「共通試験」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

異なる外径を有する複数種の試験管に対し共通に適用可能な汎用タイプの試験管ホルダーを提供。例文帳に追加

To provide a general-purpose test tube holder which is applicable in common to a plurality of kinds of test tubes with different outer diameters. - 特許庁

耐候耐食性試験や耐熱耐水性試験に共通して利用し得る複合劣化促進装置の具体的な構成を提供する。例文帳に追加

To provide a specific structure of a combined degradation accelerator used in common for weather resistance and corrosion resistance test or for heat resistance and water resistance test. - 特許庁

環境試験装置１は、４基のチャンバーＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄと、共通ダクト２を備えている。例文帳に追加

The environmental testing device 1 is equipped with four chambers of A, B, C, D, and a common duct 2. - 特許庁

試験コンタクト装置の台数を削減でき、試験機の構成部品や測定回路の共通化を可能にして設備コストの低減し、かつＡＣ試験条件（波形）の改善が可能とする。例文帳に追加

To reduce the number of test contact devices, reduce an equipment cost by commonalizing components and measuring circuits of the testing apparatus, and improve AC test conditions (waveform). - 特許庁

４基のチャンバーＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄは、いずれも単独でバーンイン試験装置として機能するものであり、本実施形態のバーンイン試験装置１は、４台のバーンイン試験装置を共通ダクト２で繋いだものであるとも言える。例文帳に追加

Each of these four chambers A/B/C/D independently functions as a burn-in testing device, the burn-in testing device 1 of this embodiment may also be defined as the one consisting of four burn-in testing devices linked by the common duct 2. - 特許庁

アドレス変換部１３は、下位装置２内の試験プログラム３から試験用アドレスへのアクセスがあると、対向試験を行う対向側の下位装置２ａの試験プログラム３ａと同一エリアの共通エリア２３へとアドレス変換する。例文帳に追加

An address conversion section 13 converts a test address into an address of a common area 23 being the same areas as the test program 3a of the opposite subordinate unit 2a for an opposite test when receiving an access to the test address from the test program 3 in the subordinate unit 2. - 特許庁

試験機の側方に配置されるワーク台車出し入れ装置22と、装置22と試験機との間に配置されて共通台車移動装置24により往復移動される共通台車23とを具備する。例文帳に追加

This work carry-in/out device is provided with a work carriage taking in/out device 22 arranged in a side of the test machine, and a common carriage 23 arranged between the device 22 and the test machine and reciprocated by a common carriage moving device 24. - 特許庁

呼処理異常監視装置１に構成された共通制御部１５が、交換機における呼処理の試験手順が格納されたフラッシュメモリＦＭから試験手順を読み込みむとともに、該試験手順に従い、回線接続部１１を介して呼処理の試験を行い、その試験の結果を、回線接続部１２を介して通知する。例文帳に追加

A common control section 15 arranged in the abnormal call processing monitor 1 reads out a test procedure from a flash memory FM storing the test procedure of call processing in an exchange, performs call processing test through the line connecting section 11 according to that test procedure and informs the test results through the line connecting section 12. - 特許庁

複数の被測定デバイス１２に対し、試験パターン波形を印加して並列試験を行う半導体試験装置において、各被測定デバイス１２に共通の第１試験パターンデータを発生するパターン発生器１０１と、各被測定デバイス１２に個別の第２試験パターンデータを発生する記憶部１０３と、第１試験パターンデータと第２試験パターンデータのいずれかを選択する第１の選択回路１０５とを備えたことを特徴とする。例文帳に追加

The semiconductor testing apparatus which performs parallel tests while applying test pattern waveforms to a plurality of devices under measurement 12, is equipped with a pattern generator 101 for generating first test pattern data common to each device 12, a storage portion 103 for generating second test pattern data individual to each device 12, and a first selection circuit 105 for choosing either the first test pattern data or the second test pattern data. - 特許庁

1月15日が成人の日として固定されていた時代、1983年・1984年には大学共通一次試験、及び1994年・1995年は大学入試センター試験がそれぞれ行われていた。例文帳に追加

During the period when Coming-of-Age Day was fixed on 15 January, the preliminary standard university entrance examinations in 1983 and 1984 and the University Testing Center Examination in 1994 and 1995 were carried out on this holiday.  - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

