「testing, testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(121ページ目) - Weblio英語例文検索

POSITION CORRECTING METHOD AND DEVICE, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE例文帳に追加

位置補正方法及び装置並びに半導体集積回路試験装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING COMPONENT BUILT IN CIRCUIT BOARD例文帳に追加

回路基板に組み込まれた部品を検査するための装置及び方法 - 特許庁

This horizontal penetration testing device 1 comprises an insertion case 10.例文帳に追加

本発明の横方向貫入試験器１は挿入ケース１０を備える。 - 特許庁

To provide a technology for appropriately testing a network address translating device.例文帳に追加

ネットワークアドレス変換装置を適切に試験する技術を提供する。 - 特許庁

PREPARATION METHOD AND PREPARATION SYSTEM FOR TESTING BOVINE SPONGIFORM ENCEPHALOPATHY例文帳に追加

牛海綿状脳症の検査前処理方法及び検査前処理システム - 特許庁

To provide an acceleration testing machine enhanced in reproducibility and improved in workability.例文帳に追加

再現性が高く、作業性が良好な加速試験装置の提供。 - 特許庁

METHOD, APPARATUS AND PROBE FOR TESTING CIRCUIT BOARD例文帳に追加

回路基板検査方法およびその装置ならびに回路基板検査プローブ - 特許庁

FLUIDITY TESTING DEVICE FOR SEDIMENT, AND FLUIDITY TEST METHOD FOR SEDIMENT例文帳に追加

土砂の流動性試験装置および土砂の流動性試験方法 - 特許庁

To improve efficiency in measuring work, when testing an electrolytic capacitor.例文帳に追加

電解コンデンサの試験にあたって測定作業の効率を向上させる。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD FOR TESTING THE SAME AND METHOD FOR CORRECTING ITS REFERENCE VOLTAGE例文帳に追加

半導体装置、そのテスト方法、およびその基準電圧補正方法 - 特許庁

To provide a method and a packet receiver for testing a network.例文帳に追加

ネットワークを検査するための方法およびパケット受信器を提供する。 - 特許庁

Other adaptations are included for testing of the plurality smart card chips.例文帳に追加

複数のスマートカードチップを検査するための他の適応形態も含まれる。 - 特許庁

DROP IMPACT TESTING MACHINE AND CLAMPING DEVICE OF JIG USED THEREIN例文帳に追加

落下衝撃試験装置及びそれに用いる治具の締め付け装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR CONFIRMING/TESTING CALL INFORMATION DATA例文帳に追加

呼情報データ確認試験装置及び呼情報データ確認試験方法 - 特許庁

FLAW DETECTION TESTER, FLAW DETECTION TESTING METHOD AND SHEET MEMBER FOR FLAW DETECTION TEST例文帳に追加

探傷試験装置、探傷試験方法及び探傷試験用シート部材 - 特許庁

To provide a small-sized and simple joining strength testing device at low cost.例文帳に追加

小型で簡便な接合強度試験装置を低コストで提供する。 - 特許庁

IMPEDANCE CONVERSION CIRCUIT, INPUT AND OUTPUT CIRCUIT, AND SEMI-CONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

インピーダンス変換回路、入出力回路及び半導体試験装置 - 特許庁

TEST APPARATUS FOR TESTING VIBRATION CHARACTERISTIC OF TIRE AND TEST METHOD USING THE TEST APPARATUS例文帳に追加

タイヤの振動特性の試験装置、及びそれを用いた試験方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD AND TESTING METHOD FOR DATA TRANSFER APPARATUS, AND DATA TRANSFER APPARATUS例文帳に追加

データ転送装置の製造方法、試験方法、及びデータ転送装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND METHOD FOR DETECTING OFF CAPACITY ABNORMALITY OF RELAY例文帳に追加

半導体試験装置およびリレーのオフ容量異常検出方法 - 特許庁

DEVICE, PROGRAM, METHOD AND SYSTEM FOR TESTING SOFTWARE例文帳に追加

ソフトウェアテスト装置、ソフトウェアテストプログラム、ソフトウェアテスト方法及びソフトウェアテストシステム - 特許庁

APPARATUS FOR MOUNTING HEAD SLIDER ON SUSPENSION AND EQUIPMENT FOR TESTING HEAD SLIDER例文帳に追加

サスペンションにヘッド・スライダを装着する装置及びヘッド・スライダのテスト装置 - 特許庁

DEVICE FOR TESTING RULE FILE FOR LAYOUT VERIFICATION AND TEST METHOD AND TEST PROGRAM例文帳に追加

レイアウト検証用ルールファイルのテスト装置、テスト方法及びテストプログラム - 特許庁

SOLDER CREEP STRENGTH TESTING DEVICE AND SOLDER CREEP STRENGTH TEST METHOD例文帳に追加

はんだクリープ強度試験装置、およびはんだクリープ強度試験方法 - 特許庁

CHIP HOLDING MEANS FOR SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING UNIT AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体デバイスの試験装置用のチップ保持手段及び試験方法 - 特許庁

