「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(170ページ目) - Weblio英語例文検索

A ventilation connector for testing the airtightness of the light source unit 4 can be connected to the valve mechanism 50.例文帳に追加

このバルブ機構５０には、光源ユニット４の気密性の検査用の通気コネクタを接続することもできる。 - 特許庁

METHOD FOR AMPLIFYING ATP IN CHAINLIKE MANNER AND METHOD FOR TESTING TRACE ATP USING THE AMPLIFICATION METHOD例文帳に追加

ＡＴＰを連鎖的に増幅させる方法及び該方法を利用して極微量のＡＴＰを検査する方法 - 特許庁

A plurality of adsorbing holes 14 is prepared on a mounting surface of a testing jig substrate 13 wherein a semiconductor device 11 is loaded.例文帳に追加

半導体装置１１が載置される検査治具基板１３の載置面に複数の吸着口１４を設ける。 - 特許庁

A semiconductor testing device 100 is provided with a tester processor 100, a tester main body 20, and a test head 30.例文帳に追加

半導体試験装置１００は、テスタプロセッサ１０、テスタ本体２０、テストヘッド３０を含んで構成されている。 - 特許庁

To obtain an integrated circuit device equipped with a built-in self-test circuit suitable for testing a multi-port memory.例文帳に追加

マルチポートメモリをテストするのに好適な組み込み自己テスト回路を備える集積回路装置を実現する。 - 特許庁

To obtain a standard testing specimen for an evaluating antimicrobial effect, which more accurately ascertaining variation in evaluation.例文帳に追加

評価のバラツキをより正確に見定めることのできる抗菌効果評価用標準試験片を提供する。 - 特許庁

To provide an arrangement for precisely testing an electronic device comprising a plurality of blocks with different operation frequencies.例文帳に追加

動作周波数の異なる複数のブロックを有する電子デバイスを精度良く試験する試験装置を提供する。 - 特許庁

This is the supersonic flaw detection method for performing flaw detection, with a track surface 4a of an outer ring 4 defined as the testing face.例文帳に追加

外輪４の軌道面４ａを検査対象面として探傷を行う超音波探傷方法である。 - 特許庁

To provide a method and device for testing functional block for specific application embedded in user programmable fabric.例文帳に追加

ユーザプログラマブルファブリック内に埋め込まれた特定用途向け機能ブロックをテストする方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide an automatic testing apparatus that makes it possible to efficiently test a plurality of kinds of devices to be tested.例文帳に追加

複数種類の被試験器の試験を効率的に行うことを可能とする自動試験装置を提供する。 - 特許庁

This principle is applied to the arbitrary chemical material and is used for testing whether the chemical material has the physiological activity similar to that of lithium.例文帳に追加

この原理を任意の化学物質に適用しリチウムと同様の生理活性をもつかを検定する。 - 特許庁

To provide a core crease testing method for casting mold capable of exactly detecting core crease.例文帳に追加

中子の折れを正確に検出することが可能な、鋳造成形品の中子折れ検査方法を提供する。 - 特許庁

The first needle body is connected to a contact head, sends a test signal to the object for testing, and executes detection.例文帳に追加

第１の針本体は、コンタクトヘッドに接続され、テスト用物体にテスト信号を送り、検出を実行する。 - 特許庁

To execute fuse blowing in a plurality of testing steps even if fuse data are compressed.例文帳に追加

ヒューズデータの圧縮を行った場合でも、複数テスト工程でヒューズブローが行えるようにすることを特徴とする。 - 特許庁

To easily evaluate a damage or the like generated in an inside of a water cooled hole in a short time, using a testing object.例文帳に追加

水冷孔の内部で発生する損傷等の評価を、試験体を用いて簡易かつ短時間で行なう。 - 特許庁

To provide a fatigue testing machine capable of starting a test without applying an unnecessary impact to a test piece.例文帳に追加

供試体に不必要な衝撃を与えることなく試験を開始することができる疲労試験機を提供する。 - 特許庁

By using the element testing arrangement 1 thus constituted, production enhancement or cost reduction of the semiconductor element 20 is attained.例文帳に追加

この様な素子試験装置１を用いれば、半導体素子２０の高生産または低コスト化が実現する。 - 特許庁

The mutual recognition of the results of product testing and the integration of standards also reduced costs and made it easier for companies to enter the markets of other countries within the region.例文帳に追加

また、後者は費用削減をもたらすとともに、域内の他国市場への参入を容易にした。 - 経済産業省

To provide a system and a method collecting and testing data at a patient's point of care location.例文帳に追加

患者のポイントオブケアの場所においてデータを収集および検査するシステムおよび方法を提供すること。 - 特許庁

The Pharisees came out and began to question him, seeking from him a sign from heaven, and testing him. 例文帳に追加

