheres to a tip of the probe of a handling equipment such as a scanning probe microscope, carbon nanotube tweezers or the like.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡あるいはカーボンナノチューブピンセットなどのハンドリング機器のプローブ先端部に付着されているカーボンナノチューブをプローブに強く付着させる補強方法および補強装置を提供する。 - 特許庁

STRUCTURE OF PROXIMITY FIELD OPTICAL PROBE, METHOD FOR POSITIONING LIGHT INCIDENT ON MICRO OPENING OF PROXIMITY FIELD OPTICAL PROBE, SCANNING PROXIMITY FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND PROXIMITY FIELD OPTICAL RECORDER USING PROXIMITY FIELD OPTICAL PROBE例文帳に追加

近接場光プローブの構造、近接場光プローブの微小開口に入射する光の位置決め方法、走査型近接場光顕微鏡装置及び近接場光プローブを用いた近接場光記録装置 - 特許庁

The probe provided with a probe needle of the nanotube especially the carbon nanotube, the length of which is adjusted at a precision of several 10 nm while holding a cylindrical needle along the tip part is applied to the probe microscope of scanning type.例文帳に追加

ナノチューブ特にカーボンナノチューブよりなる探針を備えたプローブにおいて、長さを数１０ｎｍの精度で調整し、先端にかけて円筒型を保持する探針を有するプローブを走査型プローブ顕微鏡に応用する。 - 特許庁

To provide a method for controlling the probe in a scanning probe microscope that properly controls the twisted condition of the probe that is caused from a reaction force, applied from the inclination portion of unevenness on the surface of a sample to the top end of the probe.例文帳に追加

試料表面の凹凸の傾斜部から探針先端に加わる反力に起因して生じる探針の捩れ状態を適切に制御して計測データの誤差を低減する走査型プローブ顕微鏡の探針制御方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope that accurately specifies the measuring region of a sample having a minute pattern that cannot be observed easily by an optical microscope, is capable of alignment, and can correct measuring profile distortion caused by the variation of a probe shape or probe wear, based on the state of the probe shape and probe wear.例文帳に追加

光学顕微鏡では観察が困難であるような微細パターンを有する試料の計測領域を正確に特定し、位置合わせすることができ、探針形状および探針磨耗の状態に基づいて、探針形状のばらつき、もしくは探針磨耗に起因する計測プロファイル歪みの補正を行うことのできる走査プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a calibration method for near field scanning optical microscope laser processing device and a device thereof capable of performing combination from/to a NSOM probe and to an NSOM probe of laser beam efficiently.例文帳に追加

レーザ光のＮＳＯＭプローブへの、またＮＳＯＭプローブからの結合を効率よく行うニアフィールド走査光学顕微鏡レーザ加工装置の較正方法および装置を得る。 - 特許庁

According to the method, a machining probe 1a (or 1b) of a scanning probe microscope, which has a vertical surface or a vertical edge and is harder than a sample material, is press-fitted into a dent measuring sample to form a dent.例文帳に追加

垂直面または垂直な稜を持った試料材質よりも硬い加工用の走査プローブ顕微鏡探針1a(または1b)を圧痕測定用の試料に押し込んで圧痕を形成する。 - 特許庁

A discharge sharp rod of an external power supply device is disposed close to the probe tip part of the scanning type probe microscope or the handling device, whereby the carbon nanotube is cut by discharge action.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡もしくはハンドリング機器のプローブ先端部に近接して外部電源装置の放電先鋭ロッドを配置し、放電作用によりカーボンナノチューブを切断する。 - 特許庁

The photodetector 174 constitutes a probe displacement detection system for detecting optically the displacement in the Z-direction of the probe 162 together with the light source in the scanning optical microscope.例文帳に追加

光検出器１７４は、走査型光学顕微鏡内の光源と共に、プローブ１６２のＺ方向の変位を光学的に検出するプローブ変位検出系を構成している。 - 特許庁

To provide a probe for perpendicular scanning microscope which can supersensitively detect surface information of a sample by a nano-tube tip as a probe standing approximately perpendicular to the sample surface.例文帳に追加

