「Test Card」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a test head that can suppress bending of a probe card.例文帳に追加

プローブカードの撓みを抑制することが可能なテストヘッドを提供する。 - 特許庁

To provide a test apparatus that positions a probe card with high accuracy.例文帳に追加

本発明は、プローブカードの位置決めを高精度で行うことを目的とする。 - 特許庁

PROBE CARD, PROBE APPARATUS, PROBE TEST METHOD, AND SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

プローブカード、プローブ装置、プローブ試験方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

The pin card executes the test with control of a test system control part 17 based on the loaded waveform images.例文帳に追加

ピンカードは、テストシステム制御部１７の制御により、ローディングされた波形イメージに基づいてテストを実行する。 - 特許庁

To provide a probe card capable of acquiring stable electric contact with a test pad, concerning a vertical type probe card.例文帳に追加

垂直式のプローブカードにおいて、テストパットとの安定した電気的接触が得られるプローブカードを提供する。 - 特許庁

To provide a dry gas enclosing device which prevents the discharge to the outside of a test head of dry gas introduced between the test head and a probe card and leaking into the test head in the case of connecting the test head and the probe card through a coaxial connector.例文帳に追加

同軸コネクタを介してテストヘッドとプローブカードとを接続する場合において、テストヘッドとプローブカードとの間に導入されテストヘッド内に漏れる乾燥ガスのテストヘッド外部への排出を防ぐ乾燥ガス封入装置の提供。 - 特許庁

HIGH AND LOW TEMPERATURE IC WAFER TEST METHOD AND PROBE CARD HOLDER EQUIPPED WITH HEAT SHIELDING PLATE例文帳に追加

ＩＣウェハの高低温検査方法および遮熱プレート付きプローブカードホルダ。 - 特許庁

Another quick way to test the card is sending data to /dev/dsp, like this: 例文帳に追加

手っ取り早くカードをテストするには、 /dev/dspデバイスにデータを送ってみてください。 - FreeBSD

A semiconductor test can be executed highly accurately by using such a probe card 1.例文帳に追加

この様なプローブカード１を用いれば、半導体試験が高精度に実施される。 - 特許庁

To provide an optical test apparatus, a test method, a driving method, and a probe card that are suitable for selectively testing an image sensor.例文帳に追加

イメージセンサを選択的にテストするのに適する光学テスト装置、テスト方法、駆動方法、及びプローブカードを提供する。 - 特許庁

MULTI PROBE CARD UNIT, PROBE TEST DEVICE INCLUDING THE SAME, THEIR MANUFACTURING METHODS, AND METHOD OF USING PROBE TEST DEVICE例文帳に追加

マルチプローブカードユニット、それを備えたプローブ検査装置、それらの製造方法、及びプローブ検査装置を利用する方法 - 特許庁

To provide an inspection method of a probe card, which enables a user to correctly know a replacement time of the probe card, based on a result of a conduction test in the probe card.例文帳に追加

プローブカードにおける導通試験の結果に基づきプローブカードの交換時期を的確に知ることのできるプローブカードの検査方法を提供する。 - 特許庁

A test card 30 is provided with a development language API module to be called from the development language of an IC card system.例文帳に追加

テストカード３０にはＩＣカードシステムの開発言語から呼び出される開発言語ＡＰＩモジュールが備えられている。 - 特許庁

At the time of conducting a network test on a test server 6, client cards 401-40n inserted into a client control machine 1 load a test application, test data and OS for card, which are stored in a main control part 2, and conduct the communication test on the test server 6 by using the loaded test application and test data executing and loading OS for card.例文帳に追加

試験用サーバ６に対するネットワーク試験を行う際、クライアント制御マシン１内に挿入されているクライアントカード４０_1〜４０_nは、それぞれ主制御部２内に格納されている試験用アプリケーション、試験用データおよびカード用ＯＳをロードして、ロードした該試験アプリケーションおよびそのカード用ＯＳを実行しロードした該試験用データを用いて試験用サーバ６の通信試験を行う。 - 特許庁

The probe system comprises a body, a test device, a probe card, and an enhanced mechanism.例文帳に追加

ボディと、テスト装置と、プローブカードと、強化機構とを含むプローブシステムが提供される。 - 特許庁

The probe card maintenance method includes: heating the probe card and probes provided on the probe card to the same temperature as the test temperature of electric characteristic inspection; and adjusting positions of the plurality of probes while maintaining the temperature of the probe card and the plurality of probes at the test temperature.例文帳に追加

