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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > same testに関連した英語例文

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same testの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 1147



例文

The test piece inserting/removing device 6 allows a test piece 7 to face to each opening 4 through a valve hole 52 of the valve element 51 with its opened state in the auxiliary valve 5 and exposes the test piece 7 to the fluid in the same conditions as those inside the valve casing 1.例文帳に追加

試験片挿脱装置6は、補助弁5における弁体51の弁開状態で弁体51の弁孔52を通して試験片7を各開口4に臨ませて、試験片7を弁箱1の内部と同じ条件で流体に晒すことができる。 - 特許庁

When a print control device is commanded to print multiple copies of the same image as test printing, it generates print data of the same image as an actual print, and prints the image in a first test print run (S120-S140, S210-S230) and extracts only the outline of the image and prints the simplified image in test print runs after the first run (S170-S230).例文帳に追加

同一画像の試し刷りが複数部指示された場合に、1部目では本印刷と同一の画像により印刷データを生成して試し刷りし(S120〜S140,S210〜S230)、2部目以降では輪郭部分だけを抽出して簡素化した画像により試し刷りする(S170〜S230)。 - 特許庁

When performing the logic scan test of the logic sections 80, 81, a test mode signal TEST is set to "1", and a normal scan test is performed by a simple scan path having the same number of bits as that of written data using a scan flip flop in which the selectors 10-12 and the flip flops 30-32 are paired.例文帳に追加

ロジック部80,81のロジックスキャンテストを行う際にはテストモード信号TESTを“1”とし、セレクタ10〜12とフリップフロップ30〜32とがそれぞれ対をなして構成するスキャンフリップフロップを用いた、書き込みデータ数と同じビット数の単純なスキャンパスによって、通常のスキャンテストを行うことができる。 - 特許庁

The loading device 30 includes a loading shaft 31 falling by a weight 33 to load the piston 15 with test force and a test force variable mechanism continuously altering the test force by the same weight 33, and the test force variable mechanism includes a power point altering mechanism 35 for continuously altering the position of a power point 34 on which the weight 33 acts.例文帳に追加

負荷装置30は、錘33により下降し、ピストン15に試験力を負荷する負荷軸31と、同一の錘33による試験力を連続的に変更する試験力可変機構とを有し、試験力可変機構は、錘33が作用する力点34の位置を連続的に変更する力点変更機構35を有する。 - 特許庁

例文

A slit 5 having a through hole 51 of the same width dimension as the inner diameter LT of the test tube T is disposed between the light projecting means 2 and the test tube T, in a position which corresponds to the test tube T, and light is projected to the test tube T through the slit 5.例文帳に追加

そして、上記投光手段2と試験容器Tとの間に、上記試験容器Tの内径LTと同じ幅寸法の貫通穴51を有するスリット5を上記試験容器Tに対応する位置に配してなり、このスリット5を通して上記試験容器Tに光を投光するように構成している。 - 特許庁


例文

An information processing device 100 sequentially inputs same test online telegraphic messages to each of online systems 200 and 300 that have a same function and different processing systems.例文帳に追加

情報処理装置100が、同機能で処理系が異なるオンラインシステム200、300それぞれに対し、テスト用で同一のオンライン電文を順次投入する。 - 特許庁

To provide a plug socket checker by which the inspection of the polarity of the plug socket and the operating test of an earth leakage breaker can be performed in the same place and by using the same device.例文帳に追加

コンセントの極性の検査と漏電遮断器の動作テストとを同じ場所で同じ装置を用いて行うことができるようにしたコンセントチェッカを提供する。 - 特許庁

Thereby, the magnetic head for testing having dirt (surface state) which is the same as the sample magnetic head subjected to the floating test is completed.例文帳に追加

これにより、浮上試験を経た試料磁気ヘッドと同様の汚れ(表面状態)を有する試験用磁気ヘッドが完成する。 - 特許庁

To test dot matrix LED display devices which are different in signal design by set makers under the same conditions.例文帳に追加

