Testingを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 14405件
To easily install a vibration control device in a predetermined position where its axis is made coincident with a driving part of a testing device.例文帳に追加
防振器を試験装置の駆動部との軸心を一致させた所定位置に簡単に取り付ける。 - 特許庁
An arm 17 of a shape where one arm end 18 is positioned at the back of a column section 6 at intervals from it is screwed with a cross head 4 for fixing and lifting up a pneumatic gripper 2A used for a testing force loading means for loading a testing force to a test strip S and a load cell 3 used as a testing force measuring means.例文帳に追加
試験片Sに試験力を負荷する試験力負荷手段に用いる空圧式つかみ具2Aと試験力計測手段として用いるロードセル3を固定して昇降するクロスヘッド4に、一方のアーム端18が柱部6と隙間をあけてその後部に位置する形状のアーム17をネジ止めする。 - 特許庁
TESTING METHOD RELATED TO IMPREGNATION OR PENETRATION PROPERTIES OF ELECTRIC INSULATING RESIN COMPOSITION AND ITS TEST PIECE例文帳に追加
電気絶縁用樹脂組成物の含浸性または浸透性に関する試験方法およびその試験片 - 特許庁
To provide a device capable of individually testing each layer of thin membrane of an integral multi-layered device.例文帳に追加
一体式の多層装置の薄膜の各層を個々に試験することを可能にする装置を提供する。 - 特許庁
The methods and devices are particularly useful for providing point-of-care testing for a variety of medical applications.例文帳に追加
方法およびデバイスは、様々な医学的応用のためのポイントオブケア検査を行うのに特に有用である。 - 特許庁
The engine testing device includes a heating coil 5 connected to a high-frequency power supply in the circumference of the oil pan section 2a of the engine 2.例文帳に追加
エンジン2のオイルパン部2aの周囲に高周波電源に接続された加熱コイル5を設ける。 - 特許庁
The environment testing machine 1 can successively repeatedly execute operation in a high temperature exposing mode for supplying high temperature air to the testing chamber 10 from the high temperature side temperature regulating part 20 and operation in a low temperature exposing mode for supplying low temperature air to the testing chamber 10 from the low temperature side temperature regulating part 21.例文帳に追加
試験装置1は、高温側温調部20から高温の空気を試験室10に供給する高温晒しモードによる運転と、低温側温調部21から低温の空気を試験室10に供給する低温晒しモードによる運転とを順次繰り返し実施可能とされている。 - 特許庁
To detect a critical defect of a testing object previously in a productive step.例文帳に追加
被検査物の致命的な不良の発生を、製造過程において事前に知ることができるようにすること。 - 特許庁
To efficiently test the control operation of a controller by using a testing tool.例文帳に追加
テスト治具を用いて行う制御機器の制御動作のテストを効率的に行うことができるようにする。 - 特許庁
To provide an ejection testing device capable of determining whether a liquid droplet is normally ejected in a short period of time.例文帳に追加
液滴が正常に吐出されたか否かを短期間に判定する吐出検査装置の提供。 - 特許庁
To compactify a vibration testing device, to reduce a manufacturing cost, to simplify structure to enhance usability and to prevent troubles, such as airtightness leakage, by constituting an oscillator as a pneumatic oscillation device free from a material, in conventional vibration testing devices that are limited in the material of a testing body.例文帳に追加
試験体の材料に制約のあった従前の振動試験装置に於いて、加振装置を材料に制約のない空気圧式加振装置とすることで、振動試験装置の小型化、製造コストの低減等を図ると共に、構造を簡素化して使用性の向上、気密漏れ等のトラブルの防止を図る。 - 特許庁
One position information is transmitted as a combination of 2 bit codes for testing the transmission position of one word.例文帳に追加
1ワードの伝送ポジションの検定用として、1ポジション情報を2ビットコードの組み合わせで伝送する。 - 特許庁
PATTERN FOR ALIGNING, DISPLAY DEVICE, ASSEMBLY METHOD FOR DISPLAY DEVICE, AND TESTING METHOD OF ALIGNING OF DISPLAY DEVICE例文帳に追加
位置合わせ用パターン、表示デバイス、表示デバイスの組立て方法、表示デバイスの位置合わせ検査方法 - 特許庁
To provide a system and method for testing an investigating substance with use of an ultrasonic beam.例文帳に追加
本発明は超音波ビームを使用して調査中の物質を検査するシステム及び方法を提供する。 - 特許庁
To provide a direct-current testing device capable of reducing useless power consumption at the waiting time.例文帳に追加