プローブカード及びプローブカードに設置されたプローブを電気的特性検査における検査温度と同一の温度まで加熱し、プローブカード及び複数のプローブを当該検査温度に維持しつつ、複数のプローブのそれぞれの位置調整を行う。 - 特許庁

To provide a wafer which can reduce the number of contact pins for a test pad or probe card by decreasing the number of test signals.例文帳に追加

テスト用の信号数を減らすことにより、テスト用パッドやプローブカードのコンタクトピンの数を削減できるウェハを提供すること。 - 特許庁

To test your nVidia card, fire up X and run glxinfo, which is part of the mesa-progs package.例文帳に追加

nVidiaカードをテストするには、Xを起動してglxinfoを実行します。 これはmesa-progsパッケージの一部です。 - Gentoo Linux

TEST DEVICE OF SEMICONDUCTOR WAFER, TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR WAFER, AND PROBE CARD FOR SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

半導体ウェハのテスト装置、半導体ウェハのテスト方法及び半導体ウェハ用プローブカード - 特許庁

PROBE CARD, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TEST METHOD例文帳に追加

プローブカード、半導体集積回路試験装置、及び、半導体集積回路試験方法 - 特許庁

To provide a means of facilitating an operation for adjusting the posture of a test head relative to a probe card.例文帳に追加

プローブカードに対するテストヘッドの姿勢調整作業を容易にする手段の提供。 - 特許庁

PROBE CARD HAVING ZIF CONNECTOR AND ITS WAFER TESTING SYSTEM, AND TEST BOARD AND ITS TESTING SYSTEM例文帳に追加

ＺＩＦコネクタを有するプローブカードとそのウェハテストシステム、テストボードおよびそのテストシステム - 特許庁

The probe card 1 performs a test on a semiconductor with high precision.例文帳に追加

この様なプローブカード１であれば、半導体試験を高精度に実施することができる。 - 特許庁

When issuing an IC card 2, the IC card issuing device 1 successively interprets statements included in a test script 15, and makes the IC card 2 execute the interpreted processing to issue the IC card 2.例文帳に追加

ＩＣカード２を発行するとき、ＩＣカード発行装置１は、テストスクリプト１５に含まれるステートメントを逐次解釈し、解釈した処理をＩＣカード２に実行させることで、ＩＣカード２を発行する。 - 特許庁

Since the same test adapter card as used in the analog testing with the card throttle is employed in the digital testing of card, testing time is shortened and it makes unnecessary the testing device to complicate.例文帳に追加

カード・スロットでのアナログ・テストの場合と同じテスト・アダプタ・カードが、カードのデジタル・テストにも用いられるので、テスト時間が短縮され、テスト装置を複雑にする必要がなくなる。 - 特許庁

An illumination source 120 of the optical test apparatus 100 provides an optical test signal to an image sensor 10 through a probe card 110.例文帳に追加

光学テスト装置１００の照明ソース１２０は光学テスト信号をプローブカード１１０を通じてイメージセンサ１０に提供する。 - 特許庁

To provide a multi probe card unit, a probe test device including the same, their manufacturing methods and a method of using the probe test device.例文帳に追加

マルチプローブカードユニット、それを備えたプローブ検査装置、それらの製造方法、及びプローブ検査装置を利用する方法を提供する。 - 特許庁

When testing the IC card program, the IC card test device 1 successively interprets statements included in the designated test script, and makes an emulator 2 execute the interpreted processing for testing the IC card program stored in the emulator 2.例文帳に追加

ＩＣカードプログラムをテストするとき、ＩＣカードテスト装置１は、指定されたテストスクリプトに含まれるステートメントを逐次解釈し、解釈した処理をエミュレータ２に実行させることで、エミュレータ２に記憶されたＩＣカードプログラムをテストする。 - 特許庁

The IC tester is acquired by improving the IC tester wherein a tester controller in which a test program is operated is communicated with a card on which a hardware function for executing a test by accessing a test object device is mounted, and a test command is transmitted from the tester controller to a firmware for controlling the hardware function in the card.例文帳に追加

テストプログラムが稼動するテスタコントローラと、テスト対象デバイスにアクセスしてテストを実行するハードウェア機能が実装されたカードとが通信し、カード内のハードウェア機能を制御するファームウェアに対してテスタコントローラよりテスト指令が送信されるＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

The test device has a processor card 6, and adapter cards a, 3b.例文帳に追加

本発明の一実施形態のテスト装置は、プロセッサ・カード６と、アダプタ・カード３ａ、３ｂを有している。 - 特許庁

To provide a probe test apparatus capable of easily correcting a probe needle of a probe card.例文帳に追加

