「Test System」に関連した英語例文の一覧と使い方(18ページ目) - Weblio英語例文検索

SEMICONDUCTOR DEVICE, SEMICONDUCTOR TESTER, AND SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM例文帳に追加

半導体装置、半導体テスタおよび半導体テストシステム - 特許庁

SYSTEM FOR SIMULTANEOUS TEST OF DIFFERENT TYPES OF SEMICONDUCTOR DEVICES例文帳に追加

他の種類の半導体装置を同時にテストするシステム - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR MONITORING HANDHELD DEVICE IN TEST ENVIRONMENT例文帳に追加

試験中における携帯装置監視システム及び方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM OF POGO TOWER ELECTRIC CHANNEL SELF-INSPECTION TYPE例文帳に追加

ポゴタワー電気チャネル自己検査式半導体試験システム - 特許庁

EVALUATION SYSTEM FOR TEST CIRCUIT OF EQUALIZER AND INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

イコライザのテスト回路および集積回路の評価システム - 特許庁

TEST SHOOTING SYSTEM FOR REGULAR MACHINE ADOPTING LATCH TYPE SOLENOID例文帳に追加

ラッチ式ソレノイドを採用した普通機の試射試験システム - 特許庁

They wanted me to test a secret system of theirs for weaknesses.例文帳に追加

彼らは秘密の システムの検査を望んだ 弱点の - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

SUPERVISION CONTROL SYSTEM TOTAL TEST METHOD, AND SIMULATION DEVICE例文帳に追加

監視制御システム総合試験方法及び模擬装置 - 特許庁

ACCEPTANCE-TESTING TERMINAL DEVICE, ACCEPTANCE TEST SUPPORT SYSTEM, AND PROGRAM例文帳に追加

検収用端末装置、検収支援システム及びプログラム - 特許庁

To provide a subordinate unit opposite test system that can reduce a test time for a test opposite to a subordinate unit by conducting subordinate unit opposite tests at the same time.例文帳に追加

複数の下位装置対向試験を同時に行い、下位装置対向試験の試験時間を短縮する。 - 特許庁

The electric test system is equipped with: an electric test device; and an electronic device to be tested by the electric test device.例文帳に追加

電気的試験システムは、電気的試験装置と、電気的試験装置によって試験される電子装置と、を備える。 - 特許庁

CLINICAL TEST INFORMATION DISTRIBUTION SYSTEM CORRESPONDING TO INDIVIDUAL ATTRIBUTE FOR PLANNING CLINICAL TEST EXECUTION SCHEDULE AND ADJUSTING NUMBER OF CLINICAL TEST PARTICIPANTS例文帳に追加

治験実施計画の立案と治験参加者数調整のための個人属性に応じた治験情報配信システム - 特許庁

FUNCTION TEST ITEM DEVELOPMENT SUPPORT SYSTEM, FUNCTION TEST ITEM DEVELOPMENT SUPPORT METHOD AND FUNCTION TEST ITEM DEVELOPMENT SUPPORT PROGRAM例文帳に追加

機能試験項目展開支援システム、機能試験項目展開支援方法および機能試験項目展開支援プログラム - 特許庁

By using the test environment that is found out, a predetermined test vector is propagated to acquire a system level test set.例文帳に追加

見つけられたテスト環境を使用して、所定のテストベクトルがシステムレベル・テストセットを獲得するため伝播させられる。 - 特許庁

VIRTUAL TESTER, TEST DEVICE, TEST SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND VERIFICATION METHOD OF TEST PROGRAM FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

仮想テスタ、テスト装置、半導体集積回路用テストシステム、及び半導体集積回路用テストプログラムの検証方法 - 特許庁

DEVICE FOR TEST ITEM EXTRACTION SYSTEM, TEST ITEM EXTRACTION METHOD, RECORDING MEDIUM IN WHICH TEST ITEM EXTRACTION PROGRAM IS RECORDED AND TEST ITEM EXTRACTION PROGRAM例文帳に追加

試験項目抽出システム装置、試験項目抽出方法、試験項目抽出プログラムを記録した記録媒体及び試験項目抽出プログラム - 特許庁

To facilitate a test while preventing enlargement of a test mode setting terminal and complication of a test circuit in the test circuit for various kinds of system LSI.例文帳に追加

各種システムＬＳＩのテスト回路において、テストモード設定用端子の増大及びテスト回路の複雑化を抑えつつ、テストの容易化を実現する。 - 特許庁

To provide an automatic test execution system capable of test script generation in a command parameter determination stage and test script generation independent of a test script preparer.例文帳に追加

コマンドパラメタの決定段階でのテストスクリプトの生成及びテストスクリプト作成者に依存しないテストスクリプトの生成を可能としたテスト自動実行システムの提供。 - 特許庁

MULTIVARIABLE TEST FUNCTION GENERATION DEVICE, MULTIVARIABLE TEST FUNCTION GENERATION SYSTEM, MULTIVARIABLE TEST FUNCTION GENERATION METHOD AND PROGRAM FOR GENERATING MULTIVARIABLE TEST FUNCTION例文帳に追加

多変数テスト関数生成装置、多変数テスト関数生成システム、多変数テスト関数生成方法および多変数テスト関数を生成するためのプログラム - 特許庁

ELECTRIC CIRCUIT DESIGN SUPPORT SYSTEM AND DIRECTIONAL RELAY UNIT TEST SUPPORT SYSTEM例文帳に追加

電気回路設計支援装置及び方向性継電装置試験支援装置 - 特許庁

To restore a database of an actual system corresponding to reception data, into a database of a test system when testing the test system using reception data of the actual system.例文帳に追加

実システムの受信データを用いて試験システムを試験する場合に、受信データに対応する実システムのデータベースを試験システムのデータベースに復元する。 - 特許庁

To provide a join test system, a join test method, and a join test program for efficient join test by reducing a load during test in a system composed of a plurality of modules.例文帳に追加

複数のモジュールから構成されたシステムにおいて、テスト実施時の負担を軽減することにより、効率的に結合テストを行なうための結合テストシステム、結合テスト方法及び結合テストプログラムを提供する。 - 特許庁

EVALUATION TEST SYSTEM AND METHOD FOR MULTI-PLY MATERIAL, STORAGE MEDIUM STORING EVALUATION TEST PROGRAM FOR MULTI-PLY MATERIAL, EVALUATION TEST DATA MANAGEMENT SYSTEM AND METHOD FOR MULTI-PLY MATERIAL, AND STORAGE MEDIUM STORING EVALUTATION TEST DATA MANAGEMENT PROGRAM FOR MULTI-PLY MATERIAL例文帳に追加

多層材料の評価試験システム、方法及びプログラムを記録した記録媒体、並びに多層材料の評価試験データ管理システム、方法及びプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

This test system has many test channels, applies a test pattern to the device pins of a device under test(DUT) via the test channels, and verifies the response output of the DUT.例文帳に追加

本テストシステムは多数のテストチャンネルを有し、そのテストチャンネルを経由して被試験デバイス（ＤＵＴ）のデバイスピンにテストパターンを印加して、そのＤＵＴの応答出力を検証する。 - 特許庁

To provide a test method and a sensor which shorten time required for a test in a test unit even if time is required for the test of a sensor in a test system.例文帳に追加

感知器の試験に時間を要する場合でも、試験器における試験に要する時間を短縮することの可能な試験システムおよび試験方法および感知器を提供する。 - 特許庁

To obtain a test system which decides whether or not a bus system is adaptable to specific specifications by performing bus system operation after a test command is executed.例文帳に追加

ＵＳＢシステムが一連の定義済みＵＳＢ仕様に適合しているかどうかをテストするシステムおよび方法を提供する。 - 特許庁

An electronic test system having an object oriented hierarchical structure including classes that allow a test developer to design a desired electronic test system is provided.例文帳に追加

試験開発者が所望の電子テストシステムを設計できるクラスを含むオブジェクト指向型階層構造を有する電子テストシステムが提供される。 - 特許庁

A test specification generation part 230 creates a test specification 303 based on these test pattern 301 and Web page 302, and an automatic test execution part 240 executes a system test based on this test specification 303.例文帳に追加

試験仕様書生成部２３０は、これらのテストパターン３０１とＷｅｂページ３０２に基づいて試験仕様書３０３を作成し、自動試験実行部２４０は、この試験仕様書３０３に基づいてシステムテストを実行する。 - 特許庁

This invention is obtained by improving the test system for sampling the test data from a test result memory in which the test results data of an IC test device for testing a plurality of test objects are stored.例文帳に追加

本発明は、複数の被試験対象の試験を行うＩＣ試験装置による試験結果データが格納される試験結果記憶部から、試験結果データをサンプリングするテストシステムに改良を加えたものである。 - 特許庁