待機時の無駄な電力消費を低減することができる直流試験装置を提供すること。 - 特許庁
To shorten a delivery date while enabling a through-hole 76 to be formed at a required position in a constant temperature bath 1 keeping the interior of a testing chamber 35 at least at a predetermined temperature, the constant temperature bath having a testing chamber 35 for housing a test specimen, and at least one through-hole 76 communicating the outside of the testing chamber 35 with the inside thereof.例文帳に追加
供試体が収容される試験室35と、試験室35の内外を連通させる少なくとも1の導通孔76と、を有し、試験室35内を少なくとも所定の温度に保つ恒温槽1において、所望の位置に導通孔76を形成可能にしつつも、その納期を短縮する。 - 特許庁
To reduce the testing time by conducting the test of a memory to be tested and the analysis of a defect in parallel.例文帳に追加
被試験メモリの試験と不良解析を並行処理することによって試験時間を短縮する。 - 特許庁
To provide a washing device of a water-cooled cooling mechanism, used for a test head of an IC testing device.例文帳に追加
IC試験装置のテストヘッドに使用される水冷式冷却機構の洗浄装置を提供する。 - 特許庁
To improve the quality of testing by generating a test pattern which detects bridge failures of LSI, with high accuracy.例文帳に追加
LSIのブリッジ故障を高精度に検出するテストパターンを作成し、テストの品質を向上する。 - 特許庁
A control unit 11 of a test device 1 outputs a signal for controlling testing of an integrated circuit 6.例文帳に追加
テスト装置1の制御部11は、集積回路6のテストを制御するための信号を出力する。 - 特許庁
METHOD FOR GENERATING PATTERN FRAME, METHOD FOR COLLATING TEST PATTERN, METHOD FOR TESTING JITTER, COMMUNICATION DEVICE, AND COMMUNICATION SYSTEM例文帳に追加
パターンフレーム生成方法およびテストパターン照合方法、並びにジッタテスト方法、通信装置、通信システム - 特許庁
The evaluation method for the movement performance of tires evaluates the movement performance of the vehicle with the method, by using the time series response data of the same steering angles each time, when mounting different testing tires to the vehicle; and it conducts relative evaluation of this evaluation result as the movement performance of the testing tires, among a plurality of the testing tires.例文帳に追加
タイヤの運動性能評価方法は、車両に異なる試験タイヤを装着するたびに、同じ操舵角の時系列入力データを用いて上記方法で車両の運動性能を評価し、この評価結果を試験タイヤの運動性能として、複数の試験タイヤの中で相対評価を行う。 - 特許庁
ULTRASONIC PROBE, ULTRASONIC TESTING DEVICE HAVING THE SAME, AND ULTRASONIC TEST METHOD USING THE SAME例文帳に追加
超音波探触子並びにこれを有する超音波試験装置及びこれを用いた超音波試験方法 - 特許庁
To obtain a bridge connector unnecessary to take-off at each time when testing a second electronic part.例文帳に追加
第2の電子部の試験等をする際にその都度コネクタを外す必要が生じないブリッジコネクタを得る。 - 特許庁
ELECTRO-ACOUSTIC TRANSDUCER, ELECTRONIC DEVICE, WATERPROOF COVER, AND METHOD FOR TESTING VENTILATION OF ELECTRO-ACOUSTIC TRANSDUCER例文帳に追加
電気音響変換装置、電子機器、及び防水カバー、並びに、電気音響変換装置の通気試験方法 - 特許庁
To provide a system and method for testing integrated circuits under a variation in power supply voltage.例文帳に追加
電源電圧の変動下において集積回路を試験するための装置および方法を提供する。 - 特許庁
EXCITATION APPARATUS FOR DOWNWARD ELASTIC WAVE TEST AND DOWNWARD ELASTIC WAVE TESTING METHOD USING THE SAME例文帳に追加
下向き式弾性波試験のための加振装置及びこれを用いた下向き式弾性波試験方法 - 特許庁
To reduce rotational vibration of an air spindle, which is used in a testing apparatus for disk and disk head.例文帳に追加
ディスクやディスクヘッドの検査装置等に用いられるエアスピンドルにおいて、回転の振動を低減する。 - 特許庁
An integrated circuit comprises scan test circuitry and additional circuitry subject to testing utilizing the scan test circuitry.例文帳に追加
集積回路は、スキャンテスト回路と、スキャンテスト回路を使用してテストを受ける追加回路とを備える。 - 特許庁
To provide a low-temperature condition testing device for a handler and its method capable of reducing a maintenance and management cost and a device manufacturing cost by simple constitution, of holding high cooling efficiency, of freely taking and putting a semiconductor device of a tested object out and in from a testing device, and of shortening a testing work time.例文帳に追加
