「same test」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

EVALUATION TEST DEVICE FOR CELL FOR FUEL BATTERY, AND EVALUATION TEST CELL USED IN SAME例文帳に追加

燃料電池用セルの評価試験装置及びこれに用いる評価試験セル - 特許庁

Create output.txt in the C:/test folder with the same content as input.txt, in this case, the string Hello World!. 例文帳に追加

C:/test フォルダに、input.txt と同じ内容の output.txt を作成します。 この場合、文字列「Hello World!」です。 - NetBeans

You run a test suite the same way you run any individual test class. 例文帳に追加

テストスイートは、個々のテストクラスを実行する場合と同じ方法で実行します。 - NetBeans

METHOD FOR THREE-POINT BENDING TEST FOR SHEET-TYPE TEST PIECE AND APPARATUS USED FOR THE SAME例文帳に追加

シート状試験片の３点曲げ試験方法およびそれに使用する装置 - 特許庁

The same process is repeated to a test pattern set of merged test patterns.例文帳に追加

テストパタンの併合されたテストパタンセットに対しても、同様の処理を繰り返す。 - 特許庁

DATA PROCESSOR AND TEST METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

データ処理装置及びデータ処理装置のテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND SELF-TEST METHOD OF THE SAME例文帳に追加

半導体記憶装置及びその自己テスト方法 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT INCORPORATING MEMORY AND TEST METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

メモリ搭載集積回路およびそのテスト方法 - 特許庁

DETERIORATION ACCELERATING TEST METHOD OF COATING, AND DEVICE FOR SAME例文帳に追加

塗装の劣化促進試験方法及びその装置 - 特許庁

MULTIPLE COAGULATION TEST CARTRIDGE AND METHOD OF USING THE SAME例文帳に追加

マルチ凝血試験カートリッジ及びその使用方法 - 特許庁

ELECTRIC TEST-USE CONTACTOR AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

電気試験用接触子及びその製造方法 - 特許庁

LATCH CIRCUIT AND TEST CIRCUIT USING THE SAME例文帳に追加

ラッチ回路およびラッチ回路を利用した試験回路 - 特許庁

The same identifier is assigned for the test result of first test execution and the test result of second test execution to each device.例文帳に追加

デバイス各々は、第１のテスト実行のテスト結果および第２のテスト実行のテスト結果に対して同一の識別子を割り当てられる。 - 特許庁

The same identifier is assigned for the test result of first test execution and the test result of second test execution to each device.例文帳に追加

各デバイスには、第１のテスト実行のテスト結果および第２のテスト実行のテスト結果に対して同一の識別子が割り当てられる。 - 特許庁

TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR MEMORY USING THE SAME例文帳に追加

試験回路及びそれを用いた半導体記憶装置 - 特許庁

EVALUATION TEST METHOD OF DETERIORATED STORAGE BATTERY AND DEVICE FOR THE SAME例文帳に追加

劣化蓄電池の評価試験方法と、その装置 - 特許庁

CONDUCTIVE CONTACT PIN AND TEST HEAD USING THE SAME例文帳に追加

導電接触ピンおよびこのピンを用いたテストヘッド - 特許庁

SCALABILITY TEST SYSTEM AND PROGRAM TO BE USED FOR THE SAME例文帳に追加

スケーラビリティテストシステム及びそれに用いられるプログラム - 特許庁

TEST PRINT AND SHADING CORRECTION METHOD USING THE SAME例文帳に追加

テストプリントおよびこれを用いたシェーディング補正方法 - 特許庁

TEST APPARATUS AND VEHICLE PRODUCED USING SAME例文帳に追加

試験装置およびそれを用いて生産された車両 - 特許庁

PACKAGE FOR ELECTRONIC COMPONENT AND AIRTIGHTNESS TEST METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

電子部品用パッケージ及びその気密試験方法 - 特許庁

COMPUTER SYSTEM AND TEST AND DIAGNOSTIC METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

コンピュータシステム、及び、コンピュータシステム試験・診断方法 - 特許庁

LASER PUNCTURE DEVICE AND BLOOD TEST APPARATUS USING THE SAME例文帳に追加

レーザ穿刺装置とこれを用いた血液検査装置 - 特許庁

Just so you know, you're in the same position as the other test subjects.例文帳に追加

君だって 他の被験者と同じ立場なんだよ - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

To provide a test pattern of a semiconductor device, and to provide a test method using the same.例文帳に追加

