「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(161ページ目) - Weblio英語例文検索

ELECTRO-ACOUSTIC TRANSDUCER, ELECTRONIC DEVICE, WATERPROOF COVER, AND METHOD FOR TESTING VENTILATION OF ELECTRO-ACOUSTIC TRANSDUCER例文帳に追加

電気音響変換装置、電子機器、及び防水カバー、並びに、電気音響変換装置の通気試験方法 - 特許庁

To provide a system and method for testing integrated circuits under a variation in power supply voltage.例文帳に追加

電源電圧の変動下において集積回路を試験するための装置および方法を提供する。 - 特許庁

EXCITATION APPARATUS FOR DOWNWARD ELASTIC WAVE TEST AND DOWNWARD ELASTIC WAVE TESTING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

下向き式弾性波試験のための加振装置及びこれを用いた下向き式弾性波試験方法 - 特許庁

To reduce rotational vibration of an air spindle, which is used in a testing apparatus for disk and disk head.例文帳に追加

ディスクやディスクヘッドの検査装置等に用いられるエアスピンドルにおいて、回転の振動を低減する。 - 特許庁

An integrated circuit comprises scan test circuitry and additional circuitry subject to testing utilizing the scan test circuitry.例文帳に追加

集積回路は、スキャンテスト回路と、スキャンテスト回路を使用してテストを受ける追加回路とを備える。 - 特許庁

To provide a low-temperature condition testing device for a handler and its method capable of reducing a maintenance and management cost and a device manufacturing cost by simple constitution, of holding high cooling efficiency, of freely taking and putting a semiconductor device of a tested object out and in from a testing device, and of shortening a testing work time.例文帳に追加

簡単な構成で維持管理コスト及び装置製造コストが低廉であり、しかも高い冷却効率を保持し、さらに、被試験対象の半導体デバイスの装置内からの出し入れを自在に行なえて試験作業時間を短縮し得るハンドラの低温条件試験装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing system capable of carrying out a motion test of a relief valve of a pressure rise supply device.例文帳に追加

昇圧供給装置のリリーフ弁の動作試験を行うことができる試験システムを提供すること。 - 特許庁

To provide a protocol testing apparatus capable of freely describing a free test scenario.例文帳に追加

本発明は、自由なテストシナリオを簡単に記述することのできるプロトコル試験装置の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a load testing device and a load test method capable of shortening the time required for a load test.例文帳に追加

荷重試験に要する時間を短縮できる荷重試験装置および荷重試験方法を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING WEATHER RESISTANCE OF METALLIC MATERIAL, METALLIC MATERIAL, AND APPARATUS FOR TESTING CORROSION ACCELERATION OF METALLIC MATERIAL例文帳に追加

金属材料の耐候性評価方法、金属材料及び金属材料の腐食促進試験装置 - 特許庁

To easily install a vibration control device in a predetermined position where its axis is made coincident with a driving part of a testing device.例文帳に追加

防振器を試験装置の駆動部との軸心を一致させた所定位置に簡単に取り付ける。 - 特許庁

An arm 17 of a shape where one arm end 18 is positioned at the back of a column section 6 at intervals from it is screwed with a cross head 4 for fixing and lifting up a pneumatic gripper 2A used for a testing force loading means for loading a testing force to a test strip S and a load cell 3 used as a testing force measuring means.例文帳に追加

試験片Ｓに試験力を負荷する試験力負荷手段に用いる空圧式つかみ具２Ａと試験力計測手段として用いるロードセル３を固定して昇降するクロスヘッド４に、一方のアーム端１８が柱部６と隙間をあけてその後部に位置する形状のアーム１７をネジ止めする。 - 特許庁

To provide a nondestructive testing method which can determine an elastic modulus over the entire surface of an article.例文帳に追加

物品の表面全体にまたがって弾性率を判定可能な非破壊試験方法を提供する - 特許庁

To provide a socket which can make testing or evaluation of a semi conductor package at a high-frequency region.例文帳に追加

高周波領域で半導体パッケージの試験又は評価を行うことが可能なソケットを提供する。 - 特許庁

The engine testing device includes a heating coil 5 connected to a high-frequency power supply in the circumference of the oil pan section 2a of the engine 2.例文帳に追加

エンジン２のオイルパン部２ａの周囲に高周波電源に接続された加熱コイル５を設ける。 - 特許庁

TESTING METHOD RELATED TO IMPREGNATION OR PENETRATION PROPERTIES OF ELECTRIC INSULATING RESIN COMPOSITION AND ITS TEST PIECE例文帳に追加

電気絶縁用樹脂組成物の含浸性または浸透性に関する試験方法およびその試験片 - 特許庁

To provide a device capable of individually testing each layer of thin membrane of an integral multi-layered device.例文帳に追加

一体式の多層装置の薄膜の各層を個々に試験することを可能にする装置を提供する。 - 特許庁

To provide shear graphic image machine for making electronic shear graphing on testing object, especially tire or tread-reconstructed tire.例文帳に追加

試験物、特にタイヤ又はトレッド再生したタイヤにて電子せん断グラフィを行う装置に関する。 - 特許庁

The methods and devices are particularly useful for providing point-of-care testing for a variety of medical applications.例文帳に追加

方法およびデバイスは、様々な医学的応用のためのポイントオブケア検査を行うのに特に有用である。 - 特許庁

The environment testing machine 1 can successively repeatedly execute operation in a high temperature exposing mode for supplying high temperature air to the testing chamber 10 from the high temperature side temperature regulating part 20 and operation in a low temperature exposing mode for supplying low temperature air to the testing chamber 10 from the low temperature side temperature regulating part 21.例文帳に追加

