「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(156ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a testing method for a semiconductor device, in which the setup time and the loading time can be measured irrespective of a skew accuracy among the pins of an LSI tester, and to provide a loading board suitable for the testing method.例文帳に追加

ＬＳＩテスタのピン間スキュー精度によらずセットアップ時間、ホールド時間の測定を可能とした半導体デバイスの試験方法及びこの試験方法に好適なロードボードを提供する。 - 特許庁

To provide a device and a method for dynamic wind tunnel testing in order to inhibit the deviation of a wind tunnel testing model from its wind tunnel measuring section, relax the limits to the test range, and minimize transient phenomena in transition to free flight mode.例文帳に追加

動的風洞試験装置及び方法に関し、風試模型の風洞計測部からの逸脱を防止し試験範囲の制限を緩和し、フリーフライト移行時の過渡現象を小さくする。 - 特許庁

To provide a managing device capable of managing the whole of a testing schedule even if the testing schedule includes both a driving schedule defined by a time unit and a driving schedule defined by a distance unit.例文帳に追加

時間を単位として定義された運転スケジュールと、距離を単位として定義された運転スケジュールと、が混在している場合にも試験スケジュール全体を管理可能な管理装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an automatic polishing method and its device capable of sanitarily carrying out work and automatically forming a bedrock testing surface without taking any labor for forming the bedrock testing surface in a site even when a surface to be polished is a soft rock.例文帳に追加

被研磨面が軟岩の場合でも現地での岩盤の試験面の形成に労力を要せず、衛生的に作業ができ、岩盤の試験面を自動的に形成できることを目的とする。 - 特許庁

To provide a testing method using an orthogonal table and can reduce interactions, and to provide a test program, and a process monitoring method and a process monitoring program applying the testing method.例文帳に追加

直交表を使用する試験方法であって、交互作用を低減できる試験方法及び試験プログラム、並びに、この試験方法を応用した工程監視方法及び工程監視プログラムを提供する。 - 特許庁

An operation testing system 10 is provided with an image pickup unit 200 and a testing device 300 for confirming the operations of members 120 constituting the image pickup unit 200 from the outside of the case body of the image pickup unit 200.例文帳に追加

動作試験システム１０は、撮像装置２００と、撮像装置２００の筐体の外部から撮像装置２００を構成する部材１２０の動作を確認するための試験装置３００とを備える。 - 特許庁

To provide a single sensor type indentation test system due to an indentation testing machine constituted by more simplifying the structure of the testing machine by replacing displacement with the number of pulses and calibrating the displacement to compensate the displacement.例文帳に追加

変位をパルス数で置換し、また較正することで変位を補償し試験機の試験機の構造をよりシンプルにした押込み試験機によるシングルセンサー式押込み試験システムを提供する。 - 特許庁

The ultrasonic endoscope 100 has the ultrasonic testing mechanism 130 on the front end side of a front unit 114 of an insertion section 102 and an endoscope observation mechanism 140 on the base end side of the ultrasonic testing mechanism.例文帳に追加

超音波内視鏡１００では挿入部１０２の先端部本体１１４の先端側に超音波検査機構１３０，それより基端側に内視鏡観察機構１４０が設けられている。 - 特許庁

To provide a testing process and a testing program capable of facilitating a single operation confirmation test of a nuclear power plant control device and an operation confirmation test combined with another control device actual machine.例文帳に追加

原子力発電プラント制御装置の単体での動作確認試験、及び他の制御装置実機と組合せた動作確認試験が容易となる試験方法及び試験プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a peel testing machine capable of easily performing a tape peel test under a constant condition, and an evaluation method for calculating the peel ratio from a tape peeled by the peel testing machine to evaluate the peelability of the tape.例文帳に追加

テープ剥離試験を一定の条件で容易に行うことができる剥離試験機及び剥離試験機で剥離したテープから剥離率を求めて評価する評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide a horizontal load testing method of a pile capable of more accurately grasping the behavior of the pile in the actual on-the-spot ground and capable of performing a test at a low cost without making a testing machine large-scaled.例文帳に追加

