「Test Card」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

To easily conduct an electrostatic breakdown test even if terminals or the like are not similar in shape as a printed board for expanding PC functions, an IC card, a game IC cassette, and the like are mixed.例文帳に追加

パソコン機能拡張用プリント基板，ＩＣカードおよびゲーム用ＩＣカセット等が混在し、端子等の形状が一様でない場合においても、容易に静電破壊試験を実施する。 - 特許庁

A system relating tests design of a universal serial bus (USB) smart card device and contains a bus analyzer for running a test case to generate a USB bus traffic.例文帳に追加

本発明のシステムは、ユニバーサルシリアルバス（ＵＳＢ）スマートカード装置の設計をテストし且つＵＳＢバストラフィックを発生するためのテストケースを稼動するためのバスアナライザーを包含している。 - 特許庁

According to existing credit card membership terms and conditions, an identity theft victim (card holder) is not obliged to pay the fraudulently charged amount or damages, except where the test for an apparent representation relationship has been fulfilled or where the identity theft victim (card holder) is at fault, for example, because of a violation of credit card membership terms and conditions. 例文帳に追加

現行クレジットカード会員規約からすると、カード会員は、表見代理となる場合事業者側のシステムから、ＩＤ・パスワードが大量漏えいした場合、事業者側の従業員がＩＤ・パスワードを持ち出したりした場合には、事業者は事前合意の効果を本人に主張できないこともあ合又はクレジットカード会員規約上の義務違反により本人に帰責事由がある場合などを除き、支払又は賠償義務を負わないこととなっている。 - 経済産業省

A transparent probe card is provided and covers a wafer for electrically connecting the testing pads of the LED chips via the contacts so as to perform a light-up test on the LED chips.例文帳に追加

透明プローブカードが備えられ、その透明プローブカードは、ＬＥＤチップにおいて照明試験を実行するようにコンタクトを介してＬＥＤチップの試験パッドに電気的に接続するためのウェーハを覆う。 - 特許庁

The wafer is placed on a hot chuck, and probes 18 of the probe card 17 are brought into contact with each of electrodes 15 of the IC chips 14 that are formed on the wafer, thus an electrical test of the IC chips 14 being conducted.例文帳に追加

ウェハをホットチャック上に搭載し、ウェハ上に形成されたＩＣチップ１４の各電極１５にプローブカード１７のプローブ１８を接触させてＩＣチップ１４の電気的テストを行う。 - 特許庁

To provide a probe card capable of reducing a damage to an electrode pad and an interlayer dielectric of a lower layer, reducing the generation of a crack, and performing a highly reliable test of a semiconductor device.例文帳に追加

電極パッドおよび下層の層間絶縁膜へのダメージの低減、クラックの発生の低減を図るとともに、信頼性の高い半導体装置のテストの実施を可能とするプローブカードを提供する。 - 特許庁

This invention can be applied in performing the load test of the server which provides services by exchanging the data with a tamper-resistant secure chip such as an IC chip incorporated in an IC card, for instance.例文帳に追加

本発明は、例えば、ICカードに内蔵されるICチップなどの耐タンパ性のあるセキュアチップとの間でデータをやりとりすることによりサービスを提供するサーバの負荷試験を行う場合に適用できる。 - 特許庁

To provide a probe card and test device including ther same which enhances a reliability of a measurement value of an electric property, suppressing a spark applied to a semiconductor element when operating a switch.例文帳に追加

スイッチの動作時に半導体素子に印加されうるスパークを低減させ、電気的特性測定値の信頼性を向上させることができるプローブカード及びそれを備えるテスト装置を提供する。 - 特許庁

The test head 11 includes a movable connecting mechanism 27 for permitting the movement of the pogopin head 26, and guides 33, 47 for positioning the pogopin head 26 to contact against the probe card 43.例文帳に追加

上記ポゴピンヘッド２６の移動を許容する可動接続機構２７と、上記ポゴピンヘッド２６を上記プローブカード４３に対して正確に位置決めして接触させる案内ガイド３３，４７とを備えた。 - 特許庁

To provide a reinforcing plate for probe cards that can respond to the deformation of a probe card by heat occurring at the test time of a wafer and can keep the interval between a probe and the wafer in an optimum state.例文帳に追加

