「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(163ページ目) - Weblio英語例文検索

Testing of Toyota Motor Corporation's Winglet started on public roads in Tsukuba, Ibaraki Prefecture, on July 23.例文帳に追加

トヨタ自動車のウィングレットの公道における実証実験が７月23日に茨城県つくば市で始まった。 - 浜島書店 Catch a Wave

Cryptography Research will develop software to generate test vectors for the chip for testing before the design is sent to the fab. 例文帳に追加

Cryptography Research は、チップデザインがファブリケーションに送られる前にチップをテストするための、テストベクトル生成ソフトを書く。 - Electronic Frontier Foundation『DESのクラック：暗号研究と盗聴政策、チップ設計の秘密』

To provide a direct-current testing device capable of measuring highly accurately at high speed, a current changing rate or a ripple component without great cost increase, and a semiconductor testing device equipped with the device.例文帳に追加

大幅なコスト上昇を招かずに電流変化率やリップル成分を高精度且つ高速に測定することとができる直流試験装置、及び当該装置を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method of testing in vitro for selecting an agent on which clinic drug interaction testing should be carried out, from absorbents for oral administration and drugs for combination administration.例文帳に追加

本発明の目的は、経口投与用吸着剤と併用投与される薬物の中から、臨床の薬物相互作用試験を行うべき薬剤を選択するための、ｉｎ ｖｉｔｒｏでの試験法を提供することである。 - 特許庁

To provide a TFT array and its testing device capable of measuring an amount of current of a transistor for driving and testing presence/absence of defects of pixels at a state close to an actual use state in current copy type pixels.例文帳に追加

カレントコピー型の画素において、実使用状態に近い状態で、駆動用トランジスタの電流量を測定し、画素の欠陥の有無を試験することが可能なＴＦＴアレイおよびその試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a parts testing device and a parts testing method capable of shortening the rising time of a tester by achieving the shortening of the temperature rising or falling time in a test chamber and easy in maintenance.例文帳に追加

試験用チャンバ内における昇温または降温時間の短縮を図り、試験装置の立ち上がり時間を短くすることが可能であり、しかも、メンテナンスが容易な部品試験装置および試験方法を提供すること。 - 特許庁

This method is concerned with a method for testing integrated circuits with a plurality of clock systems and integrated circuits on which testing is easy, and the method includes a step to insert a multiplexed scanning flip-flop into an integrated circuit.例文帳に追加

本発明は、複数のクロックシステムを持つ集積回路をテストするための方法、およびテストが容易な集積回路に関するが、この方法は、マルチプレクスド走査フリップ−フロップを集積回路に挿入するステップを含むむ。 - 特許庁

As a result of integration of the bonding pad with the testing pad, for example, the introduction of propagation delay to passing test signals can be avoided, thereby improving the accuracy and reliability of wafer testing results.例文帳に追加

ボンディング・パッドおよび試験パッドを一体構築することにより、たとえば通過する試験信号に対する伝搬遅延の導入が回避され、それによりウェハ試験結果の精度および信頼性が改善される。 - 特許庁

Does the institution regularly conduct stress testing for the purpose of evaluating the level of its capital buildup and useful and adequately conservative credit risk stress testing that takes account of a scenario of at least a moderate economic recession? 例文帳に追加

自己資本の充実度を評価するためのストレス・テスト及び少なくとも緩やかな景気後退のシナリオの効果を考慮した有意義かつ適度に保守的な信用リスクのストレス・テストを定期的に実施しているか。 - 金融庁

The remote diagnosis is performed, based on second diagnostic information exchanged (S6, S7) between the remote testing device 2 and the control devices 3 which are connectable to the remote testing device 2 via the communication network 4.例文帳に追加

遠隔診断は、遠隔試験装置２と、通信ネットワーク４を介して遠隔試験装置２に接続可能な制御装置３との間で交信される（Ｓ６、Ｓ７）第２の診断情報に基づいて行われる。 - 特許庁

The specific resistance of a testing subject S is measured by impressing a potential to the subject S via electrodes C, D for impression, and by finding a potential in each portion of the testing subject S, using measuring electrodes P1-P3, Q.例文帳に追加

試験体Ｓに印加用電極Ｃ，Ｄを介して電位を与えると共に、測定用電極Ｐ１〜３，Ｑにより試験体Ｓの各部位における電位を求めることにより試験体Ｓの比抵抗を測定する。 - 特許庁

Control results at that time are outputted to the communication equipment through the communication controller and the installation type testing device, and the test result state of the communication path to be tested is also decoded and displayed by a portable testing device.例文帳に追加

