「same test」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

Divided image data for test are written to an area for image data output of the same recording medium, and are subsequently read out together with image data for test prestored in an area for image data storage of the same recording medium.例文帳に追加

分割したテスト用画像データを同じ記録媒体の画像データ出力用領域に書き込んだ後に、同じ記録媒体の画像データ保存用領域に元々保存してあるテスト用画像データとともに読み出す。 - 特許庁

The test lower ferroelectric layer 112 is located in the same layer with a lower ferroelectric layer 42, formed from the same material with the lower ferroelectric layer 42 and connected to a first test pad 120.例文帳に追加

テスト用下層強誘電体層１１２は、下層強誘電体層４２と同一層に位置し、下層強誘電体層４２と同一材料により形成されており、第１テスト用パッド１２０に接続している。 - 特許庁

The test upper ferroelectric layer 116 is located in the same layer with an upper ferroelectric layer 46, formed from the same material with the upper ferroelectric layer 46 and connected to a second test pad 130.例文帳に追加

テスト用上層強誘電体層１１６は、上層強誘電体層４６と同一層に位置し、上層強誘電体層４６と同一材料により形成されており、第２テスト用パッド１３０に接続している。 - 特許庁

This circuit is constituted of a test circuit in a memory detecting failure in a specific address in each memory-macro and a test circuit between memories detecting failure at the same address and the same bit position between a plurality of memory-macros.例文帳に追加

各々のメモリマクロ内の特定アドレスにおける故障を検出するメモリ内テスト回路と、複数のメモリマクロ間の同一アドレス同一ビット位置における故障を検出するメモリ間テスト回路により構成される。 - 特許庁

To provide a hydraulic test method for pipe joint section easy to fixing and good in workability and a hydraulic test method using the same.例文帳に追加

全体をコンパクトに構成でき、管継手部に対して取り付けが容易であり、作業性がよい管継手部の水圧試験装置とこれを用いた水圧試験方法を提供する。 - 特許庁

In the four test pieces, the side face touching the pin is sequentially changed, so that the same test piece can be used repeatedly when measurement is repeatedly carried out on the four side faces.例文帳に追加

４つの試験片の、ピンに接触する側面を順次変えて、４側面について繰り返し計測を行うことにより、同じ試験片を繰り返し利用できる。 - 特許庁

To provide a nonvolatile semiconductor memory that makes it possible to reduce test time after manufacturing and reduces cost by using an inexpensive test system, and to provide a method of testing the same.例文帳に追加

製造後のテスト時間を短縮し、また、安価なテストシステムを用いることにより、コストを低減できる不揮発性半導体メモリ及びそのテスト方法を提供すること。 - 特許庁

An operation reproducing means 54 executes the same operation as that of the information processing means 51 on the basis of the test alarm data generated by the test data generation means 53.例文帳に追加

動作再現手段５４は、テストデータ生成手段５３により生成されたテスト用アラームデータに基づいて、情報処理手段５１と同一動作を実行する。 - 特許庁

The module is provided also with a microprocessor which reads data with respect to the test signal as it is transmitted and reads the same test signal as it is received.例文帳に追加

モジュールにはマイクロプロセッサも設けられており、マイクロプロセッサは、テスト信号に関するデータを送信された通りに読み取り、同じテスト信号を受信した通りに読み取る。 - 特許庁

To provide an operation synthesis device and a method, and a program, for generating a test bench in which a same test vector can be used in an action simulation and an RTL simulation.例文帳に追加

動作シミュレーションとＲＴＬシミュレーションで同じテストベクタを使用できるためのテストベンチを生成する動作合成装置及び方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

The torsion vibration converter 7 is driven by a frequency (e.g., 20,000±500 Hz) of an ultrasonic region to perform a test for resonating the test piece 1 to subject the same to shearing fatigue breakage.例文帳に追加