試験装置１は、高温側温調部２０から高温の空気を試験室１０に供給する高温晒しモードによる運転と、低温側温調部２１から低温の空気を試験室１０に供給する低温晒しモードによる運転とを順次繰り返し実施可能とされている。 - 特許庁

a place equipped with instruments for testing (e.g. engines or machinery or computer programs etc.) under working conditions 例文帳に追加

使用条件下での試験（例えば、エンジン、機械、コンピュータープログラムその他）に対する手段を備えている場所 - 日本語WordNet

measuring instrument for measuring tension or pressure (especially for measuring intraocular pressure in testing for glaucoma) 例文帳に追加

緊張または圧力（特に緑内障の検査において眼圧を計測するために）を測るための測定器 - 日本語WordNet

To provide a semiconductor testing device capable of establishing synchronism between control modules with a simple constitution.例文帳に追加

簡易な構成で各制御モジュール間の同期を取ることが可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test system and test method capable of efficiently testing a semiconductor device with many pins.例文帳に追加

多数ピンの半導体装置を効率よくテストできる半導体テストシステム及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

SUBSTRATE, SEMICONDUCTOR DEVICE USING THE SAME, AND TESTING METHOD AND MANUFACTURING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

基板、これを用いた半導体装置、半導体装置の検査方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁

CONFORMING METHOD OF SCANNING BIST ARCHITECTURE TO LOW ELECTRIC POWER OPERATION AND SCANNING BIST TESTING CONSTITUTION例文帳に追加

低電力動作への走査ＢＩＳＴアーキテクチャの適合方法および走査ＢＩＳＴ試験構成 - 特許庁

To provide a frame work system and the test method for testing a server having a mixed workload.例文帳に追加

混合ワークロードを有するサーバをテストするためのフレームワーク・システムおよびそのテスト方法を提供すること。 - 特許庁

Since a learner S can no play a game before the learner completes the testing questions, the leaner buckles down to the questions.例文帳に追加

学習者Ｓは前記テスト問題をやらなければゲームを行うことができなくテスト問題を行う。 - 特許庁

The testing device 100 is equipped with a unit 102 for tests housing a large number of test cards 104.例文帳に追加

試験装置１００は、多数のテスト用カード１０４が収容された試験用ユニット１０２を備える。 - 特許庁

METHOD FOR TESTING ACTIVITY OF MATERIAL WHICH MAY BE EFFECTIVE IN INHIBITING ENZYME ACTIVITY OF PHOSPHOLIPASE A2例文帳に追加

ホスホリパーゼＡ２の酵素活性を阻害するのに有効である可能性がある物質の活性の試験方法 - 特許庁

This testing does not rely on inputs from the software module being tested, and hence is an independent test.例文帳に追加

このテストは、テストされるソフトウェアモジュールからの入力に依存せず、それゆえに、独立したテストである。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and a semiconductor device testing method, which can reduce test costs.例文帳に追加

試験コストの低減を実現できる半導体装置及び半導体装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

A sample collection apparatus to be used with an existing sample container and/or an existing testing apparatus is disclosed.例文帳に追加

また、既存のサンプル容器および／または試験装置と共に使用されるサンプル収集装置も開示する。 - 特許庁

To provide a handover testing device carrying out a handover test under various communication conditions.例文帳に追加

多様な通信条件においてハンドオーバー試験を実行可能であるハンドオーバー試験装置を提供する。 - 特許庁

When the simulation is started, the testing block 5 checks the signals inputted to and outputted from the function block 3.例文帳に追加

シミュレーションが開始されると、テスト用ブロック５が機能ブロック３に入出力される信号をチェックする。 - 特許庁

This design structure is embodied in a machine-readable medium for designing, manufacturing, or testing a design.例文帳に追加

設計構造体は、設計、製造、又は設計の試験のために機械可読媒体内で具現化される。 - 特許庁

This testing device comprises a data logger 11 having a CPU, and a control computer 12 having the other CPU.例文帳に追加

ＣＰＵを有するデータロガー１１と、他のＣＰＵを有する制御用コンピュータ１２とを備えている。 - 特許庁

The fretting corrosion testing device 1 is equipped with a base 12, a piezoelectric vibrator 15, and a first locking device 17.例文帳に追加

フレッチング腐食試験装置１はベース１２と圧電振動子１５と第１の固定具１７を備えている。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRAL CIRCUIT, AND METHODS OF TESTING AND DESIGNING THE SAME例文帳に追加

半導体集積回路、及び半導体集積回路の試験方法、及び半導体集積回路の設計方法 - 特許庁

To provide an apparatus and method for testing code clones that efficiently tests code-cloned source codes.例文帳に追加

コードクローンされたソースコードのテストを効率的に行うコードクローンのテスト装置および方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of creating a sequence file of an engine testing device automatically by using an engine model.例文帳に追加

エンジンモデルを用いて自動的にエンジン試験装置のシーケンスファイルを作成する方法を提供すること。 - 特許庁

CONTACT GUIDING MEMBER, PROBE CARD AND SEMICONDUCTOR DEVICE TEST DEVICE, AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

接触子案内部材、プローブカード及び半導体装置試験装置、並びに半導体装置の試験方法 - 特許庁

A semiconductor device testing device comprises a circuit board 103 and a film 105.例文帳に追加

半導体デバイス試験装置は，回路基板１０３およびフィルム１０５を含む構成を有するものである。 - 特許庁

The color filter 1000 includes the pixel area 100 and an area 200 for sticking precision testing.例文帳に追加

本発明のカラーフィルタ１０００は、画素領域１００および着弾精度試験用領域２００を含む。 - 特許庁

To set the temperature of a semiconductor device at a desired temperature with satisfactory responsivity in testing the semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスの試験において、半導体デバイスの温度を応答性よく所望の温度に設定する。 - 特許庁