「Test Card」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

PROBE CARD AND TEST DEVICE例文帳に追加

プローブカード及び試験装置 - 特許庁

PROBE CARD AND TEST METHOD例文帳に追加

プローブカードおよび試験方法 - 特許庁

PROBE CARD FOR HIGH TEMPERATURE TEST AND TEST EQUIPMENT例文帳に追加

高温テスト用プローブカード及びテスト装置 - 特許庁

IC CARD TEST DEVICE, IC CARD TEST METHOD, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

ＩＣカードテスト装置、ＩＣカードテスト方法およびコンピュータプログラム - 特許庁

PROBE TEST HEAD STRUCTURE OF PROBE CARD例文帳に追加

プローブカードのプローブテストヘッド構造 - 特許庁

WAFER TEST SYSTEM, PROBER, WAFER TEST METHOD AND PROBE CARD例文帳に追加

ウエハテストシステム、プローバ、ウエハテスト方法及びプローブカード - 特許庁

MEMORY CARD AND MEMORY CARD TEST METHOD, CAPABLE OF SIMPLIFYING TEST PROCESS例文帳に追加

試験工程を簡略化できるメモリカード及びメモリカードの試験方法 - 特許庁

CARD CREATION ISSUE EMBOSSING TEST DEVICE例文帳に追加

カード作成発行エンボス検査装置 - 特許庁

PROBE CARD, PROBE CARD MANUFACTURING METHOD, AND TEST APPARATUS例文帳に追加

プローブカード、プローブカードの製造方法及び試験装置 - 特許庁

CARD KIT FOR OLFACTION TEST AND OLFACTION TEST METHOD USING THE CARD KIT例文帳に追加

嗅覚検査用カードキット及び該カードキットを使用する嗅覚検査方法 - 特許庁

TEST SAMPLE CARD TRANSFER DEVICE AND METHOD例文帳に追加

試料カード移送装置及び方法 - 特許庁

PROBE CARD, CHARACTERISTIC TEST DEVICE, CHARACTERISTIC TEST TECHNIQUE AND CHARACTERISTIC TEST PROGRAM例文帳に追加

プローブカード、特性検査装置、特性検査方法および特性検査プログラム - 特許庁

AUTOMATIC TEST DEVICE FOR DIGITAL SIGNAL PROCESSOR CARD例文帳に追加

ディジタルシグナルプロセッサカードの自動試験装置 - 特許庁

IMPULSIVE TEST METHOD AND APPARATUS OF CARD例文帳に追加

カードの衝撃試験方法及びその装置 - 特許庁

MEMORY CARD FOR PROTECTING TEST CONTACT PART例文帳に追加

試験接触部を保護するためのメモリカード - 特許庁

TEST CENTER SYSTEM UTILIZING CREDIT CARD AND METHOD OF PROCESSING AT THE TEST CENTER UTILIZING THE CREDIT CARD例文帳に追加

クレジットカードを利用したテストセンターシステムとクレジットカードを利用したテストセンターの処理方法 - 特許庁

CUTTING AND SEALING DEVICE FOR TEST SAMPLE CARD例文帳に追加

テスト試料カードの切断及び封止装置 - 特許庁

NONVOLATILE MEMORY CARD AND TEST METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

不揮発性メモリカードおよびそのテスト方法 - 特許庁

PROBE CARD AND TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加

プローブカード及び半導体チップの試験方法 - 特許庁

PROBE CARD FOR TEST, TEST DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

試験用プローブカード、試験装置及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

TEST METHOD USING VGA CARD OVERCLOCK AND ITS VGA CARD SYSTEM例文帳に追加

ＶＧＡカードオーバークロック使用のテスト方法及びそのＶＧＡカードシステム - 特許庁

PROBE CARD, ELEMENT TESTING DEVICE, AND ELEMENT TEST METHOD例文帳に追加

プローブカード、素子試験装置及び素子試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, TEST METHOD THEREFOR AND IC CARD例文帳に追加