そのときの制御結果は、通信制御装置，設置型試験装置を介して、通信機に出力され、またその当該被試験通信路の試験結果状態は携帯形試験装置で解読され表示される。 - 特許庁

To provide a test method and a testing device of a semiconductor integrated circuit capable of testing the semiconductor integrated circuit without generating overshoot of a supply voltage, and to provide the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の試験を、電源電圧のオーバーシュートを生じることなく行うことができる半導体集積回路の試験方法および試験装置、並びに、半導体集積回路の提供を図る。 - 特許庁

The base station unit 1 compares the message ID, made by the maintenance center 3 with that by the base station controller 2, assigns a testing path corresponding to the resource ID, when they match and performs the testing.例文帳に追加

基地局装置１において、保守センタ３および基地局制御装置２によって通知されたメッセージＩＤを比較し、一致している場合にリソースＩＤに応じた試験経路を割り当て、試験を実施する。 - 特許庁

The region 200 for testing accuracy of landing is placed in a region other than the pixel region 100 and contains a second light shielding layer 122 and a layer 26 for testing accuracy of landing disposed so as to cover at least the second light shielding layer 122.例文帳に追加

着弾精度試験用領域２００は、画素領域２０以外に位置し、第２の遮光層１２２と、少なくとも第２の遮光層１２２を覆うように設けられる着弾精度試験用層２６とを含む。 - 特許庁

To provide a seabed cone penetration testing machine capable of simplifying its configuration and reducing its weight and its testing method for reducing cost and time required by a seabed cone penetration test conducted in a very deep area of the sea.例文帳に追加

大水深域で実施されるコーン貫入試験において、構成の簡素化と軽量化を図ったコーン貫入試験機と、試験の実施にかかる費用と時間とを低減できる試験方法とを提案する。 - 特許庁

(5) The average of the results of the testing referred to in subsection (3) of this section and of the further testing under sub-section (4) shall be conclusive proof of the number, quantity, measure, gauge or weight, as the case may be, of the goods. 例文帳に追加

(5)本条第3項に定める検査及び同条第4項に基づく追加的な検査の結果の平均は、当該商品の個数、数量、度量、ゲージ又は重量(場合に応じ)の最終的な証拠とする。 - 特許庁

To provide an improved cold thermal shock test device allowing a plurality of researchers to perform cold thermal shock tests of a plurality of kinds of objects for testing mixed in a testing chamber without causing confusion.例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置を改良するものであり、複数の研究者が１つの試験室に複数種類の被試験物を混在させて冷熱衝撃試験をする場合の混乱を解消することを目的とする。 - 特許庁

The ultrasonic testing device comprises the sensor head 2 with the plurality of probes 10, and the testing device body for transmitting/receiving the electric signals to or from the probes 10.例文帳に追加

試験体１００に超音波の送信及び受信を行う複数の探触子１０を有するセンサヘッド２と、探触子１０に電気信号の送信及び受信を行う試験装置本体とを備えた超音波試験装置である。 - 特許庁

To provide a material testing machine capable of displaying temperature in a material test without preparing a reference voltage power supply and without performing complicated adjustment, and a measured temperature display method in the material testing machine.例文帳に追加

基準電圧電源を準備したり煩雑な調整を行うことなく、材料試験時の温度を表示することが可能な材料試験機および材料試験機における測定温度表示方法を提供する。 - 特許庁

To provide a material testing machine allowing optimum detail display in response to a processing item from a graph displaying a test result, even without sufficient knowledge about the testing machine and without skill in an operation for a device.例文帳に追加

試験機に関する知識が乏しくとも、また、装置の操作に習熟していなくても、試験結果を表すグラフから処理項目に応じた最適な詳細表示を行うことのできる材料試験機を提供する。 - 特許庁

This testing device is equipped with a plurality of test modules for testing a plurality of devices to be tested, and the central processing unit for controlling test operation of the plurality of test modules based on a designated operation mode.例文帳に追加

複数の被試験デバイスの試験を行う複数の試験モジュールと、指定された動作モードに基づいて複数の試験モジュールの試験動作を制御する中央処理装置とを備える試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor-testing apparatus for efficiently and easily increasing the number of devices to be tested simultaneously corresponding to the bit configuration of the I/O pin of the device to be tested when simultaneously testing the plurality of devices to be tested.例文帳に追加

