「focused ion-beam」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS AND FOCUSED ION BEAM APPARATUS例文帳に追加

荷電粒子線装置及び集束イオンビーム装置 - 特許庁

PREPARING METHOD OF DATA FOR FOCUSED ION BEAM MACHINING, AND FOCUSED ION BEAM MACHINING DEVICE AND METHOD例文帳に追加

集束イオンビーム加工用データの作成方法、集束イオンビーム加工装置および加工方法 - 特許庁

FOCUSED ION BEAM DEVICE AND FOCUSED ION BEAM MACHINING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

フォーカストイオンビーム装置及びそれを利用したフォーカストイオンビーム加工方法 - 特許庁

SMALL HIGH ENERGY FOCUSED ION BEAM DEVICE例文帳に追加

小型高エネルギー集束イオンビーム装置 - 特許庁

APERTURE AND FOCUSED ION BEAM DEVICE例文帳に追加

アパーチャおよび集束イオンビーム装置 - 特許庁

TESTPIECE COOLING SYSTEM OF FOCUSED ION BEAM APPARATUS例文帳に追加

集束イオンビーム装置の試片冷却システム - 特許庁

SAMPLE PROCESSING METHOD AND APPARATUS USING FOCUSED ION BEAM例文帳に追加

集束イオンビームによる試料加工方法及び装置 - 特許庁

FOCUSED ION-BEAM MASS SPECTROMETER AND ANALYSIS METHOD THEREOF例文帳に追加

集束イオンビーム質量分析装置および分析方法 - 特許庁

SAMPLE HOLDER FOR FOCUSED ION BEAM MACHINING OBSERVATION DEVICE例文帳に追加

集束イオンビーム加工観察装置用試料ホールダ - 特許庁

METHOD OF MACHINING WORK PIECE WITH FOCUSED ION BEAM例文帳に追加

集束イオンビームによる加工片の加工方法 - 特許庁

FOCUSED ION BEAM DEVICE AND SPECIMEN MACHINING METHOD例文帳に追加

集束イオンビーム装置及び試料の加工方法 - 特許庁

GAS INTRODUCING DEVICE FOR FOCUSED ION BEAM例文帳に追加

集束イオンビーム用ガス導入装置 - 特許庁

FOCUSED ION BEAM WORKING APPARATUS WITH WORKING DEPTH MEASURING FUNCTION例文帳に追加

加工深さ計測機能付集束イオンビーム加工装置 - 特許庁

FOCUSED ION BEAM APPARATUS AND LENS DIAPHRAGM USED IN IT例文帳に追加

集束イオンビーム装置、及びそれに用いる絞り - 特許庁

ABERRATION CORRECTING FOCUSED ION BEAM DEVICE例文帳に追加

収差補正集束イオンビーム装置 - 特許庁

SAMPLE PROCESSING METHOD WITH FOCUSED ION BEAM例文帳に追加

集束イオンビームによる試料の加工方法 - 特許庁

FOCUSED ION BEAM PROCESSING METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

集束イオンビーム加工方法及び装置 - 特許庁

REFERENCE SAMPLE FOR FOCUSED ION BEAM DEVICE例文帳に追加

集束イオンビーム装置用標準試料 - 特許庁

LENS-PROTECTING APERTURE FOR FOCUSED ION-BEAM APPARATUS例文帳に追加

集束イオンビーム装置のレンズ保護用絞り - 特許庁

FOCUSED ION BEAM DEVICE, AND DEVICE FOR CONTROLLING THE SAME例文帳に追加

集束イオンビーム装置及びその制御装置 - 特許庁

WORKING POSITION CORRECTING DEVICE FOR FOCUSED ION BEAM WORKING DEVICE例文帳に追加

集束イオンビーム加工装置の加工位置補正装置 - 特許庁

To easily identify places in backside focused ion beam (FIB) processing.例文帳に追加

裏面ＦＩＢ加工における場所特定を容易にする。 - 特許庁

To provide a focused ion beam device capable of thinly focusing a beam diameter and changing an ion beam current in a wide range.例文帳に追加

ビーム径を細く絞ることができ、しかも、イオンビーム電流を広い範囲にわたって変える。 - 特許庁

POSITIONING OF NEUTRALIZING ENERGY BEAM AND FOCUSED ION BEAM APPARATUS例文帳に追加

中和用エネルギー線の位置合わせ方法および集束イオンビーム装置 - 特許庁

To realize a focused ion beam device which can visually detect a drift of an ion beam in an early stage.例文帳に追加

