「same test」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

SUBSTRATE JIG BOARD AND SUBSTRATE TEST-USE JIG UNIT EMBEDDING THE SAME例文帳に追加

基板治具ボードおよびこれを組み込んだ基板検査用治具ユニット - 特許庁

SCAN TEST CIRCUIT, LOGICAL CONNECTION INFORMATION GENERATING METHOD OF THE SAME, AND PROGRAM例文帳に追加

スキャンテスト回路、その論理接続情報生成方法及びプログラム - 特許庁

FRICTION AND ABRASION TESTER FOR RESIN GEAR AND TEST METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

樹脂製歯車用の摩擦摩耗試験機およびその試験方法 - 特許庁

VISUALLY EXPRESSED GRAPH OF CLINICAL TEST DATA AND SYSTEM FOR GENERATING THE SAME例文帳に追加

臨床検査データの可視化表現グラフ及びその作成システム - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND OPERATIONAL AMPLIFIER AND TEST METHOD OF THE SAME例文帳に追加

半導体集積回路およびオペアンプならびにそれらのテスト方法 - 特許庁

HOLD-COLD SHOCK TESTING DEVICE AND ENVIRONMENT TEST SYSTEM INCLUDING THE SAME例文帳に追加

冷熱衝撃試験装置およびこれを含む環境試験システム - 特許庁

MORTAR PRODUCT UNDER TEST AND CEMENT QUALITY CONTROL SYSTEM USING THE SAME例文帳に追加

モルタル供試体およびそれを用いたセメントの品質管理システム - 特許庁

JOB OPERATION MANAGEMENT SYSTEM AND JOB SCHEDULE TEST METHOD OF THE SAME SYSTEM例文帳に追加

ジョブ運用管理システムおよび同システムのジョブスケジュールテスト方法 - 特許庁

SAMPLE STORAGE CONTAINER FOR HISTOLOGICAL TEST, AND LID MEMBER OF THE SAME例文帳に追加

組織学的試験のための試料収納容器及びその蓋体 - 特許庁

ARBITRARY WAVEFORM GENERATOR AND TEST SIGNAL GENERATING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

任意波形発生器およびそれを用いたテスト信号発生装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS AND SEMICONDUCTOR TEST METHOD USING THE SAME例文帳に追加

半導体試験装置およびこれを用いた半導体試験方法 - 特許庁

DEVICE WITH OVERVOLTAGE PROTECTION FUNCTION AND METHOD FOR TEST OF THE SAME例文帳に追加

過電圧保護機能を備えたデバイス及びその試験のための方法 - 特許庁

TEST MODE SETTING CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT COMPRISING THE SAME例文帳に追加

テストモード設定回路およびそれを備えた半導体集積回路 - 特許庁

HIGH-SPEED SIGNAL TRANSMISSION LINE, AND SEMICONDUCTOR TEST DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

高速信号伝送線路とそれを用いた半導体試験装置 - 特許庁

ON-ICE FRICTION TESTER AND ON-ICE FRICTION TEST METHOD USING THE SAME例文帳に追加

氷上摩擦試験機およびこれを用いた氷上摩擦試験方法 - 特許庁

When the tire for the laboratory test generates a breakdown in the same tire component with that for the real car test, and the physical property of the tire component shows the same level with the threshold, the predetermined condition is set as a laboratory test condition for the test tire.例文帳に追加

ラボ試験のタイヤが実車試験と同じタイヤ構成部材に破壊が発生し、該タイヤ構成部材の物性値が閾値と同じレベルを示す場合に予め設定した条件を試験タイヤのラボ試験条件とする。 - 特許庁

A test chart image 906 is obtained by recording the same test pattern in respective divided areas obtained by dividing the full width of a test chart 600 into plurality.例文帳に追加

テストチャート画像９０６は、テストチャート６００の全幅を複数に分割した各分割エリア内に同じテストパターンを記録したものである。 - 特許庁

Test tube housing sections which house a large number of test tubes of the same kind are arranged to face each other, and a plurality of the test tube housing sections are arranged in parallel.例文帳に追加

同一種類の試験管を多数収容する試験管収容部が対向して配置され、これらが複数並列配置されている。 - 特許庁

MICROBIOLOGICAL TESTING APPARATUS, TEST AND CULTURE SYSTEM INCLUDING THE SAME AND METHOD FOR USING THE SAME例文帳に追加

微生物学的試験装置、それを含む試験および培養システム、ならびにそれを使用する方法 - 特許庁

If no same test process existed in the past, the test conditions are stored in the test condition memory section 13 from a test condition set section 14, the test process is implemented, and the process history of the test conditions is stored in the implementation state memory section 15 after the completion of the test process.例文帳に追加

過去に同一の試験処理がなければ、その試験条件を試験条件設定部１４から試験条件記憶部１３に記憶させて試験処理を実行し、この試験処理終了後、実行状況記憶部１５にその試験条件の処理履歴を記憶する。 - 特許庁

If the same test process existed in the past, corresponding test conditions are stored in the test condition memory section 13, the test process is implemented, and the process history of the test conditions is stored in an implementation state memory section 15 after the completion of the test process.例文帳に追加

過去に同一の試験処理があれば、対応する試験条件を試験条件記憶部１３に保持させ、試験処理を実行し、試験処理終了後に、実行状況記憶部１５にこの試験条件の処理履歴を記憶する。 - 特許庁

