「same test」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

To enable normal tests of LSIs and continuity tests of power source terminals and GND terminals by the same test board.例文帳に追加

ＬＳＩの通常の試験と電源端子及びＧＮＤ端子の導通試験を同一のテストボードで可能にする。 - 特許庁

The same sample and filter is simultaneously or subsequently subjected to a detection test to identify targeted organisms.例文帳に追加

同じサンプルおよびフィルターを同時にまたは連続して検出試験に付して、標的化生物を特定する。 - 特許庁

METHOD FOR REPAIRING BLADE OF DISK WITH INTEGRATED BLADE OF TURBO MACHINE AND TEST SPECIMEN FOR EXECUTING SAME例文帳に追加

ターボ機械の一体型のブレード付きディスクのブレードを補修する方法、および該方法を実行するための試験片 - 特許庁

POLYNUCLEOTIDE FOR DETECTING TEST SUBSTANCE, VECTOR CONTAINING THE SAME AND DETECTION METHOD USING THEM例文帳に追加

被検物質を検出するためのポリヌクレオチド、前記ポリヌクレオチドを含むベクターおよびそれらを用いた検出方法 - 特許庁

To alleviate time required for pattern inspection processing of a test piece for inspection, and at the same time to ensure high inspection sensitivity.例文帳に追加

検査対象試料のパターンの検査処理時間を軽減すると同時に高い検査感度を確保すること。 - 特許庁

FILTER FOR LIVING BIOLOGICAL FLUID FRACTIONATION, BIOLOGICAL FLUID PREPARATIVE ISOLATION APPARATUS, AND BIOLOGICAL FLUID REMOTE TEST METHOD USING THE SAME例文帳に追加

生体液分画用フィルタおよび生体液分取装置並びにこれを用いた生体液の遠隔検査方法 - 特許庁

To test an alarm in an interlocking manner, under the same condition as when a test switch of an alarm installed in another room is pressed, by pressing a test switch of an alarm in a room that an operator is in.例文帳に追加

操作者が現在いる部屋の警報器の試験スイッチを押下することによって、他の部屋に設置された警報器の試験スイッチを押下した場合と同じ状態で、連動試験を行えるようにすることを目的とする。 - 特許庁

Even in the case of burn-in test for which the test signal T4 becomes 'H' level, concerning a redundant row selector circuit 2, the word line selection inhibit signal RDE becomes 'L' level, a redundant cell and a normal cell are simultaneously selected and the burn-in test is performed at the same time.例文帳に追加

テスト信号T4が「H」レベルとなったバーンインテストの場合にも、冗長行選択回路2は、ワード線選択禁止信号RDEが「L」レベルとなり、冗長セルとノーマルセルとは一括して選択され、バーンインテストが同時に行われる。 - 特許庁

Thus, the test pattern photographing apparatus 10 magnifies a plurality of particular parts of the test pattern image, in this case, four corner parts of the rectangular test pattern image by using each lens and uses the imaging element 11 to photograph them in parallel at the same time.例文帳に追加

これにより、テストパターン撮影装置１０は、テストパターン画像の複数特定部分、ここでは４角形状のテストパターン画像の４隅域部を、各レンズで拡大して１つの撮像素子１１で並列して同時に撮影する。 - 特許庁

To provide a test device capable of performing a comparative treatment test under different operating conditions by the same treatment system, and dealing with a plurality of different treatment systems by a simple change in a small activated sludge test machine.例文帳に追加

小規模の活性汚泥テスト機において、同じ処理方式で運転条件が異なる比較処理テストが可能な装置であり、且つ異なる複数の処理方式に、簡単な変更で対応可能であるテスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test method of a data processor capable of executing a determination test for quality of a plurality of modules in a relatively short time, in a test method of a data processor composed by mounting a plurality of modules having the same function.例文帳に追加

同一機能を有するモジュールが複数個搭載されたデータ処理装置の試験方法において、より短時間で該複数個のモジュールの良品、不良品の判定試験が実施可能なデータ処理装置の試験方法を得ること。 - 特許庁