プローブカードのプローブ針を容易に修正することを可能とするプローブ検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an IC card having high durability against an ATM insertion-extraction test, and to provide its manufacturing method.例文帳に追加

ＡＴＭ挿抜試験に対して耐久性の高いＩＣカードとその製造方法を提供する。 - 特許庁

To execute burn-in test using a simple-structured probe card without requiring a high current.例文帳に追加

構造が簡単なプローブカードを用いて、大電流を必要とすることなくバーンインテストを行なう。 - 特許庁

The magnet 7 is provided between the probe card 5 and the test head 9 so as to face a wafer W.例文帳に追加

磁石７は、プローブカード５とテストヘッド９の間に、ウェハＷに対向するように設けられる。 - 特許庁

To provide a card torsion testing device used for determining whether a set strength standard is satisfied or not by applying a prescribed external force to a card, especially a PC card or the like, concerning a card mechanical strength test.例文帳に追加

本発明はカードの機械的強度試験に関し、特にＰＣカード等のカードに規定の外力を加え、定められた強度基準を満たすかどうかの判定に用いられるカードのねじり試験装置に関する。 - 特許庁

To provide a card bending testing device used for determining whether a set strength standard is satisfied or not by applying a prescribed external force to a card, especially a PC card or the like, concerning a card mechanical strength test.例文帳に追加

本発明はカードの機械的強度試験に関し、特にＰＣカード等のカードに規定の外力を加え、定められた強度基準を満たすかどうかの判定に用いられるカードの曲げ試験装置に関する。 - 特許庁

To provide a probe card which reduces parasitic capacitance of parts and wiring thereon and performs an optimum AC test in an AC test in a probe test, which is susceptible to neighboring circuitry.例文帳に追加

周辺回路の影響を受けやすいプローブ試験のＡＣ試験において、プローブカード上の部品、配線の寄生容量を軽減し、最適なＡＣ試験を行うプローブカードを提供する。 - 特許庁

To provide a probe card which can test characteristics of a TEG by the test equipment for an electronic circuit of a semiconductor chip, and a test method using the same.例文帳に追加

半導体チップの電子回路の特性をテストする設備環境において、ＴＥＧの特性テストを行うことが可能なプローブカードおよびそれを用いた試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a probe card capable of desired actual operation test of a semiconductor device by means of an existing LSI tester even if both a low-speed test signal and a high-speed test signal are necessary.例文帳に追加

低速テスト信号と高速テスト信号の双方が必要な場合であっても、既存のＬＳＩテスタを使用して、半導体装置の所望の実動作試験を行えるプローブカードの提供。 - 特許庁

As the various products, articles for nursing care, foodstuffs, a test body for emission test, a test body for inspection, a micro camera, a key, control equipment for pet, a credit card, ink, equipment for animal experiment, toys and cosmetics are exemplified.例文帳に追加

介護用品、食料品、排出試験用試験体、検査用試験体、マイクロカメラ、鍵、ペット用管理備品、クレジットカード、インク、動物実験用備品、遊び道具、化粧品の各種製品。 - 特許庁

To provide a DSP card automatic test device allowing improvement of productivity by improving work efficiency of an operation confirmation test.例文帳に追加

動作確認試験の作業効率を向上させ、生産性を向上させることが可能なＤＳＰカード自動試験装置を提供すること。 - 特許庁

To automate a test for an automatic ticket handling system that uses a contactless IC card, thus conducting the test quickly with good reproducibility and high accuracy.例文帳に追加

非接触ＩＣカードを用いる自動改札処理システムの試験を自動化し、再現性よく高精度、かつ迅速に試験を行えるようにする。 - 特許庁

The test device can flexibly correspond to HDDs having various specifications by one processor card by mounting power supply circuits in the adapter card.例文帳に追加

アダプタ・カードに電源回路を実装することで、一つのプロセッサ・カードにより、フレキシブルに様々な仕様のＨＤＤに対応することができる。 - 特許庁

To provide a probe card for performing a visual test by bringing it into contact with an electrode pad of a body to be inspected collectively, and to provide a manufacturing method for the probe card.例文帳に追加

被検査体の電極パッドに一括接触させてビジュアルテストを実施するためのプローブカードおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁

If the IC card 3 is brought nearer to the contactless IC card reader/writer in a state that a carrier wave is modulated by a test modulation signal, the amplitude of a transmission signal is affected by the impedance of the IC card 3 and changes.例文帳に追加

搬送波をテスト用変調信号で変調した状態で、ＩＣカード３が接近すると、当該ＩＣカード３のインピーダの影響を受けて送信信号の振幅が変化する。 - 特許庁