「"same test"」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

DRAW BEAD TEST METHOD AND PRESS FORMING ANALYZING METHOD USING PHYSICAL PROPERTY VALUE DETERMINED BY THE SAME TEST METHOD例文帳に追加

絞りビード試験方法及びその試験方法で求めた物性値を用いたプレス成形解析方法 - 特許庁

The same test input value as that inputted from one input test pin is inputted to circuits K_1-K_N.例文帳に追加

回路Ｋ_1〜Ｋ_Nには、１個の入力テストピンから入力された同一のテスト入力値が入力される。 - 特許庁

Test writing is performed for a track T1 and a track T2 being adjacent to it with a same test power Pwt.例文帳に追加

トラックＴ１とこれに隣接するトラックＴ２に同じテストパワーＰｗｔで試し書きを行う。 - 特許庁

The same test signal as an echo signal is supplied to the front end of reception circuits for the number of channels.例文帳に追加

チャンネル数分の受信回路のフロントエンドにエコー信号と同じようなテスト信号を供給する。 - 特許庁

The reception test and the assembly test are performed by the same program, then the same test is applied to the ECU 10.例文帳に追加

受入検査とアッセンブリ検査は、同一のプログラムにより行われ、ＥＣＵ１０に対して同じ検査を行う。 - 特許庁

To enable normal tests of LSIs and continuity tests of power source terminals and GND terminals by the same test board.例文帳に追加

ＬＳＩの通常の試験と電源端子及びＧＮＤ端子の導通試験を同一のテストボードで可能にする。 - 特許庁

To evaluate the operation of a base station unit under the same test condition in one-to-multi connection test.例文帳に追加

一対多対向接続試験における同一試験条件下での基地局装置動作評価を可能とすること。 - 特許庁

After that, the same test pattern as the test pattern described above is sequentially recorded using the second and the subsequent line recording heads 203-205.例文帳に追加

ついで、第２以降のライン記録ヘッド２０３〜２０５の各々により、順次、前記テストパターンと同じテストパターンを記録する。 - 特許庁

The system includes multiple-well test panels capable of conducting ID and AST testing on the same test panels.例文帳に追加

このシステムは、同じ試験パネル上でＩＤ試験およびＡＳＴ試験を行うことのできる多重ウェル試験パネルを含む。 - 特許庁

An image reader (10), on the other hand, detects chromaticity of the same test chart to acquire an RGB value and an XYZ value.例文帳に追加

一方、画像読取装置（１０）によって同じテストチャートの色度を検知し、ＲＧＢ値およびＸＹＺ値を取得する。 - 特許庁

In the equalizing unit 8b, the power source current signals corresponding to the same test pattern in each time are added up and equalized.例文帳に追加

平均化処理部８ｂでは、各回の同一テストパタンに対応する電源電流信号を加算して平均化する。 - 特許庁

To enable a highly accurate trouble analysis for a DUT not operated stably even if a same test pattern is input.例文帳に追加

同一テストパターンを入力しても動作が安定しないＤＵＴに対して精度の高い故障解析を可能とする。 - 特許庁

The same test condition can be selected by setting a special code in the flow count or the process count of the debug count.例文帳に追加

また、デバッグカウントのフローカウントまたは工程カウントの中に、特別コードを設定し、同じテスト条件を選択することもできる。 - 特許庁

To output the same test patterns from a print head irrespective of the kinds of an image forming device equipped with the print head.例文帳に追加

プリントヘッドが装着される画像形成装置の種類に関わらず、プリントヘッドより同一のテストパターンを出力可能とする。 - 特許庁

When you are in the controller test file, you run the Test File option and it runs this same test file as a test. 例文帳に追加

コントローラのテストファイル内にいる場合、「ファイルをテスト」オプションを実行すると、テストとしてこの同じテストファイルが実行されます。 - NetBeans

To actualize an apparatus for tester simulation allowing the same test program as one of an actual machine to run thereon and a method for tester simulation.例文帳に追加

実機と同じテストプログラムを動作させることができるテスタシミュレーション装置及びテスタシミュレーション方法を実現することを目的にする。 - 特許庁

Since the same test pattern TPb is also formed on the other surface Sb of the sheet S, the density difference between these images is emphasized when observed.例文帳に追加

シートＳの反対面Ｓｂにも同様のテストパターンＴＰｂを形成するので、両画像部の濃度差が強調されて見える。 - 特許庁

However, when the descriptions of the organs in plural assessment documents based on the same test differ, the commonly described organs shall be described.例文帳に追加

ただし、同じ試験に基づいて複数の評価書での臓器の記載が異なるときは、共通に記載されている臓器を記載すること。 - 経済産業省

A test chart image 906 is obtained by recording the same test pattern in respective divided areas obtained by dividing the full width of a test chart 600 into plurality.例文帳に追加