実際の現地地盤中での杭の挙動をより正確に把握できると共に、試験装置が大掛かりにならず低コストで実施可能な杭の水平載荷試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a software test system that enables concurrent testing on a plurality of computers and also enables the testing by an operator's appropriate judgement, even if there are differences in displays.例文帳に追加

本発明の目的は、複数台の計算機のテストを同時に並行して可能であると共に、表示の差異があってもオペレータが適宜判断しながらテスト可能なソフトウェアテスト装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide an IC tester, an IC testing method and a production method of semiconductors which can shorten the testing time by improving the flow of the control in the certification test of the operation voltages of ICs.例文帳に追加

ＩＣの動作電圧検定試験における制御の流れを改善し、テスト時間の短縮が図れるＩＣ試験装置及びＩＣ試験方法、半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit and a testing method for it, capable of inspecting line connection between hard macros and external terminals, and capable of reducing the number of external terminals that are to be used exclusively for testing.例文帳に追加

ハードマクロと外部端子間の配線接続を検証することができ、かつ、テスト専用の外部端子数を抑制することができる半導体集積回路及びそのテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display (LCD) panel which simplifies its testing and manufacturing by eliminating a short-circuit bar and a short-circuit bar removing step corresponding thereto, and a manufacturing method and a testing method thereof.例文帳に追加

短絡バー、それと対応する短絡バー除去工程を削除することで工程を単純化することができる液晶表示パネルとその製造方法及びその検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a rubber tensile testing method capable of clarifying anisotropy in tensile test due to the effects of calender grain etc. of vulcanized rubber even through the use of a testing apparatus for ring-like test strips.例文帳に追加

リング状試験片用の試験装置を用いてなお、加硫ゴムの、カレンダー列理等の影響による、引張試験における異方性を明確にすることができる、ゴムの引張試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device having heightened reliability of a test result by testing many semiconductor devices loaded on a burn-in board without wrong determination.例文帳に追加

バーンインボード上に搭載される多数の半導体装置に対する試験を誤判定を生じることなく実施できるようにして、試験結果の信頼性を高めた半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus and a calibration technique of the semiconductor testing apparatus, correcting accidental errors due to dispersion of properties of a print circuit board and waveform distortion so as to make timing calibration at high speed.例文帳に追加

プリント基板の特性のばらつきや波形のなまりによる誤差を補正して高速にタイミング校正を行うことができる半導体試験装置および半導体試験装置の校正方法を実現する。 - 特許庁

To provide a method of detecting reference point via for collating examined printed board coordinates with testing device robot coordinates, after mounting the examined printed board, in a printed board testing device.例文帳に追加

本発明は、プリント板試験装置において、被試験プリント板を実装した後に、被試験プリント板座標と試験装置ロボット座標を照合するための基準点ビアを検出する方法を提供する。 - 特許庁

A testing step (step 102) includes a preliminary step (step 102a) implementing the elimination of the shaft slippage from the respective clutch plates and a cam mechanism prior to a main testing step (step 102b).例文帳に追加

試験工程（ステップ１０２）は、本試験工程（ステップ１０２ｂ）を実施するにあたり、事前に各クラッチプレート、並びにカム機構の軸ずれを排除すべく実施される予備工程（ステップ１０２ａ）を含む。 - 特許庁

A program memory section 24 is prepared in a pattern generator generating testing patterns and one of a plurality of memory sections prepared in the semiconductor testing device to memorize test conditions of DUT.例文帳に追加

プログラムメモリ部２４は、試験パターンを生成するパターンジェネレータに設けられており、ＤＵＴの試験条件を記憶するために半導体試験装置に複数設けられているメモリ部等の１つである。 - 特許庁

To easily structure a different semiconductor testing system as a whole by specifically modularizing various kinds of different testing devices.例文帳に追加