セットメーカごとに信号設計が異なるドットマトクリスLED表示装置に於いても、同一条件でテストを行える様にすること。 - 特許庁

例文

The test pattern for linearity inspection which is composed of a plurality of rectangular patterns 1 to 6 having the same length and different widths, is used.例文帳に追加

長さが同じで幅が異なる複数の矩形パターン1〜6により構成されるリニアリティ検査用テストパターンを使用する。 - 特許庁

例文

The same test condition can be selected by setting a special code in the flow count or the process count of the debug count.例文帳に追加

また、デバッグカウントのフローカウントまたは工程カウントの中に、特別コードを設定し、同じテスト条件を選択することもできる。 - 特許庁

The second detecting means 1, 2 detect the common mode voltage produced in a measured cable 20A of the kind same as the test cable 20.例文帳に追加

第2の検出手段1,2は、試験ケーブル20と同種の被測定ケーブル20Aで発生するコモンモード電圧を検出する。 - 特許庁

The same technique of dry powder inhalation can be used to test for the susceptibility of a person to rhinitis, to induce sputum and promote mucus clearance.例文帳に追加

同様の乾燥粉末吸引技術は、鼻炎、痰の誘発及び粘液清浄化進行の過敏症試験にも用いられる。 - 特許庁

TIMING CALIBRATING METHOD AND IC TEST DEVICE TO WHICH PHASE CORRECTING CIRCUIT TO OPERATE FOR CALIBRATION THROUGH THE USE OF THE SAME IS MOUNTED例文帳に追加

タイミング校正方法及びこのタイミング校正方法を用いて校正動作する位相補正回路を搭載したIC試験装置 - 特許庁

Acoustic output of test sound from a speaker except the specified speaker is collected in the same way, and acoustic characteristic is obtained.例文帳に追加

そして、特定のスピーカ以外の他のスピーカも同様にして試験音の音響出力を収音し、音響特性が求められる。 - 特許庁

To output the same test patterns from a print head irrespective of the kinds of an image forming device equipped with the print head.例文帳に追加

プリントヘッドが装着される画像形成装置の種類に関わらず、プリントヘッドより同一のテストパターンを出力可能とする。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING SAME, AND METHOD FOR FORMING TEST PATTERN例文帳に追加

半導体集積回路装置および半導体集積回路装置の検査回路および検査方法および検査パターンの生成方法 - 特許庁

APPARATUS FOR TESTING DEFECT OF SHEET-SHAPED PRODUCT HAVING OPTICAL FILM, APPARATUS FOR PROCESSING TEST DATA THEREOF, APPARATUS FOR CUTTING SAME, AND PRODUCTION SYSTEM THEREOF例文帳に追加

光学フィルムを有するシート状製品の欠点検査装置、その検査データ処理装置、その切断装置及びその製造システム - 特許庁

To improve efficiency of operation in a test of a vehicular relay testing device, and to eliminate an accident at the same time.例文帳に追加

車両用継電器試験装置の試験における操作の効率化を図ると同時に事故を排除することを目的とする。 - 特許庁

To provide an exposure device, tilt equipment, a method for conducting a tilt convergence test, and a device manufactured by the same.例文帳に追加

露光装置、傾斜機器、傾斜集束試験を実行するための方法及びそれによって製造されたデバイスを提供すること。 - 特許庁

To provide an arm mechanism for a simulated human body for a collision test operated as same as the arm and the finger of the human being, when a vehicle collides.例文帳に追加

車両の衝突時、ヒトの腕及び指と同様に動作できる衝突試験用模擬人体の腕機構を提供する。 - 特許庁

To provide an oil pump driving device for a hybrid vehicle, which can supply hydraulic fluid of the same oil amount on a test course and on a chassis dynamometer.例文帳に追加

テストコース上とシャシダイナモメーター上とで同じ油量の作動油を供給し得るオイルポンプ駆動装置を提供する。 - 特許庁

The two color cameras are brought into the same observation angle, respectively, and arranged to be shifted each other in a direction along the test body.例文帳に追加