TEST HEAD FOR MAGNETIC DISK, AND METHOD FOR MANUFACTURING MAGNETIC DISK USING THE SAME例文帳に追加

磁気ディスク用テストヘッド及びそれを用いた磁気ディスクの製造方法 - 特許庁

ROLLER FOR BENDING STRENGTH TEST OF CONCRETE AND TESTING APPARATUS USING THE SAME例文帳に追加

コンクリートの曲げ強度試験用ローラおよびこれを用いた試験装置 - 特許庁

CONCRETE TEST BODY HAVING PERFORATED CRACK AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

貫通ひび割れを有するコンクリート試験体及びその作製方法 - 特許庁

TEST MAGNETIC RECORDING SIGNAL GENERATION DEVICE, AND PREPARATION METHOD AND PROGRAM FOR THE SAME例文帳に追加

テスト用磁気記録信号発生装置、該作成方法及び該プログラム - 特許庁

VERNIER DELAY CIRCUIT, TIME DIGITAL CONVERTER USING THE SAME, AND TEST DEVICE例文帳に追加

バーニア遅延回路、それを用いた時間デジタル変換器および試験装置 - 特許庁

SIMULATED WIRING PATTERN AND EVALUATION TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR ELEMENT USING THE SAME例文帳に追加

模擬配線パターンとこれを用いた半導体素子の評価試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD FOR CONTROLLING THE SAME, AND TEST CONTROLLER例文帳に追加

半導体装置、半導体装置の制御方法およびテスト制御装置 - 特許庁

The instruction of the user is preserved as a debug command file 107 so that it is not necessary to perform the same operation in the following re-test or the same kind of test.例文帳に追加

ユーザの指示はデバッグコマンドファイル107として保存し、後の再テストや同種のテストにおいて同じ操作を行わなくても良いようにする。 - 特許庁

POWER SUPPLY DEVICE, CONTROLLING METHOD THEREOF, AND TEST DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

電源装置、その制御方法ならびにそれらを用いた試験装置 - 特許庁

HYDRAULIC TESTING DEVICE FOR PIPE JOINT SECTION AND HYDRAULIC TEST METHOD USING THE SAME例文帳に追加

管継手部の水圧試験装置とこれを用いた水圧試験方法 - 特許庁

TESTING SOCKET, TEST METHOD USING THE SAME AND MEMBER TO BE TESTED例文帳に追加

テスト用ソケット、このテスト用ソケットを用いたテスト方法、及び被テスト部材 - 特許庁

TEST INTERFACE CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT USING THE SAME例文帳に追加

テストインターフェイス回路およびこれを用いた半導体集積回路装置 - 特許庁

PSEUDO BASE STATION APPARATUS AND VIDEOPHONE TERMINAL TEST METHOD EMPLOYING SAME例文帳に追加

擬似基地局装置及び該装置を用いたテレビ電話端末試験方法 - 特許庁

PHOTO MOS RELAY DRIVE CIRCUIT, AND SEMICONDUCTOR TEST DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

フォトＭＯＳリレー駆動回路およびそれを用いた半導体試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE TEST CIRCUIT, SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

半導体装置のテスト回路、半導体装置及びその製造方法 - 特許庁

TEST PIECE CLAMPING DEVICE AND TESTING MACHINE EQUIPPED WITH THE SAME例文帳に追加

試験片クランプ装置及びこの試験片クランプ装置を備えた試験機 - 特許庁

TEST MARK AS WELL AS FOCUS USING THE SAME AND METHOD OF MEASURING ABERRATION例文帳に追加

テストマーク、並びにそれを用いたフォーカス及び収差の測定方法 - 特許庁

To execute a test that is the same as a terminal interface loopback test, even when using an ATM.例文帳に追加

ＡＴＭを利用する場合であっても端末インタフェース折り返し試験と同様の試験を実行可能とする。 - 特許庁

A laboratory test is performed in a predetermined condition on a tire which has the same configuration with a tire for the real car test.例文帳に追加

実車試験のタイヤと同じ構成のタイヤに対して予め設定した条件でラボ試験を実施する。 - 特許庁

ACTUAL ENVIRONMENT SIMULATING ATMOSPHERIC CORROSION TEST DEVICE AND ACTUAL ENVIRONMENT SIMULATING ATMOSPHERIC CORROSION TEST METHOD USING THE SAME DEVICE例文帳に追加

実環境シミュレート大気腐食試験装置とその装置を用いる実環境シミュレート大気腐食試験法 - 特許庁

To evaluate the operation of a base station unit under the same test condition in one-to-multi connection test.例文帳に追加

一対多対向接続試験における同一試験条件下での基地局装置動作評価を可能とすること。 - 特許庁

To provide a test manhour estimation device and program capable of easily estimating test manhour even when an evaluator repeatingly performs the same type of a test to a test target.例文帳に追加

テスト対象に対して、評価者が同種のテストを繰り返し実行する場合であっても、容易にテスト工数を見積もることができるテスト工数見積装置、およびプログラムを提供する。 - 特許庁

Coding for a test is applied only to a position requiring a test so that a test position and bit data can exist mixedly in the same word.例文帳に追加

また、検定のためのコード化は、検定を必要とするポジションのみに適用し、同一ワード内に検定ポジションとビットデータとの混在を可能とした。 - 特許庁

To provide a test provided with a function for realizing an access test to the same address in a memory access test by specifying the timing of instruction execution.例文帳に追加

メモリアクセス試験において同一アドレスへのアクセス試験を命令実行のタイミングを特定することで実現する機能を有する試験を提供する。 - 特許庁