「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(153ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD FOR TESTING MEMORY MODULE IN TRANSPARENT TRANSMISSION MODE AND HUB OF MEMORY MODULE FOR EXECUTING TEST例文帳に追加

透過伝送モードでメモリモジュールをテストする方法及びこれを実行するためのメモリモジュールのハブ。 - 特許庁

COMPUTER-READABLE STORAGE MEDIUM, LOGIC MODULE, AND SEMICONDUCTOR AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

コンピュータ読み取り可能な記憶媒体、論理モジュール、ならびに半導体装置およびそのテスト方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING AND SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

半導体装置の試験装置、半導体装置の試験方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

METHOD, DEVICE FOR TESTING REAL PAGE NUMBER BIT IN CACHE DIRECTORY, AND COMPUTER RECORDABLE MEDIUM例文帳に追加

キャッシュ・ディレクトリ内の実ページ番号ビットのテスト方法、装置、およびコンピュータ記録可能な媒体 - 特許庁

The modem testing system includes a console, a line simulator, and telephone line exchange equipment.例文帳に追加

本発明に係るモデムテストシステムは、コンソールと、回線シミュレータと、電話回線切替設備とを備える。 - 特許庁

The environmental testing device 1 is equipped with four chambers of A, B, C, D, and a common duct 2.例文帳に追加

環境試験装置１は、４基のチャンバーＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄと、共通ダクト２を備えている。 - 特許庁

To provide a method for testing the mitogenic activity a test sample a keratin cell.例文帳に追加

ケラチン細胞に対する被検のサンプルのマイトジェン活性を試験する方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for testing an overclock of a VGA card; and to provide a system of the VGA card.例文帳に追加

ＶＧＡカードのオーバークロックをテストする方法及びそのＶＧＡカードのシステムを提供すること。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE TESTER, BURN-IN TESTER AND METHOD OF TESTING IN SEMICONDUCTOR DEVICE TESTER例文帳に追加

半導体デバイス試験装置、バーンイン試験装置、および、半導体デバイス試験装置における試験方法 - 特許庁

This testing method of a clock synchronization type semiconductor integrated circuit goes through the following steps.例文帳に追加

本発明は、クロック同期式の半導体集積回路のテスト方法であって、以下のステップを経る。 - 特許庁

To provide a range-less material testing machine facilitating the visual confirmation of the change state of test force.例文帳に追加

試験力の変化状態の目視による確認が容易なレンジレス材料試験機の提供。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE TESTER, TIMING GENERATOR, METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD FOR GENERATING TIMING例文帳に追加

半導体デバイス試験装置、タイミング発生器、半導体デバイス試験方法及びタイミング発生方法 - 特許庁

Also, a pressing plate (pressing member) 6 for pressing and installing the circuit substrate 3 for testing on the electronic part 2.例文帳に追加

また、電子部品２を試験用回路基板３に押圧・装着させる押圧板（押圧部材）６を備える。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TESTING APPARATUS THEREOF AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

半導体集積回路、半導体集積回路検査装置、及び半導体集積回路製造方法 - 特許庁

To provide a semiconductor device inspecting apparatus capable of testing a semiconductor device for a short test time.例文帳に追加

短いテストタイムで半導体装置の試験ができる半導体装置試験装置を提供する。 - 特許庁

METHOD OF TESTING AIRTIGHT LAYER FORMED BY BONDING RECLAIMED MATERIAL TO INNER WALL FACE OF STEEL UNDERGROUND TANK例文帳に追加

鋼製地下タンク内壁面に更生材を貼り付けて形成した気密層の試験方法 - 特許庁

To provide a testing apparatus for performing a highly reliable hydrogen peroxide stability test.例文帳に追加

信頼性の高い過酸化水素水安定度試験を行うことが可能な試験器具を提供する。 - 特許庁

To provide a radio communication system capable of simply and easily testing the propagation of radio waves.例文帳に追加

電波伝搬試験を簡単かつ容易に行うことができる無線通信システムを提供すること。 - 特許庁

METHOD AND STRUCTURE FOR TESTING SEMICONDUCTOR WAFER PRIOR TO EXECUTION OF FLIP CHIP BUMPING PROCESS例文帳に追加

フリップ・チップ・バンピング・プロセスの実行に先立って半導体ウェハを試験するための方法および構造 - 特許庁

SEMICONDUCTOR EQUIPMENT, DEVICE FORMATION SUBSTRATE, WIRING CONNECTION TESTING METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置、デバイス形成基板、配線接続試験方法、および半導体装置の製造方法 - 特許庁

TEST APPARATUS AND METHOD FOR TESTING A PLURALITY OF DEVICES, AND SEMICONDUCTOR WAFER LEVEL TEST DEVICE例文帳に追加

複数のデバイスを試験するための試験装置、方法および半導体ウェーハ・レベル試験デバイス - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of creating summary data with a small-scale constitution.例文帳に追加

小規模な構成でサマリデータを作成することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method capable of surely and comprehensively testing memory modules on a computer system.例文帳に追加

コンピュータシステム上のメモリモジュールが、確実かつ包括的に試験され得る方法を提示すること。 - 特許庁

DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT USING SAME例文帳に追加

半導体集積回路の試験装置およびそれを用いた半導体集積回路の製造方法 - 特許庁

INTERNAL CLOCK SIGNAL GENERATION CIRCUIT, PHASE COMPARATOR, AND METHOD FOR TESTING INTERNAL CLOCK SIGNAL GENERATION CIRCUIT例文帳に追加

