断面観察の英語

カーボンナノチューブの断面観察方法例文帳に追加

CROSS-SECTIONAL OBSERVATION METHOD FOR CARBON NANOTUBE - 特許庁

試料の断面加工方法および試料の観察方法例文帳に追加

CROSS-SECTION PROCESSING METHOD OF SAMPLE, AND OBSERVATION METHOD OF SAMPLE - 特許庁

試料切断面の観察方法及びその装置例文帳に追加

OBSERVING METHOD FOR SAMPLE CUT FACE AND ITS DEVICE - 特許庁

椎骨の断面表示において、任意の位置の断面の観察を可能にする。例文帳に追加

To observe a section at an optional position in a section display of a vertebra. - 特許庁

観察用光源が発生する観察光のビーム断面の光強度（光量）は、略均一である。例文帳に追加

The light intensity (light quantity) of a beam section of observation light generated from a light source for observation is approximately uniform. - 特許庁

簡便な方法で試料の断面を広範囲に観察することができる試料観察方法及び試料観察装置を提供する。例文帳に追加

To provide a sample observation method and sample observation apparatus capable of observing the cross section of a sample over a broad range, using a simple method. - 特許庁

更に、半導体デバイスの特定箇所の断面を走査型顕微鏡で観察した後、同一観察断面を透過型電子顕微鏡で観察すべく作製される観察試料において、前記観察断面上に非晶質構造の保護膜を有することを特徴とする。例文帳に追加

Furthermore, after the cross section of the specific place of the semiconductor device is observed by the scanning microscope, the protective film of the amorphous structure is provided on the observation cross section in an observation sample formed in order to observe the same observation cross section by the transmission electron microscope. - 特許庁

イオンビームにより試料体が切除されて観察断面が更新された際に、観察断面に対する電子ビームの焦点を合わせるようにする。例文帳に追加

To focus electron beams on an observation cross section when a sample is cut off by an ion beam to renew an observation cross section. - 特許庁