2つのカラーカメラは、それぞれ同一の観測角度をなし相互に前記検定物体に沿う方向にずらして配置される。 - 特許庁

MATERIAL TESTER, JIG SET FOR TENSILE TEST USED THEREIN AND MATERIAL TESTING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

材料試験機、材料試験機に用いる引張試験用治具セット、及び材料試験機を用いて実行する材料試験方法 - 特許庁

HOUSING FIRE ALARM WITH TEST SWITCH, ADDITIONAL HOUSING FIRE ALARM, AND HOUSING FIRE ALARM SYSTEM USING THE SAME例文帳に追加

試験スイッチ付き住宅用火災警報器、住宅用増設火災警報器及びこれらを用いた住宅用火災警報システム - 特許庁

To provide a liquid epoxy resin which is negative in the Ames test and hardly crystallizes; and an epoxy resin composition containing the same.例文帳に追加

エームズ試験が陰性であり、結晶化が生じにくい液状エポキシ樹脂、及びエポキシ樹脂組成物を提供すること。 - 特許庁

In the hierarchical structure, a data point is a subset of a measurement, a measurement is configuration for a test, a test is a group of measurements that share the same test algorithm, and a procedure is an ordered list of tests to be run and includes a list of measurements and datapoints.例文帳に追加

階層構造内では、データポイントは測定のサブセットであり、測定は試験の設定であり、試験は同じテストアルゴリズムを共有する一群の測定であり、プロシージャは起動されるべき試験の順序リストであって測定およびデータポイントのリストを含む。 - 特許庁

Thereby, a redundancy relief determination test using the internal power source is enabled, and by executing a test of same speed with the real operation using a BIST, internal power error between test time and real operation time is resolved, and highly accurate redundancy relief determination of a marginal bit is realized.例文帳に追加

これにより内部電源を用いた冗長救済判定テストが可能となり、かつBISTを用いて実動作と同速のテストを実行することで、テスト時と実動作時の内部電圧誤差を解消し、マージナルビットの高精度冗長救済判定を実現する。 - 特許庁

Although the selection circuit 2b has the same constitution as that of the selection circuit 2a, the test input terminals 3b_n, 3b_1 to 3b_n-1 are connected to the test terminals 11_1 to 11_n of the logic circuit 10.例文帳に追加

選択回路2bは、上述した選択回路2aと同じ構成を有するが、テスト入力端子3b_n、3b_1〜3b_n−1が、論理回路10のテスト端子11_1〜11_nに接続されている。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device in which observation and evaluation of the surface of a test piece can be made without charge up on the whole test piece, and to provide a method of manufacturing a semiconductor device using the same.例文帳に追加

試料全体にわたりチャージアップのない状態で試料表面の観察及び評価を可能にした荷電粒子線装置及び該装置を使用した半導体デバイス製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a driver IC also having a function capable of supplying test pattern signals for the inside of the IC without the need for the supply of various test patterns signals from the outside and to provide an inspection method of the same.例文帳に追加

外部から各種検査パターン信号を供給することなく、IC内部に検査パターン信号を供給できる機能を併せ持たせたドライバIC及びその検査方法を提供すること。 - 特許庁

To simultaneously test the memory LSI and logic LSI, while limiting the scale of an additional test circuit to absolute minimum for the semiconductor device mounted, within the same package with the memory LSI and the logic LSI.例文帳に追加

メモリLSIとロジックLSIとを同一のパッケージ内に搭載した半導体装置において、追加するテスト回路の規模を最小限に抑えつつ、メモリLSIとロジックLSIとを同時にテストすること。 - 特許庁

To enable a user to easily register test data which is transmitted to a process control computer, and to enable a user to perform a test even if the operation condition is not the same as that of an existing computer or no existing computer is present.例文帳に追加

プロセス制御用計算機に送信するテストデータを簡単に登録でき、しかも既設計算機とは運転状況が異なる場合や既設計算機がない場合でもテストを行えるようにする。 - 特許庁