内部クロック信号発生回路、位相比較器、および内部クロック信号発生回路の試験方法 - 特許庁

A slider test apparatus includes a support structure and a test socket receiving a slider for testing.例文帳に追加

スライダ検査装置は支持構造体と、検査するためスライダを受け取る検査ソケットとを含む。 - 特許庁

PROBE NEEDLE FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND PROBE DEVICE USING THE PROBE NEEDLE例文帳に追加

半導体装置のテスト用プローブ針とその製造方法、このプローブ針を用いたプローブ装置 - 特許庁

DEVICE FOR DETECTING PHYSICAL QUANTITY BY UTILIZING DISTANCE CHANGE BETWEEN ELECTRODES AND ITS OPERATION TESTING METHOD例文帳に追加

電極間距離の変化を利用して物理量を検出する装置およびその動作試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR WAFER, FERROELECTRIC STORAGE DEVICE, ELECTRONIC APPARATUS, AND METHOD OF TESTING FERROELECTRIC STORAGE DEVICE例文帳に追加

半導体ウエハ、強誘電体記憶装置、電子機器および強誘電体記憶装置の試験方法 - 特許庁

To provide a testing device for performing various function tests in a comparatively simple configuration.例文帳に追加

比較的簡易な構成により多様なファンクションテストを行うことができる試験装置を提供する。 - 特許庁

PROBE NEEDLE FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS MANUFACTURING METHOD AND PROBE CARD WITH THE PROBE NEEDLE例文帳に追加

半導体装置のテスト用プローブ針とその製造方法およびそのプローブ針を備えたプローブカード - 特許庁

To provide a vibration/excitation testing machine which can reform a stepped distortion of acceleration waveform due to friction.例文帳に追加

振動／加振試験機において摩擦に起因したステップ的な加速度波形の歪みを改善する。 - 特許庁

To provide a testing apparatus for apnea capable of precisely classifying the apnea in a simple configuration.例文帳に追加

簡易構成で無呼吸の種別を精度良く判定できる無呼吸検査装置の提供。 - 特許庁

Thereafter, the probe 9 can contact a testing pad of the semiconductor integrated circuit 5 well.例文帳に追加

その後、プローブ９は、半導体集積回路５のテスト用パッドに良好に接触することができる。 - 特許庁

SYSTEM FOR TESTING TIRE USING ALGORITHM FOR ANALYZING FLUCTUATION OF REPRESENTATIVE PARAMETER TIME-SERIALLY例文帳に追加

経時的に代表的なパラメータの変動を分析するアルゴリズムを用いてタイヤを試験するシステム - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, INSPECTION METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE OR MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置または半導体装置の検査方法または半導体装置の製造方法 - 特許庁

When testing the semiconductor circuit (1), input data are processed by the plurality of data processing sections (10).例文帳に追加

半導体回路（1）のテスト時において、入力データが複数のデータ処理部（10）で処理される。 - 特許庁

TIMING CALIBRATION METHOD, TIMING-CALIBRATING APPARATUS, AND IC-TESTING DEVICE WITH TIMING-CALIBRATING APPARATUS例文帳に追加

タイミング校正方法、タイミング校正装置及びこのタイミング校正装置を備えたＩＣ試験装置 - 特許庁

To provide a machine and a method for testing bending fatigue enabling simplification and miniaturization.例文帳に追加

簡易化且つ小型化を可能とする曲げ疲労試験機及び曲げ疲労試験方法を提供する。 - 特許庁

WATER-FILLING TESTING METHOD OF LNG TANK, ITS SYSTEM, LNG TANK AND ITS CONSTRUCTION METHOD例文帳に追加

ＬＮＧタンクの水張り試験方法およびそのシステム、並びにＬＮＧタンクおよびその建造方法 - 特許庁

NOVEL GENE, AND OSTEOPOROSIS TESTING METHOD BASED ON SINGLE NUCLEOTIDE POLYMORPHISM ON FONG GENE LOCUS例文帳に追加

新規遺伝子およびＦＯＮＧ遺伝子座の一塩基多型に基づく骨粗鬆症の検査方法 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT HAVING FUNCTION TESTING MEMORY USING VOLTAGE FOR STRESS AND ITS MEMORY TEST METHOD例文帳に追加

ストレス用電圧を用いてメモリをテストする機能を有する集積回路及びそのメモリテスト方法 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of performing accurate comparison processing in comparators.例文帳に追加

コンパレータにおける正確な比較処理を可能とする半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁

MULTI-CHANNEL ARCHITECTURE, AUTOMATIC TESTING MACHINE, TRANSMITTING METHOD AND SOFTWARE PROGRAM OR PRODUCT例文帳に追加

多重チャネルアーキテクチャ及び自動試験機及び送信方法及びソフトウェアプログラムあるいは製品 - 特許庁

PROBE CARD AND ITS MANUFACTURING METHOD, PROBE APPARATUS, PROBE TESTING METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

プローブカード及びその製造方法、プローブ装置、プローブ試験方法、半導体装置の製造方法 - 特許庁