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automatic test equipmentとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 ATE; 自動試験装置; 自動テスト装置
「automatic test equipment」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 17件
SEMICONDUCTOR CHIP ELEMENT TEST TOOL AND AUTOMATIC TEST EQUIPMENT例文帳に追加
半導体チップ素子試験治具及び自動試験装置 - 特許庁
To provide automatic test equipment for processing a differential signal without making timing errors.例文帳に追加
タイミングエラーなく差動信号を処理する自動テスト装置の提供。 - 特許庁
This method also can be provided at low cost, by using an automatic test equipment.例文帳に追加
また前記方法は、自動試験装置を用いて安価に実行できる。 - 特許庁
To provide a self test adapter (STA) (22) for automatic test equipment (ATE).例文帳に追加
自動試験装置(ATE)のためのセルフ試験アダプタ(STA)(22)を提供すること。 - 特許庁
To reduce a test data quantity and a test application time in an ATE (automatic test equipment) in a scan-based integrated circuit.例文帳に追加
スキャンベースの集積回路中のATEでのテストデータ量およびテスト適用時間を削減する。 - 特許庁
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ウィキペディア英語版での「automatic test equipment」の意味 |
Automatic test equipment
出典:『Wikipedia』 (2011/04/21 22:54 UTC 版)
「automatic test equipment」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 17件
To provide a method and structure for protecting protected circuitry within automatic test equipment from electrostatic discharge (ESD).例文帳に追加
自動試験装置内の保護対象回路構成に対してESD保護を提供する。 - 特許庁
A distributed operating system for a semiconductor test system such as automatic test equipment (ATE) is described.例文帳に追加
自動テスト機器(ATE)のような半導体テストシステム用の分散オペレーティングシステムが記載されている。 - 特許庁
A test can be executed on an ATE (automatic test equipment) by using a simple test vector, and is executed by a field engineer on a actual board provided with a chip.例文帳に追加
テストは、簡単なテストベクタを用いてATE(自動試験装置)上で実行されえ、チップを備える実際のボード上でフィールドエンジニアによって実行されえる。 - 特許庁
To solve a problem that the output timing of effective output data is not constant for every test in a test employing automatic test equipment (ATE) for a data output circuit in an LSI (large scale integrated circuit) comprising a PLL (phase locked loop) circuit or the like.例文帳に追加
PLL回路等を含むLSI中のデータ出力回路に対する自動テスト装置(ATE)を用いたテストでは、有効な出力データの出力タイミングがテスト毎に一定でない。 - 特許庁
This method and device are used when testing an electronic device having source synchronizing signal output by use of an automatic test equipment(ATE).例文帳に追加
源同期信号出力を有する電子デバイスを自動試験装置(ATE)を用いて試験するための方法および関連の装置を記載している。 - 特許庁
The structure 100 and method operable to provide ESD protection for protected circuitry 110 of automatic test equipment (ATE).例文帳に追加
自動試験装置の保護対象回路構成(110)に対するESD保護を提供するよう動作可能な構成(100)及び方法である。 - 特許庁
To aim at reduction of man-hours by automatic measurement by taking a device capable of conveying a semiconductor chip element after being packaged by an insulating resin into automatic test equipment (ATE) for semiconductor wafer measurement, and to reduce man-hours and to heighten accuracy of electric test evaluation of the semiconductor chip element after being packaged.例文帳に追加
絶縁性樹脂によるパッケージ後の半導体チップ素子を半導体ウェハ測定用の自動試験装置(ATE)に搬送できる工夫を取り入れ、自動測定による工数削減を狙うものであり、パッケージ後の半導体チップ素子の電気的試験評価の工数削減及び高精度化を図る。 - 特許庁
To provide a sequence program test equipment that boosts test work efficiency by making possible automatic recall for test action instructions when a real PLC with a communication function or a PLC emulator activated through a communication message is used for the testing instructions.例文帳に追加
通信機能を有するPLC実機若しくはPLCエミュレータを使用しかつ通信メッセージを介してテスト動作の指示を与えるシーケンスプログラムのテスト装置において、テスト動作指示の自動再現を可能として、この種のシーケンスプログラムテストの作業効率を向上させること。 - 特許庁
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