Though the request from the G2 test part 9 and G3 test part 10 is put in a standby state, the waiting time of a G1 test part 8 is 4CPU_-C which is the same as for its single verification and needs no adjustment.例文帳に追加

これにより、Ｇ２テスト部９、Ｇ３テスト部１０の要求は待たされることになるが、Ｇ１テスト部８の待ち時間は、単体検証時と同じ４ＣＰＵ＿Ｃで条件は同じになり、新たな調整の必要がなくなる。 - 特許庁

A first test image signal inputted from an image signal generator 110 and a second test image signal read from an internal memory are synthesized and are displayed on one screen, and the degree of amplification of the first test image signal is adjusted until the hue sensitivity of the first test image signal becomes the same as that of the second test image signal.例文帳に追加

映像信号発生機器１１０から入力された第１テスト映像信号と内部メモリから読み出された第２テスト映像信号を合成して１つの画面に表示し，第１テスト映像信号の色相感度と第２テスト映像信号の色相感度が同じになるまで第１テスト映像信号の増幅度を調節する。 - 特許庁

To provide a hybrid wireless terminal tester with simple configuration that conducts a communication test of the CDMA 1x(1xMC) system and a communication test of the CDMA 1xEV-DO system through the same wireless transmission path (the same RF channel).例文帳に追加

ＣＤＭＡ １ｘ（１ｘＭＣ）方式の通信試験と、ＣＤＭＡ １ｘＥＶ−ＤＯ方式の通信試験を、同一の無線伝送路（同一のＲＦチャネル）で行うハイブリッド無線端末テスタを簡単な構成で実現する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory and its test method in which a CBR refresh-test by an input of a CBR command having the same number as that of redundant word lines can be performed being same as a normal memory cell and reliability of the redundant word lines can be secured.例文帳に追加

通常のメモリセルと同様に、冗長ワード線の本数分のCBRコマンドの入力によるCBRリフレッシュテストが行え、冗長ワード線の信頼性を確保できる半導体記憶装置及びその試験方法を提供する。 - 特許庁

This method is applied for read/write test on a check data, part and at the writing time of memory test, it is constituted so as to concurrently write the same date on a check data part as a data and certain specific part in the check data part.例文帳に追加

チェックデータ部分のリード・ライト試験の方法であって、メモリ試験のライト時に、チェックデータ部分にはデータ部のある特定部分と同じデータを同時にライトするように構成する。 - 特許庁

To provide an optical head test apparatus that can test an optical head device under the condition of obtaining the same characteristics as that obtainable when incorporated into an actual optical recording medium drive apparatus.例文帳に追加

光学ヘッド装置を、実際の光記録媒体駆動装置に組みつけられている状態と同じ特性が得られる状態で検査することができる光学ヘッド検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an environmental test method capable of reproducing an approximately same phenomenon as frost formation generated in a natural world, and to provide an environmental testing device capable of forming frost on a test object.例文帳に追加

自然界で生じる着霜と略同一の現象を再現できる環境試験方法、及び被試験物に着霜させることができる環境試験装置の提供を目的とする。 - 特許庁

In a test mode, current switching circuits 120 and 130 makes the same test current It flow in the nodes Nc and Nd in stead of the access current Iac and the reference current Ir.例文帳に追加

テストモードにおいて、電流切換回路１２０および１３０は、アクセス電流Ｉａｃおよび基準電流Ｉｒに代えて、同一のテスト電流ＩｔをノードＮｃおよびＮｄへ流す。 - 特許庁

To prevent a test from being disabled owing to a drop in line voltage even when self-hold type fire sensors connected to the same sensor line are placed in operation successively with a test signal.例文帳に追加

同じ感知器回線に接続している複数の自己保持型の火災感知器を試験信号により順次作動させても、回線電圧の低下により試験不能とならないようにする。 - 特許庁

To provide a material tester capable of easily relating the relation between the load and strain such as elongation or the like acting on a test piece with the elapse time after the start of a test to subject the same to analysis.例文帳に追加