半導体試験システムであり、特に各種の異なるタイプの試験装置をモジュール化してそれらの複数個を組み合わせることにより、全体として異なる半導体試験システムを容易に構成できるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing method capable of quickly and surely setting a control voltage so as to be within the power range of target value of an RF device and a semiconductor testing device using this method.例文帳に追加

本発明は、ＲＦデバイスの目標値のパワー範囲となるように、制御電圧を早く確実に設定できる半導体試験方法及びその試験方法を用いた半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of reducing a labor for performing self-diagnosis and minimizing wasting in testing results hitherto obtained in response to the results of the self-diagnosis.例文帳に追加

自己診断を行う手間を軽減するとともに、自己診断の結果に応じてそれまでに行った試験結果が無駄になることを最小限に抑えることができる半導体試験装置を提供すること。 - 特許庁

To highly precisely conduct waveform shaping of a signal input to a tested device and its timing correction by simple circuit constitution, in an IC testing device for testing a semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスを試験するＩＣ試験装置において、被試験デバイスに入力される信号の波形整形とタイミング補正とを、より簡単な回路構成によって高い精度で実行できるようにする。 - 特許庁

The POS probe unit 10 for testing is connected to one end of a POS (PPP Over SONET/SDH) channel N, and a frame generator 20 for transmitting a testing frame to the POS channel N is connected to another end.例文帳に追加

ＰＯＳ（PPP Over SONET/SDH）回線Ｎの一端には試験を行うＰＯＳプローブ装置１０が接続され、他端には試験フレームをＰＯＳ回線Ｎに送信するフレーム発生装置２０が接続されている。 - 特許庁

This testing device 20 is connected to terminals 150, 152 connected electrically to an electric power supply line PL2 and a grounding line GL2, respectively, when testing the voltage fluctuation of an auxiliary device 130 mounted on a vehicle 10.例文帳に追加

試験装置２０は、車両１０に搭載された補機１３０の電圧変動試験時、電源ラインＰＬ２および接地ラインＧＬ２にそれぞれ電気的に接続される端子１５０，１５２に接続される。 - 特許庁

On the back surface of the game region, a main board which manages major controls of the game is arranged, and this system for game machine testing is formed when a relay terminal plate for testing is connected with the main board.例文帳に追加

遊技領域の背面には遊技の主要な制御を司る主基板が配置されており、該主基板に試験用中継端子板を接続することで遊技機試験用システムが形成される。 - 特許庁

To provide a hardness testing machine capable of more accurately excluding the effect due to the strain of a machine body to keep measuring precision, and a method for correcting the strain of the machine body in the hardness testing machine.例文帳に追加

機体の歪みによる影響をより正確に排除出来て測定精度を維持することが出来る硬さ試験機およびこの硬さ試験機における機体歪み補正方法を提供する。 - 特許庁

A colony piece for drug sensitivity testing is extracted with a bacteria extractor 202 for drug sensitivity testing after the extraction of the colony piece for mass spectrometry with the bacteria extractor 201 for mass spectrometry.例文帳に追加

また、質量分析用釣菌部２０１による質量分析用コロニー片の採取を行った後で薬剤感受性検査用釣菌部２０２による薬剤感受性検査用コロニー片の採取を行う。 - 特許庁

To provide a socket testing method and a socket testing tool for testing an IC package by mounting the IC package having grid-shaped terminals at the lower surface of a package body, capable of easily testing the location of terminals of a socket, and capable of confirming actual contacting state of the terminals of the socket with the terminals of the IC package.例文帳に追加

パッケージ本体の下面に端子がグリッド状に設けられたＩＣパッケージが装着され、前記ＩＣパッケージの試験を行うソケットの検査方法およびその検査方法に使用される検査ツールに関し、ソケットの端子の位置の検査が簡単で、しかもソケットの端子、ＩＣパッケージの端子との実際の接触状態が確認できるソケットの検査方法及びソケットの検査ツールを提供することを課題とする。 - 特許庁

