「X-ray fluoroscopic inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide an X-ray inspection device capable of not only displaying an X-ray fluoroscopic image excellent in rapidity but also acquiring position information in the depth direction (fluoroscopic direction) of an attention point.例文帳に追加

迅速性に優れたＸ線透視像を表示する検査装置でありながら、注目点の深さ方向（透視方向）への位置情報を得ることのできるＸ線検査装置を提供する。 - 特許庁

To make an X-ray diagnostic device able to perform both fluoroscopic inspection and computer tomography inspection.例文帳に追加

Ｘ線診断装置を、透視検査もコンピュータ断層撮影検査も実施することができるように形成する。 - 特許庁

To provide an X-ray fluoroscopic inspection apparatus of a variable viewing angle, small in fluctuation of image lightness while keeping an inspection magnification ratio with a simple mechanism and control.例文帳に追加

簡単な機構と制御で検査倍率を保ち、画像の明るさ変化の少ない透視角度可変のＸ線透視検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an X-ray tube control method and an X-ray fluoroscopic inspection device obtaining an optimum transmission image by feeding back the transmission image of a specimen and automatically setting an X-ray condition.例文帳に追加

本発明は、被検体の透過像をフィードバックして自動的にＸ線条件設定を行ない、最適透過像を得るＸ線管制御方法およびＸ線透視検査装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a remote X-ray fluoroscopic device, capable of detecting back-scattered X-rays with high S/N ratio from a position separated from an inspection target and capable of performing the fluoroscopic inspection of the inspection target, without approaching the inspection target, and to provide a method therefor.例文帳に追加

被検査物から離れた位置から高いＳ／Ｎ比で後方散乱Ｘ線を検出することができ、これにより被検査物に接近することなく被検査物を透視検査することができる遠隔Ｘ線透視装置および方法を提供する。 - 特許庁

To provide an X-ray inspection device capable of easily confirming the position on an appearance image corresponding to a fluoroscopic image of animation display.例文帳に追加

動画表示の透視Ｘ線画像に対応する外観画像上の位置の確認が容易に行えるＸ線検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide simple X-ray equipment, capable of acquiring clear fluoroscopic images, even by a comparatively low voltage, when conducting fluoroscopy of an object of inspection.例文帳に追加

被検査物の透視検査を行なう際に、比較的低い電圧でも明瞭な透視画像を得られる簡易Ｘ線装置の提供。 - 特許庁

To provide x-ray fluoroscopic imaging table by which inspection in diagonal direction to the body axis is performed by minimizing x-ray variable aperture without sharing load on the patient on the table.例文帳に追加

天板上の被検者に負担をかけずに、最小限にＸ線用可動絞りを絞り込んで、体軸に対して直交方向の検査を行うことができるＸ線透視撮影台を提供する。 - 特許庁

To provide an X-ray inspection device capable of accurately calculating the position in an X-ray optical axis direction of a noticeable region to calculate the accurate value of a fluoroscopic magnification ratio.例文帳に追加

注目部位のＸ線光軸方向の位置を正確に求め、透視拡大率の正確な値を求めることができるＸ線検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an X-ray diagnostic apparatus suitable for efficiently performing an inspection and a treatment by quickly positioning a support device and a patient table for supporting an imaging system composed of an X-ray tube apparatus and an X-ray image receiving apparatus in a fluoroscopic photographing part of a patient.例文帳に追加

Ｘ線管装置とＸ線受像装置から成る撮像系を支持する支持装置及び患者テーブルを該患者の透視、撮影部位に素早く位置決めして、検査や治療を効率良く行うに好適なＸ線診断装置を提供する。 - 特許庁

To provide an X-ray inspection apparatus, capable of obtaining clearly a fluoroscopic image over a wide range direction for an inspection subject, such as an IC device having the tendency of further miniaturization, other devices, and contributing to miniaturization of the device.例文帳に追加

益々微細化の傾向にあるＩＣデバイスやその他のデバイスなどの被検査対象物に対して広範囲な方向の透視画像を鮮明に得ることができ、しかも装置の小型化にも寄与するＸ線検査装置を提供すること。 - 特許庁

A kind of the wafer W is automatically recognized based on X-ray fluoroscopic information of the semiconductor wafer W conveyed on a sample table 3, a map of a position to be inspected such as the each semiconductor bump is automatically prepared based on the same fluoroscopic information, and the sample table 3 is automatically moved based on the map to conduct fluoroscopic inspection.例文帳に追加

試料テーブル３上に搬送された半導体ウエハＷのＸ線透過情報から、そのウエハＷの種類を自動的に認識し、同じくそのＸ線透過情報から各半導体バンプなどの検査すべき位置のマップを自動的に作成し、そのマップに基づいて試料テーブル３を自動的に移動させて透視検査を行う。 - 特許庁

To provide an X-ray inspection apparatus capable of grasping the position of an inspecting object where an X-ray fluoroscopic image is photographed, even if many members having the same shape such as many solder balls in a BGA package are lined up on the inspecting objects, with less labor and time required for making a master image or the like.例文帳に追加

マスター画像等を作成するような手間をかけさせず、ＢＧＡパッケージの多数のハンダボールのように被測定物に同一形状の部材が多数個並んでいても、透視Ｘ線像が撮影されている被測定物の位置を把握させることができるＸ線検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a fluoroscopic radiographic apparatus capable of positioning or rotation of a sample stage or the tilting operation of an X-ray camera more simply compared with a conventional apparatus, and improving the work efficiency of a nondestructive inspection of a sample or the like.例文帳に追加

試料ステージの位置決めや回動、あるいはＸ線カメラの傾動操作を、従来の装置に比してより簡単に行うことができ、試料の非破壊検査等の作業効率を向上させることのできるＸ線透視撮影装置を提供する。 - 特許庁