発電機５の出力電圧は、試験用交流電圧発生装置１および試験用交流電圧発生装置２の１次側電圧として共通に供給する。例文帳に追加

The output voltage of the power generator 5 is commonly supplied as the primary side voltage of the test AC voltage generator 1 and the test AC voltage generator 2. - 特許庁

試験装置２は、少なくともひとつの入出力端子と、電源プレインおよびそれに共通に接続される複数の電源端子Ｐ１を有するＤＵＴ１を試験する。例文帳に追加

A test device 2 tests a DUT 1 having at least one input/output terminal, a power supply plane and a plurality of power supply terminals P1 commonly connected to the power supply plane. - 特許庁

ウェイトタイムの最適値設定が最初の試験対象ロットの特性に合わせて半導体試験装置に設定し（ｓｔ２）、全ロット共通で使用して再設定に要する時間を削減する。例文帳に追加

An optimum value of wait time is set in a semiconductor test apparatus to suit the characteristics of a first lot under test (st2), and it is used for all lots in common to reduce the time required for resetting. - 特許庁

自動試験装置（ＡＴＥ）（１００）は、少なくともその中の２つが共通試験機能を提供する複数のハードウェアコンポーネント（１０２〜１０８）を有している。例文帳に追加

The automated test equipment (ATE) 100 comprises a plurality of hardware components, and at least two among them provide a common test feature. - 特許庁

各トレイ収納部１２〜１５に、収納部品が試験前の部品又は試験後の部品のいずれに該当するかを色を切り換えることにより識別可能とする共通の表示部１２ｃ〜１５ｃが設けられている。例文帳に追加

Each tray containing section 12-15 is provided with a common indicating part 12c-15c capable of identifying the component before test and the component after test by switching the color. - 特許庁

制御装置側インタフェースが異なる多種の回線インタフェースカードの試験を、共通の回線インタフェースカード試験装置により実行する手段を提供する。例文帳に追加

To provide a means in which a control apparatus interface can test various channel interface cards by using a common channel interface card tester. - 特許庁

半導体試験装置１００は共通プログラムを指定するプログラム指定コマンドを含んで構成された２種類のテストプログラムを用いて２台のテストヘッドに実装された被測定デバイス１７Ａ，１７Ｂを試験する。例文帳に追加

A semiconductor testing device 100 tests devices 17A, 17B to be measured which are mounted on two test heads by using two kinds of test programs each of which is constituted so as to include a program specification command for specifying a common program. - 特許庁

本発明は、試験装置に関し、例えば液晶表示パネルを駆動する集積回路の試験装置に適用して、各種の集積回路で共通に使用することができるようにする。例文帳に追加

To allow application to a testing device for an integrated circuit for driving a liquid crystal display panel, for example, to allow common use in various kinds of integrated circuits. - 特許庁

国立大学協会会長・岡本道雄京大総長とともに共通一次試験導入に取り組んだ。例文帳に追加

He strived to introduce the preliminary standard university entrance examination along with Michio OKAMOTO, the president of Kyoto University as well as the president of the Japan Association of National Universities.  - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

音声での発音や大学入学試験のための学習参考書のような，基本的な機能はほとんどの新機種で共通している。例文帳に追加

Basic functions, such as audio pronunciation and study guides for university entrance examinations, are common in most of the new models.  - 浜島書店 Catch a Wave

コイル２２は励磁及び測定を共通に行うコイルであり、試験体１００はコイル２２内に挿入する。例文帳に追加

The coil 22 is a coil for commonly performing excitation and measurement, and the test body 100 is inserted in the coil 22. - 特許庁

共通の入力試験信号からデジタル制御トリガ及びアナログ制御トリガを略同時に発生する。例文帳に追加

To substantially simultaneously generate a digital control trigger and an analog control trigger from a common input test signal. - 特許庁

プログラミング、試験指示の書込みおよびメモリデバイスの動作に必要な全機能に専用である回路部分は、両アレイに共通である。例文帳に追加

A circuit part, being exclusive for all the functions required for programming, writing of test instructions, and operation of a memory device is common to both arrays. - 特許庁

このとき、複数の試験シナリオ間で共通するシナリオ要素に対しては、同じ正解データを用いる。例文帳に追加

At this time, identical correct answer data is used, with respect to the scenario elements, commonly among a plurality of test scenarios. - 特許庁

