「testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(130ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an ultrasonic testing method capable of further clearly detecting a defect part by noncontact reflection method, and an ultrasonic testing device used therefor.例文帳に追加

非接触反射法でより明確に欠陥部を検出することの可能な超音波試験方法及びこれに用いる超音波試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a strain control type super-high cycle fatigue testing method and a fatigue testing apparatus therefor, which can carry out a super-high cycle fatigue test for a short period of time.例文帳に追加

超高サイクル疲労試験を短時間で実施することができるひずみ制御型超高サイクル疲労試験方法および疲労試験装置を提供する。 - 特許庁

62 companies from 19 countries road tested WBCSD Road Testing Companies 例文帳に追加

19の国から62の企業が、2010年1月～6月にかけて両基準のロードテストを実施 - 経済産業省

RADIATION DETECTING DEVICE, RADIATION COMPUTED TOMOGRAPHY DEVICE, AND RADIATION TESTING APPARATUS例文帳に追加

放射線検出装置、放射線ＣＴ装置及び放射線検査装置 - 特許庁

At this time, the primality testing unit uses a reconstruction unit to change the representation of prime candidates and the primality testing unit performs a primality test using the representation after change.例文帳に追加

このとき、再構成ユニットを使用して素数候補の表現が変換され、変換された表現形態を用いて素数性判定テストユニットが判定する。 - 特許庁

Others, testing him, sought from him a sign from heaven. 例文帳に追加

ほかの者たちは，彼を試そうとして，天からのしるしを彼から求めていた。 - 電網聖書『ルカによる福音書 11:16』

After undergoing testing for a certain period of time, the new product was put on the market. 例文帳に追加

一定期間のテストを経て、その新製品は市場に投入された。 - Weblioビジネス英語例文

Circuit design data 1A are read by means of a visually-inspected parts extracting section 11 for each testing machine, and a list 3 of visually- inspected parts for each testing machine is prepared based on information 3 on visually-inspected parts for each testing machine.例文帳に追加

回路設計データ１Ａは、試験機別目視検査対象部品抽出部１１で読み取られ、試験機別検査対象部品検査項目情報２に基づいて、試験機別目視検査対象部品一覧３が作成される。 - 特許庁

Each of these four chambers A/B/C/D independently functions as a burn-in testing device, the burn-in testing device 1 of this embodiment may also be defined as the one consisting of four burn-in testing devices linked by the common duct 2.例文帳に追加

４基のチャンバーＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄは、いずれも単独でバーンイン試験装置として機能するものであり、本実施形態のバーンイン試験装置１は、４台のバーンイン試験装置を共通ダクト２で繋いだものであるとも言える。 - 特許庁

This method finds a function expressing an approximate curve Q for approximating a relation between a brittle fracture rate of a testing object and a testing temperature therein, and determines the testing temperature where the brittle fracture rate comes to 50% in the found function, as the fracture transition temperature (FATT).例文帳に追加

各試験体の脆性破面率と試験温度との関係を近似する近似曲線Ｑを表す関数を求め、求めた関数において脆性破面率が５０％となる試験温度を破面遷移温度（ＦＡＴＴ）とする。 - 特許庁

A personal computer 1 generates parallel testing programs P-1 to P-N for transmitting to parallel testing devices 2-1 to 2-N, and then transmits test start signals C-1 to C-N to the parallel testing devices 2-1 to 2-N.例文帳に追加

パーソナルコンピュータ１は、並列試験プログラムＰ−１〜Ｐ−Ｎを生成して並列試験装置２−１〜２−Ｎにそれぞれ送信した後、試験開始信号Ｃ−１〜Ｃ−Ｎを並列試験装置２−１〜２−Ｎにそれぞれ送信する。 - 特許庁

To smoothly perform a detector testing by allowing a fire receiver side to ignore an alarm from a fire sensor which is automatically restored after the end of the detector testing during a prescribed period after the detector testing.例文帳に追加

あぶり試験を終了させ、自動復旧させた火災感知器から、あぶり試験後の所定時間の間は、その火災感知器から発報を受けて、火災受信機側では無視できるようにして、あぶり試験をスムーズに行う。 - 特許庁

To provide an inexpensive and durable electronic part testing device for accurately controlling the temperature of an electronic part even when the electronic part self-heats at the time of test, and for testing the electronic part at a desired testing temperature.例文帳に追加

試験時に電子部品が自己発熱しても、電子部品の温度を正確に制御し、所望の試験温度にて電子部品を試験することができ、しかも安価で耐久性に優れた電子部品試験装置を提供すること。 - 特許庁