振動コンバータ７を超音波領域の周波数（例えば２００００±５００Ｈｚ）で駆動し、試験片１を共振させてせん断疲労破壊させる試験を行う。 - 特許庁

To provide a nonvolatile semiconductor memory device in which a read test can be performed by the path same as that of normal read without adding a test circuit to a read path.例文帳に追加

読み出し経路にテスト回路を追加することなく、通常読み出しと同じ経路で読み出しテストが可能な不揮発性半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To propose a Ta film which can maintain adhesion even in a peeling test after a durability test in terms of adhesion between Ta and an adhesion improving member on the same.例文帳に追加

Ｔａとその上層密着向上材の接着において耐久試験後のピール試験においても密着力が維持されるＴａ膜を考案することである。 - 特許庁

The printing data generating part has a test pattern output mode for outputting a plurality of test patterns for each of the plurality of control contents by using the same input image.例文帳に追加

印刷データ生成部は、同一の入力画像を用いて複数の制御内容毎に複数のテストパターンを出力させるテストパターン出力モードを有する。 - 特許庁

A memory 19 stores test patterns corresponding to test results obtained by applying the same patterns S4a-S4n to the circuits 30a-30n.例文帳に追加

メモリ１９は、半導体集積回路３０ａ〜３０ｎに対して同一のパターンＳ４ａ〜Ｓ４ｎを印加したときに得られる試験結果に応じた試験パターンを記憶する。 - 特許庁

To provide a method of calculating a fracture transition temperature, from a test result in a Charpy impact test for obtaining the same result even when an observer is different.例文帳に追加

観察者が異なる場合にも同一の結果の得られるようなシャルピー衝撃試験の試験結果から破面遷移温度を算出する方法を提供する。 - 特許庁

Next, the latent image carrier 2 and the intermediate transfer unit are brought into contact with each other again, and a test pattern 2 is generated on the latent image carrier 2 in the same condition as the test pattern 1.例文帳に追加

次に、再び潜像担持体２と中間転写ユニットとを当接し、テストパターン１を作成した時と同じ条件で、潜像担持体２上にテストパターン２を作成する。 - 特許庁

To provide a behavioral synthesis device and method, and program, for generating a test bench in which the same test vector can be used in an action simulation and an RTL (register transfer level) simulation.例文帳に追加

動作シミュレーションとＲＴＬシミュレーションで同じテストベクタを使用できるためのテストベンチを生成する動作合成装置及び方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

At wafer level burn-in test, the test terminals 6 and 7 are applied with, respectively, stress power-source electric potential SVCC and ground electric potential GND, so that all tips 2 are provided with voltage stress at the same time.例文帳に追加

ウェハレベルバーンインテスト時は、テスト端子６，７にそれぞれストレス電源電位ＳＶＣＣおよび接地電位ＧＮＤを与えて全チップ２に同時に電圧ストレスを与える。 - 特許庁

To obtain a reference voltage generation circuit and a semiconductor storage apparatus using the same which are capable of performing a sufficient burn-in test in a whole temperature range of acceleration test.例文帳に追加

加速試験の全温度範囲において十分なバーンインテストを実施することができる参照電圧発生回路およびそれを用いた半導体記憶装置を実現する。 - 特許庁

To confirm normality, shorten test time and facilitate test equipment of broadcast communication for simultaneously transmitting the same data from one master node to plural slave nodes.例文帳に追加

１つのマスタノードから複数のスレーブノードに対して同一データを同時に送信するブロードキャスト通信の正常性の確認、試験時間の短縮、試験設備の容易化を図る。 - 特許庁

A decision unit acquires the test data for a plurality of times with the same condition of the delay amount to determine reliability of a signal value when the test data is fetched with a predetermined delay amount.例文帳に追加

判定部は、遅延量が同じ条件でテストデータを複数回取得し、所定の遅延量でテストデータを取り込んだときの信号値の信頼性を判定する。 - 特許庁

In this way, a plurality scenarios are not written in the same register in substantially the same timing, and consequently, unintended register setting is not set during each verification work and the test designer can design a test without taking register competition with the other test into consideration.例文帳に追加

