「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(172ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a quality determination system capable of testing a lead acid battery and determination of quality safely and simply as mounting the battery in the vehicle by placing the system at the store front or in the site of a gas station, and moving it to the vehicle side when testing the battery.例文帳に追加

ガソリンスタンドの店頭や敷地内に置き、使用時に移動させて自動車に近づけ、安全かつ簡単に自動車に搭載したままの鉛蓄電池を点検して、その状態の良否を判定する判定装置を提供する。 - 特許庁

To create an optimal schedule in consideration of a constraint condition in which "for some testing devices, different kinds of components can be set and tested together using the same testing device, the same tool and the same test condition".例文帳に追加

「一部の試験装置については、同一の試験装置、同一の治具、同一の試験条件で、異なる種類の部品をセットにして一緒に試験を行うことが可能」といった制約条件を考慮して、最適なスケジュールを作成する。 - 特許庁

An IC socket 100, mounted with an IC102 which is to be tested and transmits the signal required for testing, is provided with a plurality of IC housing parts where a plurality of ICs102 are housed for simultaneous testing in a socket body 101.例文帳に追加

試験対象のＩＣ１０２を搭載して、試験に必要な信号を伝達するＩＣソケット１００であって、ソケット本体１０１内にＩＣ１０２を複数個同時試験可能に収納する複数のＩＣ収納部を設けた。 - 特許庁

Consequently, the joining strength is easily and rapidly found by dispensing with preparation of testing members, and joining and strength test of each testing member, for each joining of each joining member, which are needed in prior arts.例文帳に追加

これによって従来技術のように各接合部材の接合ごとに、供試部材の準備、各供試部材の接合、供試部材の強度試験を行なう必要がなく、接合強度を容易にかつ短時間に求めることができる。 - 特許庁

To provide a testing device for refrigerant recovering device of a simple structure capable of testing the recovering operation performance of a refrigerant recovering device for recovering refrigerant gas from an air conditioner, a car air conditioner and a refrigerator or the like.例文帳に追加

空気調和機やカーエアコン、冷蔵庫などから冷媒ガスを回収する冷媒回収装置の回収運転性能を簡単な構成で検証判断することができる冷媒回収装置の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor package equipped with an electrode pad which serves as an effective stopper when forming a through-hole electrode in a semiconductor substrate and contributes to successful testing in a testing process such as the Die Sort test.例文帳に追加

半導体基板に貫通電極を形成する際に良好なストッパーとして働き、さらにダイソート等のテスト工程においても良好なテストを行うことができる電極パッドを備えた半導体パッケージを提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing a pollen adhesion-preventing performance, by which an easily pollen-attaching fabric can easily be distinguished from a slightly pollen-attaching fabric, and to provide a method for testing an attached pollen-releasing performance.例文帳に追加

本発明は、花粉が付着しやすい布帛と付着しにくい布帛を容易に見分けることができる花粉付着防止性能の試験方法と、付着した花粉の脱落性能の試験方法を提供せんとするものである。 - 特許庁

To provide a method for testing the therapy or prophylaxis for a variety of osteometabolic diseases including osteoporosis, osteoclasis in rheumatoid arthritis, bone metastasis and osteoclasis by cancer cells and the DNA that is used in the testing method.例文帳に追加

骨粗鬆症、慢性関節リウマチにおける骨破壊、ガン細胞の骨転移と骨破壊等を含むさまざまな骨代謝疾患の治療または予防剤を試験するための方法および該方法において用いられるＤＮＡを提供する。 - 特許庁

The fatigue testing instrument includes the first roller 1010 and the second roller 1020 wound with the ring of a fatigue testing object, and for imparting a prescribed tensile stress and bending stress to the ring to be rotated at a prescribed speed.例文帳に追加

疲労試験装置は、疲労試験対象のリングが巻き掛けられ、そのリングに所定の引張り応力および曲げ応力を付与して所定の速度で回転させる第１ローラ１０１０および第２ローラ１０２０を含む。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of testing a clock enable logic and a clock gating cell without necessitating a separate flip-flop for testing (operation of) a combination circuit constituting an enable logic of a clock gating.例文帳に追加

本発明は、クロックゲーティングのイネーブルロジックを構成する組合せ回路部（動作）試験用のフリップフロップを別個に必要とせずにクロックイネーブルロジック及びクロックゲーティングセルを試験可能な半導体集積回路を提供することを目的とする。 - 特許庁

To take out surely and smoothly stacked dumbbell samples or sample cassettes from the lower part of a magazine with simple and inexpensive construction, and automate transfer of the dumbbell samples or the sample cassettes to a testing device and all operations of material testing.例文帳に追加

簡単で且つ安価な構成でマガジン下部からスタックしたダンベルサンプル又はサンプルカセットを確実に且つ円滑に取り出すことができ、ダンベルサンプル又はサンプルカセットの試験装置への搬送及び材料試験動作全ての自動化を図る。 - 特許庁

A signal delay part 24 is arranged on a communication passage of the CPU 10 and the trial shoot testing terminal 22 for transferring a control data signal outputted from the CPU 10 to the trial shoot testing terminal 22 by delaying by a prescribed time.例文帳に追加

ＣＰＵ１０と試射試験用端子２２との通信経路上には、ＣＰＵ１０から出力される制御データ信号を所定時間遅延させて試射試験用端子２２に転送する信号遅延部２４が設けられている。 - 特許庁

To improve efficiency of program testing work by automatically judging whether results of a test of a program are correct or not without troubling human hands (eyes) in a testing operation of an interactive program involving input operations.例文帳に追加

入力操作を伴うような対話型プログラムのテスト作業において、プログラムのテスト結果が正しいか否かの判定を人の手(目)を煩わせることなく自動的に行うこことにより、プログラムテストの作業効率の向上を目的とする。 - 特許庁

In the case a carrier leakage can be suppressed under a certain condition, this method for adjusting and testing the DBM circuit which can suppress the carrier leakage and eliminate testing even though an LO input level and a power supply voltage fluctuate.例文帳に追加

そして、ある条件下でキャリアリークの抑圧が可能であれば、LO入力レベル、電源電圧が変動してもキャリアリークが抑圧が可能であり、検査が省略可能であることを特徴とするDBM回路の調整及び検査手法。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for testing semiconductor integrated circuits capable of easily tracking down, at low cost and in a short time, the causes of malfunction which occurs in a wave-shaping part provided for the apparatus for testing the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路試験装置が備える波形整形部において生ずる不具合の原因究明を短時間で容易に且つ低コストで行うことができる半導体集積回路試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of testing a lifetime for obtaining precise reliability evaluation, while also considering changes in the material characteristics, under temperature environment to be exposed to in testing for a structure, such as a wiring board, having organic members.例文帳に追加

有機部材を具備する配線基板などの構造体について、試験時に晒される温度環境下での材料特性の変化をも考慮しつつ、高精度の信頼性評価を得ることのできる寿命試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a strength testing machine of a net material capable of accurately measuring the strength of the net material, which is provided on the surface of a slope or the like under tension in order to protect the slope or the like, according to actual working situations, and a strength testing method using it.例文帳に追加

斜面等の擁護のために斜面等の表面に張設される網体の強度を実際の使用状況に則して的確に測定することのできる網体の強度試験装置及び強度試験方法を得ること。 - 特許庁

To provide a testing method for a sintered body capable of efficiently inspecting the sintered body such as a ring-shaped or cylindrical sintered magnet or the like or a specimen with high precision, a flaw inspection method of the specimen and a testing machine.例文帳に追加

リング状、円筒状の焼結磁石等の焼結体や供試体を、高い精度でかつ効率良く検査することのできる焼結体の試験方法、供試体の欠陥検査方法、試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