This simplified body fluid testing unit is comprised of a porous sheet member with a dripping part, a testing tip comprised of the reagent part which comes into contact with the surface edge part opposite to the dripping part of the porous sheet member in such a way as to be overlapping, and a rotating means for rotating the testing tip.例文帳に追加

滴下部を有する多孔質シート部材、前記多孔質シート部材の滴下部に対向する面の縁部に重なるように接触する試薬部よりなる検査チップ、前記検査チップを回転させる回転手段よりなる。 - 特許庁

To provide a fixture for a peel strength testing machine which can surely and easily set a test piece for the peel strength testing machine for testing the peel strength of a sealed part which is formed by sealing a part of overlapped 2 pieces of film members.例文帳に追加

重ねた２枚のフィルム状部材の一部をシールしたシール部の剥離強度を試験する剥離強度試験機に対して、試験片を的確かつ容易にセットすることができる剥離強度試験機用治具を提供する。 - 特許庁

To provide a testing terminal for chip type electronic part capable of precisely measuring characteristic without exposing an internal electrode layer constituting the outer electrode of a chip type electronic part, and a testing method and testing device using it.例文帳に追加

チップ型電子部品の外部電極を構成する内部の電極層を露出させることなく、正確に特性を測定することができるチップ型電子部品の検査端子と、それを用いた検査方法および検査装置を得る。 - 特許庁

To provide a closing apparatus for testing piping withstand pressure used for closing of piping in testing piping withstand pressure, by which problems such as limitation of application of internal pressures for testing and complexity in its structure are solved.例文帳に追加

配管耐圧試験における配管の試験用閉止に用いられる配管耐圧試験用閉止装置について、試験用内圧に関する適用範囲の制限や構造の複雑化といった問題を解消できるようにする。 - 特許庁

In addition, optimum acceptance criteria values can be used, to conduct highly-reliable motor surfacing revolution testing because the surfacing revolution testing in fluid bearing motor inspection process enables more accurate motor surfacing revolution testing.例文帳に追加

また、流体軸受モータ検査工程の浮上回転数検査で、正確にモータの浮上回転数の検査を行うことができるため、最適な合格判定基準値を用い信頼性の高い浮上回転数の検査を行うことができる。 - 特許庁

(2) When it is found that the approved Testing Procedure Rule set forth in the preceding paragraph is not appropriate for fair and proper execution of the testing procedures, the Minister of Land, Infrastructure, Transport and Tourism may order the designated testing agency to change the same. 例文帳に追加

２　国土交通大臣は、前項の認可をした試験事務規程が試験事務の公正かつ適確な実施上不適当となったと認めるときは、その指定試験機関に対し、これを変更すべきことを命ずることができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

Effect of reaction force between a testing object 11 and a testing object mounting part 21 and a modeling error are eliminated by compensating an effect by an external force value onto a motion of the testing object 11 in the inner loop, by this manner.例文帳に追加

このように、インナーループにおいて試験体１１の運動に対する外力値による影響を補償することによって、試験体１１と試験体載置部２１との間の反力及びモデル化誤差の影響を排除することができる。 - 特許庁

To provide a testing method and a testing circuit, which enable the user to perform the test of ADC in a time shorter than that in conventional ones, without using a high-precision, high-resolution, and expensive analog voltage generating circuit for an ADC testing circuit.例文帳に追加

ＡＤＣの試験回路に高精度かつ高分解で高価なアナログ電圧発生回路を用いることなく、従来と比較して短時間でＡＤＣの試験を行うことができる試験方法および試験回路を提供する。 - 特許庁

This low-power-consumption testing circuit is constituted by interposing a gate circuit 13 which gives scanning data to a delay element 14 only when testing operations are made or scanning operations are made during the course of the testing operations between the scanning F/Fs 11 and 12 and delay element 14.例文帳に追加

この発明は、スキャンＦ／Ｆ１１，１２と遅延要素１４との間に、テスト動作時又はテスト動作におけるスキャン動作時にのみスキャンデータを遅延要素１４に与えるゲート回路１３を挿入して構成される。 - 特許庁

To accurately and easily move an imaging means to the testing location on a substrate and to improve testing efficiency, even if there are manufacturing errors detected in the location reference unit and an allocation error of substrate in the substrate testing apparatus and method.例文帳に追加

基板検査装置および方法において、位置基準部の製作誤差や、基板の配置誤差があっても、基板上の検査位置に撮像手段を正確かつ容易に移動することができ、検査効率を向上できるようにする。 - 特許庁

The testing device for testing a device to be tested is provided, which includes: a testing board equipped with a programmable circuit and testing the device to be tested by operation of the programmable circuit; and a control board equipped with a configuration memory which stores configuration data for programming a circuit configuration of the programmable circuit.例文帳に追加

