「Test Card」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a probe card compensating positional shift of a probe tip in response to a temperature change, and performing a wafer test in a wide temperature range.例文帳に追加

温度変化に応じ、プローブ先端の位置ずれを補償し、広い温度範囲のウェーハ試験が可能なプローブカードを提供する。 - 特許庁

The IC card tester integrally judges the writing function test of the EEPROM based on the final rest result (616).例文帳に追加

ＩＣカードテスタは、この最終的な試験結果に基づいてＥＥＰＲＯＭの書き込み機能試験の総合判定を行う（６１６）。 - 特許庁

If the contact test judges that there is no conduction, the pressure is applied from the upper surface side of the top probe card 2.例文帳に追加

コンタクト試験により導通していないと判断された場合は、最上部のプローブカード２上面側から圧力を印加する。 - 特許庁

To provide a probe card inhibited in flexure of a wiring substrate due to needle pressure, and enhanced in the reliability of the electrical test results.例文帳に追加

針荷重による配線基板の撓みを抑制し、電気的試験結果の信頼性が高められたプローブカードを提供する。 - 特許庁

The probe device for integrated circuit devices includes a probe holder for supporting the probe card, a test head, and a temperature control mechanism.例文帳に追加

集積回路デバイス用プローブ装置は、プローブカード、プローブカードを支持するためのプローブホルダー、テストヘッド及び温度調節機構を備える。 - 特許庁

TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, PROBE CARD, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路のテスト方法、プローブカード、半導体集積回路装置と半導体集積回路装置の製造方法 - 特許庁

To provide an olfaction test card kit by which many kinds of odors are simply checked in short time without diffusing odors.例文帳に追加

臭気（ニオイ）を拡散させることなく、短時間に簡便に多種類のニオイを確認することができる嗅覚検査カードキット。 - 特許庁

To overcome contact failure between the probe terminal of a probe card for a semiconductor test device and the electrode pad of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体試験装置のプローブカードのプローブ端子と半導体装置の電極パッドとの間の接触不良を解消する。 - 特許庁

A test card 33 loaded on a slot instead of a storage device loaded on a slot generates test data, and transmits the generated test data to an interface board 30, and receives response data from the interface board 30, and compares the transmitted test data with the received response data, and determines whether the test data and the response data are matched with each other.例文帳に追加

スロットに搭載される記憶装置に代えてスロットに搭載されるテストカード３３が、テストデータを作成し、作成したテストデータをインタフェースボード３０に対して送信し、インタフェースボード３０からの応答データを受信し、送信されたテストデータと受信された応答データとを比較し、テストデータと応答データとが一致するかを判断する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a probe card which has a high probe density, a high contact stability with an electric circuit during testing, which can test a wafer, which can execute a large deformation of the probe, and which can rapidly test in a high frequency and to provide the probe card.例文帳に追加

プローブ密度が高く、ウェーハのテストが可能で、プローブの大幅変形を実施可能で、試験中電気回路の間との接触安定性が高く、プローブで高周波テストおよび高速テストが可能なプローブカードの製造方法およびプローブカードを提供する。 - 特許庁

Also, when a test PIN is input, the PC 5 transmits the test PIN to an IC card 3 (S15), and the IC card 3 performs authentication of a PIN44 (S16) and transmits a user identification number 42 and authentication data (response) to the server 6 via the PC 5 (S18 and S19).例文帳に追加

また、試行ＰＩＮが入力されると、ＰＣ５が試行ＰＩＮをＩＣカード３に送信し（Ｓ１５）、ＩＣカード３が、ＰＩＮ４４の認証を行い（Ｓ１６）、ＰＣ５を介してユーザ識別番号４２及び認証データ（レスポンス）をサーバ６に送信する（Ｓ１８、Ｓ１９）。 - 特許庁

A parameter DB (bypass) 15 and a parameter DB (alteration) 16 store parameters that are used for a test to be executed for a program that is before being written in an IC card, based on a result generated in the IC card by a physical attack to the IC card.例文帳に追加

パラメータＤＢ（バイパス）１５と、パラメータＤＢ（改ざん）１６とは、ＩＣカードに対する物理的な攻撃により当該ＩＣカードで生じた結果に基づいた、ＩＣカードに書き込む前のプログラムに対して実行する試験に用いるパラメータを記憶する。 - 特許庁

A package 22 of a memory card 20 includes: a plurality of contact pieces 24; a plurality of test terminals 26; and a label for contact piece protection 28.例文帳に追加