Consequently, test of a multi-system portable terminal, system automatic identification of the portable terminal, connection test between terminals of different systems, test under interference with other system, self-diagnosis and remote test can be carried out.例文帳に追加

これによって、マルチシステム携帯端末の試験、携帯端末のシステム自動識別、異なるシステムの端末間における接続試験、他のシステムの干渉下における試験、自己診断およびリモート試験が可能となる。 - 特許庁

To obtain a system test device which can integrate the steps from creating a test specification, executing a test, and generating the test result, to creating a manual, thereby reducing a load on a system designer, and realizing a system with high reliability.例文帳に追加

試験仕様書、試験の実施、試験結果およびマニュアル作成までの工程を一元化し、システム設計者の負担を軽減し、かつ、信頼性の高いシステムを実現することのできるシステムテスト装置を得る。 - 特許庁

TEST SYSTEM, TEST METHOD AND TEST PROGRAM OF PROTECTION RELAY, AND RECORDING MEDIUM FOR RECORDING PROGRAM例文帳に追加

保護継電器の試験システム、保護継電器の試験方法、保護継電器の試験プログラム、およびこのプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

SAMPLE TABLET COLLAPSING DEVICE, COLLAPSE TEST DEVICE AND COLLAPSE/ELUTION TEST SYSTEM USING THE SAME, AND SAMPLE TABLET COLLAPSE TEST METHOD例文帳に追加

試料錠崩壊装置、それを用いた崩壊試験装置及び崩壊・溶出試験システム、ならびに試料錠崩壊試験方法 - 特許庁

To provide an integrated circuit device test system and an integrated circuit device test method for efficiently performing a burn-in test.例文帳に追加

効率よくバーンインテストを行うことができる、集積回路装置のテストシステム、及び集積回路装置のテスト方法を提供する。 - 特許庁

This invention is for the semiconductor test system which executes a virtual test operation without connecting to a prober, and the semiconductor test method.例文帳に追加

本発明はプローバと接続せずに仮想テスト動作を実行する半導体テストシステム及びその半導体テスト方法に関する。 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR SUPPORTING ADAPTIVE TEST, ADAPTIVE TEST SUPPORTING PROGRAM AND STORAGE MEDIUM STORING ADAPTIVE TEST SUPPORTING PROGRAM例文帳に追加

アダプティブ試験支援方法及び装置及びアダプティブ試験支援プログラム及びアダプティブ試験支援プログラムを格納した記憶媒体 - 特許庁

A vibration testing system 100 performs a vibration test by loading a test object 13 on a table 1, and exciting the test object 13 with a hydraulic exciter 2.例文帳に追加

振動試験装置１００は、被試験体１３をテーブル１に搭載し、油圧加振機２で加振して振動試験する。 - 特許庁

To make it possible to execute a test in system operation by widely developing a scanning test for a circuit board in a computer system.例文帳に追加

計算機システムにおける回路基板のスキャンテストをより幅広く展開し、システム動作中にテストを行うこと。 - 特許庁

REAL TIME AUTOMATIC MONITORING CONTROL SYSTEM FOR SPACE FLYING BODY TEST例文帳に追加

宇宙飛翔体試験リアルタイム自動監視制御システム - 特許庁

TIRE PERFORMANCE TEST-USE ROTATING DRUM AND TIRE PERFORMANCE TESTING SYSTEM例文帳に追加

タイヤ性能試験用回転ドラムとタイヤ性能試験装置 - 特許庁

To improve efficiency of a current/new matching test related to an online system.例文帳に追加

オンラインシステムに関する現新一致テストを効率化する。 - 特許庁

ULTRASONIC FLAW DETECTING SYSTEM AND ULTRASONIC FLAW DETECTING TEST METHOD例文帳に追加

超音波探傷システムおよび超音波探傷試験方法 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR SHARING TEST TERMINAL OF INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路のテスト端子共用化方法および方式 - 特許庁

POWER RECOVERY SYSTEM IN AGING TEST FOR POWER SUPPLY UNIT例文帳に追加

電源ユニットのエージング試験における電力回生システム - 特許庁

TEST BENCH SYSTEM, PROGRAM, STORAGE MEDIUM AND METHOD FOR VERIFYING CIRCUIT例文帳に追加

テストベンチシステム、プログラム、記憶媒体及び回路検証方法 - 特許庁