テストチャート画像９０６は、テストチャート６００の全幅を複数に分割した各分割エリア内に同じテストパターンを記録したものである。 - 特許庁

To provide the tester performing a test under a plurality of temp. conditions in the same test tank at the same time with respect to the test temp. of a sample.例文帳に追加

耐候試験機における試料の試験温度に関し、同一試験槽内で同時に複数の温度条件で試験を行う技術に関する。 - 特許庁

To attain excellent operation and different tests of a plurality of electric devices wirelessly-controlled in an ordinary way installed in the same test room.例文帳に追加

同一の試験室内に設置され、通常無線制御された複数の電気装置の良好な運転の異なるテストの実施を同時に可能にすること。 - 特許庁

Next, the same test is performed while changing the amount of oil, and an oil amount-work load chart 49 indicating the correlation between the work load and the oil amount is prepared.例文帳に追加

次に、オイル量を変化させて、同様の試験を行い、仕事量とオイル量の相関である、オイル量−仕事量線図４９を作成する。 - 特許庁

In this criterion, while the same test of the different measurement day is repeated, the average value and the width of the response output with the test population are considered.例文帳に追加

この規準は、異なる測定日の同じテストを繰り返す間に、テスト母集団によって出力された応答の平均値および幅を考慮する。 - 特許庁

To provide a dynamic cone penetration testing and sampling machine capable of concurrently performing penetration test and sampling in the same test hole.例文帳に追加

同一試験孔にて貫入試験でもサンプリングでも同時進行的に実施することができる動的コーン貫入試験機兼サンプリング機を提供する。 - 特許庁

Next, the flaw detection is performed to the object for inspection of the actual flaw for correction by the same test frequency to acquire the phase PT of the flaw signal of the actual flaw for correction.例文帳に追加

次に補正用実キズの被検査体を同じ試験周波数により探傷して補正用実キズのキズ信号の位相ＰＴを取得する。 - 特許庁

In the four test pieces, the side face touching the pin is sequentially changed, so that the same test piece can be used repeatedly when measurement is repeatedly carried out on the four side faces.例文帳に追加

４つの試験片の、ピンに接触する側面を順次変えて、４側面について繰り返し計測を行うことにより、同じ試験片を繰り返し利用できる。 - 特許庁

Since the same test adapter card as used in the analog testing with the card throttle is employed in the digital testing of card, testing time is shortened and it makes unnecessary the testing device to complicate.例文帳に追加

カード・スロットでのアナログ・テストの場合と同じテスト・アダプタ・カードが、カードのデジタル・テストにも用いられるので、テスト時間が短縮され、テスト装置を複雑にする必要がなくなる。 - 特許庁

The module is provided also with a microprocessor which reads data with respect to the test signal as it is transmitted and reads the same test signal as it is received.例文帳に追加

モジュールにはマイクロプロセッサも設けられており、マイクロプロセッサは、テスト信号に関するデータを送信された通りに読み取り、同じテスト信号を受信した通りに読み取る。 - 特許庁

To provide an operation synthesis device and a method, and a program, for generating a test bench in which a same test vector can be used in an action simulation and an RTL simulation.例文帳に追加

動作シミュレーションとＲＴＬシミュレーションで同じテストベクタを使用できるためのテストベンチを生成する動作合成装置及び方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a behavioral synthesis device and method, and program, for generating a test bench in which the same test vector can be used in an action simulation and an RTL (register transfer level) simulation.例文帳に追加

動作シミュレーションとＲＴＬシミュレーションで同じテストベクタを使用できるためのテストベンチを生成する動作合成装置及び方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

A plurality of the same test patterns are connected together to be impressed to the DUT 2, and then, a power source current signal measured by this impression is converted into a spectrum so as to be used for failure detection.例文帳に追加

又、同一テストパタンを複数連結してＤＵＴ２へ印加し、それによって観測された電源電流信号をスペクトルに変換して故障検出に用いる。 - 特許庁

Moreover, even in the recording device which carries the recording head, the same test pattern can be executed, and deterioration in the performance of the recording head can be quantitatively judged.例文帳に追加

又、記録ヘッドを搭載する記録装置においても、同様のテストパターンを実行できるようにして、記録ヘッドの性能劣化を定量的に判定出来るようにした。 - 特許庁

An information processing device 100 sequentially inputs same test online telegraphic messages to each of online systems 200 and 300 that have a same function and different processing systems.例文帳に追加

情報処理装置１００が、同機能で処理系が異なるオンラインシステム２００、３００それぞれに対し、テスト用で同一のオンライン電文を順次投入する。 - 特許庁

The user selects a desired video format (step 56), and if required, the user can revise only the video format any number of times while the same test signal is selected (step 58).例文帳に追加