ウエーハの試験時に発生する熱によるプローブカードの変形に対応し、プローブとウエーハとの間隔を最適な状態に保つことができるプローブカード用補強板を提供することにある。 - 特許庁

To provide a probe card preventing a probe from burning by protecting it from overcurrent generated for a short time until a protection circuit disposed in a test head or a tester of a testing apparatus is activated.例文帳に追加

検査装置のテストヘッドあるいはテスタに設けられた保護回路が作動するまでの短時間に生じる過電流からプローブを保護し、針焼けを防止することが可能なプローブカードを提供する。 - 特許庁

The conductive film is combined with an extension panel, and thus, a probe card with large area probe test ability that is low-cost, ease-to-maintain and capable of being adapted for wafers of optional bonding pad arrangements is provided.例文帳に追加

該導電膜を拡線板に結合し、これにより、任意のボンディングパッド配列のウエハに適用可能で、製造コストが低く、修理が容易で、大面積プローブ試験を行えるプローブカードを提供する。 - 特許庁

To provide a probe card having high reliability by removing contact failure between a probe and a pad, and between the probe and a circuit board even at a high temperature, for example, in a burn-in test, while coping with pitch-narrowing and multi-chipping tendencies.例文帳に追加

狭ピッチ化及びマルチチップ化に対応しつつバーイン試験のような高温下においてもプローブとパッド及びプローブと回路基板との接続不良を無くし、信頼性の高いプローブカードを提供する - 特許庁

The probe card assembly includes a stiffener 1, a printed circuit board 2 disposed in the stiffener 1, and a spider supported by the stiffener 1 and the printed circuit board 2 and including at least one probe to test a wafer 5.例文帳に追加

プローブカード配置物は、スティフナー１と、スティフナー１に配置されたプリント基板２と、スティフナーおよびプリント基板２に取り付けられ、ウェハ５を試験するニードルを少なくとも１本持つスパイダーとを備える。 - 特許庁

A welding head to be used for bonding an antenna to an IC module in one sheet constituted of a plurality of smart card modules includes an integral test unit such as a reader/writer(R/W) unit.例文帳に追加

複数のスマートカードモジュールからなる１枚のシートのうちのＩＣモジュールにアンテナをボンディングするのに用いる溶接ヘッドは、たとえばリーダ／ライタ（Ｒ／Ｗ）ユニットなどの一体型テストユニットを含む。 - 特許庁

Thus, the interval between the test head 10 and the wafer prober 40 is kept constant every time they are connected, so the pogo pins 30 accurately and surely make contacts with prescribed positions of a probe card 50.例文帳に追加

したがって、テストヘッド１０とウェハプローバ４０を接続する毎の両者の間隔を一定に保つことができ、ポゴピン３０をプローブカード５０の所定位置に正確かつ確実に接触できる。 - 特許庁

To provide a wafer testing method in which accuracy and speed of sensing of the temperature of a wafer can be improved during the sensing of the wafer temperature when an electrical test of an IC chip is conducted, and to provide a probe card.例文帳に追加

ＩＣチップの電気的テストを行う際にウェハの温度を検知する場合に、ウェハ温度の検知精度及び検知速度を向上させることができるウェハテスト方法及びプローブカードを提供する。 - 特許庁

To provide a probe card provided with an interposer, capable of suppressing conduction failure between electrodes of the first substrate (main substrate) and the second substrate (sub-substrate) by thermal deformation of the interposer which occurs in high-temperature thermal test or device thermal test, improving the production yield, and shortening the production process time.例文帳に追加

高温熱試験時あるいはデバイス熱試験時に発生するインターポーザの熱変形による第１基板（メイン基板）と第２基板（サブ基板）の電極間の導通不良の発生を抑制し、しかもその製造歩留まりが向上し、製造工程時間が短くなるインターポーザを備えたプローブカードを提供する。 - 特許庁

The medium for predictably cleaning the contact elements and support hardware of a tester interface, such as a probe card or a test socket, while it is still in manual, semi-automated, and automated handling device and the electrical test equipment are disclosed so that the function and performance of the individual die or IC package may be electrically evaluated.例文帳に追加

個々のダイ又はＩＣパッケージの機能及び性能を電気的に評価することができるように、手動、半自動、及び自動取扱装置にまだある間にプローブカード及び試験ソケットのような試験器インタフェースの接触要素及び支持ハードウエアを予測可能に清浄化するための媒体及び電気試験器具を開示する。 - 特許庁

