「Test Card」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

The apparatus for performing an electrical test is used wherein the one or more terminals 19 of the device under test 18 are brought into contact with one or more vertical probe pins 16 which constitute the vertical probe card and move in the vertical direction.例文帳に追加

垂直プローブカードを構成する垂直方向に可動な１以上の垂直プローブピン１６に検査対象素子１８の１以上の端子１９を接触させて電気的試験を行う装置が使用される。 - 特許庁

To provide an issuing data generating system capable of simply generating test data at the time of test issuing a card, etc., and capable of easily generating data allocated with continuous numbers at the time of issuing primarily.例文帳に追加

カード等をテスト発行するときには、テストデータを簡単に生成することができ、また、一次発行するときには、連番割り付けしたデータを容易に生成することができる発行データ生成システムを提供する。 - 特許庁

To obtain a precise semiconductor probing test result, in which the GND (ground) reinforcement for the probe is easily and securely performed by adding a simple modification to the probe card base structure and so forth, which relates to the probe card.例文帳に追加

プローブカードに関し、プローブカード基盤構造、その他に簡単な改変を加えることで、プローブに対するＧＮＤ補強を容易且つ確実に実施して正確な半導体プロービング試験結果が得られるようにする。 - 特許庁

To provide a ceramic wiring board for a probe card, which provides small position deviation between a probe pin provided on a ceramic wiring board for a probe card and a measuring pad formed on the surface of a Si wafer, and is used in electric characteristics inspection favorably during a thermal load test, and also to provide a probe card using the same.例文帳に追加

熱負荷試験時において、プローブカード用セラミック配線基板に設けられたプローブピンとＳｉウエハの表面に形成された測定パッドとの位置ずれが小さく、電気特性の検査に好適に使用できるプローブカード用セラミック配線基板とこれを用いたプローブカードを提供する。 - 特許庁

To provide a wiring board for a probe card and the probe card using the same which, in a heat load test, has a small position displacement between a measuring terminal disposed on the wiring board for the probe card and a measuring pad formed on the surface of a Si wafer and can be suitably used for electrical characteristics inspection.例文帳に追加

熱負荷試験時において、プローブカード用配線基板に設けられた測定端子とＳｉウェハの表面に形成された測定パッドとの位置ずれが小さく、電気特性の検査に好適に使用できるプローブカード用配線基板とこれを用いたプローブカードを提供する。 - 特許庁

The probe card includes: a contact card 5, having a main surface and a rear surface wherein the rear surface is to be pressed onto a plurality of device electrodes 21 to be inspected provided in the device 2 to be inspected; and an elastic member 10 for applying an elastic force toward the device side to be inspected to the contact card during a test.例文帳に追加

主面及び裏面を有し、前記裏面が被検査装置２に設けられた複数の被検査装置電極２１に押し付けられる、コンタクトカード５と、テスト時に、前記コンタクトカードに対して前記被検査装置側に向かう弾性力を与える、弾性部材１０とを具備する。 - 特許庁

To provide a probe card for electrically testing a semiconductor integrated circuit in a wafer state that enables a probe card terminal for a pad on a wafer to be manufactured collectively, can correspond with a plane arrangement, can be suspended independently, and can cope with a test under high- temperature conditions as the probe card.例文帳に追加

半導体集積回路をウエハ状態で電気的に試験するためのプローブカードにおいて、ウエハ上のパッドに対するプローブカード端子が一括で作製でき、平面配列に対応でき、独立懸架であり、なおかつプローブカードとして高温条件下の試験に対応できるものを提供する。 - 特許庁

A currently and unused signal line is used for the test connector, and served for exchanging indicated contents and the results between the card throttle of tested object and the external tester.例文帳に追加

テスト・コネクタは、既存の未使用バス信号ラインを使用して、テスト対象のカード・スロットと外部テスタとの間でテストの指示内容と結果をやりとりする。 - 特許庁

The operation of the passage detector is confirmed by using a test card having a light receiver output which enters the allowable range of the start time Tr3.例文帳に追加