半導体装置、そのテスト方法およびＩＣカード - 特許庁

To efficiently test a wafer using a probe card.例文帳に追加

プローブカードを用いたウェハ検査の効率化を図る。 - 特許庁

To provide an automatic test system for testing smart card chips.例文帳に追加

スマートカードチップを検査するための自動検査システム。 - 特許庁

SYSTEM FOR CENTER CONNECTION TEST OF CARD TERMINAL AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

カード端末のセンタ接続試験システムおよびその方法 - 特許庁

To provide an IC card test device by which a developer of an IC card program can easily prepare a test pattern.例文帳に追加

ＩＣカードプログラムの開発者がテストパターンを容易に作成することができるＩＣカードテスト装置を提供する。 - 特許庁

PROBE CARD, AND TEST SYSTEM OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

プローブカードおよび半導体集積回路装置テストシステム - 特許庁

DATA DRIVER OF DISPLAY DEVICE, TEST METHOD THEREOF AND PROBE CARD例文帳に追加

表示装置のデータドライバ、そのテスト方法及びプローブカード - 特許庁

The probe card is arranged between the test device and the body.例文帳に追加

プローブカードがテスト装置およびボディ間に配置される。 - 特許庁

PROBE CARD AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

プローブカードおよび半導体集積回路のテスト方法 - 特許庁

To provide a memory card device, capable of performing test without increasing the number of test pads.例文帳に追加

テストパッドを増加することなくテストを可能とするメモリカード装置を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR CARRYING OUT ABRASION TEST OF METALLIC WIRE FOR CARD, AND APPARATUS THEREFOR例文帳に追加

紡機用メタリックワイヤの摩耗試験方法及びその装置 - 特許庁

PROBE FOR CURRENT-CARRYING TEST, PROBE CARD, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

通電試験用プローブ、プローブカードおよびその製造方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, IC CARD, AND TEST DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路装置、ＩＣカードおよび検査装置 - 特許庁

TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE, RELAY CIRCUIT, AND PROBE CARD例文帳に追加

半導体装置の試験方法、中継回路、及びプローブカード - 特許庁

The IC card test device 1 stores a test script 15 described in script language.例文帳に追加

ＩＣカードテスト装置１はスクリプト言語で記述されたテストスクリプト１５を記憶している。 - 特許庁

TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND PROBE CARD AND SEMICONDUCTOR DEVICE USED FOR TEST METHOD例文帳に追加

半導体装置の試験方法、その試験方法に用いるプローブカード及び半導体装置 - 特許庁

PROBE CARD, AND TEST METHOD USING THE SAME FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

プローブカード及びそれを用いたテスト方法半導体試験装置 - 特許庁

INTEGRAL WELDING AND TEST METHOD IN MANUFACTURING SMART CARD例文帳に追加

スマートカードの製造における一体型溶接およびテスト方法 - 特許庁

COUPLING DEVICE FOR TEST HEAD OF WAFER TESTING SYSTEM AND PROBE CARD例文帳に追加

ウェハ試験システムのテストヘッドとプロ—ブカ—ドとを結合する装置 - 特許庁

PROBE CARD STRUCTURE SIMULTANEOUSLY ADAPTABLE TO DIFFERENT TEST APPARATUS OF DIFFERENT SPECIFICATION例文帳に追加

異なる規格のテスターに同時に適応可能なプローブカード構造 - 特許庁

MEMORY SELF-TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR DEVICE EQUIPPED WITH THE SAME AND IC CARD AND MEMORY SELF-TEST METHOD例文帳に追加

メモリセルフテスト回路及びそれを備えた半導体装置及びＩＣカード並びにメモリセルフテスト方法 - 特許庁

The portable train monitor test apparatus 4 comprises a test control unit 40 and an interface card.例文帳に追加

可搬型列車モニタ試験装置４は、試験制御部４０及びインタフェースカードから構成される。 - 特許庁

To detect the change over time of the distance between a probe card and a test head.例文帳に追加

プローブカードとテストヘッドとの距離の経時変化を検出する。 - 特許庁