被試験デバイスを試験する試験装置であって、プログラマブル回路を搭載し、プログラマブル回路の動作により被試験デバイスを試験する試験ボードと、プログラマブル回路の回路構成をプログラムするためのコンフィギュレーションデータを記憶するコンフィギュレーションメモリを搭載する制御ボードと、を備える試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a safety evaluation testing method and a testing device for the same, which can capture the total amount of gas that is generated in a power storage device while testing and carry out a component analysis while making unnecessary a high pressure durable and high volume testing container for storing the power storage device and carrying out a safety evaluation test.例文帳に追加

本発明は、蓄電デバイスを収容し、安全性評価試験を行なうために高耐圧かつ高容積な試験容器が不要でありながら、試験時に蓄電デバイスから発生したガスの全量を捕獲し、成分分析が可能な安全性評価試験方法およびその試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a satellite adjusting and testing system and method capable of dispensing with a number of times of preparation work and decomposing work for using a number of testing chambers, and dispensing with moving a satellite between the testing chambers by executing assemblage of the satellite and a lot of tests in a single testing chamber.例文帳に追加

衛星の組み立て及び多くの試験を単一の試験チャンバ内で実施することによって、多数の試験チャンバを使用する場合に必要な多数回の準備作業及び分解作業をなくし、衛星を試験チャンバ間で移動する必要をなくす、衛星調整−試験システム及び方法を提供する。 - 特許庁

Since the test sequence and the testing patterns are stored in the nonvolatile memory 16 of the display device 10, this eliminates the need for cumbersome and extensive tasks of preparing testing devices respectively corresponding to the models of the display device and the test sequence and the testing pattern which are respectively suitable for the models of the display device and storing them in the testing devices, respectively.例文帳に追加

これにより、表示装置１０の不揮発性メモリ１６に検査シーケンスおよび検査用パターンが格納されているため、モデルごとに検査装置を準備し、モデルに合わせた検査シーケンスおよび検査用パターンをそれぞれの検査装置に格納するという煩雑で大掛かりな作業が不要となる。 - 特許庁

The method includes a step for generating deficiency management information, as testing information, generated after performing the initialization which is not verified on an empty testing disk in which no data are recorded and a step for confirming the testing information by using reference testing information about the initialization which is not verified to provide the test result.例文帳に追加

何のデータも記録されていない空テストディスク上に検証しない初期化を行った後に生成される欠陥管理情報をテスト情報として生成する段階及び、検証しない初期化についての基準テスト情報を使用して前記テスト情報を確認してテスト結果を提供する段階を含む。 - 特許庁

To provide an IC testing system capable of decoding the location data of a wafer prober in any chip arrangement by an IC testing device in an IC testing system which decodes any location data furnished by a wafer prober using an IC testing device making out a chip map for distinguishing tested chips from chips not yet tested, to perform a test.例文帳に追加

ウェハプローバが発信するロケーション・データをＩＣ試験装置が読み取り、ＩＣ試験装置でチップマップを作成し、試験済チップと未試験チップを区別して試験を実行するＩＣテストシステムにおいて、如何なるチップ配置のウェハプローバでもＩＣ試験装置でそのロケーション・データを解読することができるＩＣテストシステムを提供する。 - 特許庁

A data of a testing body part is converted into a data of a format along an MIB to be stored in an MIB database, using an MIB conversion part for conducting mutual conversion between the data of the testing body part for testing the quality of a semiconductor and the data of the format along the MIB, the semiconductor testing device is controlled using the SNMP.例文帳に追加

半導体の良否をテストするテスト本体部のデータとＭＩＢに沿った形式のデータとの相互変換を行うＭＩＢ変換部を用い、テスト本体部のデータをＭＩＢに沿った形式のデータに変換してＭＩＢデータベースに格納すると共に、ＳＮＭＰを用いて半導体テスト装置を管理できるようにした。 - 特許庁

The method tests for continuity, by fitting the second press fit connector 38 of a testing jig 39 mounted on a testing printed circuit board 40 to the first press fit connector 14 mounted on the board 20 and connecting the testing conductor pattern of the printed circuit board selectively to the respective output land of the testing jig.例文帳に追加

その検査方法は、検査用プリント回路板４０に実装された検査用治具３９の第２プレスフィットコネクタ３８をプリント回路板２０上に実装された第１プレスフィットコネクタ１４に嵌合させ、プリント回路板の検査用導体パターンを検査用治具の出力ランドの各々に選択的に接続して導通検査する。 - 特許庁