これにより、複数のシナリオがほぼ同じタイミングで同一のレジスタに書き込まれることがなくなるので、それぞれの検証作業で意図しないレジスタ設定となることを回避することができ、テスト設計者は他のテストとのレジスタ競合を考えることなくテストを設計することができる。 - 特許庁

A control circuit 4 for controlling an operation mode in the test for the logic circuit 2 and the DRAM 3 is provided on the same chip mounted with the logic circuit 2 and the DRAM 3, a scanning test mode is set in the burn-in test in the logic circuit 2, a burn-in test mode is set therein in the DRAM 3.例文帳に追加

ロジック回路２とＤＲＡＭ３が搭載される同一チップ上に、これらの試験時の動作モードを制御するためのコントロール回路４を設け、バーンイン試験時には、ロジック回路２についてはスキャン試験モードに設定させ、ＤＲＡＭ３についてはバーンイン試験モードに設定させる。 - 特許庁

A plurality of the test tool individual packages 1 in the same shapes are aligned so that base end directions of the two adjacent test tool individual packages 1 become opposite to each other, and the grip part 33 of one test tool individual package 1 is adjacent to the storage part 34 of the other test tool individual package 1.例文帳に追加

同一形状の複数の試験具個包装体１を、隣り合う２つの試験具個包装体１の基端方向が互いに反対になり、一方の試験具個包装体１の把持部３３と、他方の試験具個包装体１の収納部３４とが隣接するように並べる。 - 特許庁

Castec started to make earnest efforts to have employees take the national technical skills test after its director in charge of general administrative affairs was told by an official of another manufacturer located in the same industrial zone that it was natural for technical workers to pass at least Level 2 of the test. Thereafter, the company made it a policy to require team leaders or employees with higher positions to pass the national technical skills test so as to differentiate their skill levels from those of subordinates and disclose the qualifications acquired through the test.例文帳に追加

たまたま取締役総務部長が、同じ工業団地内のメーカーの人との会話の中で、「2 級技能検定合格は技術者として当たり前」と言われたことが、従業員の技能検定受検に本格的に取り組むきっかけとなった。 - 経済産業省

The test tunnel insulation film 114 is located in the same layer with a tunnel insulation film 44 and formed from the same material with the tunnel insulation film 44.例文帳に追加

テスト用トンネル絶縁膜１１４は、トンネル絶縁膜４４と同一層に位置し、トンネル絶縁膜４４と同一材料により形成されている。 - 特許庁

To conduct a same code proof-test with high efficiency by generating the same codes at an optional position and range without the need for the user to index an initial value.例文帳に追加

ユーザが初期値の割り出し等を行わずに、任意の位置及び任意の範囲に同符号を生成させて、効率のよい同符号耐力試験を行う。 - 特許庁

To facilitate the execution of a TDR test of various types of LSIs having solder balls with same pitch and same shape but different pin assignments.例文帳に追加

はんだボールのピッチや形状は同じであるが、ピンアサインの異なる多品種のＬＳＩに対し、容易にＴＤＲ検査を実施することを可能にする。 - 特許庁

The sensor is used for photoelectrically scanning or measuring print head test patterns printed at the same time.例文帳に追加

また、センサは同時印刷される印刷ヘッド・テスト・パターンを光電的に走査または測定するために用いられる。 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR DIAGNOSING TEST OF DEVICE AND RECORDING MEDIUM RECORDING CONTROL PROGRAM FOR THE SAME例文帳に追加

デバイス試験診断システム及びそのデバイス試験診断方法並びにその制御プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

LIGHT GUIDE INSPECTION SENSOR TO BE USED FOR DETERMINING TEST BODY IN FLUID SAMPLE, AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