ファリサイ人たちが出て来て，彼に質問し始めた。天からのしるしを彼に求め，彼を試そうとしてであった。 - 電網聖書『マルコによる福音書 8:11』

The Pharisees and Sadducees came, and testing him, asked him to show them a sign from heaven. 例文帳に追加

ファリサイ人たちとサドカイ人たちがやって来て，彼を試そうとして，天からのしるしを見せるようにと彼に求めた。 - 電網聖書『マタイによる福音書 16:1』

A $1 million version of this machine used 57600 key search chips, each capable of testing 50 million keys per second. 例文帳に追加

このマシンの100万ドル版は、鍵探索チップを57600個使っていて、そのチップそれぞれが、毎秒5000万鍵をテストできる。 - Electronic Frontier Foundation『DESのクラック：暗号研究と盗聴政策、チップ設計の秘密』

The semiconductor test system is composed of a navigation system which makes up all conditions required for photographing/testing from design information, and a scanning electron microscope system which actually carries out photographing/testing, and then the all conditions required for photographing/testing are made up from the design information such as CAD data or the like, and the actual test is carried out in those conditions.例文帳に追加

CADデータ等の設計情報から撮影／検査に必要な全ての条件を作成し、その条件で実際の検査を行うために、半導体検査システムを設計情報から撮影／検査に必要な全ての条件を作成するナビゲーションシステムと実際の撮影／検査を実行する走査型電子顕微鏡システムとから構成させる。 - 特許庁

The test condition changing means 16 sets a correction testing condition which is different from a j-th inspection condition, j=j+1, when the comparison result outputted from the characteristics comparing means 15 does not agree, and the correction test conditions is newly set as the j-th test condition this is outputted to the testing means 12, and testing is executed again.例文帳に追加

検査条件変更手段１６は、特徴比較手段１５から出力される比較結果が不一致の場合に、第ｊ検査条件と異なる修正検査条件を設定してｊ＝ｊ＋１とし、この修正検査条件を新たな第ｊ検査条件として検査手段１２に出力し、再検査が実施される。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus for testing a self-heating semiconductor comprises a temperature sensor for measuring the temperature of the semiconductor and a temperature control means for controlling the flow of a cooling medium blown on the semiconductor, on the basis of the measured value of the temperature and the upper-limit temperature of the semiconductor allowed in the testing environment.例文帳に追加

自己発熱する半導体を試験する半導体試験装置において、 前記半導体の温度を測定する温度センサと、 前記温度の測定値と試験環境において許容される前記半導体の上限温度に基づいて前記半導体に吹き付ける冷却媒体の流量を制御する温度調節手段と、を備える。 - 特許庁

To provide a substrate testing device measuring and compensating a brightness through a detection compensation section without measuring the brightness of each panel, wherein the substrate is tested even without independent equipment through the detection compensation section integrated to the substrate without using substrate testing equipment for testing an organic light emitting display panel, and a method thereof.例文帳に追加

各パネルの輝度を測定することなく、感知補償部を通じて輝度の測定と補償がすべて行われ、有機電界発光表示パネルを検査する基板検査装備を用いることなく、基板に集積された感知補償部を通じて、独立した装備がなくても基板検査が可能な基板検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁

In the semiconductor testing device for storing pieces of pattern data of predetermined channel numbers and bits for controlling jumps of patterns at different addresses of a pattern memory, and testing DUTs, the testing device includes a mask control unit which masks the bits for controlling jumps read out from the pattern memory, when only the pieces of pattern data of predetermined channel numbers are used and no pattern jumps are performed.例文帳に追加

所定チャンネル数のパターンデータとパターンのジャンプを制御するビットをパターンメモリの異なるアドレスに記憶させてＤＵＴの試験をする半導体試験装置において、所定チャンネル数のパターンデータのみを使用してパターンのジャンプを行わない場合に、パターンメモリから読み出されたジャンプを制御するビットをマスクするマスク制御部を設ける。 - 特許庁

The testing board 520a of a semiconductor device includes a socket 510 connected to power source terminals BP1-BP4 of a semiconductor device 500 through socket pins 511, a force line FL connected to a force terminal TFP of a semiconductor testing device 530, and a sense line SL connected to a sense terminal TSP of the semiconductor testing device 530.例文帳に追加

半導体装置の試験用ボード５２０ａは、半導体装置５００の電源端子ＢＰ１〜ＢＰ４へとソケットピン５１１を介して接続されるソケット５１０、半導体試験装置５３０のフォース端子ＴＦＰへと接続されるフォースラインＦＬ及び半導体試験装置５３０のセンス端子ＴＳＰへと接続されるセンスラインＳＬを備える。 - 特許庁

The fixture for the peel strength testing machine 4 used for setting the test piece T, the peel strength testing machine being used for testing the peel strength of a seal part S which is formed by sealing a part of the 2 pieces of the overlapped resin films F, holds each of the 2 pieces of the resin films of the test piece T, which is not sealed, toward outside of the sealed part S.例文帳に追加

