共通試験の英語

環境試験装置１は、４基のチャンバーＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄと、共通ダクト２を備えている。例文帳に追加

The environmental testing device 1 is equipped with four chambers of A, B, C, D, and a common duct 2. - 特許庁

試験コンタクト装置の台数を削減でき、試験機の構成部品や測定回路の共通化を可能にして設備コストの低減し、かつＡＣ試験条件（波形）の改善が可能とする。例文帳に追加

To reduce the number of test contact devices, reduce an equipment cost by commonalizing components and measuring circuits of the testing apparatus, and improve AC test conditions (waveform). - 特許庁

４基のチャンバーＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄは、いずれも単独でバーンイン試験装置として機能するものであり、本実施形態のバーンイン試験装置１は、４台のバーンイン試験装置を共通ダクト２で繋いだものであるとも言える。例文帳に追加

Each of these four chambers A/B/C/D independently functions as a burn-in testing device, the burn-in testing device 1 of this embodiment may also be defined as the one consisting of four burn-in testing devices linked by the common duct 2. - 特許庁

アドレス変換部１３は、下位装置２内の試験プログラム３から試験用アドレスへのアクセスがあると、対向試験を行う対向側の下位装置２ａの試験プログラム３ａと同一エリアの共通エリア２３へとアドレス変換する。例文帳に追加

An address conversion section 13 converts a test address into an address of a common area 23 being the same areas as the test program 3a of the opposite subordinate unit 2a for an opposite test when receiving an access to the test address from the test program 3 in the subordinate unit 2. - 特許庁

試験機の側方に配置されるワーク台車出し入れ装置22と、装置22と試験機との間に配置されて共通台車移動装置24により往復移動される共通台車23とを具備する。例文帳に追加

This work carry-in/out device is provided with a work carriage taking in/out device 22 arranged in a side of the test machine, and a common carriage 23 arranged between the device 22 and the test machine and reciprocated by a common carriage moving device 24. - 特許庁

呼処理異常監視装置１に構成された共通制御部１５が、交換機における呼処理の試験手順が格納されたフラッシュメモリＦＭから試験手順を読み込みむとともに、該試験手順に従い、回線接続部１１を介して呼処理の試験を行い、その試験の結果を、回線接続部１２を介して通知する。例文帳に追加

A common control section 15 arranged in the abnormal call processing monitor 1 reads out a test procedure from a flash memory FM storing the test procedure of call processing in an exchange, performs call processing test through the line connecting section 11 according to that test procedure and informs the test results through the line connecting section 12. - 特許庁

複数の被測定デバイス１２に対し、試験パターン波形を印加して並列試験を行う半導体試験装置において、各被測定デバイス１２に共通の第１試験パターンデータを発生するパターン発生器１０１と、各被測定デバイス１２に個別の第２試験パターンデータを発生する記憶部１０３と、第１試験パターンデータと第２試験パターンデータのいずれかを選択する第１の選択回路１０５とを備えたことを特徴とする。例文帳に追加

The semiconductor testing apparatus which performs parallel tests while applying test pattern waveforms to a plurality of devices under measurement 12, is equipped with a pattern generator 101 for generating first test pattern data common to each device 12, a storage portion 103 for generating second test pattern data individual to each device 12, and a first selection circuit 105 for choosing either the first test pattern data or the second test pattern data. - 特許庁

1月15日が成人の日として固定されていた時代、1983年・1984年には大学共通一次試験、及び1994年・1995年は大学入試センター試験がそれぞれ行われていた。例文帳に追加

During the period when Coming-of-Age Day was fixed on 15 January, the preliminary standard university entrance examinations in 1983 and 1984 and the University Testing Center Examination in 1994 and 1995 were carried out on this holiday.発音を聞く  - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス