「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(171ページ目) - Weblio英語例文検索

Respective tests such as a DC parameter, an AC parameter, and a thermal resistance are switchingly performed by one contact device having movable contact portions with the AC testing machine 16 and the DC testing machine 17 respectively at the electrode part on the intermediate electrode plate 20.例文帳に追加

中間電極板２０上の電極部分にＡＣ試験機１６、ＤＣ試験機１７各々との可動接触部を設けた一台のコンタクト装置で、ＤＣパラメータ、ＡＣパラメータ、および熱抵抗の各試験を切替えて行う。 - 特許庁

To provide a built-in self-testing circuit and testing method capable of adjusting a period of time from sending a read operation signal to storage elements in a semiconductor integrated circuit till storing data outputted from the storage elements in a register.例文帳に追加

半導体集積回路内の記憶素子に読み出し動作の信号が送られてから、記憶素子から出力されたデータがレジスタに格納されるまでの時間を調整可能な組み込み自己試験回路及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a glare testing apparatus which can digitize and grasp the generation situation and the degree of improvement of the glare difficulty of a subject (a patient) by directly measuring the rate of the glare (the dazzle), and a glare testing method.例文帳に追加

グレア（眩しさ）の度合を直接的に測定することによって、被検者（患者）のグレア障害の発生状況やその改善度を数値化して把握することのできるグレア検査装置及びグレア検査方法を提供する。 - 特許庁

Laser power Pe for erasure and a defocus amount Δf to a targeted recording layer of an optical head 3 radiating a laser beam are changed to perform testing erasure of data of each recording layer in a testing region T in the multilayer optical disk 1.例文帳に追加

多層光ディスク１内のテスト領域Ｔにおいて、消去用レーザパワーＰｅと、レーザ光を照射する光ヘッド３の目標の記録層に対するデフォーカス量Δｆを変えて、各記録層のデータの試し消去を行う。 - 特許庁

To provide an artificial ground fault testing device for a dispersion reactor system for sharply reducing a cost and time and sharply shortening a time for locking a ground fault directional relay and a ground fault overvoltage relay during testing.例文帳に追加

費用および時間を大幅に削減することができるとともに試験中に地絡方向継電器および地絡過電圧継電器をロックする時間が大幅に短くなる分散リアクトル系統用人工地絡試験装置を提供する。 - 特許庁

The testing process of polyester taste is characterized in that a polyester molded article is heat-treated in ultrapure water to prepare an extraction water, and the extraction water is then measured by a taste testing device equipped with a taste sensor formed of an artificial lipid membrane.例文帳に追加

ポリエステルからなる成形体を超純水中で加熱処理をして得られた抽出水を人工脂質膜からなる味センサを備えた味検査装置で測定することを特徴とするポリエステルの味覚試験方法。 - 特許庁

To provide an electronic component testing device which accurately controls, in particular, a temperature in a test tank into a test temperature and to provide a compact variable fin area radiator for use in the electronic component testing device.例文帳に追加

本発明は電子部品試験装置に関し、特に試験槽内の温度を精度よく試験温度に制御する電子部品試験装置と電子部品試験装置に使用するコンパクトなフィン面積可変型ラジエーターに関するものである。 - 特許庁

To provide a testing apparatus and a testing method for accurately determining the quality, even if a thin plate material member as a concave-convex member has a processed shape, and a concave-convex shaped surface.例文帳に追加

この発明は、薄板材状部材に形状加工を施して表面が凹凸状に形成された凹凸状部材であっても、正確に良否を判定することのできる検査装置及び検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The LED light source 23 for testing is used as a light source for the solar cell evaluation device for evaluating the output characteristics of a solar cell 22 by applying dummy sunlight to the solar cell 22 housed in a testing chamber.例文帳に追加

又、この試験用ＬＥＤ光源２３を、試験室内に収容された太陽電池２２に疑似太陽光を照射して太陽電池２２の出力特性を評価する太陽電池評価装置の光源として使用する。 - 特許庁

To provide an application operation monitoring system for monitoring an operating state of a system (application) capable of testing an application during real operation and also testing the application with finer setting.例文帳に追加

システム（アプリケーション）の稼動状況を監視するアプリケーション稼働監視システムであって、本番稼働中のアプリケーションに対するテストを可能とし、且つ、より細やかな設定のテストを行えるようにしたアプリケーション稼働監視システムの提供。 - 特許庁

To provide a media converter, a loop testing method and a loop testing program with which transmission normality can be confirmed in two ways in a loop test using the media converter for converting media between different transmission media.例文帳に追加

異なる伝送媒体間の媒体変換を行うメディアコンバータを用いたループ試験の際に、双方向にて伝送正常性を確認させることが可能なメディアコンバータ、ループ試験方法及びループ試験プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a compression/shear test method and its testing device capable of testing a performance test of compression deformation and/or shear deformation of a large-size sample piece without using large-scale equipment or a device.例文帳に追加

大型の供試体の圧縮変形及び／または剪断変形の性能試験を大掛かりな設備や装置を用いることなく試験することが出来る圧縮・剪断試験試験方法及びその試験装置を提供することにある。 - 特許庁

The testing system is equipped with a socket 31 where the semiconductor package 1 is placed with the electrode surface on the upside; and a testing device 2 provided on the upside of the socket 31, for executing the test in contact with the electrode of the semiconductor package 1.例文帳に追加

そして、かかるテストシステムは、半導体パッケージ１を電極面を上方にして載置するソケット３１と、ソケット３１の上方に設けられ、半導体パッケージ１の電極と接触してテストを実行するテスト装置２とを備えている。 - 特許庁

To provide a testing device and a test method capable of testing various semiconductor integrated circuit having different characteristics, and coping with diversification of an analog characteristic test by fulfillment of generation function of DAC data or the like.例文帳に追加

特性の異なる種々の半導体集積回路の試験を可能にすると共に、ＤＡＣデータの発生機能の充実化を図るなど、アナログ特性試験の多様化に対応できる試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a technique as to a test for a semiconductor device, capable of reducing lot switching work to enhance an operation rate of a semiconductor testing device, when testing the semiconductor devices of small lot multi-product.例文帳に追加

少量多品種の半導体デバイスを試験する場合、ロットの切り替え作業を削減して、半導体デバイス試験装置の稼働率を向上を可能とする半導体デバイスの試験に関する技術を提供することを課題とする。 - 特許庁

SOFTWARE TESTING SYSTEM AND SOFTWARE TESTING METHOD, AND COMPUTER-READABLE PROGRAM RECORDING MEDIUM WITH PROGRAM FOR REALIZING THE SAME METHOD BY COMPUTER RECORDED THEREON, AND PROGRAM FOR REALIZING THE SAME METHOD BY COMPUTER例文帳に追加

ソフトウェア試験システム及びソフトウェア試験方法及びソフトウェア試験方法を計算機で実現するためのプログラムを記録した計算機で読み取り可能なプログラム記録媒体及びソフトウェア試験方法を計算機で実現するためのプログラム - 特許庁

To provide a joint testing body and a joint inspection method using the same, which allow highly accurate testing of the performance of a structure obtained by joining a lead cylindrical body with flanges made of steel, which is used as a seismic isolation damper.例文帳に追加

建物の免震ダンパとして使用される鉛円柱体と鋼材からなるフランジとの接合部の性能試験を、高い精度で行うことができる接合部試験体及びそれを用いた接合部検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device for an electrically-driven actuator for a valve opening/closing and a test method for the electrically-driven actuator for the valve opening/closing capable of performing various tests for maintenance inspection of the electrically-driven actuator by one testing device.例文帳に追加