A connection between pads to be connected between the bare chips 103, 104 is electrically connected preliminarily on a probe card 102 to be inspected as a pseudo-multi-chip-module, and a defect in the multi chip module in a current consumption, a function test, an AC test or the like is thereby rejected in advance before wiring and the package sealing to reduce the yield loss.例文帳に追加

ベアチップ１０３、１０４間で接続されるべきパッド間の結線をあらかじめプローブカード１０２上で電気的に接続し、擬似的にマルチチップモジュールとして検査し、ワイヤリング及びパッケージ封止前に、消費電流、ファンクションテスト、ＡＣテストなどのマルチチップモジュール不良を事前にリジェクトすることで、歩留ロスを低減できる。 - 特許庁

The at least one STA card module (40) includes a generic region adapted for interfacing with an additional STA card module (40) over the dual data bus (62), and a resource specific region (64) adapted for self test of at least one ATE station resource (16, 18).例文帳に追加

少なくとも１つのＳＴＡカードモジュール（４０）は、デュアルデータバス（６２）を通じて追加のＳＴＡカードモジュール（４０）とインターフェースするように適合されているジェネリックな領域、および少なくとも１つのＡＴＥステーションリソース（１６、１８）のセルフ試験するように適合されているリソース特有の領域（６４）を含む。 - 特許庁

To provide a wafer tester which has no need for reinforcing designs or precise mechanisms at part for electrically connecting a probe card to a wafer measuring board to be mounted on a test head and can realize miniaturization of the probe card and a high-speed signal transmission line, even for increased electric connection terminals.例文帳に追加

本発明は、プローブカードとテストヘッドに装着されるウエーハ測定用ボードとの間を電気的に接続するに当り、各部での補強設計や精密機構が不要で、さらに電気的接続端子が増加しても、プロープカードの小型化と信号伝送路の高速化が確立できるウエーハ試験装置を提供する。 - 特許庁

The serial communication card is configured so that respective circuits composing the serial communication card included in the serial communication apparatus individually store data just before and just after performing processing in respective circuits in a memory and individually read out the stored data by a read command from the serial communication apparatus test device.例文帳に追加

シリアル通信装置において、その有するシリアル通信カードを構成する各回路が、その回路において処理を行なう直前のデータと直後のデータをメモリに個別に格納し、シリアル通信装置試験装置による読出し指令により格納されたデータを個別に読み出すように、シリアル通信カードが構成される。 - 特許庁

To solve problems that a multiple probe card for testing simultaneously several integrated circuits can not be used hitherto, and that thereby a test time of the integrated circuits is elongated, to increase an additional cost in a series of manufacturing processes.例文帳に追加

従来、いくつかの集積回路を同時に試験するための多重プローブカードの使用は不可能であり、これが集積回路の試験時間を延ばし、一連の製造工程における追加の費用を増大している。 - 特許庁

An LSI carrying part 11 has a sucking head 13 for picking up the inspection object LSI 1 from above a tray 12, and a carrying robot 14 for pressurizing the inspection object LSI by mounting it on a contact sheet of a test card 22.例文帳に追加

ＬＳＩ搬送部１１は、トレー１２上から被検査ＬＳＩ１をピックアップする吸着ヘッド１３と、被検査ＬＳＩをテストカード２２上のコンタクトシートに搭載して加圧する搬送ロボット１４を有する。 - 特許庁

To provide a probe card, and a method for testing an electronic circuit device using the same which can be used in a test of a wide range of electronic circuit devices, prevents probes from contacting and crossing each other, and is not affected by an electromagnetic wave.例文帳に追加

広範囲の電子回路デバイスの検査に使用でき、プローブ同士が接触、混線することがない、また、電磁波の影響を受けないプローブカード、及びこれを用いた電子回路デバイスの検査方法を提供。 - 特許庁

To provide a probe card, its manufacturing method, a wafer prober, and a manufacturing method of a semiconductor device, for achieving stable measurement and probe test by reducing the effect of noise while meeting the miniaturization of a terminal electrode to be measured.例文帳に追加

被測定端子電極の微細化に対応しつつ、ノイズの影響を低減し安定した測定、プローブ試験を達成するプローブカード及びその製造方法、ウェハプローバ、半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