簡単な構成で維持管理コスト及び装置製造コストが低廉であり、しかも高い冷却効率を保持し、さらに、被試験対象の半導体デバイスの装置内からの出し入れを自在に行なえて試験作業時間を短縮し得るハンドラの低温条件試験装置及びその方法を提供する。 - 特許庁
To provide a testing system capable of carrying out a motion test of a relief valve of a pressure rise supply device.例文帳に追加
昇圧供給装置のリリーフ弁の動作試験を行うことができる試験システムを提供すること。 - 特許庁
To provide a protocol testing apparatus capable of freely describing a free test scenario.例文帳に追加
本発明は、自由なテストシナリオを簡単に記述することのできるプロトコル試験装置の提供を目的とする。 - 特許庁
To provide a load testing device and a load test method capable of shortening the time required for a load test.例文帳に追加
荷重試験に要する時間を短縮できる荷重試験装置および荷重試験方法を提供する。 - 特許庁
To enhance handling capacity for a component testing device by contriving lay-out constitution of a tray mounting part and the like.例文帳に追加
トレイ載置部等のレイアウト構成を工夫することにより、部品試験装置の処理能力を高める。 - 特許庁
A temporary air entrainment action of the fluid can be measured on the spot by the testing device.例文帳に追加
試験装置により、流体の一時空気飛沫同伴行動をその場で測定することが可能になる。 - 特許庁
TEMPERATURE MEASURING METHOD, TESTING METHOD USING THE SAME, SEMICONDUCTOR TESTER AND SEMICONDUCTOR CHARACTERISTICS ESTIMATING METHOD例文帳に追加
温度測定方法およびそれを用いた試験方法ならびに半導体試験装置と特性予測方法 - 特許庁
To provide a testing machine capable of inexpensively and easily performing a functional test of a buffer.例文帳に追加
緩衝器の官能試験を安価かつ簡易に行うことが可能な試験機を提供することである。 - 特許庁
To provide a means for improving contact reliability in the probe testing of a semiconductor integrated circuit wafer.例文帳に追加
半導体集積回路ウエハのプローブ試験における接触信頼性を向上させる手段の提供。 - 特許庁
TEST CONDITION DETERMINATION METHOD OF ADHESIVE CAPACITY TO TITANIUM TYPE HARD COAT LENS BASE MATERIAL, AND TESTING METHOD例文帳に追加
チタン系ハードコ−トのレンズ基材との密着性能の試験条件決定方法及び試験方法 - 特許庁
A multiplexer 13 used in testing the high-voltage operational circuit 11 is connected to the pads 15, 16, 17.例文帳に追加
高電圧動作回路11のテスト時に用いるマルチプレクサ13は、パッド15,16,17に接続されている。 - 特許庁
To provide measuring method and system for testing a plurality of electron devices on a large-scale substrate.例文帳に追加
大面積基板上の複数の電子デバイスをテストするための測定方法及び装置が記載される。 - 特許庁
A testing write operation is performed to a storage medium only in accordance with a condition that temperature drops below a prescribed temperature.例文帳に追加
所定の温度以下となることに応じてのみ記憶媒体に対する試し書き動作を行う。 - 特許庁
PRETREATMENT METHOD IN PERFORMING EVALUATION TEST FOR REGENERATED AGGREGATE AND TESTING METHOD FOR REGENERATED AGGREGATE例文帳に追加
再生骨材に対する評価試験を行う際の前処理方法、および再生骨材の試験方法 - 特許庁
The chip test machine for testing all 6 surfaces comprises a still belt including a first test part for simultaneously testing 3 surfaces of the chip, a reversal device for reversing the chips discharged out of the first test part, and a second test part for simultaneously testing another 3 surfaces of the chips reversed by the reversal device.例文帳に追加
チップの六面を検査するチップ検査機において、チップの3面を同時に検査する第1検査部;第1検査部から排出されたチップを反転させる反転装置;反転装置から反転されたチップの他の3面を同時に検査する第2検査部を含むスチルベルトが備えられたチップ検査機とする。 - 特許庁
To provide an ultrasonic endoscope capable of reducing a shadow of an ultrasonic testing mechanism within an observation visual field.例文帳に追加
観察視野内の超音波検査機構の影を減少可能な超音波内視鏡を提供する。 - 特許庁
To downsize a shield box used for testing a mobile phone and its occupied space.例文帳に追加
携帯電話の試験を行う際に使用されるシールドボックスの小型化および占有スペースの小型化を図る。 - 特許庁
The test program 10 starts testing on the program 20 after selecting the real table 110 to be used (S4-S7).例文帳に追加
テストプログラム10は、使用する実テーブル110を選択した後、プログラム20のテストを開始する(S4〜S7)。 - 特許庁
MATERIAL TESTING METHOD IN CORROSIVE ENVIRONMENT AND DETECTOR FOR MEASURING DISPLACEMENT OF SPECIMEN例文帳に追加
腐食環境中における材料試験方法および試験体の変位を測定するための検出器 - 特許庁
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