「Scanning Probe Microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(14ページ目) - Weblio英語例文検索

Diamond powder 3 that has a slower ion sputter speed than a probe material is allowed to adhere to the material of a probe for a scanning probe microscope, and the material of the probe is subjected to ion sputtering while the diamond powder 3 adheres until the least the diamond powder 3 disappears, thus forming a needle-shaped projection 6.例文帳に追加

走査プローブ顕微鏡用探針の材料に、この探針材料よりイオンスパッタ速度が遅いダイアモンド粉末３を付着させ、このダイアモンド粉末３が付着した状態で、このダイアモンド粉末３が無くなるまで、或いはそれ以上に、前記探針材料をイオンスパッタすることにより、針状突起６を形成する。 - 特許庁

When negative voltage or pulse voltage is applied to a probe of scanning probe microscope which is provided with a conductive probe 7 in the air, chromium 3 which is exposed on the surface just under the probe is anodized and generates the chromium oxide 6, therefore, the region in which the antireflection coating is stripped off is scanned and anodized, and the antireflection coating is repaired.例文帳に追加

導電性探針7を備えた走査プローブ顕微鏡の探針に大気中で負電圧もしくはパルス電圧をかけると、探針直下の表面に露出したクロム3が陽極酸化され酸化クロム6を生成するので、反射防止膜が剥れた領域を走査・陽極酸化し反射防止膜を修復する。 - 特許庁

This multiwavelength observation optical probe microscope has an optical probe, capable generating an optical field localized on the leading end thereof, a light source for emitting a plurality of selectable exciting lights in the optical probe and a scanning means for scanning the optical probe.例文帳に追加

光プローブと、光検出手段と、データ収集手段と、光源が少なくとも２つ以上の選択可能な波長の励起光を発生できるとともに、さらに、動的光路変更手段を有し、励起光の光路の制御を行うことによって、同一試料に対して複数の蛍光イメージを取得することで、複数種の蛍光標識を識別して相対的な位置情報を解析できるようにした。 - 特許庁

Or, the gallium injected into the surface is crystallized and removed by a chelating agent which specifically couples with gallium by local heating by irradiation with proximity field light from a probe of a submerge proximity field optical microscope with addition of a chelating agent which specifically couples with gallium, or by local heating by allowing the heated probe of a submerge scanning probe microscope to approach the surface.例文帳に追加

もしくはガリウムと特異的に結合するキレート剤を添加した液中近接場光学顕微鏡の探針から近接場光を照射した局所過熱、または液中走査プローブ顕微鏡の加熱した探針を接近させた局所過熱により表面に注入されたガリウムを析出させ、ガリウムと特異的に結合するキレート剤で除去する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope, the so-called proximity field optical microscope which can modulate P-polarized component of linear polarization to allow laser radiation on probe tip etc., and also can modulate scattered light as a SNOM signal to observe optical properties of a sample, even when the probe measures the sample while always contacting it.例文帳に追加

レーザーをプローブ先端などへ直線偏光のＰ偏光成分を変調して照射できるようにし、更には、プローブが試料と常に接触しながら測定する場合においても、ＳＮＯＭ信号としての散乱光を変調し得て、試料の光物性を観察することのできる走査型プローブ顕微鏡、所謂近接場光学顕微鏡を得ようとする。 - 特許庁

When characterization of the tip of a diamond probe 1 for machining is needed, a high resolution scanning electron microscope observation at a high accelerating voltage is performed for the tip of the diamond probe 1 in use for machining under a water vapor atmosphere.例文帳に追加

加工用ダイヤモンド探針１の先端のキャラクタリゼーションが必要なときは使用している加工用ダイヤモンド探針1の先端を水蒸気雰囲気下での高加速電圧の高分解能走査電子顕微鏡観察を行う。 - 特許庁

The probe array can be used to produce traces of diffusively transferred chemicals with sub-1 micrometer resolution, and can function as an arrayed scanning probe microscope for subsequent reading of the variation of transferred patterns.例文帳に追加