半導体素子のテストパターン及びこれを用いたテスト方法が提供される。 - 特許庁

CONTROLLER FOR ENVIRONMENTAL TEST APPARATUS, ENVIRONMENTAL TEST APPARATUS INCLUDING THE SAME, AND DEBUGGER FOR ENVIRONMENTAL TEST APPARATUS例文帳に追加

環境試験装置用コントローラ、及びこれを有する環境試験装置、並びにこの環境試験装置用デバッガ - 特許庁

TEST MATERIAL DETECTION METHOD, TEST MATERIAL DETECTION CHIP USED FOR THE SAME AND TEST MATERIAL DETECTION DEVICE例文帳に追加

被検物質検出方法並びにそれに用いられる被検物質検出チップおよび被検物質検出装置 - 特許庁

TEST PATTERN, AND METHOD OF MONITORING DEFECT USING THE SAME例文帳に追加

テストパターン及びこれを用いる欠陥モニタリングの方法 - 特許庁

RECORD TAG FOR CONCRETE TEST PIECE AND METHOD FOR USING THE SAME例文帳に追加

コンクリート供試体記録票およびその使用方法 - 特許庁

PROBE AND MATERIAL EVALUATION TEST METHOD USING THE SAME例文帳に追加

探触子及びこれを用いた材料評価試験方法 - 特許庁

BUS LOADING TEST DEVICE AND PROCESSING SYSTEM WITH THE SAME例文帳に追加

バス負荷試験装置およびそれを備えた処理システム - 特許庁

LIGHT SOURCE EQUIPMENT AND IMAGING DEVICE TEST EQUIPMENT HAVING THE SAME例文帳に追加

光源装置とこれを有する撮像素子検査装置 - 特許庁

POWER SUPPLY APPARATUS AND SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM USING SAME例文帳に追加

電源装置およびこれを用いた半導体試験システム - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY, AND METHOD FOR SETTING TEST MODE FOR THE SAME例文帳に追加

半導体記憶装置及びそのテストモード設定方法 - 特許庁

TEST FACILITATING CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR DEVICE USING SAME例文帳に追加

テスト容易化回路およびそれを用いた半導体装置 - 特許庁

TEST EQUIPMENT FOR PLANT MONITORING CONTROL SYSTEM AND PROGRAM FOR THE SAME例文帳に追加

プラント監視制御システムのテスト装置及びそのプログラム - 特許庁

TESTING MACHINE WITH PRESSURE-RESISTANT CHAMBER AND TEST METHOD USING SAME例文帳に追加

耐圧室付き試験機とこれを使用した試験方法 - 特許庁

RFID TAG AND CONCRETE TEST PIECE HAVING THE SAME例文帳に追加

ＲＦＩＤタグ及び該タグを備えるコンクリート試験片 - 特許庁

ELECTRICAL CONNECTION DEVICE AND TEST DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

電気的接続装置及びこれを用いる試験装置 - 特許庁

PROJECTION DETECTION HEAD AND PROJECTION TEST EQUIPMENT USING THE SAME例文帳に追加

突起検出ヘッド及びそれを用いた突起検査装置 - 特許庁

I want to test using the same camera as you. 例文帳に追加

私はあなたと同じカメラを使ってテストしたいです。 - Weblio Email例文集

WIRELESS DEVICE EMULATOR AND WIRELESS TEST SYSTEM USING THE SAME例文帳に追加

無線機エミュレータおよびこれを用いた無線試験システム - 特許庁

COUPLED ANALYSIS TEST TUBE AND SEALING METHOD OF THE SAME例文帳に追加

連結した分析用試験管およびその密封方法 - 特許庁

TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT INCLUDING THE SAME例文帳に追加

テスト回路及びそれを備えた半導体集積回路 - 特許庁

Anyway, since the questions in the additional make up test are the same.例文帳に追加

≪とにかく 再追試で 出される問題は一緒だから - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書