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testingを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 14414



例文

To provide a program testing apparatus to test a program under programmable conditions.例文帳に追加

プログラマブルな条件でプログラム試験が行えるプログラム試験装置を提供する - 特許庁

To improve test productivity when testing a fuel battery power-generating system.例文帳に追加

燃料電池発電システムの試験を行う際の生産性を向上させること。 - 特許庁

METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, FOR CALIBRATING IC TESTER, AND CLEANING BOARD例文帳に追加

半導体デバイスの検査方法、ICテスタの校正方法、及びクリーニング用ボード - 特許庁

METHOD, TEST CHAMBER AND TEST SETUP FOR LEAK TESTING OF CLOSED CONTAINERS例文帳に追加

閉じた容器の漏れ試験をする方法、そのための試験室、および試験構成 - 特許庁

例文

The placement member accepts a radio terminal, which is a testing object, in an unrestricted state.例文帳に追加

前記載置部材は、試験対象の無線端末を無拘束状態で載置する。 - 特許庁


例文

METHOD FOR TESTING MULTILAYER CERAMIC CAPACITOR AND METHOD FOR MANUFACTURING THE MULTILAYER CERAMIC CAPACITOR例文帳に追加

積層セラミックコンデンサの試験方法および積層セラミックコンデンサの製造方法 - 特許庁

An IC tester for testing a tested object is improved.例文帳に追加

本発明は、被試験対象を試験するICテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

TESTING METHOD AND DEVICE FOR PERFORMANCE EVALUATION FOR VEHICLE BY AUTOMATIC PRESSING OF OPERATION MEMBER例文帳に追加

操作部材の自動押圧による車輌性能評価試験方法及び装置 - 特許庁

TEST CHART FOR SOLID-STATE IMAGING APPARATUS, METHOD OF USING THE SAME, CHART BOARD, AND TESTING APPARATUS例文帳に追加

固体撮像装置用テストチャート及びその使用方法、チャート盤、テスト装置 - 特許庁

例文

METHOD AND DEVICE FOR MEDICINE-MEDICINE INTERACTION TESTING SAMPLE PREPARATION例文帳に追加

薬剤−薬剤間相互作用試験サンプル調製物のための方法及び装置 - 特許庁

例文

COMPOSITION, METHOD, AND KIT FOR DETERMINATION OF THE PRESENCE OF MYCOPLASMA GENITALIUM IN TESTING SAMPLE例文帳に追加

試験サンプル中のMycoplasmagenitaliumの存在を決定するための組成物、方法およびキット - 特許庁

To provide a detection method for Waardenburg anophthalmia syndrome by the genetic testing.例文帳に追加

遺伝子検査によるWaardenburg無眼球症候群の検出方法を提供すること。 - 特許庁

LIGHTING APPARATUS FOR IMAGE RECOGNITION APPARATUS, SURFACE MOUNTING APPARATUS, AND PART TESTING APPARATUS例文帳に追加

画像認識装置用照明装置、表面実装機および部品検査装置 - 特許庁

SERVER AND METHOD FOR TESTING CALL QUALITY, COMMUNICATION TERMINAL, AND PROGRAM例文帳に追加

通話品質試験用サーバ、通話品質試験方法、通信端末、およびプログラム - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING CIRCUIT BY USING SIGNATURE GENERATED OUTSIDE例文帳に追加

外部で生成したシグネチャを用いて回路を試験するためのシステム及び方法 - 特許庁

GAS SUPPLY DEVICE, FUEL CELL EVALUATION TESTING DEVICE, AND FUEL CELL SYSTEM例文帳に追加

ガス供給装置、燃料電池評価試験装置、並びに、燃料電池システム - 特許庁

VOICE GUIDANCE SYSTEM, VOICE GUIDANCE CONTROLLER, AND METHOD FOR TESTING VOICE GUIDANCE例文帳に追加

音声ガイダンスシステム、音声ガイダンス制御装置および音声ガイダンス試験方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR BURN-IN TESTING OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置のバーイン試験方法、バーイン試験装置および半導体装置 - 特許庁

(2) The Qualification Examination shall be implemented for the purpose of testing the necessary knowledge required for money lending operations. 例文帳に追加

2 資格試験は、貸金業に関して、必要な知識について行う。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

FATIGUE STRENGTH TESTING DEVICE AND FATIGUE STRENGTH TEST METHOD FOR BRAKE PISTON MADE OF RESIN例文帳に追加

樹脂製ブレーキピストンの疲労強度試験装置および疲労強度試験方法 - 特許庁

HANDLING EQUIPMENT FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENT, IC TEST HANDLER, AND PUMP FOR LIQUID NITROGEN例文帳に追加

電子部品の試験用取扱装置,ICテストハンドラ及び液体窒素用ポンプ - 特許庁

MICROCHIP AND LIQUID MIXING METHOD AND BLOOD TESTING METHOD USING MICROCHIP例文帳に追加

マイクロチップ、このマイクロチップを用いた液体の混合方法及び血液検査方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, METHOD OF TESTING PROBE CARD AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路、プローブカード及び半導体集積回路の試験方法 - 特許庁

