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パターン理論の英語

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「パターン理論」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 28



例文

この分割領域単位で、実回路パターン理論回路パターンパターン幅の偏差を求めて補正し、補正回路パターンを作成する(ステップS8)。例文帳に追加

The deviation of the pattern widths of the real circuit pattern and the theoretical circuit pattern is obtained and corrected in this partitioning region unit, and a correcting circuit pattern is created (step S8). - 特許庁

フレネル領域における測定結果から、理論的に計算される誤差電界パターンを引き算することによって遠方界放射パターンを求める。例文帳に追加

The far field radiation pattern is found by subtracting error electric field pattern calculated theoretically from the measured result in the Fresnel region. - 特許庁

尤度パターン検出補正回路6には予め実験的・理論的に求めた有色雑音を生じやすい尤度パターン群が設定されている。例文帳に追加

A likelihood pattern group in which colored noise previously obtained experimentally/theoretically is easy to occur is set to a likelihood pattern detection compensating circuit 6. - 特許庁

従来のパターン形成方法とは全く異なった理論に基づく新規な機構のパターン形成方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for pattern formation with new mechanism based on a theory entirely different from conventional ones. - 特許庁

我々は,この理論を,パターン空間が2次元のユークリッド空間である3クラス問題で例証する.例文帳に追加

We illustrate the theory by a three-class problem, where the pattern space is the two-dimensional Euclidean space.発音を聞く  - コンピューター用語辞典

マークパターン部3は、チップパターン配置領域2内で半導体チップパターン部1に隣接して存在するので、マークパターン部3をチップパターン配置領域2の外部に離隔して設ける場合に比べて、ウエハ上の半導体チップの理論収量を増やすことができる。例文帳に追加

The mark pattern portion 3 is present as adjacent to the semiconductor chip pattern portion 1 in the chip pattern layout area 2, and therefore, a theoretical yield of semiconductor chips on a wafer can be increased compared to a photomask having a mark pattern portion 3 outside and apart from the chip pattern layout area 2. - 特許庁

例文

電磁界理論を使用して、ディンプルパターンを形成すると共に、ゴルフボール上のディンプル配置及び分布を最適化する。例文帳に追加

To form a dimple pattern and to optimize dimple disposition and distribution on a golf ball by using an electromagnetic field theory. - 特許庁

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日英・英日専門用語辞書での「パターン理論」の英訳

パターン理論


「パターン理論」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 28



例文

この理論配光データ群に基づく既知の形状を、基板100に形成されたパターンの形状として確定する。例文帳に追加

The known form based on the logical light-distribution data is decided as a pattern formed on the substrate 100. - 特許庁

特に演算部を、受信信号のアイパターンにおける理論点からのずれを表すEQM値を算出するものとする。例文帳に追加

Particularly, the arithmetic part calculates an EQM value presenting the deviation from a theoretical point in the eye pattern of the received signal. - 特許庁

ダイレクト露光装置が、予め作成した理論回路パターンの設計データに基づいて、基板上のレジストに直接に回路パターンを露光する(ステップS2)。例文帳に追加

A direct exposure device directly exposes the circuit pattern to a resist on the substrate based on design data of a theoretical circuit pattern created beforehand (step S2). - 特許庁

次に前記段差量Dと前記寸法L1及びL2の関係から、予めフォーカス確認用パターンの焦点位置とパターン寸法の関係を測定し算出した焦点寸法理論曲線11と比較することにより、最適フォーカス位置を求める。例文帳に追加

Furthermore, a relationship between the level difference D and the dimensions L1 and L2 is compared with a focus dimension theoretical curve 11 that is calculated by measuring a relationship between the focal position of the focus confirmation pattern and the pattern dimension beforehand, thereby finding out an appropriate focus position. - 特許庁

パターン生成部14は最大値検索部13から得られたピークレベル及びピーク位置を基に相関ピークの理論形状を生成する、減算器15は第2位のピークを検出する際に遅延プロファイル保存部12内の遅延プロファイルデータから第一位の相関ピークの理論パターンを減算する。例文帳に追加

On the basis of the peak level and the peak position provided from the maximum value retrieving part 13, a pattern generating part 14 generates the theoretical form of the correlative peak, and when detecting the second peak, a subtracter 15 subtracts the theoretical pattern of the first correlative peak from delay profile data in the delay profile preserving part 12. - 特許庁

データ処理手段7は、予め基準形状に対する理論スペクトルを備え、検出された回折光のスペクトルに最も近い理論スペクトルを検索することにより、被測定パターン11の線幅あるいは断面形状を特定する。例文帳に追加

A data processing means 7 is previously provided with theoretical spectra to reference shapes and specifies the line widths or cross-sectional profiles of the patterns to be measured 11 by retrieving the theoretical spectrum most close to the spectrum of detected diffracted light. - 特許庁

理論ドット数算出部124は、領域設定部122により設定された注目領域を最高濃度のスクリーンパターンを用いてハーフトーン処理し、注目領域に対して設定された濃度指定情報を基に、注目領域の理論ドット数を算出する。例文帳に追加

A theoretical dot-number calculation part 124 executes the half-tone processing of a noticed area set by an area setting part 122 by using a screen pattern of maximum density and calculates a theoretical dot number in the noticed area on the basis of density specification information set in the noticed area. - 特許庁

例文

パターン理論においては、この世界は複雑であるという信念があり、それまたはその一部を理解するためには、それに関する知識の現実的な表現を必要とするのである。例文帳に追加

In pattern theory, the belief is that the world is complex, and to understand it, or part of it, one needs realistic representations of knowledge about it.発音を聞く  - コンピューター用語辞典

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