プローブアレーは、拡散移転される化合物のトレースを、サブ１マイクロメートル解像度で生成するために使用されることができ、続いて移転されたパターンの変化を読み取る配列走査プローブ顕微鏡として機能することができる。 - 特許庁

To obtain a probe with carbon nanotubes for a scanning probe microscope which can manufacture in an atmosphere in a short manufacturing time in a mass production and which does not exert an adverse influence on mechanical and electrical characteristics of the nanotubes.例文帳に追加

大気中で作製でき、作製時間が短く可能で、大量生産ができ、しかも、カーボンナノチューブの機械的、電気的特性に悪影響を与えることがない走査型プローブ顕微鏡用カーボンナノチューブ付き探針を得ること。 - 特許庁

This scanning probe microscope is characterized by therein storing observation data up to just before then as a history when a probe is caused to scan, each time setting the sampling interval in an X or Y direction based on the observation data/shape, and causing the probe to scan as far as a next sampling position.例文帳に追加

探針を走査時に、直前までの観測データを履歴として記憶し、観測データ形状を元に、ＸまたはＹ方向のサンプリング間隔をその都度設定し、次のサンプリング位置まで探針を走査することを特徴とする走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of rapidly performing measurement of high precision by causing no fine change of potential in the surface fine region of a sample by properly holding the potential difference between the surface of the sample and a probe when the sample due to the probe is measured in an inspection process.例文帳に追加

検査工程での探針による試料測定時に試料の表面と探針との間の電位差を適切に保ち、試料表面の微細領域での微細な電位変化を生じさせず、迅速にかつ高い精度の測定を行うことができる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To make the displacing amount of a finely moving element which minutely changes the height position of a probe with respect to a sample controllable to a desired amount when the probe is brought nearer to the surface of the sample and stopped in a measurable state at the time of measuring the surface of the sample under a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡で試料の表面を測定する場合において試料表面に探針を接近させ測定可能状態で停止するとき、試料に対する探針の高さ位置を微小に変える微動要素の変位量を所望量に制御できるようにする - 特許庁

The high-frequency oscillation probe for a high-speed scanning probe microscope comprises a high-frequency crystal resonator 20 of a natural frequency range of 1 MHz to 100 MHz and a thickness of 0.01 mm to 2.0 mm, an electrode 21 mounted on the crystal resonator, and the high-frequency oscillation probe 22 mounted on the crystal resonator 20.例文帳に追加

固有振動数範囲が１ＭＨｚ〜１００ＭＨｚ、厚さが０．０１ｍｍ〜２．０ｍｍである高周波水晶共振子２０と、前記水晶共振子に装着された電極２１と、前記水晶共振子２０に装着された高周波振動探針２２と、を備えて構成される。 - 特許庁

The molecule manipulator includes photoreactive molecules including a double bond and changes a cis-trans arrangement of the double bond in reaction by the irradiation by the light of the selected wavelength, and a probe with the photoreactive molecules fitted thereto, for example, a probe of a scanning proximity probe microscope.例文帳に追加

分子マニピュレータは、二重結合を含み、選択した波長の光による照射に反応してその二重結合のシス−トランス配置を変更する光反応分子と、その光反応分子が取り付けられるプローブ、たとえば、走査近接プローブ顕微鏡のプローブとを含む。 - 特許庁

This scanning probe microscope is configured to display measurement data in a scanning image display area 202 of a monitor screen 201 as an image with a monochromatic density matched to irregularity information with a line 203 showing a measuring position of sample line profile.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡測定データは凹凸情報を白黒濃度に対応させた画像としてモニター画面２０１の走査画像表示領域２０２に、試料ラインプロファイルの測定位置を示す線２０３と一緒に表示される。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope in which the information of chemical composition and chemical bonding state on the surface of a sample can be attained in addition to the information of irregular shape on the surface of the sample.例文帳に追加