イオンビームのドリフトを早期に視覚的に検出可能な集束イオンビーム装置の実現する。 - 特許庁

MINUTE PART ANALYZER USING FOCUSED ION BEAM AND MINUTE PART ANALYSIS METHOD USING FOCUSED ION BEAM例文帳に追加

集束イオンビームを用いる微細部位解析装置および集束イオンビームを用いる微細部位解析方法 - 特許庁

FOCUSED ION BEAM DEVICE, SAMPLE PROCESSING METHOD USING THE SAME, AND COMPUTER PROGRAM FOR FOCUSED ION BEAM PROCESSING例文帳に追加

集束イオンビーム装置、それを用いた試料の加工方法、及び集束イオンビーム加工用コンピュータプログラム - 特許庁

A specimen was milled by the focused ion beam method. 例文帳に追加

試料は集束イオンビーム法によって平削り(ミリング)された。 - 科学技術論文動詞集

PROBE FOR SCANNING MICROSCOPE BY FOCUSED ION BEAM PROCESSING例文帳に追加

集束イオンビーム加工による走査型顕微鏡用プローブ - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING CARBON NANOTUBE USING FOCUSED ION BEAM例文帳に追加

集束イオンビームを利用した炭素ナノチューブの製造方法 - 特許庁

METHOD OF OBSERVING SECONDARY CHARGED PARTICLE IMAGE ON FOCUSED ION BEAM APPARATUS例文帳に追加

集束イオンビーム装置による二次荷電粒子像の観察方法 - 特許庁

FOCUSED ION BEAM DEVICE ENABLING OBSERVATION AND MACHINING OF LARGE SAMPLE例文帳に追加

大きな試料の観察・加工を可能とする集束イオンビーム装置 - 特許庁

FOCUSED ION BEAM DEVICE, AND PROCESSING METHOD OF SAMPLE USING THE SAME例文帳に追加

集束イオンビーム装置、及びそれを用いた試料の加工方法 - 特許庁

OBSERVATION AND WORKING METHOD BY FOCUSED ION BEAM AND ITS DEVICE例文帳に追加

集束イオンビームによる観察・加工方法およびその装置 - 特許庁

FOCUSED ION BEAM PROCESSING DEVICE AND SAMPLE BASE USED FOR IT例文帳に追加

集束イオンビーム加工装置及びそれに用いる試料台 - 特許庁

FOCUSED ION BEAM DEVICE HAVING EXHAUST PIPE IN CHAMBER例文帳に追加

チャンバー内に排気管を備えた集束イオンビーム装置。 - 特許庁

SPECIMEN TABLE FOR FOCUSED ION BEAM MACHINING UNIT AND SPECIMEN FIXING METHOD例文帳に追加

集束イオンビーム加工装置用試料台および試料固定方法 - 特許庁

FOCUSED ION BEAM DEVICE AND METHOD OF WORKING USING THE SAME例文帳に追加

集束イオンビーム装置およびそれを用いた加工方法 - 特許庁

MACHINING METHOD OF FIXED DIAPHRAGM OF FOCUSED ION BEAM MACHINING MONITORING DEVICE例文帳に追加

集束イオンビーム加工観察装置の固定絞りの加工方法 - 特許庁

FOCUSED ION BEAM DEVICE AND METHOD OF PROCESSING AND OBSERVING TEST PIECE例文帳に追加

集束イオンビーム装置及び試料の加工・観察方法 - 特許庁

To accurately align irradiating positions of a neutralizing energy beam 25a and an ion beam 39, in a focused ion beam apparatus.例文帳に追加

集束イオンビーム装置の、中和用エネルギー線２５ａおよびイオンビーム３９の照射位置同士を精度良く合わせる。 - 特許庁

To provide a high-resolution inclined sample image by ion beam inclination in a focused ion beam device.例文帳に追加

集束イオンビーム装置においてイオンビーム傾斜による高分解能試料傾斜像をえるようにする。 - 特許庁

To provide a focused ion beam device which exhibits high throughput of sample processing by increasing the amount of ion beam used for irradiating a sample.例文帳に追加

試料に照射するイオンビーム電流量を増大させ、試料加工のスループットが高い集束イオンビーム装置を提供すること。 - 特許庁

The focused ion beam device comprises the ion source 2, focusing lens 4 to finely focus the ion beam generated from the ion source 2 on the material 3 to be processed, a deflector 5 for secondary scanning on the sample by means of the ion beam and so forth.例文帳に追加

イオン源２、イオン源２から発生したイオンビームを被加工材料３上に細く集束するための集束レンズ４、及び、イオンビームにより被加工材料３上を二次元的に走査するための偏向器５等を備える。 - 特許庁

Typically, the accelerating voltage used in focused ion beam (FIB) systems ranges from 5 to 30 keV. 例文帳に追加

典型的には、集束イオンビーム(FIB)システムで使われる加速電圧は5〜30keVにわたる。 - 科学技術論文動詞集