重ねた２枚の樹脂製フィルムＦの一部をシールしたシール部Ｓの剥離強度を試験する剥離強度試験機に対して、試験片Ｔをセットするために用いられる剥離強度試験機用治具４であって、試験片Ｔのうちシールされていない２枚の樹脂製フィルムＦを、それぞれシール部Ｓの外側方へ向けて保持する。 - 特許庁

(3) In the event that the Minister of Land, Infrastructure, Transport and Tourism has decided to execute the testing procedures in accordance with the provisions in paragraph (1), to give a permission of abolition of the testing procedures in accordance with the provisions in paragraph (1) of Article 56 or to rescind the designation in accordance with the provisions in paragraph (1) or paragraph (2) in the preceding Article, the handover procedure and other necessary matters for the testing procedures shall be provided in the Ordinance of the Ministry of Land, Infrastructure, Transport and Tourism. 例文帳に追加

３　国土交通大臣が、第一項の規定により試験事務を行うこととし、第五十六条第一項の規定により試験事務の廃止を許可し、又は前条第一項若しくは第二項の規定により指定を取り消した場合における試験事務の引継ぎその他の必要な事項は、国土交通省令で定める。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

Article 65 (1) A person who carries on the business of product testing at its testing laboratory located in a foreign country may apply to the competent minister to have the laboratory Accredited for each Division of the Testing Method pursuant to the provisions of the applicable Ordinance of the competent ministry. In this case, the procedures required to be taken for the Accreditation shall be specified in the Ordinance of the competent ministry. 例文帳に追加

第六十五条　外国にある試験所において製品試験の事業を行う者は、その試験所について、試験方法の区分ごとに、主務省令で定めるところにより、主務大臣に申請して、登録を受けることができる。この場合において、登録に関して必要な手続は、主務省令で定める。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

In the controller, the instruction member A is sequentially specified according to execution procedures of material testing to be executed with the tester main body specified by the testing mode, and the content of the corresponding instruction format A and its execution parameter D are read out of the memory to construct a testing execution program E controlling the operation of the tester main body.例文帳に追加

そしてコントローラにおいては、試験モードによって特定される試験機本体にて実行すべき材料試験の実行手順に従って命令番号Ａを順に指定して、メモリから該当する命令形態Ａの内容とその実行パラメータＤとを読み出して試験機本体の作動を制御する試験実行プログラムＥを構築する。 - 特許庁

To provide a urine testing paper test bar capable of making human urine contact a test specimen easily without being dirtied by excreted urine, flowing it into a flush toilet after the test, and reducing an amount of urine testing indicator-containing ink composition adhered, for urine testing paper test specimens used for human urine tests.例文帳に追加

人間の尿検査に用いる尿検査用試験体に関し、該試験体に手軽に尿を接触させしかも指先を排泄尿で汚すことなく、使用後は水洗トイレに流すことが可能であり、更に、尿検査用指示薬含有インク組成物の付着量を減少させることが可能な尿検査用紙製試験体棒を提供する。 - 特許庁

To provide a detector capable of testing accurately a built-in processing circuit, by simple constitution, and a testing method therefor, as to the detector having a detecting means for outputting a detection signal in response to an input, and the processing circuit for processing the detection signal detected by the detecting means, and the testing method therefor.例文帳に追加

入力に応じて検出信号を出力する検出手段と、検出手段で検出された検出信号を処理する処理回路とを有する検出装置及びそのテスト方法に関し、簡単な構成で、正確に内蔵された処理回路のテストが行なえる検出装置、及び、そのテスト方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The apparatus for testing the power conversion apparatus used in place of the finished-product power converter includes a testing power converter having a lower output capacity than this power converter, and a high-frequency voltage application device applying a noise voltage to between a reference potential section of a control circuit and a ground potential section of the testing power converter.例文帳に追加

提案する電力変換装置の試験装置は、最終製品の電力変換器に換えて用いられて、この電力変換器よりも出力容量が小さい試験用電力変換器と、制御回路の基準電位部と、前記試験用電力変換器の接地電位部との間にノイズ電圧を印加する高周波電圧印加装置と、を備える。 - 特許庁

There are provided a plurality of programmable distribution type testing units 12, individually communicating with a related device in a plurality of devices; networks 24, 36 for transmitting information among the plurality of distribution type testing units 12; and a system monitoring unit 16 for communicating with a plurality of programmable distribution type testing units 12 via the networks 24, 36.例文帳に追加

複数のデバイスの内の関連するデバイスと個別に通信を行う複数のプログラム可能な分散形試験ユニット１２と、複数の分散形試験ユニット１２の間で情報を伝達させるネットワーク２４，３６と、このネットワーク２４，３６を通して複数のプログラム可能な分散形試験ユニット１２と通信を行うシステムモニタユニット１６とを備える。 - 特許庁

