Testingを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 14414件
In many times of testing, accumulation of static electricity on the frame plate 2 is suppressed by the charge relaxation layers 40A.例文帳に追加
帯電緩和層40Aにより、多数回の試験において、フレーム板2への静電気の蓄積が抑制される。 - 特許庁
To provide a semiconductor integrated circuit device test unit which is suitable for testing a three-dimensional semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加
3次元半導体集積回路装置に好適な半導体集積回路装置のテスト装置を提供する。 - 特許庁
To obtain highly precise measurement results in a tire testing machine for measuring various tire uniformity.例文帳に追加
タイヤの各種タイヤユニフォミティを測定するタイヤ試験機において、高精度の測定結果を得ることができるようにする。 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING CATALYST DETERIORATION BY MEASURING EXHAUST FLOW RATE IN ACTUAL TRAVEL OF AUTOMOBILE例文帳に追加
自動車の実走行における排気流量計測による触媒劣化試験装置及び触媒劣化試験方法 - 特許庁
To accurately detect the friction force between a dummy road surface constituting body and a rubber testing body.例文帳に追加
擬似路面構成体とゴム試験体との間の摩擦力を正確に検出できるようにすることを目的とする。 - 特許庁
To provide a system and a method for testing of a display panel which accurately can detect failure of the display panel itself.例文帳に追加
ディスプレーパネル自体の不良を正確に検知できるディスプレーパネルの検査装置および検査方法を提供する。 - 特許庁
To provide an LSI capable of testing a signal path between two circuit blocks by a scan separation test.例文帳に追加
スキャン分離テストによって、2つの回路ブロック間の信号経路をテストすることができるLSIを提供する。 - 特許庁
To provide a testing method and device for a welding wire high in a detecting rate of a welding wire of defective quality.例文帳に追加
品質不良の溶接ワイヤの検出率が高い溶接ワイヤ検査方法および検査装置を提供する。 - 特許庁
The circuit interface card 4 as the testing object is based on the test bed 2 and connected to the interface converting adapter 3.例文帳に追加
試験対象の回線インタフェースカード4は、テストベッド2をベースにしインタフェース変換アダプタ3に接続される。 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING INFORMATION COLLECTION SYSTEM AND RECORDING WITH RECORDING INFORMATION COLLECTION SYSTEM TEST PROGRAM RECORDED THEREIN例文帳に追加
情報収集システム試験装置および方法と情報収集システム試験プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁
To secure a vertical state when fitting a vessel into a vessel support structure provided in an elution testing device or the like.例文帳に追加
溶出試験装置等に具備する容器支持構造に容器を嵌め込む際の垂直状態を確保する。 - 特許庁
To enable an automatic operation when an operational testing is carried out with use of only low-level controllers in a guided vehicle system.例文帳に追加
搬送車システムにおいて、下位のコントローラだけで運用試験を行うときに自動運転を可能にする。 - 特許庁
To provide a testing board for a semiconductor device allowing to highly accurately test in an inspection step.例文帳に追加
検査工程において高精度な試験を行うことが可能となる半導体装置の試験用ボードを提供する。 - 特許庁
To provide a testing apparatus for a hybrid vehicle in an environment in which each single body of an engine, a motor, and a coupling device is dispersed.例文帳に追加
エンジン,モータ,連結装置の各単体が分散した環境で、ハイブリッド車用試験装置を実現する。 - 特許庁
To provide a load testing system capable of performing a load test of a skeleton inexpensively with high precision.例文帳に追加
低コストでかつ高精度で躯体の載荷試験を行うことができる載荷試験システムを提供すること。 - 特許庁
To provide a semiconductor device capable of reducing electric power consumption at testing and easily attaining compression scan test.例文帳に追加