Then, the display controller 81 outputs operation information to the performance testing machine 301, and the performance testing machine 301 outputs a stop operation signal to the main controller 101 according to the inputted operation information.例文帳に追加

そして、表示制御装置８１は、性能試験機３０１に対して操作情報を出力し、性能試験機３０１は、入力された操作情報に基づいて、停止操作信号を主制御装置１０１に対して出力する。 - 特許庁

To allow a test object to be properly irradiated with testing purpose radio wave without incurring an increase in cost of an amplifier used for transmitting the testing purpose radio wave in the case of carrying out an EMC test (particularly, an immunity test).例文帳に追加

ＥＭＣ試験（特にイミュニティ試験）を行うに当たって、試験用電波を送信するのに用いられる増幅器のコストアップを招くことなく、試験対象物に対して試験用電波を適正に照射できるようにする。 - 特許庁

To provide a substrate for testing of a semiconductor integrated circuit capable of drawing out wirings to external connection terminals, even if the number of electrodes of a wafer level CSP in a state of a wafer is huge, and to provide a semiconductor integrated circuit testing system using the same.例文帳に追加

ウェーハ状態のウェーハレベルＣＳＰの電極の数が膨大であっても外部接続端子への引き出しが可能な半導体集積回路試験用基板、およびそれを用いた半導体集積回路試験システムを提供する - 特許庁

(3) The results of experimental testing carried out by a competent foreign authority may be taken into consideration with the consent of such authority. If the applicant files the result of an experimental testing carried out by a foreign authority, the Hungarian Patent Office shall forward the result of the testing together with the consent of the foreign authority to the examination authority [Article 114/G(2)]. When using the results of experimental testing, the examination authority shall proceed on the basis of provisions laid down by specific legislation.例文帳に追加

(3) 権限を有する外国当局が行った実験的試験の結果は，当該当局の同意を得て，考慮に入れることができる。外国当局が行った実験的試験の結果を出願人が提出した場合は，ハンガリー特許庁は，当該実験的試験の結果に外国当局の同意書を添えて審査当局に転送する(第114/G条(2))。審査当局が実験的試験の結果を用いるときは，特定法律により定める規定に基づいて手続を進める。 - 特許庁

Additionally, a faulty circuit block is specified, by utilizing the partial scan path and testing only the specified circuit block.例文帳に追加

また部分スキャンパスを利用して、特定の回路ブロックのみのテストを行うことにより故障回路ブロックの特定を行う。 - 特許庁

To store an output pattern of a device under test in the main memory, without increasing the band width request for the main memory by a testing apparatus.例文帳に追加

試験装置のメインメモリの要求バンド幅を増やすことなく、被試験デバイスの出力パターンをメインメモリに格納する。 - 特許庁

After the test, the material testing machine calculates the distance from the detection arm 52 to the measurement position of the center between the pair of gauge marks.例文帳に追加

試験終了後、検出腕５２から一対の標点間中央の計測位置までの距離を演算する。 - 特許庁

After completion of the test, the internal liquid is discharged from a discharge port 25 to empty and recover the testing tank 21.例文帳に追加

試験終了後に、排出口２５から内部の液体を排出させて試験用タンク２１を空にして回収する。 - 特許庁

To provide a device configured such that probe testing and selecting processes as processes after semiconductor manufacturing processes are integrated.例文帳に追加

半導体製造工程の後工程においてのプローブ試験および選別工程を統合した装置を提供する。 - 特許庁

To provide a wind tunnel testing apparatus capable of improving working efficiency without stopping a test on the way of the test.例文帳に追加

試験の途中で停止させることなく、作業効率を向上することができる風洞試験装置を提供する。 - 特許庁

AQUEOUS SOLUTION WHERE FERRIC HYDROXIDE COLLOIDAL PARTICLES ARE DISPERSED FOR TESTING PERFORMANCE AND INTEGRITY OF MEMBRANE, AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