試料表面の凹凸形状に加えて、試料表面の化学組成および化学結合状態についての情報を得ることができる走査プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope of a simple structure, in which a part being scanned is reduced in weight and a light beam follows a cantilever, depending on the bending deformation of a tubular piezoelectric body.例文帳に追加

走査される部分が軽量化された、円筒型圧電体の湾曲変形に応じて光ビームがカンチレバーを追従する簡単な構成の走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a drive apparatus capable of easily improving the straightness of the track of a movable part and provide a scanning probe microscope apparatus capable of providing highly accurate images through the use of the drive apparatus.例文帳に追加

容易に可動部の軌跡の真直度を向上させることができる駆動装置と、これを用い、精度の高い画像を提供できる走査型プローブ顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

This scanning probe microscope is provided with a rough moving stage 400 having a coarse moving mechanism optionally movable on XY-plane and a sample base 430, the rough moving stage 400 is placed on a frame 550.例文帳に追加

ＸＹ平面を任意に移行可能な粗動機構４００と試料台４３０を有する粗動ステージ４００を備え、この粗動ステージ４００のがフレーム５５０上に載置されている。 - 特許庁

A stage 3 of this scanning probe microscope is provided with a base 13, a movable block 15, a rotation bolt 17, a first retainer plate 19, a second retainer plate 21 and fixing bolts 23.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の試料台３は、基台１３と、可動ブロック１５と、回転ボルト１７と、第一押さえ板１９と、第二押さえ板２１と、固定ボルト２３とを備えている。 - 特許庁

The sample stage 3 of this scanning probe microscope has a base 13, a moving block 15, a rotary bolt 17, a first pressing plate 19, a second pressing plate 21 and four fixing bolts 23.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の試料台３は、基台１３と、可動ブロック１５と、回転ボルト１７と、第一押さえ板１９と、第二押さえ板２１と、４本の固定ボルト２３とを備えている。 - 特許庁

In the scanning probe microscope, an amplitude value of a Y-scan signal increases linearly only during an image acquisition period of time Tyu for acquiring image data, and returns to approximately zero immediately after completion of the acquisition of the image data.例文帳に追加

Ｙ走査信号の振幅値は、画像データを取得する画像取得時間Ｔｙｕの間だけ直線的に増加し、画像データの取得終了後直ちにほぼ０に戻る。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope device capable of appropriately determining adjusting degree of sensitivity even when the inspected object has an unclear outline due to irregularity on the surface.例文帳に追加

表面の凹凸による輪郭が明瞭でない検査対象物であっても、感度の調整具合を適切に判断することができる走査型プローブ顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope capable of observing, evaluating and processing a nano structure by making full use of respective features of a SEM function and a SPM function.例文帳に追加

ＳＥＭ機能とＳＰＭ機能のそれぞれの特徴を十分に生かしきったナノ構造体の観察、評価、加工を行うことができる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope having a plurality of electrically independent probes, capable of operating a micro-material having the size below 100 nm, and electric measurement thereof.例文帳に追加

電気的に独立した複数のプローブを有し、１００ｎｍ以下程度の微小な物質の操作を可能とし、かつ電気測定を可能とする走査型プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

To prevent the action of excessive force to a sample and to enhance measuring accuracy in the observation of a surface shape and the measurement of adsorbing power by a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡による表面形状観察及び吸着力測定において、試料に対する過剰な力の作用を防止すると共に測定精度を高める。 - 特許庁

To provide a scanning type probe microscope that can high accurately measure in a wide band by reducing the influence of the mechanical resonance frequency of a piezoelectric element.例文帳に追加

本発明は、圧電素子の機械的共振周波数の影響を低減することにより、広帯域において高精度測定を可能にした走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of varying the magnitude of probe current in one using a condenser lens formed by a permanent magnet.例文帳に追加