テスト時の消費電力の低減と共に圧縮スキャンテストを容易に実現可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁
To provide a mechanical power transmission system assembly for testing a full-scale compressor rig and a gas turbine.例文帳に追加
フルスケールの圧縮機リグ及びガスタービンを試験するための機械式動力伝達系組立体を提供すること。 - 特許庁
To provide a corrosion testing method for evaluating corrosion on the back of the upper deck of a vessel ballast tank.例文帳に追加
船舶のバラストタンクの上甲板裏の腐食を評価する腐食試験方法を提案することを目的とする。 - 特許庁
To avoid the complicatedness of work relevant to the mounting of a tire shaft to a tire testing device, and to secure safety.例文帳に追加
タイヤ試験装置に対するタイヤ軸の取り付けに係る作業の煩雑さを回避し且つ安全性を確保する。 - 特許庁
To provide a terminal capable of shortening a manufacturing period of an interface device for an electronic component testing apparatus.例文帳に追加
電子部品試験装置のインタフェース装置の製造期間の短縮化を図ることが可能な端子を提供する。 - 特許庁
As a result, high testing precision can be secured by stabilizing a lowering state of temperature at the sample arrangement part.例文帳に追加
これにより、試料配置部の温度の降下状態を安定させて高い試験精度を確保することができる。 - 特許庁
To provide a method and an apparatus in which the timing accuracy of a testing device is calibrated during the test of an integrated circuit.例文帳に追加
集積回路の試験中に試験装置タイミング精度を較正する方法および装置を提供する。 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TREATING SURFACE OF MEDIUM, SUCH AS MAGNETIC HARD DISK, WHILE OPERATING, SUCH AS DURING DYNAMIC ELECTRICAL TESTING例文帳に追加
磁気ハードディスクなどの媒体の表面を動的電気テスト中などの動作中に処理する方法及び装置 - 特許庁
There are still tools missing that provide verification for complex code (for instance, testing the execution of code).例文帳に追加
しかし、複雑なコードの検証(例えば、コードの実行のテスト)を提供するためのツールは、依然として見当たらない。 - 特許庁
To provide a testing method capable of being used in order to diagnose the cancer of an ovary in an initial stage or an advanced stage.例文帳に追加
初期段階または進行段階の卵巣癌を診断するために用いることのできる試験方法。 - 特許庁
To realize an IC test device capable of attaining a high testing rate without any increase in the number of signal conductors.例文帳に追加
信号線の数を増大せずにテストレートの高速化を図るIC試験装置を実現することを目的にする。 - 特許庁
To provide a semiconductor testing device having high convenience in operation, capable of adjusting skew efficiently.例文帳に追加
運用上の利便性が高く効率的にスキュー調整を行うことができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a method for testing an embedded analog core in an integrated circuit chip having a microprocessor core and a memory core.例文帳に追加
マイクロプロセッサコアとメモリコアを有する集積回路チップ内の埋込みアナログコアをテストする方法を提供する。 - 特許庁
In this testing method, the surfactant solution A is used as the solution in which the composite test piece 3 is immersed.例文帳に追加
かかる方法によれば、複合試験片3を浸漬させる溶液として、界面活性剤溶液Aを用いる。 - 特許庁
POLISHING DEVICE, CIRCUIT BOARD TESTING DEVICE PROVIDED WITH ABRASIVE, AND CIRCUIT BOARD MANUFACTURING METHOD PROVIDED WITH POLISHING STEP例文帳に追加
研磨装置、研磨材を備えた回路基板試験装置、及び研磨工程を備えた回路基板製造方法 - 特許庁
To measure the profile of a testing object without moving the object along the light axis of an objective lens.例文帳に追加
対物レンズの光軸に沿って、被検物を移動させることなく、被検物の形状を測定できるようにする。 - 特許庁
To provide a method for testing a semiconductor circuit that can inexpensively and accurately perform test using a logic tester.例文帳に追加
