テスト0の英語

このテストイメージ（０）記憶部１３ａのイメージデータ（０）を読み出して、プリンタ画像処理回路１４を通す。例文帳に追加

The image data (0) of the test image (0) storage part 13a is read and makes it pass through a printer image processing circuit 14. - 特許庁

リセット解除後は、テストモード設定信号TESTMODE[7:0]は固定され、通常外部入力端子１は通常入力端子として使用できる。例文帳に追加

After the reset release, the test mode setting signal TESTMODE[7:0] is fixed, and the normal external input terminal 1 can be used as a normal input terminal. - 特許庁

リセット解除時、LOAD/HOLD付きフリップフロップ４は、入力データをホールドし、テストモード設定信号TESTMODE[7:0]が設定される。例文帳に追加

At the reset releasing time, the flip-flop 4 with LOAD/HOLD holds input data, and a test mode setting signal TESTMODE[7:0] is set. - 特許庁

現像バイアスの現設定値VB0を記憶し、VB0でテストパッチを作像し、付着量センサでテストパッチと付着量0の各検知出力Vsc、Vsgcを得る（Ｓ３３，３４）。例文帳に追加

The present set value VB0 of developing bias is stored, a test patch image is formed at the set value VB0, and respective detection outputs Vsc and Vsgc on the test patch and the adhesive amount 0 are obtained by the adhesive amount sensor (S33 and 34). - 特許庁

故障の有無を表す論理変数を用いてテスト応答中のデータ０、１を置換した故障テスト応答を考え、テスト応答処理手段ＴＲＡ１の最終状態をその論理変数を用いて表す。例文帳に追加

Considering response for a failure test that data 0, 1 during a test response are replaced by using logical variables indicating the presence of failures, the final state of the means for processing a test response TRA1 is indicated by using the logical variables. - 特許庁

テストディスク３０には、レイヤー０、１の記録容量の数分の１程度の容量（3MByte程度）のデータがレイヤー０、１に亘って記録され、それに応じて、レイヤー０、１のミドルエリアが拡張されている。例文帳に追加

In the test disk 30, data of capacity (about 3 MByte) of the degree of a small fraction of the recording capacity of layers 0 and 1 is recorded over the layers 0 and 1, and a middle area of the layers 0 and 1 is expanded. - 特許庁

ＤＳＰは騒音から分離しやすい所定の波形を持つ、且つｔ＝０時刻が定義されるテスト信号をスピーカに出力し、聴取位置で音場信号を取り込み、テスト信号のスピーカから聴取位置までへの伝達時間はテスト信号の波形を検出する段階と、テスト信号のｔ＝０時刻を算出する段階と、二つの段階を分けて計算する。例文帳に追加

The DSP provides a test signal output which has a predetermined waveform easily separated from the noise and defines a timing of t=0 to the loudspeaker, acquires the sound field signal at a listening position, and calculates the test signal transfer time from a loudspeaker to a listening position in two steps, including a step to detect the test signal waveform and a step to calculate the test signal timing of t=0. - 特許庁

これを解いて「すべてのｄｉが０」以外の解を求めると、それぞれの解がテスト応答パターン１０４中のエラー発生パターンに対応している。例文帳に追加

When solutions other than 'all di are 0' are found by solving it, the respective solutions correspond to error generation patterns in the test response pattern 104. - 特許庁