The locus of the testing puncture needle tip is recorded and saved in a guide line inserted through the 23G testing puncture needle, and the introducer is guided by the guide line, whereby the process of puncture using a thick puncture needle is omitted to guide the tip of the introducer in the vein through the same pathway as that for passing the 23G testing puncture needle.例文帳に追加

２３Ｇ試験穿刺針を通じて挿入したガイドラインに試験穿刺針先端の軌跡を記録保存させ、前記ガイドラインにイントロデューサーを案内させることにより、太い穿刺針を使用する本穿刺の過程を省略し、２３Ｇ試験穿刺針が通過したと同じ経路を通ってイントロデューサーの先端を静脈内に誘導させる。 - 特許庁

This leak testing system is provided with a pre-processor 10 putting the work W in the pressurized helium atmosphere, a lead testing device 50 performing the helium leak test on the work W, a transfer mechanism 40 carrying out the work W from the pre-processor 10 and setting it on the leak testing device 50, and a controller 90 controlling the devices 10 and 50 and the mechanism 40.例文帳に追加

リークテストシステムは、ワークＷを加圧ヘリウム雰囲気に置く前処理装置１０と、ワークＷのヘリウムリークテストを行うリークテスト装置５０と、ワークＷを前処理装置１０から搬出し、リークテスト装置５０にセットする転送機構４０と、これら装置１０，５０及び機構４０を制御するコントローラ９０とを備えている。 - 特許庁

Here, the sending part 10 includes a parity adding part 12 for adding testing information (parity bits) to be used for testing an error of the image data to the unused bits of the serial data, and the receiving part 20 includes a parity check part 22 for using the testing information added to the unused bits of the received serial data to test the error of the image data.例文帳に追加

ここで、送信部１０は、画像データのエラーを検査するために用いられる検査情報（パリティビット）を、シリアルデータの未使用ビットに付加するパリティ付加部１２を備えており、受信部２０は、受信したシリアルデータの未使用ビットに付加されている検査情報を用いて画像データのエラーを検査するパリティチェック部２２を備える。 - 特許庁

To solve the problem that a large number of test man-hours are required for repeatedly compiling and loading each of test modules to a debugger in order to operate a plurality of module tests when a STAB program only for testing is assembled for testing the modules in a test target program.例文帳に追加

テスト対象プログラム内のモジュールテストを行うために、テスト専用のスタブプログラムを組込むのだが、複数のモジュールテストを実行するために、テストするモジュール毎にコンパイルしデバッガにロードを繰返すためテスト工数がかかる。 - 特許庁

To make application of a high voltage caused by an accumulated charge preventable easily and surely in a testing device, when applied, for example, to a semiconductor testing device used for a test of various characteristics of an integrated circuit.例文帳に追加

本発明は、試験装置に関し、例えば集積回路の各種特性の試験に供する半導体試験装置に適用して、蓄積電荷による高電圧の印加を簡易かつ確実に防止することができるようにする。 - 特許庁

To solve problems in a characteristic test for the PM motor wherein connection work between a testing machine and a tested machine takes much time, a large number of PM motors is tested with great inconvenience and that a controller for drive of the testing machine is required.例文帳に追加

ＰＭモータの特性試験を実施する場合、試験機と被試験機との接続作業に時間がかかり、多数のＰＭモータの試験を行うのは大変であると共に、試験機の駆動用制御装置が必要となっている。 - 特許庁

To provide a load-applied electric resistance measurement testing machine for evaluating new material characteristics by measuring the relationship between the amount of push-in and electric resistance, and a hardness- testing machine with a load-applied electric resistance measurement function.例文帳に追加

押し込み量と電気抵抗との関係を測定可能にすることにより新たな材料特性評価が可能な荷重負荷電気抵抗測定試験機、及び荷重負荷電気抵抗測定機能を具備した硬さ試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a system for enabling the testing of sleep disorder to be carried out in high repeatability; and to provide an animal model of the sleep disorder, such as the animal model of sleep apnea syndrome by using the testing system.例文帳に追加

再現性の高い睡眠障害実験を可能とする実験システムを提供すること、および、この実験システムを使用して睡眠時無呼吸症候群モデル動物など睡眠障害のモデル動物を提供すること。 - 特許庁

On the occasion of testing the two variable delay circuits 3 and 17, the delay time for testing is set on the circuits 3 and 17 and the reference clock signal delayed through the reference variable delay circuit 3 is input to the strobe variable delay circuit 17.例文帳に追加

両可変遅延回路３，１７のテストの際、当該回路３，１７にはテスト用遅延時間が設定され、基準可変遅延回路３を経て遅延された基準クロック信号はストローブ可変遅延回路１７に入力される。 - 特許庁