ロジックテスタを用いて安価で正確なテストを行うことができる半導体回路のテスト方法を提供する。 - 特許庁
METHOD OF PROCESSING INFORMATION ABOUT PROBE CARD, AND METHOD OF TESTING ENERGIZATION INSPECTING OBJECT USING PROCESSED INFORMATION例文帳に追加
プローブカードに関する情報の処理方法、及び処理された情報を用いる被検査体の通電試験方法 - 特許庁
To provide an apparatus and a method for testing a wafer which can improve test efficiency.例文帳に追加
検査効率を向上させることができることができるウェハの検査装置及びウェハの検査方法を提供する。 - 特許庁
The solid-state laser produces the test signals to be used for testing optical fibers in an optical fiber network.例文帳に追加
上記固体レーザは、光ファイバ・ネットワークの光ファイバを試験するために使用される試験信号を発生する。 - 特許庁
The testing device 30 has a tester 36 for controlling a prober 32 and an illuminator 34 to acquire a test result.例文帳に追加
検査装置30は、プローバ32と照明部34とを制御して検査結果を取得するテスタ36を有する。 - 特許庁
TEST SAMPLE MOUNTING DEVICE, BENDING TESTING APPARATUS, BENDING TEST METHOD, BENDING TEST PROGRAM, AND TEST SAMPLE例文帳に追加
試験試料装着装置、曲げ強さ試験装置、曲げ強さ試験方法、曲げ強さ試験プログラム及び試験試料 - 特許庁
Test pattern data are preliminarily stored in the test pattern memory means 130 of this semiconductor testing device 100.例文帳に追加
半導体試験装置100のテストパターン記憶手段130には、予めテストパターンデータが記憶されている。 - 特許庁
The sequences BRCA2^(omi1-5) and the ten polymorphic sites provide greater accuracy and reliability for genetic testing.例文帳に追加
配列BRCA2^(omi1-5)および10の多形性部位は、遺伝子試験について正確さと信頼性を提供する。 - 特許庁
An engine testing apparatus 100 includes a drive part 60, a chuck part 20 and an elastic member 38.例文帳に追加
本発明に係るエンジン試験装置100は、駆動部60と、チャック部20と、弾性部材38とを備えている。 - 特許庁
This characteristic testing auxiliary device A is provided with a fitting tool 1, a contact terminal group 2, and the connection connector 3.例文帳に追加
特性試験用補助装置Aは装着具1と接触端子群2と接続コネクタ3を備えている。 - 特許庁
TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR, AND DEVICE AND METHOD FOR REGULATING TIMING THEREFOR例文帳に追加
半導体試験装置、半導体試験装置のタイミング調整装置および半導体試験装置のタイミング調整方法 - 特許庁
To provide a testing handler capable of shortening the length of a soaking chamber and a preheating/precooling time therefor, and an operation method therefor.例文帳に追加
ソークチャンバーの長さ及び予熱/予冷時間を短縮し得るテストハンドラー及びその作動方法を提供する。 - 特許庁
The tire testing device 1 evaluates the drain performance of the tire in traveling on a wet road.例文帳に追加
このタイヤ試験装置1は、ウェット路の走行時におけるタイヤの排水性能を評価するための装置である。 - 特許庁
METHOD OF TESTING PLASMA REACTOR MULTI-FREQUENCY IMPEDENCE MATCHING NETWORK NETWORK AND MULTI-FREQUENCY DYNAMIC DUMMY LOAD例文帳に追加
プラズマリアクタ用多周波数インピーダンス整合回路網を試験する為の方法および多周波数ダイナミックダミー負荷 - 特許庁
A first testing circuit 24 compares received data of the receiver 5 with the test data, and this compared result is monitored.例文帳に追加
第1テスト回路24は、そのレシーバ5の受信データを上記テストデータと比較し、この比較結果がモニタされる。 - 特許庁
To obtain various hemiasterlin derivatives and to develop a synthesis theory for testing the therapeutic usefulness.例文帳に追加
種々のヘミアスタリン誘導体を入手しその治療効果を試験するための合成方法論を開発すること。 - 特許庁
The light beam of a light emitting diode 3 is cast on the polygon mirror of a testing object by way of a reflection mirror 4.例文帳に追加
発光ダイオード3の光ビームは、反射ミラー4を介して試験対象のポリゴンミラーに照射される。 - 特許庁
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