「scanning transmission electron microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE USING GAS AMPLIFICATION例文帳に追加

ガス増幅を使用した走査透過電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ABERRATION MEASURING METHOD例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡、及び収差測定方法 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ABERRATION CORRECTION METHOD例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡、及び収差補正方法 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND METHOD FOR ADJUSTING ITS AXIS例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡及びその軸調整方法 - 特許庁

SAMPLE ANALYSIS METHOD USING SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡を用いた試料解析方法 - 特許庁

DARK FIELD SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD例文帳に追加

暗視野走査透過電子顕微鏡および観察方法 - 特許庁

OBSERVING APPARATUS FOR SCANNING TRANSMISSION ELECTRON IMAGE OF ELECTRON MICROSCOPE MOUNTED WITH ENERGY FILTER例文帳に追加

エネルギーフィルタを備えた電子顕微鏡の走査透過電子像観察装置 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON BEAM ENERGY SPECTROSCOPY USING IT例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡及びそれを用いた電子線エネルギー分光方法 - 特許庁

OBSERVATION METHOD AND OBSERVATION APPARATUS OF SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡の観察方法及び観察装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR ANALYZING SAMPLE USING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OR SCANNING TYPE TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

透過電子顕微鏡又は走査型透過電子顕微鏡を用いた試料の分析方法及び分析装置 - 特許庁

MAGNETIC DOMAIN STRUCTURAL IMAGE ACQUISITION METHOD AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

磁区構造画像取得方法および走査透過電子顕微鏡 - 特許庁

OBSERVATION METHOD AND OBSERVATION EQUIPMENT BY SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過型電子顕微鏡に依る観察方法及び観察装置 - 特許庁

To provide a correction device in which a chromatic aberration and an aperture aberration in a scanning electron microscope or a scanning transmission type electron microscope are removed.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡または走査透過型電子顕微鏡における色収差および開口収差を除去する。 - 特許庁

ELEMENT MAPPING DEVICE, SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ELEMENT MAPPING METHOD例文帳に追加

元素マッピング装置，走査透過型電子顕微鏡および元素マッピング方法 - 特許庁

MULTIPLE CHARGED PARTICLE DETECTOR, AND SCANNING TYPE TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

多重荷電粒子検出器、及びそれを用いた走査透過電子顕微鏡 - 特許庁

ABERRATION CORRECTION DEVICE AND ABERRATION CORRECTION METHOD OF SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型透過電子顕微鏡の収差補正装置及び収差補正方法 - 特許庁

SCANNING TRANSMITTED IMAGE AND MAGNIFICATION OF TRANSMITTED IMAGE/ROTATION CORRECTION METHOD AND SCANNING TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過像と透過像の倍率・回転補正方法及び走査透過型電子顕微鏡 - 特許庁

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, ABERRATION MEASURING METHOD, AND ABERRATION CORRECTION METHOD例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡、及び収差測定方法、ならびに収差補正方法 - 特許庁

ABERRATION CORRECTION METHOD AND ABERRATION CORRECTION DEVICE FOR SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡における収差補正方法および収差補正装置 - 特許庁

CHROMATIC ABERRATION COEFFICIENT MEASURING METHOD IN ELECTROMAGNETIC LENS AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

電磁レンズにおける色収差係数測定方法及び走査透過電子顕微鏡 - 特許庁

ELEMENT ANALYZING APPARATUS AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND ELEMENT ANALYZING METHOD例文帳に追加

元素分析装置及び走査透過型電子顕微鏡並びに元素分析方法 - 特許庁

COMMON SAMPLE HOLDER FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND FOCUSED-ION BEAM DEVICE, AND SAMPLE-PREPARATION METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡と集束イオンビーム装置との共用試料ホルダー及び透過型電子顕微鏡用の試料作製方法 - 特許庁

To provide an electron microscope such as a scanning electron microscope and a transmission type electron microscope capable of effectively neutralizing charge-up on a sample surface such as an insulator.例文帳に追加

絶縁物等の試料表面上のチャージアップを有効に中和させることができる走査電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡等の電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