この上記立ち上がり時間Ｔｒ３の許容範囲に入る受光器出力を有するテストカードを用いて通過検知器の動作を確認する。 - 特許庁

To provide a probe card for improving yield by preventing the edge part of a probe needle from stepping out from a pad during an operation test of a semiconductor chip.例文帳に追加

半導体チップの動作テスト時に、プローブ針の先端部がパッドから踏み外すことを防止し、歩留まりを向上させるこができるプローブカードの提供。 - 特許庁

The generated burn-in pattern signal is input into the semiconductor device of the tested object attached to a burn-in card 32 to conduct a burn-in test.例文帳に追加

生成されたバーンインパターン信号は、バーンインカード３２に装着された被試験対象の半導体装置に入力されバーンイン試験が行われる。 - 特許庁

To provide a contact probe and a probe card capable of rotating a plunger according to the reactive force from test bodies, with a simple mechanism.例文帳に追加

簡単な機構で、被検査体からの反力に伴ってプランジャーを回転させることができるコンタクトプローブ及びプローブカードを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a means in which a control apparatus interface can test various channel interface cards by using a common channel interface card tester.例文帳に追加

制御装置側インタフェースが異なる多種の回線インタフェースカードの試験を、共通の回線インタフェースカード試験装置により実行する手段を提供する。 - 特許庁

To integrate several functions for treating a biological sample with a test sample card and for engineering reading into a single automatic sample treating/reading machine.例文帳に追加

テスト試料カードによる生物試料の処理および工学的読みとりの幾つかの機能を単一の自動試料処理／読み取り機械に組み込む。 - 特許庁

(2) The specified test institution cooperates with a credit company, the application form is provided with an item of payment by a credit card, and the examination fee is paid through the credit company.例文帳に追加

（２）指定試験機関は、クレジット会社と提携を組み申請用紙にクレジットカ−ドの支払い項目を設け、クレジット会社より受験料を支払う機能。 - 特許庁

Thus, even when the dry gas introduced between the test head 13 and the probe card 10 leaks, since the leaking dry gas can be enclosed, the discharge is prevented in the dry gas to the outside of the test head 13.例文帳に追加

これにより、テストヘッド１３とプローブカード１０との間に導入された乾燥ガスが漏れたとしても、その漏れた乾燥ガスを封入することができるため、乾燥ガスのテストヘッド１３外部への排出を防ぐことができる。 - 特許庁

For example, the ionizer is arranged outside of a test head 4, and a gas supply pipe is laid up to the proximity of the upper side of the probe card from here through an opening 4a in the center of the test head, and a nozzle part 61 is provided in the end thereof.例文帳に追加

例えばテストヘッド４の外にイオナイザーを配置すると共にここからテストヘッド中央部の開口部４ａを介してプローブカードの上方近傍までガス供給管を引き回し、その先端部にノズル部６１を設ける。 - 特許庁

In this semiconductor testing apparatus for connecting a wafer mother board with a probe card through a connector and performing a test of an IC, each of the wafer mother board and the probe card has a connector class recognizing means for recognizing the class of the connector.例文帳に追加

ウエハマザーボードとプローブカードをコネクタにより接続してＩＣのテストを行う半導体テスト装置において、前記ウエハマザーボードとプローブカードのそれぞれに前記コネクタの種別を認識するためのコネクタ種別認識手段を設けた。 - 特許庁

A prober device 20 includes a first probe card 21, a second probe card 22, first and second test heads 23 and 24 mounted with the probe cards 21 and 22 respectively, a stage 26 on which the semiconductor chip 11 is mounted, a stage driving mechanism 27, and a housing 28.例文帳に追加

プローバ装置２０は、第１プローブカード２１、第２プローブカード２２、プローブカード２１，２２がそれぞれ装着される第１及び第２テストヘッド２３，２４、半導体チップ１１を載せるステージ２６、ステージ駆動機構２７、筐体２８を備えている。 - 特許庁