本発明は、複数の被試験デバイスを同時試験する場合に、被試験デバイスのＩ／Ｏピンのビット構成に対応して同時試験個数を効率よく容易に増加できる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The device 1 sets a temperature change rate when changing the testing environment temperature between a low-temperature set temperature and a high-temperature set temperature, and changes the testing environment temperature as set.例文帳に追加

熱疲労評価装置１は、試験環境温度を低温設定温度と高温設定温度との間で変化させる際の温度変化率を設定し、この設定通りに試験環境温度を推移させることができる。 - 特許庁

To execute testing to accurately reproduce failure of a TCP/IP protocol without mistakes without knowledge or skilled technique of the TCP/IP protocol and to reduce labor required for carrying out testing.例文帳に追加

ＴＣＰ／ＩＰプロトコルの知識・熟練した技能がなくても、ＴＣＰ／ＩＰプロトコルの不具合を正確に再現する試験をミスが生じないように実行することができ、また、試験を行う際の労力を軽減すること。 - 特許庁

To provide an evaluation testing arrangement and an evaluation testing method of a fouling inhibitor capable of simulating operation conditions of various actual devices and evaluating the fouling inhibitor in a condition extremely closing to the actual devices.例文帳に追加

種々の実装置の運転条件を模擬することができ、実装置に極めて近い条件でファウリング防止剤の評価を行うことができるファウリング防止剤の評価試験装置および評価試験方法を提供する。 - 特許庁

By having the reactor 20 for power wound with the testing wiring 26 in the iron-core main leg 24 wound with the reactor wiring 21, the testing wiring 26 is changed so as to change the impedance value of the reactor wiring 21.例文帳に追加

電力用リアクトル２０は、リアクトル巻線２１を巻き込んである鉄心主脚２４に試験用巻線２６を巻き込み、当該試験用巻線２６を開放することにより、リアクトル巻線２１のインピーダンス値を変化させる。 - 特許庁

To provide a material testing machine enhanced in control performance compared with conventional one, without generating a delay of control or the like, in material testing machines for controlling a motor or a load mechanism, using a CPU.例文帳に追加

ＣＰＵを用いて負荷機構のモータを制御する材料試験機において、制御の遅れ等を生じることなく、従来に比してその制御性能を向上させることのできる材料試験機を提供する。 - 特許庁

To provide an engine testing device that easily and properly reproduces an engine behavior of an actual vehicle at an abrupt change in engine rotation speed such as at the time of engine start-up or speed change, and to provide an engine testing method.例文帳に追加

エンジン始動時や変速時などのエンジン回転速度の急変時における実車でのエンジン挙動を容易かつ的確に再現することのできるエンジン試験装置及びエンジン試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a roof tile lifting load testing device and its method capable of testing mounting strength of a roof tile in the conditions similar to the actual constructed conditions on the roof of a building.例文帳に追加

実際に建物の屋根に施工された状態に近い状態において、屋根瓦の取付強度に関する試験を行うことができる瓦の引き上げ荷重試験装置及び瓦の引き上げ荷重試験方法を提供する。 - 特許庁

A semiconductor device to be tested is mounted on a socket installed on a board of a burn-in testing apparatus and a voltage is applied to the semiconductor device while increasing the voltage up to a maximum testing voltage Vm in a stepped manner.例文帳に追加

バーンイン試験装置のボードに設けられたソケットに、試験対象の半導体装置を装着し、その半導体装置に対し、電圧を最大試験電圧Ｖｍまでステップ状に上昇させて印加していく。 - 特許庁

To realize an access timing desired by an operator by varying the timing of access to a file device by a device driver, in a testing device for file device and a test method in the file device testing device.例文帳に追加

本発明はファイル装置の試験装置及び該ファイル装置の試験装置における試験方法に関し、デバイスドライバのファイル装置へのアクセスタイミングを可変にすることで、オペレータが意図したアクセスタイミングを実現する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of observing the internal signal in a substantially actual state, and moreover capable of grasping the difference of quality of the signal wave shapes caused by different testing environments or testing devices.例文帳に追加

内部信号を実際の波形状態に近い状態で観測することができ、しかも、試験環境や試験装置の違いによる信号波形の品質の違いをも把握することができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

The area 20 for sticking precision testing is positioned not in the pixel area 20 and includes a 2nd shading layer 122 and the layer 26 for sticking precision testing which is provided to cover at least the 2nd shading layer 122.例文帳に追加

着弾精度試験用領域２００は、画素領域２０以外に位置し、第２の遮光層１２２と、少なくとも第２の遮光層１２２を覆うように設けられる着弾精度試験用層２６とを含む。 - 特許庁

