「inline object」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

Normally, local copies of certain information (backup copies of inline member functions, debugging information, and the internal tables that implement virtual functions) must be kept in each object file that includes class definitions. 例文帳に追加

通常は、特定の情報 (インラインメンバ関数のバックアップコピー、デバッグ情報、仮想関数実現のための内部テーブル) の複製がそのクラス定義をインクルードしたそれぞれのオブジェクトファイル中に置かれます。 - JM

To provide an inline development method for executing one-time virtual function table pointer setting to one object, when generation of a class- type temporary object having a virtual function as a member function for formula evaluation in language specification in a loop is required.例文帳に追加

ループ中で、言語仕様上、式評価のために仮想関数をメンバ関数としてもつクラス型の一時オブジェクトを生成する必要がある場合に、１つのオブジェクトに対して１回の仮想関数テーブルポインタ設定となるようなインライン展開方法を提供する。 - 特許庁

To provide a grinding burn detection device and a grinding burn detection method capable of executing inline total inspection of grinding burn without requiring breakage of a measuring object component or the like, and miniaturizing a head part in comparison with a method utilizing an ultrasonic wave.例文帳に追加

測定対象となる部品を破壊等する必要がなくインラインで研削焼けの全数検査を実施することができ、さらに超音波を利用した方法と比較してヘッド部の小型化を図ることができる研削焼け検出装置および研削焼け検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide an X-ray fluorescence analytical device enabling fluctuation of a focal position of an irradiation X-ray (primary X-ray) to agree with fluctuation of the surface position of an irradiation object, in order to monitor the metal element concentration in various liquids, the composition or thickness of a membrane or the like by an inline process.例文帳に追加

各種液体中の金属元素濃度、薄膜の組成若しくは膜厚等を、インラインプロセスにてモニタするために、被照射物の表面位置の変動に合わせた照射Ｘ線（１次Ｘ線）の焦点位置の変動を可能とする蛍光Ｘ線分析装置を実現する。 - 特許庁

An inspection device constituted as an inline device for a substrate processing system includes a conveyance unit for conveying a substrate as the inspection object at substantially constant conveyance speed, a line camera 21 for imaging the substrate under conveyance, an imaging control part 300, and an image processing part 301.例文帳に追加

基板処理システムのインライン装置として構成される検査装置に、検査対象物としての基板を実質的に一定の搬送速度で搬送する搬送ユニットと、搬送中の基板を撮像するラインカメラ２１と、撮像制御部３００と、画像処理部３０１とを設ける。 - 特許庁