This semiconductor testing device having a constitution wherein a prescribed test pattern is applied from a PE card to the DUT, and a pattern outputted from the DUT corresponding to the test pattern is compared with an expected value pattern, and coincidence of the patterns is detected, has a fail control means for summarizing fail information of the DUT input through the PE card relative to each DUT, and transferring it to the PE card.例文帳に追加

ＰＥカードからＤＵＴに所定のテストパターンを印加し、ＤＵＴからテストパターンに応じて出力されるパターンを期待値パターンと比較してこれらパターンの一致の有無を検出するように構成された半導体試験装置において、ＰＥカードを介して入力されるＤＵＴのフェイル情報をＤＵＴごとに集約してＰＥカードへ転送するフェイル制御手段を設けたことを特徴とするもの。 - 特許庁

A device is provided with a test head that transmits and receives a signal and tests, a performance board electrically connected to this test head to transmit and receive the signal with the test head, and the DUT card connected to this performance board by switching the output pin of the image activating driver.例文帳に追加

本装置は、信号の授受を行い、試験を行うテストヘッドと、このテストヘッドと電気的に接続し、テストヘッドと信号の授受を行うパフォーマンスボードと、このパフォーマンスボードに映像駆動ドライバの出力ピンを切り替えて電気的に接続するＤＵＴカードとを有することを特徴とする装置である。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of improving a function to prevent probe card warpage, while keeping a moving function of a top plate, by improving a test head side holding structure.例文帳に追加

テストヘッド側保持構造を改良して、トッププレートの移動機能を保持したまま、プローブカード反り防止機能が向上された半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device which can intuitively obtain position information of a pin of a pin electronics card allocated to each pin of a DUT with a simple operation procedure.例文帳に追加

簡単な操作手順で、ＤＵＴの各ピンに割り付けられたピンエレクトロニクスカードのピンの位置情報を直感的に把握できる半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁

The test circuit chip 21 for testing the electric characteristics of at least part of an LSI chip on a wafer to be inspected is mounted to the surface of a card main body 11.例文帳に追加

カード本体１１表面には、検査対象ウエハ上のＬＳＩチップの少なくとも一部の電気的特性をテストするためのテスト回路チップ２１が実装される。 - 特許庁

To provide an evaluation apparatus and an evaluation method for reducing the wear of a pad in an evaluation test by increasing the reproducibility of a measured value to a DUT board and a probe card.例文帳に追加

ＤＵＴボードおよびプローブカードに対し、測定値の再現性を増し、評価試験でのパッドの磨耗を低減する評価装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To realize a memory card test device capable of simultaneously inspecting a plurality of memory cards, easy in operation and capable of inspecting a number of the memory cards in a short time.例文帳に追加

複数のメモリカードの検査を同時に行うことができ、操作が容易で、短時間に多数のメモリカードの検査が可能なメモリカード試験装置の実現を課題とする。 - 特許庁

Thus, even if a probe card for memory test is vertically long or horizontally long, the cleaning stage is rotated by 90° corresponding to it to cope with cleaning of a tracer 6.例文帳に追加

これにより、メモリテスト用のプローブカードが、縦長又は横長のものでも、これに対応してクリーニングステージを９０°回転することにより、触針６のクリーニングに対処できる。 - 特許庁

Wafer probe test is conducted by using a thin-film probe card wherein the outer edge of a second-step sacrifice layer is made smaller than that of a first-step sacrifice layer.例文帳に追加

本願発明は、２段目の犠牲層の外縁を１段目の犠牲層の外縁よりも小さくした薄膜プローブ・カードにより、ウエハ・プローブ・テストを実行するものである。 - 特許庁

To evade damage of a test pad caused by contact of a defective probe needle by a simple mechanism, with respect to a vertically-movable type probe card, testing method and testing device.例文帳に追加

上下可動式プローブカード、試験方法及び試験装置に関し、簡単な機構により不具合のあるプローブ針のコンタクトによるテストパッドの損傷を回避する。 - 特許庁

To allow pogo pins accurately and surely make contact with a probe card by permitting an interval, when connecting a test head of an IC tester to a wafer prober to be constant.例文帳に追加

