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electronic component testingの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 109件
Customers include electronic component makers, circuit board set makers, public testing institutions, and private sector research institutions. For the past three years the company has been making an effort to expand its market by maintaining sales agents in Korea and Taiwan.例文帳に追加
販売先は、デバイスメーカー、基盤セットメーカー、公的試験機関、民間研究機関などであり、3年前からは韓国や台湾にも販売代理店を持ち販路拡大に努めている。 - 経済産業省
To shorten a temperature rise and fall time of a tested object by efficiently creating a low temperature and high temperature state, in a tank of an electronic component temperature testing device that uses Peltier elements.例文帳に追加
ペルチェ素子を用いた電子部品の温度試験装置において、低温および高温の槽内状態を効率よく作り出すことにより、被試験物の温度上昇、下降時間を短縮する。 - 特許庁
To reduce the cost and to improve the reliability with regard to a test socket for testing an mounted electronic component, its manufacturing method and the semiconductor device using the socket.例文帳に追加
本発明は電子部品を装着してテストを行なうテスト用ソケット及びその製造方法及びこれを用いた半導体装置に関し、低コスト化及び信頼性の向上を図ることを課題とする。 - 特許庁
To provide a power clip and a testing device enabled to surely perform an power feed and discharge and signal detection at one time without giving damage to electrodes of electronic component as a body to be tested.例文帳に追加
被試験体としての電子部品の電極に傷をつけることなく、又、複数個の電子部品の給放電、信号検出を同時に確実に行うことができる通電用クリップと試験装置を提供すること。 - 特許庁
To provide a locking device which prevents damage on itself, an opening/closing portion or a casing body of an electronic-component testing apparatus, and which enables the opening/closing portion to be kept opened at an optional angle.例文帳に追加
ロック装置自体や開閉部或いは電子部品試験装置の筐体本体が損傷することなく、しかも開閉部を任意の角度で開いた状態を維持することが可能なロック装置を提供する。 - 特許庁
To provide a new airtightness testing method, capable of inspecting fine leaks and gross leaks of an electronic component sealed airtightly in a shorter time than hitherto, showing a high leak detection capability, coping with miniaturization of the electronic component, and surely detecting the leak, without omission over a wide range, and an in-line airtightness test device for realizing the method.例文帳に追加
気密封止された電子部品のファインリーク及びグロスリークを従来よりも短時間で検査し、電子部品の小型化に対応して高いリーク検出能力を発揮し、広い範囲に亘って確実にかつ漏れなくリークを検出し得る新規な気密試験方法、及びそれを実現するインライン化された気密試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a testing and evaluating method of an electronic part capable of shortening the period required in a heat shock test, capable of simply performing work for confirming the deteriorated state of the jointing part of an electronic component, after the heat shock test in a short time and is capable of simply and precisely evaluating the deteriorated state.例文帳に追加
熱衝撃試験に要する期間を短縮することができ、また、熱衝撃試験後の電子部品の接合部の劣化状態を確認する作業を短時間でかつ簡単に行うことができ、しかも劣化状態を簡易に、精度良く評価することのできる電子部品の試験評価方法を提供すること。 - 特許庁
An electronic component testing device 1, which performs a test pressing an IC terminal against a contact part 51 of a test head 5, comprises a temperature operation means 501 which calculates an actual temperature of the IC based on a signal from a temperature sensor 2D provided in the IC.例文帳に追加
ＩＣの端子をテストヘッド５のコンタクト部５１へ押し付けてテストを行う電子部品試験装置１であり、ＩＣに設けられた温度感応素子２Ｄからの信号に基づいて、当該ＩＣの実際の温度を演算する温度演算手段５０１を有する。 - 特許庁
The base material of this chip type electronic component storage mount is multi-layer paper structured, and pulp after the defibrination of the base material has a fiber length distribution factor 1.20-3.20 or less obtained by a pulp fiber length testing method using optical automated metrology specified by Japan Technical Association of the Pulp and Paper Industry No.52.例文帳に追加
チップ型電子部品収納台紙用紙基材が、多紙層構造を有し、この基材の離解後のパルプが、ＪＡＰＡＮ ＴＡＰＰＩ Ｎｏ．５２で規定されている光学的自動計測法でのパルプ繊維長試験方法により求められる繊維長分布係数が、１．２０〜３．２０以下である。 - 特許庁
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