弁開閉用電動アクチュエータの保守点検のための種々の試験を一台の試験装置で行うことができる弁開閉用電動アクチュエータの試験装置及び弁開閉用電動アクチュエータの試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing the melting of a welding wire, capable of directly measuring and evaluating the physical properties of the molten droplet of the welding wire, by melting the welding wire to form the molten droplet, and an apparatus for testing the melting of the welding wire.例文帳に追加

溶接ワイヤの溶滴の物性の測定評価を、溶接ワイヤを溶滴とすることで、直接行うことができる溶接ワイヤの溶解試験方法および溶接ワイヤの溶解試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

Between corresponding control terminals CON and between address terminals ADDR of a testing equipment 2 and a flash memory 1 are connected to each other and the input/output terminals IO 1 to 7 of the testing equipment 2 are connected to data terminals DQ 1 to 7 of the flash memory 1.例文帳に追加

試験装置２とフラッシュメモリ１の対応する制御端子ＣＯＮ間及びアドレス端子ＡＤＤＲ間を接続し、この試験装置２の入出力端子ＩＯ１〜７をフラッシュメモリ１のデータ端子ＤＱ１〜７に接続する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device allowing a test in a relation where generation of a test pattern is synchronized with operation of each receiving unit in the set and change of the operating condition of the hard resource possessed by the semiconductor testing device to be executed.例文帳に追加

半導体試験装置が備えるハード資源（ハードリソース）の動作条件を設定変更するときに、試験パターンの発生と各受信ユニットとの動作を同期した関係で試験実施可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To perform underwater testing with a small volume testing box provided with a means for surely removing clogging at defects without diving, even when clogging at penetration defects of such as underwater parent material and welded part.例文帳に追加

水中の内張りの母材および溶接部などの貫通欠陥が目詰まりしていても、作業員が潜水することなく、欠陥の目詰まりを確実に除去する手段を備えた内容積の小さい検査箱で水中検査を実施する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus and a semiconductor testing method capable of bringing all measurement terminals into contact with the terminal of a semiconductor device with a uniform contact pressure and capable of achieving reliable contact.例文帳に追加

本発明は、全ての測定端子を均一な接触圧で半導体装置の端子に接触させることができ、確実なコンタクトをとることのできる半導体試験装置及び半導体試験方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide an information acquiring method and device for quickly and precisely testing identification information by satisfactorily evading radio waves from a transmitter mounted on an adjacent vehicle at the time of testing identification information.例文帳に追加

識別情報を検査するときに、隣接する車両に搭載されている送信装置からの電波を良好に回避し、短時間で精度良く識別情報を検査できる情報取得方法及び情報取得装置を得る。 - 特許庁

When testing the IC card program, the IC card test device 1 successively interprets statements included in the designated test script, and makes an emulator 2 execute the interpreted processing for testing the IC card program stored in the emulator 2.例文帳に追加

ＩＣカードプログラムをテストするとき、ＩＣカードテスト装置１は、指定されたテストスクリプトに含まれるステートメントを逐次解釈し、解釈した処理をエミュレータ２に実行させることで、エミュレータ２に記憶されたＩＣカードプログラムをテストする。 - 特許庁

To provide a tire testing apparatus capable of testing a sample tire efficiently in a shorter period of time in evaluating various performance features of the tire by pressing the tread surface of the sample tire against the external surfaces of rotating drums driven to rotate.例文帳に追加

供試タイヤのトレッド表面を、回転駆動される回転ドラムの外表面に押圧して、タイヤの諸性能を評価するに当り、より短い時間で効率的に試験を行うことができるタイヤ試験装置を提供する。 - 特許庁

The durability testing apparatus for the vehicle seat and the seat attachment for testing durability of the movable part and its associated part of the vehicle seat has an unlocking mechanism 21 for releasing the seat 61 from a locked state.例文帳に追加

車両用のシートの可動部及びその関連部分の耐久性を試験するための車両用シート及びシート取付部の耐久試験装置において、シート６１をロック状態から解除するためのロック解除機構２１を設ける。 - 特許庁

