「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(168ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a drop testing machine capable of reducing the height of a support, by accelerating weight.例文帳に追加

重錘を加速することにより、支柱の高さを低くすることを可能ならしめる落下試験装置を提供する。 - 特許庁

METHOD OF TESTING POWER TRANSMISSION APPARATUS OR POWER RECEIVING APPARATUS, POWER TRANSMISSION APPARATUS, POWER RECEIVING APPARATUS AND NON-CONTACT POWER TRANSMISSION SYSTEM例文帳に追加

送電装置または受電装置のテスト方法、送電装置、受電装置および無接点電力伝送システム - 特許庁

To provide diagnostic testing result reader that includes a means for inhibiting frequency of usage beyond its limits.例文帳に追加

限度使用回数を超えた使用を禁止する手段を備えた診断検査結果読取り装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a sealing jig for testing an aluminum wheel leakage without necessity of replacing the jig even when the type of an aluminum wheel is changed.例文帳に追加

アルミホイールの種類が変わってもシール治具の交換が必要でないアルミホイールリークテスト用シール治具の提供。 - 特許庁

To provide an improved dipstick assay for testing on the presence of a target nucleic acid in a sample solution.例文帳に追加

試料溶液中の標的核酸の存在に関して試験するための改良型ディップスティック検定の提供。 - 特許庁

To provide a method for calibrating or testing a lithographic device or a part thereof and a method for manufacturing the device.例文帳に追加

リソグラフィ装置又はその一部を較正又は検定する方法及びデバイス製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a system and a method of substrate inspection for testing mounting condition of an IC chip onto a substrate in a short time, based on objective criterion.例文帳に追加

基板へのＩＣチップの実装状態の検査を、客観的基準に基づいて短時間で実施する。 - 特許庁

To provide a simple capillary-like conduit device for interconnecting a liquid reservoir to a testing element.例文帳に追加

液体貯留部と試験素子との間での連結を行う簡単なキャピラリー状の導管デバイスを提供する。 - 特許庁

To provide a disk attaching device capable of eliminating the trouble of replacing a disk in a disk related testing device.例文帳に追加

ディスク関連試験装置におけるディスク交換の煩わしさを解消するディスク取り付け装置を提供する。 - 特許庁

CORRECTION METHOD, LIGHT SOURCE APPARATUS, PROGRAM, RECORDING MEDIUM, OPTICAL SCANNING APPARATUS, IMAGE FORMING DEVICE, TESTING DEVICE, AND TEST METHOD例文帳に追加

補正方法、光源装置、プログラム、記録媒体、光走査装置、画像形成装置、試験装置及び試験方法 - 特許庁

The setting on the built-in EEPROMs is rewritten with a desired value through a test interface during LSI testing.例文帳に追加

内蔵されたＥＥＰＲＯＭへの設定は、ＬＳＩテスト時に所望の値をテストインターフェイス経由で書き換える。 - 特許庁

To provide a chip-type capacitor that causes little disconnection failure of inner wiring to occur when doing substrate bend testing.例文帳に追加

基板曲げ試験時における内部配線の断線不良を生じさせにくくしたチップ型コンデンサを提供する。 - 特許庁

To provide a method for surely testing a memory terminal in a very short period of time.例文帳に追加

極めて短時間に、メモリ端子の不良を確実に検査することができる方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a weather/light resistance testing machine capable of accurately measuring optical deterioration and thermal deterioration separately.例文帳に追加

光による劣化と熱による劣化を分けて正確に測定できる耐候光試験装置を提供すること。 - 特許庁

An inclined table 1 is provided to make a ball roll down to a pressure sensitive adhesive sheet of a laid testing object.例文帳に追加

敷設された試験対象である粘着シート類に対してボールを転落させる傾斜台１を備えている。 - 特許庁

To provide a rotor support device for a dynamic balance testing machine capable of supporting surely a rotor by inexpensive constitution.例文帳に追加

安価な構成で、確実に回転体を支持できる動釣合い試験機用の回転体支持装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test system capable of improving the testing efficiency by shortening the time in wasteful standby state.例文帳に追加

無駄な待機状態を短縮することによりテスト効率を改善できる半導体テストシステムを実現すること。 - 特許庁

To reduce the number of testing members required for a test in conducting an instrumentation loop test of a digital controller or the like.例文帳に追加

デジタル制御装置等の計装ループ試験を行なう場合に、その試験に必要な試験員の人数を減らす。 - 特許庁

To provide a seat tester and a seat testing method for evaluating seat comfort objectively and quantitatively.例文帳に追加

座り心地を客観的かつ定量的に評価可能なシート試験装置および試験方法を提供する。 - 特許庁

MARKING SUBSTANCES AND SECURITY MARKINGS, METHOD FOR INTEGRATING THESE INTO PAPER WEB AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

標識物質と安全標識およびこれらを紙料ウエブに統合するための方法ならびに試験方法 - 特許庁

To provide a method for testing mutagenicity of a molding that can not be dissolved or dispersed in a solvent.例文帳に追加

溶媒に溶解または分散させることのできない成形物の変異原性試験方法を提供する。 - 特許庁

ANTENNA FOR MEASURING ELECTROMAGNETIC NOISE, AND METHOD FOR MEASURING ELECTROMAGNETIC NOISE IN MANUFACTURING/TESTING PROCESS OF MAGNETIC DISK UNIT例文帳に追加