The control unit 6 previously measures a microphone distance between the speaker array 10 and the microphone 2, and sets the focal distance of the test audio beam at the same value as the microphone distance at the time of sweeping the test audio beam.例文帳に追加

制御部6は、スピーカアレイ10からマイクロフォン2までのマイク距離を予め測定し、試験音声ビームの掃引時に試験音声ビームの焦点距離をマイク距離と同じ値に設定する。 - 特許庁

When the test signal TEST="H", the EXNOR circuit 43 operates as an AND circuit whose output is the same level as the polarity inversion signal POL and operates in a non-complementary mode with switches 21 and 22.例文帳に追加

テスト信号TEST="H"のとき、EXNOR回路43は出力が極性反転信号POLと同じレベルとなるAND回路として動作し、スイッチ21と22とで非相補的に動作する。 - 特許庁

To provide a device and method for issuing a non-contact information storage medium which is capable of quickly performing issuing processing and test in the same process, and performing a test suitable for its actual use.例文帳に追加

発行処理と試験とを同じ工程において短時間で行え、かつ、実使用と合った試験を行うことができる非接触情報記憶媒体の発行装置及び発行方法を提供する。 - 特許庁

Methanol is sealed in a half volume of a commercially available glass test tube, and methanol is sealed in a pressure-resistant stainless steel vessel up to the same level as the methanol in the test tube.例文帳に追加

市販のガラス製試験管を用い、試験管の約半分量のメタノールを入れて封緘した後、試験管内のメタノールと同じ液面になるように耐圧ステンレス容器の中にもメタノールを加えて密封する。 - 特許庁

The testing machine 300 for pickup apparatuses 1, 2, 3 and 4 to test the durability of the pickup apparatuses 1, 2, 3 and 4, can test the durability of a plurality of pickup apparatuses 1, 2, 3 and 4 at the same time.例文帳に追加

ピックアップ装置1,2,3,4の耐久試験を実行可能なピックアップ装置1,2,3,4の試験機300であって、複数のピックアップ装置1,2,3,4の耐久試験が同時に実行可能とされた。 - 特許庁

In a second conveyance, the four test patterns are formed in a region R2 on the second surface S2 of the printing paper P, and at the same time, the four test patterns which have been formed on the first surface S1 are read from the second surface S2.例文帳に追加

2回目の搬送時に、用紙Pの第2面S2の領域R2に4つのテストパターンを形成すると共に、第1面S1に形成された4つのテストパターンを第2面S2から読み取る。 - 特許庁

The random numbers corresponding to the test number of a lot of a level 1 are produced from a certain Weibull distribution, the random number corresponding to the test number of a lot of a level 2 are produced from the same Weibull distribution and the life calculated from the produced random numbers is operated to calculate one set of a life ratio.例文帳に追加

あるワイブル分布から水準1のロットの試験個数分の乱数を発生させ、同じワイブル分布から水準2のロットの試験個数分の乱数を発生させる。 - 特許庁

The control section writes the test data output from the test-data output section into the memory, in the same writing sequence as a writing sequence of the pixel data outputted from the pixel array section into the memory, reads the test data written into the memory from the memory, in the same reading sequence as a reading sequence of the pixel data outputted from the pixel array section from the memory, and outputs the test data via the external interface.例文帳に追加

制御部は、テストデータ出力部から出力されたテストデータを、画素アレイ部から出力された画素データの前記メモリへの書き込み順序と同じ書き込み順序でメモリに書き込み、メモリに書き込まれたテストデータを、画素アレイ部から出力された画素データの前記メモリからの読み出し順序と同じ読み出し順序で前記メモリから読み出し、外部インタフェースを介して出力する。 - 特許庁

When testing the console 2, a computer unit 28 of the control device 3 reads a test display command DT from a database 24 to transmit the same to the console 2 via a conversion unit 30, and also reads an exact test video signal DTE to supply the same to a comparison means 40.例文帳に追加