To provide a testing device using interactive communication, enabling simultaneous control of a plurality of testing devices from an interactive communication system in which the plurality of devices can participate, and an auxiliary device therefor.例文帳に追加

双方向通信を利用した試験用装置とその補助装置に関し、特に複数参加可能な双方向通信システムから、複数の装置に対して同時制御可能とする試験用装置及びその補助装置を提供する。 - 特許庁

(2) In regard to application of the Penal Code (Act No. 45 of 1907) and other penal provisions to the officers and employees (including examiners) of the designated testing agency who conduct the testing procedures, the same shall be deemed as the officers engaged in public service by laws and regulations. 例文帳に追加

２　試験事務に従事する指定試験機関の役員及び職員（試験員を含む。）は、刑法（明治四十年法律第四十五号）その他の罰則の適用については、法令により公務に従事する職員とみなす。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

(2) In the event that the Minister of Land, Infrastructure, Transport and Tourism has decided to execute the testing procedures in accordance with the provisions in the preceding paragraph or not to execute the testing procedures in accordance with the provisions in the same paragraph, the Minister of Land, Infrastructure, Transport and Tourism shall announce the same to the public in advance. 例文帳に追加

２　国土交通大臣は、前項の規定により試験事務を行うこととし、又は同項の規定により行っている試験事務を行わないこととするときは、あらかじめ、その旨を公示しなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

i. Components designed for use in controlling the vibration test equipment falling under 1 and that use a program for vibration testing and digitally control vibration testing in real time in a bandwidth exceeding 5 kilohertz 例文帳に追加

１　（一）に該当する振動試験装置の制御に使用するように設計した部分品であって、振動試験用のプログラムを用いたものであり、かつ、五キロヘルツを超える帯域幅で実時間での振動試験をデジタル制御するもの - 日本法令外国語訳データベースシステム

Article 24 (1) A person who receives Testing of Organisms must pay a fee to the government (or, when a Registered Inspection Body undertakes Testing of Organisms, the Registered Inspection Body) to the amount stipulated by Cabinet Order, which takes account of the actual cost incurred. 例文帳に追加

第二十四条　生物検査を受けようとする者は、実費を勘案して政令で定める額の手数料を国（登録検査機関が生物検査を行う場合にあっては、登録検査機関）に納めなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

Processing of diagnosing equipment to be diagnosed with a remote testing device connectable to the diagnosed equipment via a communication network diagnoses by exchanging diagnostic information between the remote testing device and the diagnosed equipment.例文帳に追加

通信ネットワークを介して被診断機器に接続可能な遠隔試験装置によって被診断機器を診断する処理において、遠隔試験装置と被診断機器との間で診断情報を交換することにより診断を行う。 - 特許庁

To provide a testing device for semiconductor device capable of maintaining the temperature of a probe card with a simple structure via a probe needle during a lot standby and preventing the probe needle from being easily damaged at that time, and to provide a testing method of semiconductor device.例文帳に追加

簡単な構造でロット待機中にプローブ針を介してプローブカードの温度を保持することができ、そのときプローブ針を損傷しにくい、半導体素子の試験装置および半導体素子の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a drip-testing method which can surely and clearly grasp a galvanizing condition for restraining the development of galvanized drip in an arbitary galvanized product to the minimum before galvanizing operation, and a test piece used for this testing.例文帳に追加

任意のめっき品のめっきタレの発生を最小限に抑制するめっき条件をめっき操業前に正確にかつ明瞭に把握することができるめっきタレ試験方法、およびそれに用いる試験片を提供する。 - 特許庁

To provide a portable telephone set terminal that can mount an external connection port for evaluating and testing an acoustic signal of the portable telephone set terminal with a more efficient method and to provide a peripheral circuit for acoustically testing the mobile phone terminal.例文帳に追加

携帯電話機端末の音響評価試験用の外部接続ポートをより効率的な方法で搭載可能とした携帯電話機端末、およびその携帯電話機端末の音響試験用周辺回路を実現する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw detector, capable of specifying an exact position of an ultrasonic testing section in relation to an object to be tested, when scanning the ultrasonic testing section on the surface of a suspected body on which the object to be tested is disposed.例文帳に追加