To provide a charged particle source for a focused particle beam system such as a transmission electron microscope (TEM), scanning transmission electron microscope (STEM), scanning electron microscope (SEM), or focused ion beam (FIB) system.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）、走査透過型電子顕微鏡（ＳＴＥＭ）、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）、集束イオン・ビーム（ＦＩＢ）システムなどの集束粒子ビーム・システム用の荷電粒子源を提供すること。 - 特許庁

INCIDENT AXIS ADJUSTING METHOD OF SCATTERED ELECTRON BEAM AGAINST ANNULAR DARK FIELD SCANNING IMAGE DETECTOR, AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

環状暗視野走査像検出器に対する散乱電子ビームの入射軸調整方法及び走査透過電子顕微鏡 - 特許庁

CONFOCAL SCANNING TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE DEVICE AND THREE-DIMENSIONAL TOMOGRAPHIC OBSERVATION METHOD例文帳に追加

共焦点走査透過型電子顕微鏡装置及び３次元断層像観察方法 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope capable of generating a sample image in a transmission type microscope with a different contrast.例文帳に追加

透過式での試料画像の生成が、異なるコントラスト付けで可能な走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning transmission electron microscope operated with a sample in a high pressure environment.例文帳に追加

高圧環境中の試料を使用して動作する走査透過電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

An electron beam transmitting through an object 5 to be analyzed in this scanning transmission electron microscope enters the element mapping device.例文帳に追加

走査透過型電子顕微鏡装置で分析対象物（５）を透過した電子線は元素マッピング装置に入射する。 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING MEMBRANE SAMPLE FOR SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD FOR MEMBRANE SAMPLE METHOD FOR MEMBRANE SAMPLE例文帳に追加

走査透過電子顕微鏡用薄膜状試料の作製方法および薄膜試料の観察方法 - 特許庁

An electron beam energy analyzer (energy filter) 11 is installed to a scanning transmission type electron microscope to observe an electron beam energy loss spectrum and an element distribution image.例文帳に追加

走査透過型の電子顕微鏡に電子線エネルギー分析装置（エネルギーフィルタ）１１を備え、電子線エネルギー損失スペクトルや元素分布像を観察する。 - 特許庁

To provide a simpler and easy-to-use method for adjustment of an aberration correction apparatus in a scanning transmission electron microscope with built-in aberration correction apparatus, and to provide a scanning transmission electron microscope with such a functionality.例文帳に追加

収差補正器を搭載した走査透過電子顕微鏡において、従来よりも簡便で取り扱いやすい収差補正器の調整方法、および当該機能を備えた走査透過電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a constitution method as a composite charged particle beam device capable of preparing a TEM (Transmission Electron Microscope) sample efficiently by using a gas ion beam device, an FIB (Focused Ion Beam) and a SEM (Scanning Electron Microscope).例文帳に追加

気体イオンビーム装置とＦＩＢとＳＥＭを用いて、効率よくTEM試料作製ができる複合荷電粒子ビーム装置としての構成方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning transmission electron microscope comprising an energy analyzer, which is provided with an annular detector.例文帳に追加

エネルギーアナライザを備える走査透過型の電子顕微鏡であって、アニュラ検出器を備えるものを提供する。 - 特許庁

To provide a scanning transmission type electron microscope capable of stably observing a clear image which is reproducible at high magnification.例文帳に追加

高い倍率で安定して再現性の良い鮮明な走査透過型電子顕微鏡像の観察を可能にする。 - 特許庁

To provide a sample holder and an electron microscope, capable of improving resolution in acquiring an image when an scanning transmission electron image of a sample is acquired by using a general objective lens of the scanning electron microscope.例文帳に追加

走査電子顕微鏡における一般的な対物レンズを用いて試料の走査透過電子像を取得する際に、像取得時での分解能を向上させることのできる試料ホルダ及び電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To elongate life of and improve electrooptic performance of a thermionic cathode for a device using electron beams such as a lithography device, a scanning electron microscope (SEM), and a transmission electron microscope (TEM).例文帳に追加