本発明の課題は、ＩＣテスタのテストヘッドとウェハプローバを接続する際の間隔を一定にし、ポゴピンをプローブカードに確実かつ正確に接触させることである。 - 特許庁

A dual pogo pin board 20 is disposed between a test board 12 and a probe card 16, to mainly form spaces of a depth corresponding to the thickness of pogo pins 22, 24/the dual pogo pin board 20.例文帳に追加

テストボード１２とプローブカード１６との間に、両ポゴピンボード２０を配置し、主としてポゴピン２２，２４、両ポゴピンボード２０の厚みに相当する空間を形成する。 - 特許庁

In a probe test, the pluralities of first and second probes of the probe card are brought into contact with the plurality of second pads and the plurality of dummy pads of the semiconductor integrated circuit respectively.例文帳に追加

プローブ試験において、プローブカードの上記複数の第１及び第２プローブを半導体集積回路の複数の第２パッドと複数のダミーパッドにそれぞれ接触させる。 - 特許庁

To miniaturize the hardware constitution, to reduce the manufacturing cost, and to improve the throughput/cost ratio in a test system for a nonvolatile memory such as a flash memory card or the like.例文帳に追加

フラッシュメモリカードなどの不揮発性メモリの試験システムにおいて、ハード構成の小型化やコストの低減を図るとともに、スループット対コスト比の向上を図ることにある。 - 特許庁

Prior to loading an application onto an IC card, a test is conducted to determine if the card is qualified to receive the application using personalization data stored on the card and comparing it with permissions data associated with the application indicating one or more sets of cards upon which the application can be loaded.例文帳に追加

ＩＣカードにアプリケーションをロードする前に、テストが行われ、カードに記憶された個人登録データを用い、且つ、その個人登録データと、アプリケーションがロードされ得るカードの１つ以上の組を示す、アプリケーションに関連する許可データと、を比較して、カードが、アプリケーションを受け取るのに適しているかどうかを判定する。 - 特許庁

To provide a ceramic wiring board for a probe card that has low wiring resistance and a small position shift between a probe pin provided to the ceramic wiring board for the probe card and a measurement pad formed on a surface of an Si wafer in a thermal load test, and is suitably usable for inspection of electric characteristics, and a probe card using the same.例文帳に追加

配線抵抗が低く、熱負荷試験時において、プローブカード用セラミック配線基板に設けられたプローブピンとＳｉウエハの表面に形成された測定パッドとの位置ずれが小さく、電気特性の検査に好適に使用できるプローブカード用セラミック配線基板とこれを用いたプローブカードを提供する。 - 特許庁

The probe card is a probe card used to make a probe test on a semiconductor wafer in a high-temperature environment and is provided with the probe card board 10; a heat-dissipating reinforcing plate 17, installed on the surface side of the board; and a plurality of heat-dissipating through-holes in the reinforcing plate.例文帳に追加

本発明に係るプローブカードは、高温環境下で半導体ウエハ１３にプローブ試験を行うためのプローブカードであって、プローブカード基板１０と、このプローブカード基板の上面側に設けられた放熱補強板１７と、この放熱補強板に設けられた複数の放熱用のスルーホール２１と、を具備する。 - 特許庁

Before start of printing, a spoilage card K is sent between the blanket cylinder 4 and an impression cylinder 5, powder P is blown out to an ink surface 12 of the blanket at a timing when the first spoilage card K is transferred, and test printing is repeated by using the second spoilage card K until powder P adhering on the ink surface 12 is exhausted.例文帳に追加

印刷開始前に、やれカードＫをブランケット胴４と圧胴５との間に送り込んで、１枚目のやれカードＫの搬送にタイミングを合わせてブランケットのインキ面１２にパウダーＰを噴出してインキ面１２に付着したパウダーＰがなくなるまで２枚目以降のやれカードＫを用いてテスト印刷を繰り返す。 - 特許庁