メモリカード２０のパッケージ２２には、複数の接片２４と、複数のテスト端子２６と、接片保護用ラベル２８とが設けられている。 - 特許庁

To provide a probe card which prevents deformation of its components such as a contact unit, etc., and performs a test under an excellent conducting condition.例文帳に追加

接触子ユニット等の構成部品の変形を防止し、良好な導通状態のもと試験を行い得るようにするプローブカード - 特許庁

To provide a test card equipped with a probe mounting tool capable of adjusting the relative position distance between a probe and a measurement waiting element.例文帳に追加

プローブと測定待ち素子との相対的位置距離を調整することを可能とする、プローブ載置具を備えたテストカードを提供する。 - 特許庁

To provide a probe card capable of bringing stably a probe needle into contact, even when the surface of a test object substrate has waviness.例文帳に追加

試験対象基板の表面にうねりがある場合でも、安定してプローブ針を接触させることが可能なプローブカードを提供する。 - 特許庁

An immunodiagnostic test card includes a flat planar member and at least one dilution chamber supported by the flat planer member.例文帳に追加

免疫診断テストカードは、扁平な平面部材、および扁平な平面部材により支持される少なくとも１つの希釈チャンバーを備える。 - 特許庁

Inside the unit 102, the external terminal 120 is connected to each test card 104 via a piece of distributing connecting wire 126.例文帳に追加

試験用ユニット１０２の内部では、外部端子１２０が分配接続線１２６を介して各テスト用カード１０４に接続されている。 - 特許庁

The wafer inspection device 1 includes a tester 2, a prober 3, a stage 4, a probe card 5, a magnet 7, a performance board 8, and a test head 9.例文帳に追加

ウェハ検査装置１は、テスタ２と、プローバ３と、ステージ４と、プローブカード５と、磁石７と、パフォーマンスボード８と、テストヘッド９と、を備える。 - 特許庁

The wafer prober with a probe card inspecting-cleaning mechanism is to conduct a probe test with a probe needle 103 to a wafer.例文帳に追加

本発明に係るプローブカード検査・クリーニング機構付きウエハプローバは、ウエハにプローブ針１０３を当ててプローブ試験を行うものである。 - 特許庁

To prevent a damage of a measuring probe needle when performing a large-numbered parallel test, and to heighten inspection efficiency, concerning a probe card, a semiconductor integrated circuit testing device and a semiconductor integrated circuit test method.例文帳に追加

プローブカード、半導体集積回路試験装置及び半導体集積回路試験方法に関し、多数個並列テストを行う際の測定プローブ針の損傷を防止するとともに、検査効率を高める。 - 特許庁

To provide a probe card in which a test circuit chip is mounted to a narrow location such as the vicinity of probe terminals, conventionally difficult to mount the chip, and a more complicated and larger-size test circuit than before are provided.例文帳に追加

プローブ端子の近傍等、従来実装が困難であった狭い場所にもテスト回路チップを実装でき、かつ従来よりも複雑で大規模なテスト回路を備えたプローブカードを提供する。 - 特許庁

The probe card includes wiring and probes exclusively for a DC test for performing a DC test of one semiconductor chip on a wafer to be tested on which a plurality of semiconductor chips are formed and wiring and probes exclusively for an AC test for performing an AC test of another semiconductor chip.例文帳に追加

本発明のプローブカードは、複数の半導体チップが形成された被試験ウエハの１つの半導体チップに対してＤＣ試験を行うためのＤＣ試験専用の配線及び探針と、他の１つの半導体チップに対してＡＣ試験を行うためのＡＣ試験専用の配線及び探針と、を有する。 - 特許庁

The mixed signal processing circuit is integrated with the test interface, especially the mixed signal processing circuit is integrated with the test interface of a probe card or a device under test, moreover the mixed signal processing circuit is integrated with the pin electric channel of the testing device, and the motion process of the mixed signal process circuit is integrated with the system software of the test device.例文帳に追加

混合信号処理回路をテストインターフェースに統合し、特に混合信号処理回路をプローブカードまたは被試験素子カードのテストインターフェースに統合し、かつ混合信号処理回路と試験機のピン電気チャンネルを統合し、混合信号処理回路の動作プロセスを試験機のシステムソフトウェアに統合する。 - 特許庁

In the prober 11, a travel control stage 111 for placing a wafer WF and a probe card 112, and a circuit substrate 113 for signal relay are arranged to test a probe via a tester body 13 where a test system related to the generation and analysis of a test signal is constructed, and a test head 12 for processing the transmission of a signal.例文帳に追加