ユーザは、所望のビデオ・フォーマットを選択する（ステップ５６）が、このとき必要であれば、何度でもテスト信号は同じままでビデオ・フォーマットのみを変更できる（ステップ５８）。 - 特許庁

In a test mode, current switching circuits 120 and 130 makes the same test current It flow in the nodes Nc and Nd in stead of the access current Iac and the reference current Ir.例文帳に追加

テストモードにおいて、電流切換回路１２０および１３０は、アクセス電流Ｉａｃおよび基準電流Ｉｒに代えて、同一のテスト電流ＩｔをノードＮｃおよびＮｄへ流す。 - 特許庁

In this situation, if you run the test case when there is already a running process instance initiated by the same test case,the second process instance will not be initiated and the test will fail.例文帳に追加

この状況で、同じテストケースによって開始された実行中のプロセスインスタンスがすでにあるときにテストケースを実行した場合、2 番目のプロセスインスタンスは開始されず、テストは失敗します。 - NetBeans

The two test areas that configure the first pair have the same test area consumption direction, and the test areas are disposed such that regions to be subsequently used do not easily overlap each other.例文帳に追加

また第１ペアを構成する２つのテストエリアは、それぞれテストエリアの消費方向が同一とされるとともに、各テストエリアは、次に使用する領域が互いに層方向に重なりにくいように配置する。 - 特許庁

In a memory tester of an embodiment, a linear arithmetic register 1 and an interleave arithmetic register 2 store a linear arithmetic variable L and an interleave arithmetic variable I described in the same test program, individually.例文帳に追加

実施形態のメモリテスタは、リニア演算レジスタ１、インターリーブ演算レジスタ２が、同一のテストプログラム中に記述されたリニア用演算変数Ｌ、インターリーブ用演算変数Ｉを個々に格納する。 - 特許庁

When the same test signal is inputted from a BIST controller 180 into each digital filter 150a-150c, existence of an abnormal circuit can be detected based on the comparison result by the comparator circuit 160a-160c.例文帳に追加

そして、ＢＩＳＴコントローラ１８０から各デジタルフィルタ１５０ａ〜１５０ｃに同一の試験用信号を入力すると、比較回路１６０ａ〜１６０ｃの比較結果を基に異常な回路の有無を検出することができる。 - 特許庁

Two optical fibers 6, 7 are installed in parallel under the same environment, and the same test light is allowed to enter the optical fibers and B-OTDR measurement is performed, to thereby find Brillouin frequency shifts of each fiber 6, 7.例文帳に追加

２本の光ファイバ６，７を同じ環境下で並列に設置し、これらの光ファイバに同じ試験光を入射してＢ−ＯＴＤＲ測定を行い、各ファイバ６，７のブリルアン周波数シフトを求める。 - 特許庁

Upon receiving a test start event from an event reception section 11, a control process section 12 confirms the presence or absence of the same test process by referring the past test process implementation state to an implementation state memory section 15.例文帳に追加

制御処理部１２は、イベント受信部１１から試験開始イベントが入力されると、実行状況記憶部１５に、過去の試験処理実行状況を参照して、同一の試験処理の有無を確認する。 - 特許庁

To provide a testing device for tire vibrational characteristic with which the user can measure the vibrational characteristic of a tire to be tested from low-frequency vibrations to 100-500 Hz road noise in the same test by only using the device.例文帳に追加

一つの試験装置を用いて、低周波振動から１００〜５００Ｈｚのロードノイズにいたる試験タイヤの振動特性を同一の試験で計測することのできるタイヤ振動特性試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a performance test support device for easily and accurately grasping improvement circumstances by the tuning of this system based on a plurality of number of times of performance test results in the same test contents.例文帳に追加

同一試験内容における複数回の性能試験結果に基づき、システムのチューニング等による改善状況を容易かつ的確に把握させることを可能とする性能試験支援装置を提供する。 - 特許庁

An integration circuit 17 extracts the TEM images of the same test piece inclination angles from the inclined image series S_1, S_2, ... S_m, and integrates these and obtains the integrated image for every test piece inclination angles θ_1, θ_2, ... θ_n.例文帳に追加

積算回路１７は、傾斜画像シリーズＳ_１，Ｓ_２，…Ｓ_ｍから同じ試料傾斜角度のＴＥＭ像を抽出してそれらを積算し、試料傾斜角度θ_１，θ_２，…θ_ｎごとに積算像を取得する。 - 特許庁

A pattern generator 4 repeatedly impresses the same test pattern to a DUT 2 via a driver 6, and power source current values measured in those times are turned into digital signals in a signal conversion circuit 8a so as to be supplied to an equalizing unit 8b.例文帳に追加

パタン発生器４からドライバ６を介してＤＵＴ２へ同一テストパタンを繰り返し印加し、そのとき測定された電源電流値を信号変換回路８ａでディジタル信号として平均化処理部８ｂへ供給する。 - 特許庁