制御装置3のコンピュータ・ユニット28は、コンソール2の検査時に、データベース24から検査表示コマンドDTを読み出し、変換ユニット30を介してコンソール2に送信し、また的確検査ビデオ信号DTEを読み出して、比較手段40に供給する。 - 特許庁

When four or more data sets are available for the same life stage, condition, and test period of the same species, however, their geometric average shall be adopted as data representing the species.例文帳に追加

ただし、その際、同一生物種の同一ライフステージ、条件、試験期間について4個以上のデータが入手されたときは、幾何平均値をその生物種を代表するデータとして用いる。 - 経済産業省

The detection and/or measurement of the mutagenicity of the mutagen in higher accuracy is enabled by giving the same condition as the one for metabolically activating the mutagen in vivo by metabolically activating a test material by sulfating the test material in the mutagenicity test using the microorganisms such as the Ames test.例文帳に追加

エイムス試験のような微生物を用いた変異原性試験において、試験物質を硫酸化反応処理することによって、試験物質を代謝活性化することにより、変異原性物質に生体内で代謝活性化されると同様の条件を付与し、確度の高い変異原性物質の変異原性の検出及び/又は測定を可能とする。 - 特許庁

By this invention, when the same data pattern for test is latched to a different data latch circuit 4, since a latch is performed by only transfer to the data latch circuit 4 from the test latch circuit 12 without inputting data from the outside whenever, a time required for latching the data pattern for test to the data latch circuit 4 can be shortened largely, and a test time also can be shortened.例文帳に追加

本発明によれば、異なるデータラッチ回路4にテスト用の同じデータパターンをラッチする際に、その都度、外部からデータパターンを入力せずに、テストラッチ回路12からデータラッチ回路4に転送するだけで済むため、テスト用のデータパターンをデータラッチ回路4にラッチするまでの時間を大幅に短縮でき、テスト時間も短縮できる。 - 特許庁

In the case of generating the simulation test bench of a digital LSI circuit with plural input signal lines, test patterns are generated for every input signal line (a step 10), the test patterns with the same input timing are connected by bit connection for at least two or more input lines and the test pattern file to which the data compression is performed is generated (a step 11).例文帳に追加

複数の入力信号線を持つデジタルLSI回路のシミュレーションテストベンチを生成する場合において、各入力信号線ごとにテストパターンを作成し(ステップ10)、それらを少なくとも2本以上の入力信号線について、入力するタイミングが同じものをビット連接により接合し、データ圧縮したテストパターンファイルを生成する(ステップ11)。 - 特許庁

A data management server 2 for successively taking the collected test data and storing the same in a storage part 2b, and a test data backup server 4 for backing up the test data stored in the storage part 2b are connected, and the test data backup server 4 is provided with a storage part 4b for storing the data and an auxiliary storage part 4c having a removable storage medium.例文帳に追加

収集された試験データを順次取り込んで記憶部2bに保存するデータ管理サーバ2と、記憶部2bに保存された試験データをバックアップする試験データバックアップサーバ4とを接続すると共に、試験データバックアップサーバ4にデータを保存する記憶部4bとリムーバブルな記憶メディアを有する補助記憶装置4cとを設ける。 - 特許庁

To provide a method for accurately examining onset risks of amyotrophic lateral sclerosis (ALS) and onsets and a test reagent used for the same.例文帳に追加

筋萎縮性側索硬化症の発症リスクや発症を正確に検査する方法、及び該方法に用いられる検査試薬の提供。 - 特許庁

A leading-out wiring 102 is connected to a single M1 wiring 103 in a TEG (test element group) region 101 on the same wiring layer.例文帳に追加

引き出し配線102は、TEG領域101内の1本のM1配線103と同一配線層で接続されている。 - 特許庁

例文

To actualize an apparatus for tester simulation allowing the same test program as one of an actual machine to run thereon and a method for tester simulation.例文帳に追加

実機と同じテストプログラムを動作させることができるテスタシミュレーション装置及びテスタシミュレーション方法を実現することを目的にする。 - 特許庁




  
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