プローバー１１は、ウェハＷＦを載置する移動制御ステージ１１１及びプローブカード１１２、信号中継用の回路基材１１３を配備し、試験信号の生成、解析に関係するテストシステムが構築されたテスター本体１３と、信号伝達を処理するテストヘッド１２を介してプローブ試験が行える。 - 特許庁

This test head for the semiconductor tester wherein a pin electronics card stored inside the test head and a performance board provided on an upper part of the test head are connected together through a plurality of coaxial cables has a characteristic wherein the coaxial cables are fixed and supported inside the test head by an insulating member.例文帳に追加

テストヘッド内部に収納されているピンエレクトロニクスカードとテストヘッドの上部に設けられているパフォーマンスボードが複数本の同軸ケーブルを介して接続された半導体テスタ用テストヘッドにおいて、前記同軸ケーブルは、断熱部材によりテストヘッド内部に固定支持されていることを特徴とするもの。 - 特許庁

To provide a probing card capable of maintaining a temperature of the probing card at a constant without resulting in deterioration of work efficiency and performing an accurate test measurement by a constantly even contact pressure.例文帳に追加

作業効率の低下を招くことなくプロービングカードの温度を一定に保つことができ、常に均一な接触圧で精度の良い試験測定を行うことのできるプロービングカードを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit and a probe card for preventing the deterioration of quality due to probing, and for using the same probe card for test even when chip sizes (forms) are different.例文帳に追加

プロービングによる品質の劣化を防止することのでき且つチップサイズ（品種）が異なる場合にも同一のテスト用プローブカードを使用できる半導体集積回路およびプローブカードを提供する。 - 特許庁

To suppress deterioration of a signal waveform quality between a pin card and a signal transmission means in a test head; to heighten connection reliability between the pin card and the signal transmission means; and to reduce device cost.例文帳に追加

テストヘッドにおいて、ピンカードと信号伝送手段との間における信号波形品質の劣化を抑制し、ピンカードと信号伝送手段との間の接続信頼性を高め、かつ、装置の低コスト化を図る - 特許庁

To provide a probe card for a semiconductor testing device, improving inconveniences in device test with the interference of a power current between a plurality of DUTs in the prove card applicable to a wafer prober device.例文帳に追加

ウエハプローバ装置に適用するプローブカードにおいて複数ＤＵＴ間の電源電流の干渉に伴うデバイス試験の不具合を改善可能とした半導体試験装置のプローブカードを提供する。 - 特許庁

To provide a probe card in which concentration of current of the probe card used for a test process in manufacture of a semiconductor device of SOC (System On Chip) consuming large current is prevented and damage of concentration is prevented.例文帳に追加

大電流を消費するＳＯＣ(System On Chip)などの半導体装置の製造における試験工程に用いるプローブカードの電流集中を防いでその損傷を防ぐプローブカードを提供する。 - 特許庁

This test unit encourages communication with the IC module through a card module antenna by using a low watt RF wave, and tests the bonding part between the antenna and the IC module of the selected card module.例文帳に追加

テストユニットは、低ワットＲＦ波を用い、カードモジュールアンテナを介するＩＣモジュールとの通信を促すことにより、アンテナと選択されたカードモジュールのＩＣモジュールとのあいだのボンディング部分をテストする。 - 特許庁

Based on the characteristic batch file, a script file 8a is referred to and commands are transmitted sequentially to the IC card 1 as data outputted from the IC card 1 are compared to thereby execute test processes.例文帳に追加

この固有のバッチファイルに基づいてスクリプトファイル８ａを参照し、ＩＣカード１へ順次命令コマンドを送信／ＩＣカード１から出力されたデータを比較して、試験処理を実行する。 - 特許庁

A test waveform and measuring points set at a graphic editor part 12 are transmitted to a compiler part 13 as a waveform information, thereafter the waveform information is converted to a waveform image and a test program, then loaded in the memory of each pin card, respectively by a pin card waveform image load part 16.例文帳に追加

グラフィックエディタ部１２によって設定されたテスト波形、および測定ポイントは、波形情報としてコンパイラ部１３に送られ、該コンパイラ部１３によって波形情報が波形イメージ、およびテストプログラムに変換され、ピンカード波形イメージロード部１６によって各ピンカードのメモリにそれぞれローディングされる。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus that highly reliably performs a test by correcting a contact load to an appropriate one in real time even if a high-temperature test is done without preheating a probe card and the probe's needle-point position changes, and further prevents a damage to the probe card or an inspected body as well.例文帳に追加