ロジックチップとメモリチップとを共通のパッケージに搭載したMCPの半導体装置において，メモリチップの動作試験を有効に行う。例文帳に追加

To perform effectively an operation test of a memory chip in a semiconductor device of a MCP (memory chip package) in which a logic chip and a memory chip arte mounted in a common package. - 特許庁

半導体装置における端子位置を共通化して、半導体装置の電気的試験に用いられる治工具のコストを低減する。例文帳に追加

To reduce the cost of a jig and tool employed for the electrical test of a semiconductor device by making positions of terminals in the semiconductor device common. - 特許庁

コンピュータネットワーク（インターネット）を用いた共通試験の実施により、効率的な就職斡旋を実現する方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for effective placement by making a common examination using a computer network (Internet). - 特許庁

ただし、同じ試験に基づいて複数の評価書での臓器の記載が異なるときは、共通に記載されている臓器を記載すること。例文帳に追加

However, when the descriptions of the organs in plural assessment documents based on the same test differ, the commonly described organs shall be described. - 経済産業省

オペレーティングシステムの種類が異なる複数の制御用コンピュータを共通に用いることができ、集積回路試験プログラムの開発の工数及び操作者の負担を軽減することが可能な集積回路試験システムを提供する。例文帳に追加

To provide an integrated circuit test system capable of commonly using a plurality of controlling computers having different types of operating systems and allows the man-hour for developing integrated circuit test programs and load of an operator to be reduced. - 特許庁

制御部５０は、そのスペクトラム検出結果に基づいて、共通光ファイバ線路１７を伝送していない信号光波長があれば、それを試験波長と決定して、その試験波長による測定を光反射測定部４０に指示する。例文帳に追加

A control part 50 determines that a signal optical wavelength is a test wavelength on the basis of the spectrum detection result so long as it is a wavelength not conveyed on the common optical fiber path 17, and it instructs measurement using the test wavelength to a light reflection measurement part 40. - 特許庁

入出力パッド１ａ〜１ｄは、テストモード信号ＴＭに基づいて導通するスイッチ回路１３ａ〜１３ｄを介して共通の試験用配線１４ａ，１４ｂに接続して、動作試験時に入出力パッド数を圧縮可能とする。例文帳に追加

The number of input/output pads can be constricted in a performance test by connecting input/output pads 1a to 1d to common testing wirings 14a, 14b via switching circuits 13a to 13d which are made conductive based on a test mode signal TM. - 特許庁

本発明は、それぞれ変圧器を介して導出された複数の回線がそれぞれ保護遮断器を介して共通のネットワーク母線に接続されるネットワークの各回線ごとに設けられたネットワークリレーの機能試験を行う試験装置に関する。例文帳に追加

The testing apparatus carries out function tests for network relays installed in respective circuits of the network, in which a plurality of circuits led out via respective transformers are connected to a common network bus separately via a protective breaker. - 特許庁

光反射測定部４０は、試験波長の光パルスＰｏを共通光ファイバ線路１７へ入射し、その光パルスＰｏに対するＷＤＭ−ＰＯＮシステムからの戻り光Ｐｒを受光して、共通光ファイバ線路１７から試験波長に対応した個別光ファイバ線路１８に至る光路の伝送損失特性を求める。例文帳に追加

The light reflection measurement part 40 puts the optical pulse Po of the test wavelength into the common optical fiber path 17 and receives a returned light Pr of the optical pulse Po from the WDM-PON system, and attains the transmission loss of an optical path between the common optical fiber path 17 and an individual optical fiber path 18 corresponding to the test wavelength. - 特許庁

履修登録や休講・レポート・試験などの連絡をWEB上で行なうため、全学共通教育教務情報システム（略称KULASISKyotoUniversitysLiberalArtsSyllabusInformationSystem、クラシス）が運用されている。例文帳に追加

Courses' registration and transmission of information, such as lecture cancellations, papers, and examinations, are all done on the website, so they use Kyoto University's Liberal Arts Syllabus Information System (briefly called KULASIS).  - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

試験系経路はパイプライン処理によってクロック毎に連続してデータを転送することが可能であるため、転送速度の遅い内部共通バスを介すことなく、高速にフィルタ係数の書替えが可能になる。例文帳に追加