A method of determining offset between a center of the substrate and a center of concavity of chuck comprises the steps of: offering a testing substrate smaller than the concavity in size; measuring a location of alignment mark of the testing substrate while the testing substrate exists inside the concavity; and determining the offset between a center of the testing substrate and the center of the concavity from the location of the alignment mark.例文帳に追加

基板の中心とチャックの凹所の中心との間のオフセットを決定するための方法には、寸法が凹所の寸法より小さい試験基板を凹所に提供するステップと、試験基板が凹所内に存在している間に、試験基板のアライメント・マークの位置を測定するステップと、アライメント・マークの位置から試験基板の中心と凹所の中心との間のオフセットを決定するステップが含まれている。 - 特許庁

A semiconductor inspection system 200 has a sorter 10, a detecting device 30 and a testing device 40.例文帳に追加

半導体検査システム２００は、分類装置１０と検出装置３０と試験装置４０とを有する。 - 特許庁

To provide a visual acuity tester which can easily conduct a visual acuity testing while making the operation brief.例文帳に追加

操作を簡潔にして視力検査を容易に行うことができる視力検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a high-speed and highly accurate power supply voltage variation testing apparatus, a method, and a computer program.例文帳に追加

高速かつ高精度な電源電圧変動検証装置、方法や及びコンピュータプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a high- and low-temperature test device capable of efficiently performing temperature testing on an object to be temperature-tested.例文帳に追加

効率的に温度試験対象物の温度試験ができる高低温度試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for testing a communication system using a frame alignment test signal.例文帳に追加

フレームの位置調整検査信号を用いて通信システムの検査方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

To reduce waste when testing operations of a plurality of releases of software using two or more pieces of test data.例文帳に追加

複数のテストデータを用いてソフトウェアの複数のリリースの動作をテストする際の無駄を削減する。 - 特許庁

To provide a specific testing method and device capable of performing testing without any influence of bending moment generated by applying forced displacement to the edge of a specimen having a crack at one side in a crack development testing method and device for making a crack to develop while maintaining a stress intensity factor fixedly.例文帳に追加

応力拡大係数を一定に維持しつつき裂を進展させるき裂進展試験方法及び装置において、片側にき裂を有する試験片の端部に強制変位を加えることにより発生する曲げモーメントの影響なく試験を行うことができる具体的な試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To miniaturize a testing device for an electronic part substrate suitable for testing the electronic part substrate while the electronic part substrate such as, for example, memory module is stored, provide a testing method therefor, and improve throughput of a test process.例文帳に追加

たとえばメモリモジュールなどの電子部品基板を収容した状態で、電子部品基板を試験するために適した電子部品基板の試験装置および試験方法であって、特に、装置の小型化と試験工程のスループットの向上とを図ることができる電子部品基板の試験装置および試験方法を提供すること。 - 特許庁

A control device performs an IC arrangement step in which an IC chip is arranged in the testing socket (Step S11).例文帳に追加

制御装置はＩＣチップを検査用ソケットに配置させるＩＣ配置工程を行う（ステップＳ１１）。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, DIAGNOSIS PROGRAM FOR THE SAME, AND DIAGNOSIS METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

半導体試験装置、半導体試験装置の診断プログラムおよび半導体試験装置の診断方法 - 特許庁

The performance testing data as the result from the performance test for components 22, 24, 26, 28 is recorded therein.例文帳に追加

各コンポーネント２２、２４、２６、２８にはその性能試験の結果である性能試験データが記録される。 - 特許庁

One of the CPU cores is selected for testing (102), and inter-core context switching is performed (104).例文帳に追加

テストするためにＣＰＵコアのうちの１つが選択され（１０２）、コア間コンテキストスイッチが行われる（１０４）。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for removing and/or preventing surface contamination of a probe for testing a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウエハーのテスト用プローブの表面の汚染の除去や防止の方法と装置を提供する。 - 特許庁