To provide a small synthetic aperture radar testing device capable testing including a phase error by beam movement in a synthetic aperture radar device for moving a beam with electronic beam control.例文帳に追加

フェーズドアレイアンテナを用いて電子的なビーム制御によりビームを移動させる合成開口レーダ装置におけるビーム移動による位相誤差を含めた試験を実現できる小型な合成開口レーダ試験装置を得る。 - 特許庁

(2) The designated testing agency shall prepare the business report and receipt and payment statement pertaining to the testing procedures in each business year and submit the same to the Minister of Land, Infrastructure, Transport and Tourism within three months after expiration of the said business year. 例文帳に追加

２　指定試験機関は、毎事業年度、試験事務に係る事業報告書及び収支決算書を作成し、当該事業年度の終了後三月以内に国土交通大臣に提出しなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To restrain or block power transmission between a testing object and a motor for generating simulation torque for a driving source, when trouble is generated by locking of input and output shafts in the testing object or the like.例文帳に追加

トランスミッションの試験装置において、供試体の入出力軸のロックなどによる不具合発生時に供試体及びこれに駆動源の模擬トルク発生用モータとの動力伝達を抑制乃至遮断すること。 - 特許庁

To provide a display device, a testing method for the display device and a testing device for the display device, with which a wiring failure on a panel is detected correctly, while suppressing degradation in manufacturing yield.例文帳に追加

パネル上の配線不良を確実に検出でき、しかも、製造歩留まりの低下を抑制することが可能な表示装置、表示装置の検査方法、及び、表示装置の検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

A driving circuit comprises driver transistors which are respectively provided among a first signal line and a plurality of driven elements, a controlling circuit for controlling ON-OFF of the driver transistors and a testing circuit for testing the driving circuit.例文帳に追加

駆動回路は、第１信号線と複数の被駆動素子との間に各々設けられるドライバトランジスタと、これらのドライバトランジスタのオンオフを制御する制御回路と、駆動回路をテストするテスト回路とを備えている。 - 特許庁

To provide a testing method for an A/D converting circuit that conducts a test of a high-resolution (multi-bit) A/D converting circuit in a short time at a low cost, and the A/D converting circuit suitable to implementation of the testing method.例文帳に追加

高分解能（多ビット）Ａ／Ｄ変換回路の試験を短時間且つ低コストで実現するＡ／Ｄ変換回路の試験方法、及びその試験方法の実施に適したＡ／Ｄ変換回路の提供。 - 特許庁

To provide a return testing device of a shock absorber for an elevator, dispensing with a shortcircuit of a safety device, capable of testing in an ordinary travel range, being not a long size material and not combustibles, simple in attachment-detachment, and easy in handling.例文帳に追加

安全装置の短絡が不要で、通常の走行範囲で試験ができるとともに、長尺物でも可燃物でもなく、着脱が簡単で取り扱いが容易なエレベータ用緩衝器の復帰試験装置を得る。 - 特許庁

To provide a foam discharge testing device and a foam discharge testing method by which the time and labor for the foamg discharge test of a foam fire extinguishing equipment is eliminated, the cost for an inspection is inexpensive, and the possibility of contaminating environment is small.例文帳に追加

泡消火設備の泡放出試験に手間がかからず、点検に要する経費も低廉で、環境を汚染するおそれの少ない泡放出試験装置および泡放出試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a thermostatic device for testing where a sample placement section is deflected less even if temperature is adjusted to an extremely low temperature or a high temperature by improving the thermostatic device for testing used for the performance test or the like of a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウエハの性能試験等に使用される試験用恒温装置を改良し、極低温や高温に温度調節しても試料配置部の撓みが少ない試験用恒温装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a testing method of radar proper for a testing method for radar during mass production, by making target detection performance of an FM-CW radar, capable of inspecting easily and in a short time, and to provide its device at low cost.例文帳に追加

ＦＭ−ＣＷレーダのターゲット検出性能を安価な設備で容易かつ短時間で検査できるようにして、レーダの大量生産時の試験方式として好適なレーダ試験方法および装置を得ること。 - 特許庁

To provide a new method for predicting the inherent carcinogenicity of a substance in a rodent mammal tissue, without requiring the performance of testing in mammals requiring a large sum of expenses and a long testing period of time.例文帳に追加

多額の費用と長期の試験期間を要する哺乳動物実験の実施とを要することなく、物質が有するげっ歯類哺乳動物組織における発がん性を予測する新たな方法を提供する。 - 特許庁