電磁ノイズ計測用アンテナおよび磁気ディスク装置の製造・検査工程における電磁ノイズの計測方法 - 特許庁

To provide a testing device capable of quantitatively evaluating the noise resistance of an apparatus to be connected to an inverter.例文帳に追加

インバータと接続される機器のノイズ耐性を定量的に評価することが可能な試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a substrate test device capable of efficiently and randomly testing plural kinds of substrates with one device.例文帳に追加

１台で複数種類の基板をランダムに且つ効率よく検査することができる基板検査装置を提供する。 - 特許庁

To improve responsiveness by a small and lightweight driving mechanism in a dynamic wind testing model having a rudder surface driving mechanism.例文帳に追加

舵面駆動機構を有する動的風試模型に関し、小型、軽量の駆動機構で応答性を良くする。 - 特許庁

To provide a system for testing a tire using an algorithm for analyzing fluctuation of a representative parameter time-serially.例文帳に追加

経時的に代表的なパラメータの変動を分析するアルゴリズムを用いてタイヤを試験するシステムを提供する。 - 特許庁

Furthermore, the control part 3A comprises a test circuit 21 for testing the master filter 2A and the slave filter 1A.例文帳に追加

さらに、制御部３Ａは、マスタフィルタ２Ａとスレーブフィルタ１Ａをテストするためのテスト回路２１を含んでいる。 - 特許庁

To measure the amount of wear of a coating material in vacuum accurately in real time in a coating material-testing device.例文帳に追加

コーティング材試験装置において、真空中でコーティング材の摩耗量をリアルタイムで正確に計測すること。 - 特許庁

To provide an anisotropic conductive sheet having high reliability over many times of testing, and its manufacturing method.例文帳に追加

多数回の試験に対する信頼性の高い異方導電性シート及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

BURST INTERVAL MEASURING DEVICE, BURST INTERVAL MEASUREMENT METHOD, DRIVE APPARATUS, SERVO PATTERN WRITING DEVICE, AND MAGNETIC TAPE TESTING APPARATUS例文帳に追加

バースト間隔測定装置、バースト間隔測定方法、ドライブ装置、サーボパターン書き込み装置および磁気テープ検査装置 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device having a comparator of a high operation speed with low fluctuation of a leak current.例文帳に追加

動作速度が速く、リーク電流の変動が小さいコンパレータを有する半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method of solving hybrid constraints concerning numeric values and character strings in testing of a software module.例文帳に追加

ソフトウェアモジュールの検査における、数値と文字列に関する混合された制約を解決する方法を提供する。 - 特許庁

To provide an effective and appropriate airtightness testing method for checking and evaluating the airtightness performance of a clean room as a whole.例文帳に追加

クリーンルーム全体の気密性能を確認し評価するための有効適切な気密試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of forming a semiconductor which allows skipping steps of repeatedly performing and halting etching and testing.例文帳に追加

エッチング、試験を繰り返し停止、実行する工程を省略可能とする半導体の形成方法の提供。 - 特許庁

A voice conduction testing apparatus of the present invention includes a base station simulator 101 and a voice identification device 106.例文帳に追加

本発明の音声導通試験装置は、基地局シミュレータ１０１及び音声識別装置１０６を有する。 - 特許庁

A load of the testing device is furthermore reduced by supplying the internal high-speed clock to a BIST circuit.例文帳に追加

また、内部高速クロックをＢＩＳＴ回路にも供給することで、試験装置の負担はさらに軽減される。 - 特許庁

A testing apparatus 2 is configured to test an electronic module 1 which is to be mounted in a vehicle, before mounting in the vehicle.例文帳に追加

検査装置２は、車両に搭載される電子モジュール１を車両に搭載する前に検査するものである。 - 特許庁

RELAY LIFETIME PREDICTING SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, PROGRAM THEREFOR, AND STORAGE MEDIUM WITH PROGRAM STORED例文帳に追加

半導体試験装置のリレー寿命予測システム及びそのプログラム並びにそのプログラムを記憶した記憶媒体 - 特許庁

To provide a composite deterioration testing apparatus for imparting the effect of the composite deterioration of weathering and a movement.例文帳に追加

ウェザーリングとムーブメントの複合劣化の影響を付与する複合劣化試験装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of generating the test patterns of test signals at faster speed.例文帳に追加

試験信号の試験パターンをより速い速度で発生することのできる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a timing regulation circuit for fine delay resolution suitable for a semiconductor testing device using an FPGA.例文帳に追加

ＦＰＧＡを用いて半導体試験装置に適した細かい遅延分解能のタイミング調整回路を提供する。 - 特許庁

The fretting corrosion testing equipment is provided with a support table 16 and a first fixing tool 17 for mounting the male terminal.例文帳に追加

フレッチング腐食試験装置は支持テーブル１６と雄端子２を取り付ける第１の固定具１７を備えている。 - 特許庁

To detect a failure in contact chain by effectively utilizing a testing pattern to conduct the voltage contrast test.例文帳に追加

ボルテージコントラスト検査を行う場合における検査パターンを有効に利用してコンタクトチェーンの不良を検出する。 - 特許庁

The second control switch for controlling the connection is provided between the testing resistance and the signal wire.例文帳に追加

また、そのテスト抵抗と信号線と間には、その接続を制御する第２制御スイッチが備えられている。 - 特許庁

This invention is achieved by improving an IC tester for testing objects to be tested on the basis of timing signals.例文帳に追加

本発明は、タイミング信号に基づいて、被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