本発明は、永久磁石により構成されるコンデンサレンズを使用した走査電子顕微鏡において、プローブ電流の大きさを可変できる走査電子顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an evaluation method of an optical fiber probe capable of measuring and evaluating the diameter of the leading end of a core by a simple constitution without using a scanning electron microscope.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡を用いることなく、簡易な構成によりコア先端の直径を測定、評価することのできる、光ファイバプローブの評価方法を提供すること。 - 特許庁

A cantilever for the scanning probe microscope or a sensor is manufactured by a method for molding integrally a beam, a chip and a pedestal from an arsenic-based, antimony-based or nitrogen-based 3-5 group compound semiconductor.例文帳に追加

砒素系、アンチモン系、窒素系３−５族化合物半導体でビーム+チップ+台座を一体成型する方法で走査プローブ顕微鏡用、又はセンサー用カンチレバーを製造する。 - 特許庁

To provide a new probe for a scanning tunneling microscope and a method of fabrication having high conductivity and high optical transmission, and capable of obtaining high plasmon luminous efficiency.例文帳に追加

高導電性および高光透過性を有するとともに、高いプラズモン発光効率を得ることのできる、新しい走査型トンネル顕微鏡用探針およびその作製方法を提供する。 - 特許庁

To provide a highly reliable method for manufacturing the silver probe of a scanning tunnel microscope through the use of methyl alcohol as the solvent of an electrolyte, electrolytic grinding, and electrolytic etching.例文帳に追加

電解液の溶媒としてメチルアルコールを使用し、電解研磨及び又は電解腐蝕により、信頼性の高い走査トンネル顕微鏡の銀探針製作方法を提供する。 - 特許庁

CANTILEVER, CANTILEVER SYSTEM, SCANNING PROBE MICROSCOPE, MASS SENSOR DEVICE, ELASTIC MEASURING DEVICE, MANIPULATION DEVICE, DISPLACEMENT MEASURING METHOD OF CANTILEVER, EXCITATION METHOD OF CANTILEVER, AND DEFORMATION METHOD OF CANTILEVER例文帳に追加

カンチレバー、カンチレバーシステム、走査型プローブ顕微鏡、質量センサ装置、弾性計測装置及びマニピュレーション装置並びにカンチレバーの変位測定方法、カンチレバーの加振方法及びカンチレバーの変形方法 - 特許庁

In the scanning probe microscope, an amplitude value of a Y-scan signal is increased linearly only during an image acquisition period of time Tyu for acquiring image data, and brought to return to about zero immediately just after completing the acquisition of the image data.例文帳に追加

Ｙ走査信号の振幅値は、画像データを取得する画像取得時間Ｔｙｕの間だけ直線的に増加し、画像データの取得終了後直ちにほぼ０に戻る。 - 特許庁

To provide a scanning near field optical microscope capable of detecting the angle dependence of scattering light generated by the coupling of the near field light from the tip part of a probe with a sample.例文帳に追加

プローブ先端部の近接場光と試料とのカップリングにより発生する散乱光の角度依存性を検出できる走査型近接場光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope which can prevent a large load from being applied to an X-Y scanner and a Z-axis fine-adjustment support member when a sample is observed.例文帳に追加

試料観察時にＸＹスキャナおよびＺ軸微動支持部材に大きな負荷が加わることを極力防止することができる走査プローブ顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁

Otherwise, the cantilever for the scanning probe microscope or the sensor is manufactured by compounding a probe (a chip, a beam and a small pedestal) molded integrally from the arsenic-based, antimony-based or nitrogen-based 3-5 group compound semiconductor with a large pedestal manufactured from ceramics, glass and a cystal.例文帳に追加

また、砒素系、アンチモン系、窒素系３−５族化合物半導体で一体成型したプローブ（チップ+ビーム+小台座）とセラミクス、ガラス、水晶で作製した大台座を複合化して走査プローブ顕微鏡用、又はセンサー用カンチレバーを製造する。 - 特許庁