検査対象物が配された被検体の表面上で超音波探傷部を走査する際、検査対象物に対する超音波探傷部の正確な位置を特定することができる超音波探傷装置を提供すること。 - 特許庁

An environmental testing device 1 includes a case 12 having an air-conditioned chamber 25 with a temperature and humidity regulating means housed, and a cover 15 comprising a testing chamber 14 with the object 9 to be tested adjacent to the air-conditioned chamber 25 housed.例文帳に追加

環境試験装置１は、温湿度調整手段が収容された空調室２５を有する筐体１２と、空調室２５に隣接した被試験体９を収容する試験室１４を構成するカバー１５とを含んでいる。 - 特許庁

To provide a testing technology of a semiconductor device, which restricts the overhead of an area to a minimum and can make a signal propagate in parallel to testing by a method, wherein the signal is bypassed by utilizing an existent data path in an IP core.例文帳に追加

ＩＰコア内の既存のデータパスを利用して信号をバイパスさせることで、面積のオーバーヘッドを最小限に抑えながら、パラレルに信号を伝播させてテストを行うことができる半導体装置のテスト技術を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method for the installation of an overcurrent alarm device, which enables simple testing without need for any electrical equipment specially prepared only for checking operation or any burdensome work, such as looking for an outlet.例文帳に追加

動作確認の試験のためだけにわざわざ電気機器を用意したり、コンセントを探す等の煩雑な作業を必要とすることがなく、簡単に試験をすることができる過電流警報装置の設置試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a concrete strength testing sample piece manufacturing mold and a concrete strength testing sample piece manufacturing method capable of improving smoothness of the upper surface of a sample piece, and collimating the hitting surface and the bottom surface each other.例文帳に追加

供試体の上面の平滑性を良好にすると共に、打設面と底面とが平行にすることができるコンクリート強度試験用供試体作製型及びコンクリート強度試験用供試体の作製方法を提供する。 - 特許庁

To generate a testing data, irrespective of any of a synchronized input and output for an inspection-objective LSI and a nonsynchronized input and output therefor, in an LSI inspection module for generating the testing data for inspecting an LSI.例文帳に追加

ＬＳＩ検査のためのテスト用データを生成するＬＳＩ検査モジュールにおいて、検査対象ＬＳＩの入出力が同期入出力であるか、非同期入出力に係わらず、テスト用データを生成できるようにする。 - 特許庁

To solve the problem that a capacity of a battery is reduced, a change to backup power supply is delayed when a power failure occurs during lifetime determination testing, and the reliability of power supply back up is deteriorated, since the lifetime determination testing is performed for every constant period of time.例文帳に追加

一定時間毎に寿命判定試験を行うため、バッテリー容量が減少し、寿命判定試験中に停電が発生するとバックアップ電源への切り替えが遅れ、電源バックアップの信頼性が低下する。 - 特許庁

To provide a degrading acceleration testing device and a degrading acceleration testing method for photoreceptors for electronic photography that allow control, as desired, of a voltage applied to an electrifying means and the concentration of a discharge product independently of each other in a degrading test.例文帳に追加

劣化試験時の帯電手段への印加電圧と放電生成物の濃度とを独立して任意に制御することが可能な電子写真用感光体の劣化加速試験装置及び劣化加速試験方法を提供する。 - 特許庁

The second spring part 56 generates a load pressing a spring lower part 36 onto the board side 48 of an apparatus testing device, to thereby enable superior electrical contact, by pressing the housing and the board of the apparatus testing device onto the board with a constant load at all times.例文帳に追加

第二バネ部５６は、機器試験装置のボード側４８にスプリング下部３６を押し付ける荷重を発生させ、ハウジングと機器試験装置のボードとを常に一定の荷重でボードに押し付け良好な電気的接触が可能となる。 - 特許庁