In the multi-application IC card system including selective application loading and deleting capability, prior to loading an application onto an IC card, a test is conducted to determine whether or not the card is qualified to receive the application using personalization data stored on the card and comparing it with permission data associated with the application indicating one or more sets of cards upon which the application may be loaded.例文帳に追加

性能をローディングおよび削除する選択的なアプリケーションを有するマルチアプリケーションＩＣカードシステムは、ＩＣカード上へアプリケーションをロードする前に、カード上に格納されたパーソナル化データを使用し、かつ、アプリケーションをロードし得る１つ以上のカードのセットを示すアプリケーションに付随する許可データと比較する、アプリケーションをカードが受け取る資格があるかどうか判定するテストが行われる。 - 特許庁

To provide a probe card capable of performing a test of output to an external magnetic field on a magnetic sensor in a wafer condition and performing a test of output of the magnetic sensor to an external magnetic field in varied direction without changing a relative position to the magnetic sensor.例文帳に追加

外部磁界に対する磁気センサの出力の検査がウェハの状態で行われ、複数方向の外部磁界に対する磁気センサの出力の検査が磁気センサとの相対的な位置を変更することなく行われるプローブカードを提供する。 - 特許庁

The docking position and height of the test head are automatically controlled by the plurality of the position limit switches and one down limit switche operated by engaging and disengaging sensitive projections provided on the test head and sensitive holes formed in a probe card.例文帳に追加

テストヘッドに設けられた感知突起とプローブカードに形成された感知ホールが相互に着脱されることによって作動する複数個のポジションリミットスイッチと一つのダウンリミットスイッチでテストヘッドのドッキング位置および高さを自動的に制御する。 - 特許庁

In an image sensor tester using clocks having a plurality of frequencies for performing an imaging test of a device to be measured via the performance board and a probe card, the generation circuit of clocks having the plurality of frequencies is arranged on the performance board or the probe card.例文帳に追加

複数の周波数のクロックを用い、パフォーマンスボードおよびプローブカードを介して被測定デバイスの撮像試験を行うイメージセンサテスタにおいて、前記複数の周波数のクロック発生回路を前記パフォーマンスボード又はプローブカード上に配置した。 - 特許庁

It is preferable to test the instrument by performing electrical measurement by bringing the probe card into contact with an effective area in the wafer except the semiconductor chips or without bringing the probe card into contact with the wafer.例文帳に追加

ここで、測定装置のテストを、半導体ウエハ内の有効な半導体チップ以外の領域にプローブカードを接触させるか、もしくは、プローブカードが半導体ウエハに非接触の状態で電気的測定を行うことによって実施するのが好ましい。 - 特許庁

The tester and the semiconductor device test apparatus having such a tester are characterized in that a leveling unit provided on the base of a tester head maintains the horizontality of a probe card by applying a load to a top surface of the probe card in a downward direction.例文帳に追加

本発明は、テスター、及びこれを具備した半導体デバイス検査装置であって、テスターヘッドのベースに提供される水平維持ユニットがプローブカードの上部に下方向に荷重を加えてプローブカードを水平状態に維持させることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a testing device for a semiconductor element and a testing method for the semiconductor element, capable of reducing the number of probes in a probe card by rotating the semiconductor element to carry out a probing test by twice measurements, and capable of reducing a manufacturing cost of the probe card.例文帳に追加

半導体素子を回転させて２回の測定でプロービングテストを行うことによりプローブカードのプローブの数を減らせるとともに、プローブカードの製作コストを低減する半導体素子の試験装置および半導体素子の試験方法を提供する。 - 特許庁

The holder 7 is U-shaped in cross-section which is attached, by inserting sideways, to a peripheral part where the wafer tray on which a wafer 2 is placed is fitted tightly to the test card (or the card holder) by a means such as vacuum-chucking at several points.例文帳に追加

この保持具は断面コ字状をしており、真空吸着等の手段によってウェハ２を載置したウェハトレイとテストカード（又はカード保持体）とを密着した周縁部に数個所、該保持具を横から挿入することによって装着する。 - 特許庁