Since the reference card is provided together with the printer including information about test patches, a user can easily determine the time to replace the developing solution.例文帳に追加

これにより，標準色相，試験色相及び標準汚染度測定値が配列された参照カードと共に試験パッチに対する情報を内蔵したプリンタを提供して簡単に現像液の取替時期を決定することができる。 - 特許庁

Each test circuit chip 21 is connected to the probe terminal 12 via a wire provided for the inside of the card main body 11 and transmits and receives a signal to and from the LSI chip to be tested via the probe terminal 12.例文帳に追加

各テスト回路チップ２１は、カード本体１１の内部に設けられた配線を介してプローブ端子１２と接続されており、プローブ端子１２を介してテスト対象ＬＳＩチップと信号の授受を行う。 - 特許庁

At least one dilution chamber can be disposed adjacent to chambers, used for testing a patient sample that are provided on the immunodiagnostic test card or can be provided separately.例文帳に追加

少なくとも１つの希釈チャンバーは、免疫診断テストカードに提供されるか、または別々に提供されることができる、患者サンプルを試験するために使用されるチャンバーに隣接して配置されることができる。 - 特許庁

To provide a measurement device capable of using the same probe card and a performance board, in an electrical characteristics test of an individual chip and a semiconductor chip in a wafer state, which relates to a semiconductor inspection apparatus of a wafer-level CSP.例文帳に追加

ウエハーレベルＣＳＰの半導体検査装置に関して、個片チップとウエハー状態の半導体チップの電気的特性試験において、同一のプローブカードとパフォーマンスボードが使用できる測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test head for a semiconductor tester capable of heightening connection reliability of a connection part between a coaxial cable and the pin card side, and a connection part between the coaxial cable and the performance board side, and acquiring also a heat insulation effect.例文帳に追加

同軸ケーブルとピンカード側との接続部および同軸ケーブルとパフォーマンスボード側との接続部の接続信頼性を高めることができ、熱絶縁効果も得られる半導体テスタ用テストヘッドを実現すること。 - 特許庁

When the vehicle approaches the ETC gate A11 or B12, the in-vehicle unit 3 carries out a test related with an ETC card, or decides whether or not the traveling speed of the vehicle is higher than a predetermined traveling speed.例文帳に追加

車両がＥＴＣゲートＡ１１またはＢ１２に接近した際、車載器３は、ＥＴＣカードに関する検査を行ったり、車両の走行速度が所定の走行速度よりも大きいか否かの判定を行う。 - 特許庁

To provide a learning ability evaluation system capable of preparing easily a report card and a personal chart peculiar to a school, by linking scholastic ability evaluation by means of a pater test with introspection evaluation by means of a query paper sheet.例文帳に追加

ペーパーテストによる学力評価と質問紙による内観評価とを連動させ、それを学校独自の通知表や個人カルテに簡単に作成することのできる学習能力評価システムを提供する。 - 特許庁

A discharge pulse generator 32 is disposed on a test board 31 such that it can approach a position corresponding to the central part of a probe card 33 freely or can recede therefrom freely thus correcting the transmission path length of a discharge pulse generated from the discharge pulse generator 32.例文帳に追加

テストボード３１上に放電パルス発生器３２をプローブカード３３の中心部と対応する位置に対して近接および離間自在に配し、放電パルス発生器３２による放電パルスの伝送経路の長さを補正する。 - 特許庁

To provide a probing test method of semiconductor chips of which two or more terminals are respectively formed at equal intervals along with two opposing sides, by using one probe card, without requiring two adjoined semiconductor chips to be measured as a set.例文帳に追加

対向する二辺に沿ってそれぞれ複数の端子が等間隔で形成されている半導体チップのプロービングテストを、一枚のプローブカードを用い、隣り合う二つの半導体チップを一組として測定することを前提としないで行う。 - 特許庁

In this probe card 10, the each probe 12 is extended from a substrate 11 therefor, and a test signal is transmitted and received to/from each contact area (pad and bump) in a chip area of a semi-conductor wafer Waf that is a measured object.例文帳に追加

プローブカード１０は、その基板１１から各探針１２が伸長され、被測定対象となる半導体ウェハＷａｆのチップ領域における各接触領域（パッドやバンプ等）にテスト信号の授受が行われるものである。 - 特許庁