流体試料中の検体の判定を行うために使用される光導体検査センサ、およびその製作方法 - 特許庁

To provide a surge test circuit that can realize the same testing condition regardless of consumption current of tested-equipment.例文帳に追加

被試験機器の消費電流によらず、同一の試験条件を実現できるサージ試験回路を提供する。 - 特許庁

TEST DATA BACKUP SYSTEM AND METHOD, BACKUP CONTROL PROGRAM AND STORAGE MEDIUM STORING THE SAME例文帳に追加

試験データバックアップシステム及び試験データバックアップ方法、並びに、バックアップ制御プログラム及びこれを記憶した記憶媒体 - 特許庁

WITHSTAND VOLTAGE TEST ROLL FOR LAMINATED MATERIAL FOR CAPACITOR, AND METHOD OF MEASURING WITHSTAND VOLTAGE USING THE SAME例文帳に追加

キャパシタ層用積層材の耐電圧検査ロール及びそのキャパシタ層用積層材ロールを用いた耐電圧測定方法 - 特許庁

EXCESS CURRENT PROTECTION CIRCUIT, SEMICONDUCTOR DEVICE COMPRISING THE SAME, AND METHOD FOR OPERATION TEST THEREOF例文帳に追加

過電流保護回路、過電流保護回路を備える半導体装置及び過電流保護回路の動作テストの方法 - 特許庁

The same LSI package that incorporates a decoder 13 is caused to incorporate a test circuit 12 and an automatic signal generation circuit 16.例文帳に追加

テスト回路１２、信号自動発生回路１６をデコーダ１３と同一のＬＳＩパッケージに内蔵させる。 - 特許庁

TEST ROUTE VERIFYING DEVICE AND STOAGE MEDIUM STORED WITH PROGRAM MAKING COMPUTER PERFORM PROCESSING OF THE SAME DEVICE例文帳に追加

テストルート検証装置及びその装置での処理をコンピュータに行なわせるためのプログラムを格納した記憶媒体 - 特許庁

A test pattern composed of prescribed fine lines is recorded by the same procedure as a recording procedure of a usual image.例文帳に追加

通常の画像の記録手順と同じ手順で記録媒体に所定の細線からなるテストパターンを記録する。 - 特許庁

To provide a torque load tester advantageous to make it possible to test respective works under the same condition as possible.例文帳に追加

各ワークをできるだけ同一の条件で試験させ得るのに有利なトルク負荷試験装置を提供する。 - 特許庁

Same results are written in latches 146, 148 during a test time and they are read out alternately in accordance with a clock signal.例文帳に追加

テスト時にはラッチ１４６、１４８に同じ結果が書込まれ、クロック信号に応じて交互に読み出される。 - 特許庁

PRIMER FOR NUCLEIC ACID AMPLIFICATION IN DETECTING HOUSEKEEPING GENE mRNA AND TEST METHOD USING THE SAME例文帳に追加

ハウスキーピング遺伝子のｍＲＮＡ検出のための核酸増幅用プライマー及び該プライマーを用いた検査方法 - 特許庁

SENSOR CHIP TO BE USED FOR SPECIFICALLY DETECTING TEST SUBSTANCE USING PHOTOCURRENT, AND MEASURING APPARATUS USING THE SAME例文帳に追加

光電流を用いた被検物質の特異的検出に用いられるセンサチップおよびそれを用いた測定装置 - 特許庁

Test patterns 80 are displayed by the displays 32 and 34 with the same numbers of pixels a those of the displays 32 and 34.例文帳に追加

ディスプレイ３２、３４ごとに、ディスプレイ３２、３４の画素数と同じ画素数でテストパターン８０を表示する。 - 特許庁

To share a probe card with the same specification among TAB tapes having different number of test pads.例文帳に追加

異なるテストパッド数のＴＡＢテープであっても、同一の仕様のプローブカードを共用することを可能にする。 - 特許庁