ANISOTROPIC ELECTRICAL CONDUCTIVE SHEET, TESTING DEVICE AND CONNECTOR USING THE SAME例文帳に追加

異方導電性シートおよびそれを用いた検査装置並びにコネクター - 特許庁

PRODUCING METHOD AND MACHINE FOR TEST DATA, AND WIRING TESTING MACHINE例文帳に追加

検査データの作製方法及び検査データ作製機並びに布線検査機 - 特許庁

MOUNTING METHOD OF TERMINAL FITTING FOR FRETTING CORROSION TESTING EQUIPMENT AND FIXING TOOL例文帳に追加

フレッチング腐食試験装置の端子金具の取り付け方法と固定具 - 特許庁

1. Machines that are not capable of testing rotors exceeding 3 kilograms 例文帳に追加

（一）　重量が三キログラムを超えるロータを試験することができないもの - 日本法令外国語訳データベースシステム

TIMING CALIBRATION CIRCUIT AND TIMING CALIBRATION METHOD OF SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置のタイミング校正回路及びタイミング校正方法 - 特許庁

The volume gain testing device includes a correction volume circuit 2 and a controller 3.例文帳に追加

ボリュームゲイン試験装置は、補正ボリューム回路２とコントローラ３とを含む。 - 特許庁

WAFER PROBER AND SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHODS AND ASSOCIATED SEMICONDUCTOR TESTING EQUIPMENT例文帳に追加

ウェハプローバ及び半導体装置の製造方法、半導体試験装置 - 特許庁

To provide a macro cell capable of testing an analogue signal wiring.例文帳に追加

アナログの信号配線を試験することができるマクロセルを提供する。 - 特許庁

To provide a technology for properly testing a database access control device.例文帳に追加

データベースアクセス制御装置を適切に試験する技術を提供する。 - 特許庁

To reduce a time for a test by reducing the number of addresses in the case of testing a DRAM etc.例文帳に追加

DRAM等のテスト時のアドレス数を減らしてテスト時間を短縮する。 - 特許庁

First, the tensile test of a test piece 2 is performed by a tensile testing machine 10.例文帳に追加

まず、引張り試験機１０で試験片２の引っ張り試験を行う。 - 特許庁

To provide a method for testing graphics cards.例文帳に追加

本発明はグラフィックスカードのテスト方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

MEDIUM TEST AUXILIARY DEVICE FOR NETWORK TERMINATING DEVICE AND MEDIUM TESTING METHOD例文帳に追加

網終端装置用媒体試験補助装置及び媒体試験方法 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TESTING MECHANICAL ENDURANCE OF SURFACE OF OPTICAL DISK例文帳に追加

光ディスク表面の機械的耐久性検査装置及び検査方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING LUBRICATION PROPERTY OF EMULSION ROLLING OIL例文帳に追加

エマルション圧延油の潤滑性試験装置および潤滑性試験方法 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device reducing a management load of a DUT board.例文帳に追加

DUTボードの管理負担を軽減する半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

TESTING SOCKET, TEST METHOD USING THE SAME AND MEMBER TO BE TESTED例文帳に追加

テスト用ソケット、このテスト用ソケットを用いたテスト方法、及び被テスト部材 - 特許庁

BATTERY PACK, DEVICE AND METHOD FOR BATTERY PACK CAPACITY TESTING例文帳に追加

組電池、組電池容量試験装置、および組電池容量試験方法 - 特許庁

IC TESTING DEVICE AND EXTERNAL EQUIPMENT DISCRIMINATING METHOD IN THE SAME例文帳に追加

ＩＣ試験装置、及びＩＣ試験装置における外部機器識別方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING γ-RAY SENSITIVITY OF PROPORTIONAL COUNTER TYPE NEUTRON DETECTOR例文帳に追加

比例計数管型中性子検出器のγ線感度試験方法 - 特許庁