探針となるナノチューブ先端が試料面に対し略垂直状に当接して試料の表面情報を高感度に検出できる垂直式走査型顕微鏡用プローブを実現する。 - 特許庁

Physical property information is acquired by a scanning probe microscope, and a corresponding portion is collected from an area showing a specified physical property by a probe, and analyzed by an analysis method capable of providing desired information.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡で物性情報を取得し、特定物性を示す領域からその部位をプローブで採取し、それを所望の情報が得られる分析方法で分析する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of securing high holding accuracy and provided with a holding mechanism in which a probe is removable with good reproducibility without using optical system alignment.例文帳に追加

高精度の保持精度が確保でき、光学系でのアライメントを必要とすることなく再現性良くプローブを着脱できる保持機構を備えた走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope by which the impurity concentration of a semiconductor as a sample 3 is detected without a bad influence due to a stray capacitance.例文帳に追加

試料３である半導体の不純物濃度を、浮遊容量の悪影響なしに、検出する走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a highly durable cantilever usable for a scanning type probe microscope for observing a minute object.例文帳に追加

微細な対象物を観察する走査型プローブ顕微鏡に用いることができ、かつ、耐久性の高いカンチレバーを提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope of simple constitution capable of detecting exactly a sample surface, and an excitation method for exciting a cantilever array.例文帳に追加

構成が簡単で、的確な試料表面の検出が可能な走査型プローブ顕微鏡及びカンチレバーアレイの励振方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of observation by a scanning probe microscope which allows the observation of the configuration and the dispersed state of particles such as powders.例文帳に追加

粉末のような微粒子の形態および分散状態を観察することができる走査プローブ顕微鏡による観察方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning type probe microscope where time required for optical measurement work before measurement has been reduced with a simple configuration.例文帳に追加

測定前の光学調整作業に要する時間の短縮が簡単な構成によって達成された走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope for preventing an image from being distorted due to an alignment error of a scanner, and a measurement method utilizing it.例文帳に追加

スキャナーの整列誤差に起因するイメージの歪曲が防止された走査探針顕微鏡及びそれを利用した測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of repeatedly precisely reproducing the shape image of a sample or the like without being influenced by environment.例文帳に追加

試料の形状像等を、環境の影響なしに繰り返し高精度に再現することのできる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The scanning probe microscope apparatus is provided with a drive part 19 for moving, in X and Y directions, a specimen holding part 24 for holding a specimen 25.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡装置は、標本２５を保持する標本保持部２４をＸＹ方向に移動させる駆動部１９を備えている。 - 特許庁

To provide an inspection method and a device using a scanning electron microscope capable of performing fine control of a probe accurately and simply.例文帳に追加

探針の微細な制御を正確に簡単に行なうことができる走査電子顕微鏡を用いた検査方法および装置をを実現する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of enlarging a moving range of a sample stand with a simple structure and heightening rigidity.例文帳に追加

簡単な構造で試料台の移動範囲を大きくするとともに剛性を高くすることが可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The ten-point mean roughness of the surface of the endless belt is measured with a scanning probe microscope and is in a range from not less than 2.1 nm to not more than 11.0 nm.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡によって測定した表面の十点平均粗さが、２．１〔ｎｍ〕以上、かつ、１１．０〔ｎｍ〕以下である。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of obtaining precise measurement data by eliminating noise component characteristically arises only in specific scanning direction of the measurement device.例文帳に追加

測定データから測定装置の一定の走査方向にのみ特有に出現するノイズ成分を除去し、精度の高い測定データを得られる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

This scanning probe microscope having the optical microscope capable of observing a prove is equipped with an image sensor for taking in an optical microscope image as a digital image; and a processing device processing the image taken in.例文帳に追加

プローブを観察することができる光学顕微鏡を備えた走査型プローブ顕微鏡において、光学顕微鏡像をデジタル画像として取り込むための撮像素子と、取り込まれた画像を処理することのできる処理装置を備える。 - 特許庁

When the analyzing area for the scanning atom probe(SAP) is selected, the tip of the extraction electrode for the SAP is used as a probe for a scanning tunneling microscope(STM), and the shape of the sample is plotted thereby, to select the analyzing area.例文帳に追加

走査型アトムプローブ（ＳＡＰ）の分析領域を選定する際、該ＳＡＰの引出電極の先端を走査型トンネル顕微鏡(ＳＴＭ)の探針として用い、試料の表面形状を描き出させて分析領域を選定する。 - 特許庁

Then, the scanning tunnel microscope is used to acquire an STM image by scanning the probe along the measuring surface of the measuring sample on the condition that a tunnel current value is constant while preventing the probe from moving beyond the maximum forwardly-movable value.例文帳に追加