膜の性能および完全性試験用の水酸化第二鉄コロイド粒子を分散した水溶液およびその製法 - 特許庁

To provide an integrated circuit(IC) incorporating a functional test circuit capable of testing a complicated logical process with a small circuit scale.例文帳に追加

小さな回路規模で複雑な論理処理を試験できる機能試験用の回路を内蔵したＩＣを提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for facilitating software installation and testing when shipped to a customer.例文帳に追加

本発明は、顧客へ出荷するときソフトウェアをインストールし、テストすることが容易な装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide an appropriate testing method of determining conducted radio frequency receiver sensitivity with respect to a plurality of channels.例文帳に追加

複数のチャネルに対し、伝導されたラジオ周波数受信器感度を決定する好適なテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a material testing machine which enables even a beginner to distinguish a data failure in an elongation/test force characteristic.例文帳に追加

伸び−試験力特性におけるデータ異常を初心者でも判別できるようにした材料試験機の提供。 - 特許庁

METHOD FOR TESTING FUNCTION OF DISPLAY DEVICE FOR MEDICAL CARE TECHNIQUE EQUIPMENT, AND THE EQUIPMENT PROVIDED WITH DISPLAY DEVICE AND ALARM SYSTEM例文帳に追加

医療技術機器の表示装置の機能検査方法、および表示装置およびアラーム装置を備えた医療技術機器 - 特許庁

Moreover, a pit 8c in which a tool 14 of an operation testing machine is inserted is formed at the tip of the ridge 8b.例文帳に追加

また、隆起部８ｂの先端には、動作検査機の治具１４が挿入される穴８ｃが形成されている。 - 特許庁

To provide a testing method for a non-volatile memory in which reliability is kept, a cycle time is shortened, and a manufacturing cost is reduced.例文帳に追加

信頼性を維持しつつ、サイクル時間短縮およびコスト削減を図った、不揮発性メモリ検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory which can analyze easily a defective state when defect is caused at testing of a memory.例文帳に追加

メモリのテスト時に不良が生じた場合、その不良状況の解析が容易な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

A diagnostic testing device usable for detecting one or a plurality of analytes in a sample is disclosed.例文帳に追加

サンプル中の１つ又は複数の分析物を検出するのに使用することができる診断試験装置が開示される。 - 特許庁

To provide a complementarity testing method improved in the sensitivity of detecting hybridization, and to provide a means for use in the method.例文帳に追加

ハイブリダイゼーションの検出感度を向上させた相補性試験方法及びそれに用いる手段を提供する。 - 特許庁

To provide a bulb socket by which the flow of a current can be intuitively obtained, and to provide a current conduction-testing device.例文帳に追加

電流の流れを直感的に把握することができる電球ソケット及び通電実験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a scan test circuit in which the number of test pins required for a scan test of an LSI is reduced to a minimum and which reduces the testing time.例文帳に追加

ＬＳＩのスキャンテストに所要のテストピンの数を最小限に抑えるとともにテスト時間を低減する。 - 特許庁

To provide a testing device highly accurately simulating a load applied to a fluid pressure actuator being a test body.例文帳に追加

試験体である流体圧アクチュエータに加える負荷の模擬を精度良く行うことが可能な試験装置を提供すること。 - 特許庁

In addition, the bars are retained to each other by clamping mechanism during use and thereby, a sample intended for testing is prevented from leaking.例文帳に追加

バーはさらに締め付け機構によって使用中互いに保持され、試験対象の試料の漏れが防止される。 - 特許庁

To provide a device and method for locating the position of an edge of a part for acceptance testing of the part.例文帳に追加

部品の合否判定試験を行なうために、部品の縁部の位置を求めるための装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide an abrasion tester capable of efficiently testing durabilities of a rotary shaft and a bearing metal.例文帳に追加

回転軸および軸受メタルの耐久性の試験を効率的に行うことが可能な摩耗試験装置を提供する。 - 特許庁