Since the test system path can continuously transfer data by every clock by pipeline processing, the filter coefficients are rewritten at high speed without interposing an internal common bus with slow transfer rate. - 特許庁

それぞれのテストヘッドを制御するデバイステストプログラムの実行によって得られた試験結果やプログラムの変更内容をデバイステストプログラム間で共通に利用することができるようにする。例文帳に追加

To use test results obtained by the execution of device test programs for controlling each of test heads and the changed contents of the programs for these device test programs in common. - 特許庁

活線挿入された論理カード１１に対し、共通バス７に組み込む前に試験を行い、正常であることが確認された場合にのみ挿入した論理カードをバスに組み込む制御を行なう。例文帳に追加

A logic card 11 undergoing live wire insertion is tested before being incorporated in a common bus 7, and only when it is confirmed as normal, control for incorporating an inserted logic card in a bus is performed. - 特許庁

側面の共通導体層がメッキ後に除去されてなるセラミック製の配線基板を用いた半導体装置の検査方法で、ヘリウムリークディテクターによるヘリウムガス試験における擬似リークの発生を防止する。例文帳に追加

To prevent the generation of pseudo-leakage in a helium gas test conducted by a helium leakage detector, in a method for testing a semiconductor device which uses a ceramic wiring board with a common conductor layer on a side face removed after plating. - 特許庁

スピンドルユニット１２とトルク計７０を共通の架台１４に載せ、架台１４をエアベアリング１５にてベース５０から浮き上がらせて支持し、高精度に負荷荷重を求めることができるようにしたトラクション試験装置。例文帳に追加

A traction testing device can highly accurately determine an applying load by supporting a stand 14 by being floated from a base 50 by an air bearing 15 by placing a spindle unit 12 and a torque meter 70 on a common stand 14. - 特許庁

従って、同一機種のパチンコ遊技機にあっては、実射試験時と出荷時に発射態様変更装置４１が装着されているか又は脱着されているかの違いのみで、パチンコ遊技機自体は共通化される。例文帳に追加

A difference in Pachinko game machines of the same model is that only the shooting mode changing device 41 is mounted or removed in shooting testing and delivery, and the Pachinko game machine itself is standardized. - 特許庁

積層された第１半導体装置及び第２半導体装置の電源ラインが共通になっている場合であっても、接続試験を正確に行うことができる積層半導体装置を提供する。例文帳に追加

To provide a stacked semiconductor device in which a connection test can be accurately conducted even when a first and a second semiconductor device which are stacked have a common power supply line. - 特許庁

電力用リアクトル２０は、リアクトル巻線２１に試験用巻線２６を巻き込んである鉄心主脚２４と、鉄心側脚２２と、これらの脚の共通の端部に保持される継鉄２３とを備える。例文帳に追加

The reactor 20 for power includes an iron-core main leg 24 wound with the testing wiring 26 in the reactor wiring 21, an iron core-side leg 22 and a yoke 23 retained at a common end of each of these legs. - 特許庁

限られた数の共通チャネルおよび個別チャネルのリソースを用いて無数の基地局を含む仮想フィールドにおける無線移動端末のフィールド試験が行えること。例文帳に追加

To test the field of a radio mobile terminal in a virtual field including an indefinitely large number of base stations with the use of the resources of a limited number of common channels and individual channels. - 特許庁

受波感度と加速度感度の両方の測定を試験室内の大気中において行い、かつ、計測環境と計測条件の同一化と加速度感度と受波感度の測定を共通周波数領域において実施可能とする。例文帳に追加

To measure both the sound wave receiving sensitivity and acceleration sensitivity in atmosphere in a test room and to perform identification between a measuring environment and a measuring condition and the measurement of the acceleration sensitivity and the sound wave receiving sensitivity in a common frequency region. - 特許庁

ひずみ測定用のコア孔と沈下量測定用のコア孔を共通に使用してコア抜き作業を減少させた杭の鉛直載荷試験用ひずみ及び沈下量測定方法を提供する。例文帳に追加

To provide a strain and settlement measuring method for testing vertical load on a pile wherein coring work is reduced by using a core hole for measuring a strain and the core hole for measuring settlement in common. - 特許庁