次いで、走査型トンネル顕微鏡を使用し、探針が最大前進可能値を超えて移動しないようにし、トンネル電流値が一定の条件で探針を測定試料の測定面に沿って走査してＳＴＭ像を取得する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope that has a small wear of a probe, has high measurement reliability, can control the travel of probe scanning easily, and can scan a sample surface quickly when measuring the sidewall, or the like of a minute groove, or the like on the sample surface.例文帳に追加

試料表面の微細な溝等の側壁等を測定するとき、探針の磨耗が小さく、測定信頼性が高く、探針走査の移動制御を簡単に行うことができ、試料表面を短時間に走査できる走査型プローブ顕微鏡およびその測定方法を提供する。 - 特許庁

To perform the measurement of mm-class wide scanning with high reproducibility and measuring accuracy without causing such problems as probe wear excluding undesirable force to the sample surface being applied to the probe with a scanning probe microscope for observing a μm-class fine target.例文帳に追加

μｍ級の微小対象物の観察を行える走査型プローブ顕微鏡で、探針に加わる好ましくない試料表面に平行な力を除き、ｍｍ級の広域走査の測定を探針摩耗等の問題を起こすことなく高い再現性、測定精度で行えるようにする。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope and its measurement setting method capable of specifying a measuring spot on the sample surface highly accurately at high speed, and aligning the spot with a probe, to thereby heighten measurement efficiency by an atomic force microscope or the like.例文帳に追加

試料表面の測定箇所を高速にかつ高精度に特定して探針との位置合わせを行い、原子間力顕微鏡等により測定の効率を高める走査型プローブ顕微鏡およびその測定設定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device for attaining a new scanning method which is always not associated with the contact of a probe with a sample surface, such as that in a non-contact mode or a point contact mode, and a scanning method thereof, while maintaining the versatility of a contact mode, in physical property measurement of a scanning type probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の物性測定において、コンタクトモードの汎用性を維持しつつ、非接触モードやポイントコンタクトモードのように、常時探針と試料表面の接触を伴わない新たな走査方法を実現する装置及びその走査方法を提供する。 - 特許庁

A scanning probe microscope 19 is provided to the electrode pad of an IC formed on a wafer 12 so as to measure the depth of a needle trace (application of a needle) which is formed by contact with the electrode probe 13 of a probe card 14.例文帳に追加

ウエハ１２上に形成されたＩＣの電極パッドにプローブカード１４の電極プローブ１３が接触（針当て）することによって形成された針跡の深さを計測するために、走査型プローブ顕微鏡１９を設ける。 - 特許庁

To provide a compound scanning probe microscope, capable of accurately displaying a positional relation between the visual field of the objective lens of an optical microscope and the cantilever of an SPM unit, and to provide a method for displaying the position of the cantilever.例文帳に追加

光学顕微鏡の対物レンズの視野とＳＰＭユニットのカンチレバーとの位置関係を正確に表示できる複合型走査プローブ顕微鏡及びそのカンチレバー位置表示方法を提供する。 - 特許庁

To provide a surface observing method using a scanning probe microscope which can perform a stable measurement by reducing the effect of the surface charge of a sample to the utmost.例文帳に追加

試料表面の帯電の影響をなるべく低減させ、安定な測定が行なえる走査型プローブ顕微鏡による表面観察方法を提供する。 - 特許庁

To obtain a scanning probe microscope in which the viscoelastic characteristics, e.g. soft or hard, of a sample being measured can be measured accurately.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡において、測定する試料のやわらかい、かたいという粘弾性特性を正確に測定することができようにすること。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope of novel arrangement applicable to various fields, e.g. biochemical field, for measuring various physical properties.例文帳に追加

種々の物性測定が可能であるとともに、生化学分野など種々の分野に適用することのできる新規な構成の走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of easily and accurately conforming as to whether the shape of a sample meets a prescribed condition or not.例文帳に追加

試料形状が所定の条件を満足しているか否かを簡単かつ正確に確認できるようにした走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope which can correlatively evaluate both a SPM image and a light microscopic image with its resolution lower than that of the SPM image.例文帳に追加

ＳＰＭ像とこれに比べて低分解能の光学顕微鏡像とを互いに関連づけて評価し得る走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