試験片に作用する荷重と伸び等の歪みとの関係を、試験開始後の経過時間容易に関連付けて解析に供することのできる材料試験機を提供する。 - 特許庁

In a mode in which the waiting time is decided, a test pressure is given, the valves are closed in the same manner as in the test mode, and the piston 21 of an air cylinder 20 is moved at a set speed by a movement means 30.例文帳に追加

この待ち時間を決定するモードでは、上記テストモードと同様にテスト圧付与、弁閉じの後、エアシリンダ２０のピストン２１を移動手段３０により一定速度で移動させる。 - 特許庁

To provide a test circuit of a semiconductor integrated circuit and a test method which can collectively measure the resistances of transistors of a plurality of output buffers connected to the same power source.例文帳に追加

同一電源に接続された複数の出力バッファのトランジスタの抵抗値を一括して測定することができる半導体集積回路のテスト回路及びテスト方法を提供すること。 - 特許庁

ELECTRO-OPTIC MODULATOR ASSEMBLY FOR CONTACTLESS TEST OF FLAT PANEL DISPLAY, DEVICE AND METHOD FOR CONTACTLESS TEST OF FLAT PANEL DISPLAY USING THE SAME AND METHOD FOR MANUFACTURING FLAT PANEL DISPLAY USING THE METHOD例文帳に追加

平面表示装置非接触式検査用電気光学モジュレータ組立体、これを用いた検査装置及び検査方法、並びにこの検査方法を用いた平板表示装置の製造方法 - 特許庁

To obtain a polyester having a short foam bubble extinction time by the foaming test of pharmaceutical plastic container test presented by the Japanese pharmacopoeia and provide a method for producing the same.例文帳に追加

日本薬局方プラスチック製医薬品容器試験の泡立ち試験による泡の消失時間が短い、医療用器具の材料に好適なポリエステルおよびその製造法を提供する。 - 特許庁

Along at least one edge of a chip, a bonding pad 3 and a pad 4 exclusively used for wafer test which are used together when test is performed are arranged on the same arrangement line having a prescribed arrangement relation.例文帳に追加

チップにおける少なくとも１辺に沿ってテスト時に共に用いられるボンディングパッド３とウエハテスト専用パッド４とを同一の配列上に所定の配置関係で設ける。 - 特許庁

To realize the same display quality as that of a plasma display panel in a product state as a display device, and carry out a test with high precision in carrying out a lighting test of the plasma display panel.例文帳に追加

プラズマディスプレイパネルの点灯検査を行う際に、表示装置として製品化された状態のプラズマディスプレイパネルと同等の表示品位を実現し、高精度の検査を行うようにする。 - 特許庁

The same code pattern data generating means 10 generates code pattern data in the inside and generates the same code pattern data Do with the same codes based on the test pattern insertion data TD and the code pattern data.例文帳に追加

同符号パターンデータ生成手段１０は、符号パターンデータを内部で発生させ、試験パターン挿入データＴＤと符号パターンデータから、同符号を持つ同符号パターンデータＤｏを生成する。 - 特許庁

This causes the backup server B to execute the same processing at the same timing as the main server A, enabling the same load test as given to the main server A to be reproduced at the backup server B.例文帳に追加

これにより、予備系サーバＢは主系サーバＡと同一処理を同一のタイミングで実行することとなり、予備系サーバＢに対し主系サーバＡと同一の負荷試験を再現することができる。 - 特許庁

TEMPORARY DEVICE ATTACH STRUCTURE FOR TEST AND BURN IN OF MICROJOINT INTERCONNECTS AND METHOD FOR FABRICATING THE SAME例文帳に追加

マイクロジョイント相互接続のテストおよびバーンインを行うための一時デバイス取付構造、およびそれを製造するための方法 - 特許庁

By this constitution, the operator can judge the test number capable of being requested on the same screen at the time of request of analysis.例文帳に追加

これにより、オペレータが分析依頼時に容易に同一画面にて依頼が可能なテスト数を判断することができる。 - 特許庁

To provide a breaking test piece capable of evaluating an influence of plastic constraint under the same welding residual stress distribution.例文帳に追加