APPARATUS FOR INCREASING OPERATING FREQUENCY OF SYSTEM FOR TESTING ELECTRONIC DEVICES例文帳に追加

電子デバイスをテストするためのシステムの動作周波数を増加させるための装置 - 特許庁

TEST RESERVATION SYSTEM AND METHOD INCORPORATED WITH AUTOMATIC TESTING DATE DECISION FUNCTION例文帳に追加

検査日時自動決定機能組み込み検査予約システム及び検査予約方法 - 特許庁

VAPOR-LIQUID TWO-PHASE FLOW SIMULATION TESTING DEVICE, AND VAPOR-LIQUID TWO-PHASE FLOW SIMULATION TEST METHOD例文帳に追加

気液二相流模擬試験装置および気液二相流模擬試験方法 - 特許庁

The test program 200 executes processing for testing an operation of a communication device 125.例文帳に追加

テストプログラム200は、通信デバイス125の動作をテストする処理を実行する。 - 特許庁

OPTICAL PULSE TESTER EVENT DETECTION METHOD AND DEVICE AND OPTICAL PULSE TESTING DEVICE例文帳に追加

光パルス試験器イベント検出方法及び装置並びに光パルス試験装置 - 特許庁

INSERTING/EJECTING METHOD OF CONNECTOR, INSERTING/EJECTING DEVICE OF CONNECTOR, AND TESTING DEVICE OF CIRCUIT SUBSTRATE例文帳に追加

コネクタ着脱方法及びコネクタ着脱装置及び回路基板検査装置 - 特許庁

To provide a testing device easy to handle and used for applying load to a specimen.例文帳に追加

取扱いが容易な供試体に荷重を与える試験装置を提供する。 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING MEMORY WITH EXPANSION CARD USING DMA例文帳に追加

DMAを使用して拡張カードでメモリをテストするためのシステムおよび方法 - 特許庁

WELDED STRUCTURE FLAW DETECTION TESTING METHOD, AND STEEL WELDED STRUCTURE FLAW DETECTOR例文帳に追加

溶接構造体探傷試験方法、及び鋼溶接構造体探傷装置 - 特許庁

Impact resistance of a wafer 5 with a chip for an inertia sensor formed is tested in this impact resistance testing device.例文帳に追加

慣性センサー用のチップを形成したウエハ5の耐衝撃を試験する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device which can reduce a testing cost.例文帳に追加

テストコストの低減化を図ることが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

MAGNETIC RECORDING MEDIUM TESTING DEVICE AND METHOD, AND MAGNETIC RECORDER例文帳に追加

磁気記録媒体検査装置、磁気記録媒体検査方法および磁気記録装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING PNEUMATICALLY OPERATED THREAD STRANDING AND ENDING DEVICE例文帳に追加

空圧式に作業する糸撚り継ぎ装置を検査するための方法及び装置 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor device, which can reduce test costs.例文帳に追加

テストコストの低減を実現可能な半導体装置のテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test equipment for a memory device testing a memory device of a packet type.例文帳に追加

パケット方式のメモリデバイスを試験するメモリデバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

The testing device which is used for the colorimetry of a specimen is provided.例文帳に追加

この発明は、検体の比色測定に使用される試験器具を提供する。 - 特許庁

To reduce cost by simplifying the configuration of a device for testing a heat retaining property of a futon.例文帳に追加

布団用保温性試験装置の構成を単純化し、コストを低減する。 - 特許庁

Thereby, a time required for testing data on the pipeline can be shortened.例文帳に追加

ことによりパイプライン上のデータテストのための時間を短縮することができる。 - 特許庁

SYSTEM FOR ANALYZING DEVICE TO BE TESTED AND METHOD FOR TESTING DEVICE TO BE TESTED例文帳に追加

被試験デバイスの分析のためのシステムおよび被試験デバイスをテストする方法 - 特許庁

MULTI-CHIP MODULE, SEMICONDUCTOR CHIP, AND METHOD OF TESTING INTERCHIP CONNECTION IN MULTI-CHIP MODULE例文帳に追加

マルチチップモジュール、半導体チップ及びマルチチップモジュールのチップ間接続テスト方法 - 特許庁

A hub 18 is coupled to each of a plurality of testing measuring apparatuses 12-15.例文帳に追加

ハブ18は、複数の試験測定機器12〜15の各々に結合されている。 - 特許庁

Consequently, the lengths of the split chains become 1/2 and the testing time can be shortened.例文帳に追加

これにより、分割チェーンの長さが1/2になり、試験時間が短縮できる。 - 特許庁

TESTING METHOD FOR EVALUATING FORMABILITY OF EXTENSION FLANGE OF METALLIC PLATE IN PRESS FORMING OF SHEET METAL例文帳に追加

薄板プレス成形における金属板の伸びフランジ性評価試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING INFORMATION PROCESSOR AND STORAGE MEDIUM STORED WITH PROGRAM THEREOF例文帳に追加

情報処理装置の試験方法およびそのプログラムを記憶した記憶媒体 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE TESTER AND TESTING METHOD IN IT例文帳に追加

半導体デバイス試験装置および半導体デバイス試験装置における試験方法 - 特許庁

To provide methods and apparatus for testing a full-power converter assembly.例文帳に追加

全出力コンバータ・アセンブリを試験するための方法および装置を提供する。 - 特許庁

例文

Not all features used in training need to appear in testing/recognition.例文帳に追加

トレーニングで使用されるすべて特徴が、テスト/認識で出現する必要はない。 - 特許庁




  
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※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。
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