To measure the surface physical properties of a sample without being influenced by the variation of contact areas by securing the contact area between a probe and the sample, preventing plastic deformation, and seizing the contact area in a scanning probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡において、プローブと試料との接触面積を確保し塑性変形を防止し、かつ、接触面積を把握することで接触面積のバラツキによる影響を無くして試料の表面物性を測定することを課題とする。 - 特許庁

To provide a method for measuring frictional force and a friction coefficient by using a scanning probe microscope for measuring frictional force as an absolute value not depending on the slope or shape of a specimen with respect to friction between a probe given arbitrary physical properties and a surface of the specimen.例文帳に追加

任意の物性を付与した探針と試料面間の摩擦について試料の傾き・形状によらない摩擦力を絶対値として測定する走査型プローブ顕微鏡による摩擦力および摩擦係数測定方法を提供する。 - 特許庁

Particles influencing transfer are cleanly and absolutely removed from a photomask by using dynamic or electromagnetic interaction or chemical reaction between the probe 2 of a scanning probe microscope having high positioning accuracy and the particle 1 on the photomask.例文帳に追加

高い位置決め精度を有する走査プローブ顕微鏡の探針2とフォトマスク上のパーティクル1間の力学的・電磁気学的な相互作用または化学反応を利用して転写に影響を与えるパーティクルをフォトマスク上からクリーンかつ確実に除去する。 - 特許庁

At the forward end part of a probe 2 in the scanning probe microscope, a carbon nanotube 3 having a conductive armchair type crystal structure or a carbon nanotube 3 having a forward end part modified chemically with a specified modifier molecule is provided.例文帳に追加

本発明の走査型プローブ顕微鏡における探針２の先端部分に、伝導性のアームチェア型結晶構造を有するカーボンナノチューブ３、又は先端部分が所定の修飾分子で化学的に修飾されたカーボンナノチューブ３を設ける。 - 特許庁

The scanning probe microscope is provided with a cantilever 21 having a probe 20 directed to a sample 12 and a measuring part for measuring the physical quantity generated between the probe and the sample while the probe scans a surface of the sample, regularly maintains the physical quantity in the measuring part, scans and measures the surface of the sample.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡は、試料１２に対して探針２０が向くように設けられたカンチレバー２１と、探針が試料の表面を走査するとき探針と試料の間で生じる物理量を測定する測定部を備え、測定部で物理量を一定に保ちながら探針で試料の表面を走査して試料の表面を測定する。 - 特許庁

To solve the point at issue that the feedback of a scanning probe microscope responds to the resonance frequency of a tube scanner to exert an effect on a measuring image as noise.例文帳に追加

本発明が解決しようとする問題点は、チューブスキャナの共振周波数に走査形プローブ顕微鏡のフィードバックが応答し、測定画像にノイズとして影響してしまうという点である。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope, capable of observing a sample of which the surface is extremely soft by enhancing the accuracy (S/N ratio) of a detection signal and the reliability of feedback control.例文帳に追加

表面が極めて柔らかい試料等を、検出信号の精度（Ｓ／Ｎ比）が高く、かつフィードバック制御を信頼性高くして観察することのできる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A workpiece is installed in a cell 3 with liquid pooled, and the scratch working by the scanning probe microscope is implemented in the liquid, thereby making the chips diffuse in the liquid so that it does not remain on the testpiece.例文帳に追加

液体を溜めたセル３中に加工対象物を設置し、走査型プローブ顕微鏡によるスクラッチ加工を前記液中で実施し、切り粉が液中に拡散して試料面に残らないようにした。 - 特許庁

To provide the inspecting method of semiconductor device which can measure in direct carrier distribution at the cross-section of a semiconductor testing sample using a scanning probe microscope without cutting out a thin semicoductor test sample.例文帳に追加

半導体試料を薄く切り出さずに、該半導体試料の断面におけるキャリア分布を走査型プローブ顕微鏡により直接測定することが可能な半導体装置の検査方法を提供する。 - 特許庁