リソグラフィ装置、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）、透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）などの電子ビーム利用装置のための熱陰極の寿命を延ばすとともに電子光学的性能を改善する。 - 特許庁

The microreactor may be combined with an optical microscope in order to inspect by a scanning transmission type electron microscope and inspect by a soft X-ray in the range of 250-300 eV.例文帳に追加

当該マイクロリアクターは、走査型透過電子顕微鏡での検査、250-300eV範囲での軟X線での検査等のため、光学顕微鏡と併用されて良い。 - 特許庁

To provide an electron source which is used for a semiconductor wafer inspection device such as a scanning or transmission electron microscope, a surface analyzer like an Auger electron spectroscopic analyzer, an electron beam exposure apparatus, especially a scanning electron microscope using an electron beam accelerated with low voltage of 1 kV or less, a CD SEM, or a DRSEM.例文帳に追加

走査型又は透過型電子顕微鏡、オージェ電子分光装置等の表面分析装置、電子線露光機、特に、電子ビームの加速電圧が１ｋＶ以下の低加速で用いられる走査型電子顕微鏡、ＣＤ ＳＥＭ、ＤＲＳＥＭ等の半導体ウェハ検査装置に用いられる電子源を提供する。 - 特許庁

To provide an electron source used for a scanning or transmission electron microscope, a surface analyzer such as an Auger electron spectroscope, an electron beam exposure machine, in particular, a scanning electron microscope used at low acceleration where an acceleration voltage of an electron beam is not higer than 1kV, or a semiconductor wafer inspection device such as a CD SEM or a DRSEM.例文帳に追加

走査型又は透過型電子顕微鏡、オージェ電子分光装置等の表面分析装置、電子線露光機、特に、電子ビームの加速電圧が１ｋＶ以下の低加速で用いられる走査型電子顕微鏡、ＣＤ ＳＥＭ、ＤＲＳＥＭ等の半導体ウェハ検査装置に用いられる電子源を提供する。 - 特許庁

To simplify the processes including the collection and molding of a sample piece for a transmission electron microscope(TEM) or scanning electron microscope(SEM) observation from an original sample and the installation of an observation holder and to consistently conduct the processes in a sample processing chamber.例文帳に追加

元試料から、TEMまたはSEM観察のための試料片の採取、成形および観察ホルダ設置までの工程を簡素化し、試料処理室において一貫して行なう。 - 特許庁

Further, either a TV camera 28 or 31 is selected and aligned on the light axis with an electron optics system maintained in a mode of a scanning transmission electron microscope.例文帳に追加

更に、電子光学系を走査透過電子顕微鏡モードに維持した状態で、ＴＶカメラ２８か３１が選択されて光軸上に配置される。 - 特許庁

The known method includes using a scanning transmission electron microscope, and also using a scanned diffraction beam of the STEM.例文帳に追加

知られた方法は、走査透過電子顕微鏡を使用することを伴うと共に、ＳＴＥＭの回折の走査されたビームを使用する。 - 特許庁

In this way, since a transmission electron image is obtained by the electron beam scanning at searching for the visual field as for this invention of the electron microscope, the magnetized state remains unchanged from searching for the visual field up to the photographing time.例文帳に追加

このように、本発明の電子顕微鏡においては、視野探しの時に電子線を走査させて透過電子像を得ており、視野探しから撮影にかけて集束レンズの励磁状態は変化しない。 - 特許庁

The analysis method is at least one method selected from the group consisting of transmission electron microscope, scanning electron microscope, electron probe microanalysis, Auger electron spectroscopy, atom probe, infrared spectroscopy, laser Raman spectroscopy, inductive coupled plasma spectroscopy, liquid chromatography, and gas chromatography.例文帳に追加

該分析方法は、透過型電子顕微鏡、走査型電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナリシス、オージエ電子分光、２次イオン質量分析、アトムプローブ、赤外分光、レーザーラマン分光、誘導結合プラズマ、液体クロマトグラフ、ガスクロマトグラフからなる群より選択される少なくとも一つの方法である。 - 特許庁