プローブカードをプリヒートすることなく高温検査を行ってプローブの針先位置が変動しても、リアルタイムで適正な接触荷重に補正して信頼性の高い検査を行うことができ、延いてはプローブカードや被検査体の損傷を防止することができる検査装置を提供する。 - 特許庁

A test data pattern is transmitted from the electronic circuit cards 130, 140 to the electronic circuit card 150 at the next stage while changing delay time of the variable delay elements 134, 144 in step to judge propriety of the test data pattern returned from the electronic circuit card 150 at the next stage via a loop return path.例文帳に追加

可変遅延素子１３４、１４４の遅延時間を段階的に変えながら、試験データパターンを電子回路カード１３０、１４０から次段の電子回路カード１５０に送信し、次段の電子回路カード１５０からループリターンパスを経由して返信された試験データパターンの正否を判定する。 - 特許庁

The IC card analyzes the command (606), and operates the command processing of the data writing test (607), and repeats data writing/reading/comparison judgment from a start address to an end address (608-613), and transmits only a final test result to an IC card tester (614).例文帳に追加

ＩＣカードは、コマンドを解析し（６０６）、データ書き込み試験のコマンド処理を行い（６０７）、開始アドレスから終了アドレスまでのデータ書き込み／読み出し／比較判定を繰り返し（６０８〜６１３）、最終的な試験結果のみをＩＣカードテスタに対して送信する（６１４）。 - 特許庁

A tester part 31 has a testing unit 32 composed of a plurality of cards mounted with an LSI in the same as the inspection object LSI, and electrically connected to the test card by removing one card among these cards, a PC 33 for controlling operation of the testing unit, and a test program 34.例文帳に追加

テスタ部３１は、被検査ＬＳＩと同じＬＳＩが実装されている複数枚のカードから構成され、その中でカード１枚を取り除いてテストカードに電気的に接続されるテスト用ユニット３２と、テスト用ユニットを動作制御するＰＣ３３と、テストプログラム３４を有する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device test apparatus for surely deciding the normality of one or more probe pins in an apparatus for performing an electrical test by bringing one or more terminals of a device under test into contact with the one or more probe pins constituting a vertical probe card.例文帳に追加

垂直プローブカードを構成する１以上のプローブピンに検査対象素子の１以上の端子を接触させて電気的試験を行う装置において、１以上のプローブピンの正常性を確実に判別する半導体装置の試験装置を提供すること。 - 特許庁

An IC card carrying part 22 is operated in this state, a card supplying part 21 successively takes out the cards 60, stops them in the area 24, and a communication test with the reader/ writer 31 and initial data writing for card issuing are performed.例文帳に追加

この状態でＩＣカード搬送部２２が稼働され、カード供給部２１よりＩＣカード６０が順次取り出されて、発行処理領域２４で停止され、リード／ライタ装置３１との間で通信テストおよび、カード発行のための初期データの書き込みが行われる。 - 特許庁

To provide an IC card mounted with an IC module having excellent reliability and durability to an ATM (Automatic teller machine) insertion/extraction test by devising a recessed part shape of a card substrate to be mounted with the IC module, and to provide a production method for the IC card.例文帳に追加

ＩＣモジュールを搭載するカード基材の凹部形状に工夫を加えることにより、ＡＴＭ挿抜試験に対して耐久性、信頼性に優れたＩＣモジュールを搭載したＩＣカード及びＩＣカードの製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a memory card capable of running a new program for test or the like by a built-in data processor without newly adding a program memory.例文帳に追加

プログラムメモリを新たに追加すること無く内蔵データ処理装置にテスト用などの新たなプログラムを実行可能なメモリカードを提供する。 - 特許庁

To provide an IC product testing device capable of rapidly processing test of an RF-ID medium in a single piece form such as an IC card.例文帳に追加

たとえばＩＣカードのような単片形態のＲＦ−ＩＤメディアの検査を迅速に処理することのできるＩＣ製品検査装置。 - 特許庁

To provide a probe card for performing a visual test by bringing it into contact with an electrode pad of an inspecting object body at a time, and its manufacturing method.例文帳に追加

被検査体の電極パッドに一括接触させてビジュアルテストを実施するためのプローブカードおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a probe card capable of preventing misalignment of a bump from an electrode pad of a wafer in a wafer test where temperature change is required.例文帳に追加

温度を変化させる必要のあるウェハテストで、ウェハの電極パッドからのバンプのずれを防止することができるプローブカードを提供する。 - 特許庁