The frame transmitting portion is provided with an error pattern inserting portion between a frame generating portion and a FCS calculating portion, in the testing apparatus provided with the frame transmitting portion to transmit a testing frame to a testing object network transmitting apparatus (DUT) and a frame receiving portion to receive the frame transmitted from the DUT which has received the testing frame.例文帳に追加

試験対象ネットワーク伝送装置（ＤＵＴ）に試験用フレームを送信するフレーム送信部と、試験用フレームを受信した前記ＤＵＴから送信されるフレームを受信するフレーム受信部とを備えた試験装置において、前記フレーム送信部は、フレーム生成部とＦＣＳ演算部の間にエラーパターン挿入部を備える。 - 特許庁

In a mobile communication system to perform the short message service, a terminal 2 for testing which can send the short message for testing to a radio area is provided in a moving exchange station 3 side, and a mobile set 5 for testing which can return the transmission of the received short message for testing as it is, is provided in the radio area.例文帳に追加

ショートメッセージサービスを実施している移動通信システムにおいて、移動交換局３側に、試験用ショートメッセージを無線エリアへ発信できる試験用端末２を設け、無線エリアに、受信した前記試験用ショートメッセージをそのまま折り返して返信できる試験用移動機５を設けてあることを特徴とする。 - 特許庁

The testing method of the semiconductor integrated circuit device is so constituted that testing items of the semiconductor integrated circuit device (30) can be changed on the basis of testing result in the manufacturing steps of the semiconductor integrated circuit device by testing (20) the manufacturing process of the semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

半導体集積回路装置の試験方法であって、前記半導体集積回路装置の製造工程において検査を行い（２０）、該半導体集積回路装置の製造工程における検査結果に基づいて、該半導体集積回路装置の試験項目を可変にする（３０）ように構成する。 - 特許庁

(2) This scratchability testing device comprises the testing machine according to claim 1 or 2, the floor material horizontally placed on a mounting base; a traveling inclined passage for the testing machine set at an angle of 10-20° to the floor material, and a stopper mechanism for stooping the testing machine provided on the inclined passage at a traveling start point.例文帳に追加

（２）請求項１又は２記載の試験機、載置台上に水平に載置された床材、該床材に対し１０〜２０°の角度で設置された前記試験機の走行用傾斜路、該傾斜路に設けられた前記試験機を走行開始点に停止させておくストッパー機構よりなることを特徴とする床材用傷付き性試験装置。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING SEALED CAN, AND CASE PACKED WITH SEALED CAN例文帳に追加

密閉缶の検査方法及び検査装置並びに密閉缶を梱包したケース - 特許庁

COMPUTER EXTENDED FUNCTION TESTING DEVICE, AND ADD-IN BOARD SET BY USING THE DEVICE例文帳に追加

コンピュータの拡張機能検査装置およびそれを用いて設定したアドインボード - 特許庁

ESTIMATION METHOD OF POWDER FLOW CHARACTERISTICS AND TESTING MACHINE OF POWDER FLOW CHARACTERISTICS例文帳に追加

粉体流動特性の推定方法及び粉体流動特性試験装置 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT, METHOD FOR TESTING THE SAME AND LIQUID CRYSTAL DRIVING DEVICE例文帳に追加

集積回路の試験方法ならびに集積回路および液晶駆動装置 - 特許庁

MICRO-WAVE DRYING EQUIPMENT FOR MOISTURE PERCENTAGE AND MOISTURE CONTENT TESTING USING HIGH FREQUENCY TREMBLER例文帳に追加

高周波振動子を使った水分率、含水率試験用高周波乾燥機 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR APPLYING TRIGGER AND FREQUENCY AREA TESTING AND MEASURING DEVICE例文帳に追加

トリガをかける方法及びシステム並びに周波数領域試験測定装置 - 特許庁

A microprocessor with built-in functional testing capability is also provided.例文帳に追加

あるいは、本発明は、組み込み機能試験能力を有するマイクロプロセッサに関する。 - 特許庁

METHOD FOR TESTING OF BASE ISOLATION DEVICE, BASE ISOLATION DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING OF BASE ISOLATION DEVICE例文帳に追加

免震装置の試験方法、免震装置、及び免震装置の製造方法 - 特許庁

ACCELERATED TESTING METHOD OF STAIN OF COATING FILM AND EVALUATION METHOD OF ANTI-STAINING PROPERTIES OF COATING FILM例文帳に追加

塗膜の汚れ促進試験方法及び塗膜の耐汚れ性評価方法 - 特許庁

To provide a connector apparatus having no possibility of miswiring at the time of testing.例文帳に追加

試験時の誤配線のおそれのない接続器具を提供することである。 - 特許庁