同じ溶接残留応力分布下における塑性拘束の影響を評価できる破壊試験片を提供すること。 - 特許庁

To provide a pixel array and a driving method of the same using a simple test program, and to provide a display panel.例文帳に追加

テストのプログラムが簡単である画素アレイ及びその駆動方法、並びに表示パネルを提供することを目的とする。 - 特許庁

Thereby, same timing can be kept in the internal clocks FICLK and ICLK even at the time of a test and at normal operation.例文帳に追加

このことにより、テスト時であっても通常動作時であっても内部クロックFICLKとICLKを同じタイミングを維持することができる。 - 特許庁

To secure an I/O pad for a test having a size same to an I/O pad used usually, on a circuit chip as required.例文帳に追加

通常使用時のＩ／Ｏパッドと同じサイズのテスト用Ｉ／Ｏパッドを、必要なだけ回路チップ上に確保する。 - 特許庁

An image reader (10), on the other hand, detects chromaticity of the same test chart to acquire an RGB value and an XYZ value.例文帳に追加

一方、画像読取装置（１０）によって同じテストチャートの色度を検知し、ＲＧＢ値およびＸＹＺ値を取得する。 - 特許庁

(i) Rockets, or equipment or tools for the production therefor (including molds; hereinafter the same), or test equipment, or components therefor 例文帳に追加

（一）　ロケット又はその製造用の装置若しくは工具（型を含む。以下同じ。）、試験装置若しくはこれらの部分品 - 日本法令外国語訳データベースシステム

In the equalizing unit 8b, the power source current signals corresponding to the same test pattern in each time are added up and equalized.例文帳に追加

平均化処理部８ｂでは、各回の同一テストパタンに対応する電源電流信号を加算して平均化する。 - 特許庁

WORKING POSITION CONFIRMING DEVICE FOR ELEMENT CONVEYOR OF TEST HANDLER OF SEMICONDUCTOR ELEMENT, AND WORKING POSITION CONFIRMING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

半導体素子のテストハンドラの素子搬送装置の作業位置認識装置及びこれを用いた作業位置認識方法 - 特許庁

NON-AQUEOUS SOLUTION FOR DISPERSING FERRIC HYDROXIDE COLLOIDAL PARTICLES FOR FILM PERFORMANCE AND INTEGRITY TEST AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

膜の性能および完全性試験用の水酸化第二鉄コロイド粒子を分散した非水溶液およびその製法 - 特許庁

Although pixel values of the backgrounds are different among the test patterns 21 to 24, the shapes of the contrast areas are the same.例文帳に追加

テストパタン２１乃至２４間では、バックグランドの画素値は異なっているが、コントラスト領域の形状は同じである。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which a test can be performed with the same access speed as that at actual use in probing.例文帳に追加

プロービングにおいて実使用時と同等のアクセス速度で試験を行うことができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR SPECIFICALLY DETECTING TEST MATERIAL USING PHOTOCURRENT, ELECTRODE USED FOR THE SAME, CELL FOR MEASUREMENT, AND MEASURING APPARATUS例文帳に追加

光電流を用いた被検物質の特異的検出方法、それに用いられる電極、測定用セルおよび測定装置 - 特許庁

To enable a highly accurate trouble analysis for a DUT not operated stably even if a same test pattern is input.例文帳に追加

同一テストパターンを入力しても動作が安定しないＤＵＴに対して精度の高い故障解析を可能とする。 - 特許庁

The test piece inserting/removing device 6 allows a test piece 7 to face to each opening 4 through a valve hole 52 of the valve element 51 with its opened state in the auxiliary valve 5 and exposes the test piece 7 to the fluid in the same conditions as those inside the valve casing 1.例文帳に追加

試験片挿脱装置６は、補助弁５における弁体５１の弁開状態で弁体５１の弁孔５２を通して試験片７を各開口４に臨ませて、試験片７を弁箱１の内部と同じ条件で流体に晒すことができる。 - 特許庁