The optical test signal has a property variably defined by a feedback loop formed between a reference image sensor 112 coupled to the probe card and a control unit 140 connected between the reference image sensor 112 and the illumination source.例文帳に追加

光学テスト信号はプローブカードと結合した基準イメージセンサ１１２と、基準イメージセンサ１１２と照明ソースとの間に連結された制御部１４０の間に形成されたフィードバックループによって多様に定義された性質を有する。 - 特許庁

To improve development efficiency by conducting a software test of a program of a financial device such as a cash processing device and a business store terminal device without using card media and bankbook media in quantities.例文帳に追加

大量のカード媒体や通帳媒体を使用することなく、現金取扱装置、営業店端末装置等の金融装置のプログラムのソフトウェアテストを可能にし、これにより大幅な開発効率の向上を図ることにある。 - 特許庁

The card strength test can be completed by one device by installing a bending testing unit in juxtaposition in the torsion testing device, and a power source part, a control device or the like for the bending testing unit and the torsion testing unit can be used in common.例文帳に追加

また、曲げ試験ユニットをねじり試験装置内に併設することにより、カード強度試験を一つの装置で完結でき、曲げ試験ユニットとねじり試験ユニットとの電源部、制御装置等を共有することが可能となる。 - 特許庁

The card strength test can be completed by one device by installing a torsion testing unit in juxtaposition in the bending testing device, and a power source part, a control device or the like for the bending testing unit and the torsion testing unit can be used in common.例文帳に追加

また、ねじり試験ユニットを曲げ試験装置内に併設することにより、カード強度試験を一つの装置で完結でき、曲げ試験ユニットとねじり試験ユニットとの電源部、制御装置等を共有することが可能となる。 - 特許庁

The probe device which tests electric characteristics of a semiconductor element region formed on a wafer includes a wafer driving stage on which the wafer is placed, a probe card provided with a plurality of probe needles electrically connected to an electrode part formed in the semiconductor element region, and a test head in which the probe card is installed, the test head being movable in a direction perpendicular to the wafer surface.例文帳に追加

ウエハに形成された半導体素子領域における電気的な特性の試験を行うプローブ装置において、前記ウエハが設置されるウエハ駆動ステージと、前記半導体素子領域に形成された電極部と電気的に接続されるプローブ針が複数設けられたプローブカードと、前記プローブカードが設置されるテストヘッドと、を有し、前記テストヘッドは、前記ウエハ面に対し垂直方向に移動させることができるものであることを特徴とするプローブ装置により上記課題を解決する。 - 特許庁

A CPU 22 tests an IC card 200 storing descrambling information for describing the digital television broadcast signal needing the descrambling and controls the tuner 36 to receive the other broadcast signals than the digital television broadcast signal needing the descrambling when the test detects an error in the IC card 200.例文帳に追加

ＣＰＵ２２は、スクランブル解除を要するデジタルテレビ放送のスクランブルを解除するためのスクランブル解除情報が記憶されたＩＣカード２００の試験を行い、当該試験によってＩＣカード２００のエラーが検出された場合に、チューナ３６にスクランブル解除を要するデジタルテレビ放送信号以外の放送信号を受信させる制御を行う。 - 特許庁

To provide a probe card for using even a chip device having a small electrode size which is a test object, by reducing position deviation of a probe tip, concerning a probe card having a double elastic mechanism having a small-dimension probe used for inspection of an electric characteristic of chip devices integrated in high density on a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウェハ上に高密度に集積されたチップデバイスの電気的特性の検査に使用する微小寸法のプローブを有する二重弾性機構のプローブカードにおいて、プローブ先端の位置ずれを小さくすることによって、被試験体であるチップデバイスの電極サイズの小さなものであっても使用できるプローブカードを提供する。 - 特許庁

To provide a connector for a memory card capable of simplifying a manufacturing process by forming an insertion hole of a probe used for a connector continuity test larger than a pressing scar of a fixing pin, and of increasing the degree of freedom of the size of the connector.例文帳に追加

コネクタ導通試験に用いられるプローブの挿入口を、固定用ピンの押圧痕より大きく形成することにより、製造工程が簡略化され、しかもコネクタの大きさの自由度も増したメモリーカード用コネクタを提供することを目的とする。 - 特許庁